JPH01206594A - 薄膜el素子およびその製造方法 - Google Patents
薄膜el素子およびその製造方法Info
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- JPH01206594A JPH01206594A JP62260203A JP26020387A JPH01206594A JP H01206594 A JPH01206594 A JP H01206594A JP 62260203 A JP62260203 A JP 62260203A JP 26020387 A JP26020387 A JP 26020387A JP H01206594 A JPH01206594 A JP H01206594A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、薄膜EL(エレクトロ・ルミネッセンス)素
子に係り、特に、高輝度・低電圧駆動の薄膜EL素子に
関する。
子に係り、特に、高輝度・低電圧駆動の薄膜EL素子に
関する。
(従来技術およびその問題点)
輝度の面で問題が多く、照明用光源としての開発を断熱
せざるを得なかった。硫化亜鉛(Zns)系蛍光体粉末
を用いた分散型EL素子に代わって、Fig膜蛍膜体光
体層いた薄膜型EL素子が高輝度を得られることから近
年注目されてきている。
せざるを得なかった。硫化亜鉛(Zns)系蛍光体粉末
を用いた分散型EL素子に代わって、Fig膜蛍膜体光
体層いた薄膜型EL素子が高輝度を得られることから近
年注目されてきている。
薄膜EL素子は1発光層が透明な′ii!膜で構成され
ていて、外部から入射する光および発光層内部で発光し
た光が散乱されてハレーションやにじみを生じることが
少なく、鮮明でコントラストが高いことから、車両への
搭載用、コンビューク端末等の表示装置あるいは照明用
とじて脚光を浴びている。
ていて、外部から入射する光および発光層内部で発光し
た光が散乱されてハレーションやにじみを生じることが
少なく、鮮明でコントラストが高いことから、車両への
搭載用、コンビューク端末等の表示装置あるいは照明用
とじて脚光を浴びている。
例えば、マンガン(Mn)を、ZnS中の発光中心とし
て用いた薄膜EL素子の基本構造は透光性の基板上に、
酸化′錫(SnO,)層等からなる透明電極と、第1の
誘電体層と、母材をZnS、発光中心不純物をMnとし
た結晶F4膜すなわちZnS:Mnl膜からなる発光層
と。
て用いた薄膜EL素子の基本構造は透光性の基板上に、
酸化′錫(SnO,)層等からなる透明電極と、第1の
誘電体層と、母材をZnS、発光中心不純物をMnとし
た結晶F4膜すなわちZnS:Mnl膜からなる発光層
と。
第2の誘電体層、アルミニウム(AI)層等からなる背
面電極とが順次積層せしめられた2重誘電体構造をなし
ている(第10図)。
面電極とが順次積層せしめられた2重誘電体構造をなし
ている(第10図)。
そして1発光の過程は、以下に示す如くである。前記透
明電極と前記背面電極との間に電圧を印加すると1発光
層内に誘起された電界によって界面準位にトラップされ
ていた電子が引き出されて加速され充分なエネルギーを
得、この電子がMn(発光中心)の軌道電子に衝突しこ
れを励起する。そしてこの励起された発光中心が基底状
態に戻る際に発光を行なう。
明電極と前記背面電極との間に電圧を印加すると1発光
層内に誘起された電界によって界面準位にトラップされ
ていた電子が引き出されて加速され充分なエネルギーを
得、この電子がMn(発光中心)の軌道電子に衝突しこ
れを励起する。そしてこの励起された発光中心が基底状
態に戻る際に発光を行なう。
従来、このような薄膜EL素子では1通常上述を除きZ
n S : M n等の発光層の形成に際し。
n S : M n等の発光層の形成に際し。
電子ビーム蒸着法が用いられていた(特公昭53−10
358号公報、特公昭54−8080号公報参照)。
358号公報、特公昭54−8080号公報参照)。
これは、第8図に示す如く、真空槽l内で。
ZnSと0.1〜1%のマンガン(Mn)とを混ぜ合せ
焼結せしめて形成されるペレット2を電子銃3からの電
子ビーム4で照射することにより該ペレットを加熱せし
め、蒸発させてこれを基板5上に堆積させるものである
。
焼結せしめて形成されるペレット2を電子銃3からの電
子ビーム4で照射することにより該ペレットを加熱せし
め、蒸発させてこれを基板5上に堆積させるものである
。
この方法によると9発光層の母材の蒸気圧。
母材を構成する元祖の蒸気圧、並びに発光中心不純物の
蒸気圧(例えばPZnS、PZn、PS、PMn)が大
きく異なる(PZnS<PMn<PZn<PS)ため、
蒸発の仕方が均一でなかったり、−旦基板に付着した元
素が再蒸発したりすることにより、成膜される発光層の
母材が化学量論的組成からずれ、結晶性が悪くなったり
発光中心不純物の分布が不均一となる等の不都合があっ
た(なお、P Z n S、PMn。
蒸気圧(例えばPZnS、PZn、PS、PMn)が大
きく異なる(PZnS<PMn<PZn<PS)ため、
蒸発の仕方が均一でなかったり、−旦基板に付着した元
素が再蒸発したりすることにより、成膜される発光層の
母材が化学量論的組成からずれ、結晶性が悪くなったり
発光中心不純物の分布が不均一となる等の不都合があっ
た(なお、P Z n S、PMn。
PZn、PSは夫々ZnS、Mn、Zn、Sの蒸気圧を
示すものとする)。
示すものとする)。
従って、電子ビーム蒸着法によって、成膜された発光層
は第9図に示す如く1粒状の多結晶構造あるいは成長の
初期段階に小さな結晶粒がたくさんできる。いわゆるデ
ッドレイヤーが存在する構造であった。
は第9図に示す如く1粒状の多結晶構造あるいは成長の
初期段階に小さな結晶粒がたくさんできる。いわゆるデ
ッドレイヤーが存在する構造であった。
このような発光層を用いた薄膜EL素子では。
外部から印加された電界によって加速される発光層中の
電子Eが発光中心不純物1mに衝突して発光に寄与する
前に結晶粒界面Bによって散乱されるため、外部から印
加された電界が有効に発光に寄与しない。
電子Eが発光中心不純物1mに衝突して発光に寄与する
前に結晶粒界面Bによって散乱されるため、外部から印
加された電界が有効に発光に寄与しない。
従って、かかる構造の薄膜EL素子では、実用に供し得
る程度の輝度(20ft−L)を得ためには200v程
度の高い電圧が必要であった。
る程度の輝度(20ft−L)を得ためには200v程
度の高い電圧が必要であった。
本発明は、前記実情に漏みてなされたもので。
高輝度、低電圧駆動の薄膜EL素子を提供することを目
的とする。
的とする。
(問題点を解決するための手段)
そこで本発明では1発光層に柱状多結晶薄膜を用いるよ
うにしている。
うにしている。
また1発光層の形成に際しては1発光層の母材あるいは
母材の構成元素と発光中心不純物とを夫々別の蒸発源す
なわち多元から蒸発せしめ。
母材の構成元素と発光中心不純物とを夫々別の蒸発源す
なわち多元から蒸発せしめ。
基板上のバッファ層上で結合させる。いわば多元蒸着法
を用いるようにしている。
を用いるようにしている。
(作用)
すなわち、第1図に示す如く、柱状多結晶を発光層とし
て用いることにより、外部から電界を加えると発光層中
の電子Eが加速され2発光中心不純物Inに衝突し、有
効に発光する。
て用いることにより、外部から電界を加えると発光層中
の電子Eが加速され2発光中心不純物Inに衝突し、有
効に発光する。
バッファ層の形成に際しては第2図に示すごと(1例え
ば10−3〜10−1程度の真空度に設定された真空槽
11内に、バッファ層の構成元素(Zn、S、Zn5)
を別々のルツボ12゜13(ZnSの時は一つのルツボ
で良い)に入れ、各々を独立に温度コントロールしつつ
加熱し、形成されたバッファ層が化学量論的組成になる
よう各々の蒸発量を制限することにより均一な柱状結晶
を基板14に析出する。
ば10−3〜10−1程度の真空度に設定された真空槽
11内に、バッファ層の構成元素(Zn、S、Zn5)
を別々のルツボ12゜13(ZnSの時は一つのルツボ
で良い)に入れ、各々を独立に温度コントロールしつつ
加熱し、形成されたバッファ層が化学量論的組成になる
よう各々の蒸発量を制限することにより均一な柱状結晶
を基板14に析出する。
次に発光層の形成に際しては、バッファ層と同様に第3
図に示すごと<10−’〜10−7程度の真空度に設定
された真空槽19内に1発光層の母材であるCaSの構
成元素と発光中心不純物Eu(例えばCaとSとEu)
を別々のルツボ15,16.17に入れ、各々を独立に
温度コントロールしつつ加熱し、形成された発光層が化
学量論的組成になるように各々の蒸発量を制御すること
によって1発光中心不純物の分布が均一な柱状結晶をバ
ッファ層18上に析出せしめることができる。
図に示すごと<10−’〜10−7程度の真空度に設定
された真空槽19内に1発光層の母材であるCaSの構
成元素と発光中心不純物Eu(例えばCaとSとEu)
を別々のルツボ15,16.17に入れ、各々を独立に
温度コントロールしつつ加熱し、形成された発光層が化
学量論的組成になるように各々の蒸発量を制御すること
によって1発光中心不純物の分布が均一な柱状結晶をバ
ッファ層18上に析出せしめることができる。
これは9次に示すような成長過程をたどることによる。
例えば物質Aと物質Bを別々のルツボに入れ。
独立した蒸発源とした多元蒸着法により基板上に物質A
Bを形成する場合を想定する。
Bを形成する場合を想定する。
ある温度TAにおける物質への蒸気圧をPAとすると、
真空槽内の真空度(圧力)PoがPo〈P、であるとき
、基板温度T、をT,Kおける物質Aの蒸気圧pasが
PAs>PaとなるようにT。
真空槽内の真空度(圧力)PoがPo〈P、であるとき
、基板温度T、をT,Kおける物質Aの蒸気圧pasが
PAs>PaとなるようにT。
>T、とすることにより、PAs>Poとなり、A単体
を蒸発させて基板上に付着させようとしても基板上には
ほとんど付着しない。
を蒸発させて基板上に付着させようとしても基板上には
ほとんど付着しない。
このとき、他物質Bと前記物質Aとの化合物ABの温度
T3における蒸気圧P□、がpAls<Poとなるよう
にTsを設定すれば、基板上に物質Bがあれば(Pa3
<Pa とする)基板上で物質Aと物fBとが反応し、
化合物結晶ABが成長していく。このとき基板上に存在
する元素B(あるいはA)と飛来してきた元素A(ある
いはB)とが結合するとき、!lもポテンシャルの低い
位置に元素がおさまるため、結果的にある結晶面だけが
成長していき柱状結晶をなすように成膜していく。
T3における蒸気圧P□、がpAls<Poとなるよう
にTsを設定すれば、基板上に物質Bがあれば(Pa3
<Pa とする)基板上で物質Aと物fBとが反応し、
化合物結晶ABが成長していく。このとき基板上に存在
する元素B(あるいはA)と飛来してきた元素A(ある
いはB)とが結合するとき、!lもポテンシャルの低い
位置に元素がおさまるため、結果的にある結晶面だけが
成長していき柱状結晶をなすように成膜していく。
この結晶面の成長において、基板上に多元蒸着法による
柱状結晶の硫化亜鉛を蒸着させ、その上に発光層を多元
萎着法により蒸着させるため9発光層の柱状結晶化が容
易に行なわれる。
柱状結晶の硫化亜鉛を蒸着させ、その上に発光層を多元
萎着法により蒸着させるため9発光層の柱状結晶化が容
易に行なわれる。
(実施例)
以下9本発明の実施例について9図面を参照しつつ詳細
に説明する。
に説明する。
この薄膜EL素子は、第4図に示す如く、二重誘電体構
造をなすもので発光層21を、母材としてのCaS中に
1発光中心不純物としての1、 o%のEuを含有せし
めた膜厚5000A’の柱状多結晶構造の薄膜層(以下
CaS:1.0%Euというように表現するものとする
)にし。
造をなすもので発光層21を、母材としてのCaS中に
1発光中心不純物としての1、 o%のEuを含有せし
めた膜厚5000A’の柱状多結晶構造の薄膜層(以下
CaS:1.0%Euというように表現するものとする
)にし。
ZnSより成るバッファ層22の上に蒸着するよう構成
している。
している。
すなわち、厚さll1mの透光性のガラス基板23上に
膜厚0.3μmの酸化錫(SnO□)層等からなる透明
電極24.膜厚0.5μmから酸化タンタル(Taxe
s)層からなる第1の誘電体層25.前記バッファ層2
2.前記発光層21゜膜厚0.5μmの酸化タンタル(
Tazos)層からなる第2の誘電体層26.膜厚0.
5μmのアルミニウム薄膜からなる背面電極27とが順
次積層せしめられて構成されている。
膜厚0.3μmの酸化錫(SnO□)層等からなる透明
電極24.膜厚0.5μmから酸化タンタル(Taxe
s)層からなる第1の誘電体層25.前記バッファ層2
2.前記発光層21゜膜厚0.5μmの酸化タンタル(
Tazos)層からなる第2の誘電体層26.膜厚0.
5μmのアルミニウム薄膜からなる背面電極27とが順
次積層せしめられて構成されている。
次に1本発明実施例の薄膜EL素子の製造方法について
説明する。
説明する。
まず、第5図(a)に示す如く、透光性のガラスミt反
23上に、スパッタリング法によりSno!層からなる
透明電極24を形成する。
23上に、スパッタリング法によりSno!層からなる
透明電極24を形成する。
次いで、第5図(b)に示す如く、スパッタリング法に
より酸化タンタル層からなる第1の誘電体層25を形成
する。
より酸化タンタル層からなる第1の誘電体層25を形成
する。
続いて、第5図に示したような蒸着装置を使用し、Zn
、Sを夫々別のルツボに入れ、真空槽内の蒸気圧を10
−6Torrに設定した後。
、Sを夫々別のルツボに入れ、真空槽内の蒸気圧を10
−6Torrに設定した後。
2つのルツボを、形成される発光層が化学量論的組成と
なるように独立的に温度コントロールしながら前記Zn
、Sを加熱蒸発せしめると共に、該ガラス基板の温度T
、を100〜1000°Cの適切な範囲に設定すること
により、均一に分布するZnS柱状多結晶からなるバッ
ファ槽22が析出する(第5図(C))。
なるように独立的に温度コントロールしながら前記Zn
、Sを加熱蒸発せしめると共に、該ガラス基板の温度T
、を100〜1000°Cの適切な範囲に設定すること
により、均一に分布するZnS柱状多結晶からなるバッ
ファ槽22が析出する(第5図(C))。
次に発光槽21は第3図に示したような蒸着装置を使用
し、Ca、S、Euを夫々別のルツボに入れ、真空槽内
の蒸気圧を10−6Torrに設定した後、3つのルツ
ボを、形成される発光層が化学量論的組成となるように
独立的に温度コントロールしながら前記Ca、S、Eu
を加熱蒸発せしめると共に1.バッファ層を芸着した該
ガラス基板の温度T、を100〜1000℃の適切な範
囲に設定することにより1発光中心不純物Euの均一に
分布するCaS柱状多結晶からなる発光層21が析出す
る(第5図(d))。
し、Ca、S、Euを夫々別のルツボに入れ、真空槽内
の蒸気圧を10−6Torrに設定した後、3つのルツ
ボを、形成される発光層が化学量論的組成となるように
独立的に温度コントロールしながら前記Ca、S、Eu
を加熱蒸発せしめると共に1.バッファ層を芸着した該
ガラス基板の温度T、を100〜1000℃の適切な範
囲に設定することにより1発光中心不純物Euの均一に
分布するCaS柱状多結晶からなる発光層21が析出す
る(第5図(d))。
更に、第5図(e)に示す如く、スパッタリング法によ
り、酸化タンタル層からなる第2の誘電体層26を形成
する。
り、酸化タンタル層からなる第2の誘電体層26を形成
する。
そして最後に、第5図(f)に示す如く、真空蒸着法に
より、アルミニウム薄膜を成膜した後。
より、アルミニウム薄膜を成膜した後。
フォトリソエツチング法によりパターニングし背面電極
27を形成する。
27を形成する。
このようにして形成されたFii膜EL素子の発光層は
、第6図(a)にそのX線回折の結果を示す如く、極め
て結晶性の良いものとなっている。
、第6図(a)にそのX線回折の結果を示す如く、極め
て結晶性の良いものとなっている。
比較のために、従来の電子ビーム蒸着法によって形成し
たCaS:Eu層(発光層)のX線回折の結果を第6図
(b)に示す。これらの比較からも明らかなように1本
発明の方法によって形成した発光層は結晶性のより良い
ものとなっていることがわかる。
たCaS:Eu層(発光層)のX線回折の結果を第6図
(b)に示す。これらの比較からも明らかなように1本
発明の方法によって形成した発光層は結晶性のより良い
ものとなっていることがわかる。
また、この薄膜EL素子は、透明電極と背面電極との間
に交番電界を加えることによって駆動されるが、その電
圧−輝度特性曲線aを従来例の薄膜EL素子の電圧−輝
度特性曲線すと共に第 閣に示す。これらの比較からも
9本発明の薄膜EL素子は、従来例の薄膜EL素子の約
1/2の電圧で同一の輝度を得ることができ。
に交番電界を加えることによって駆動されるが、その電
圧−輝度特性曲線aを従来例の薄膜EL素子の電圧−輝
度特性曲線すと共に第 閣に示す。これらの比較からも
9本発明の薄膜EL素子は、従来例の薄膜EL素子の約
1/2の電圧で同一の輝度を得ることができ。
低電圧で高輝度特性を有するものであることがわかる。
さらに電圧−発光効率曲線(a)を従来例のWl薄膜E
L素子電圧−発光効率曲線(b)と共に第7図に示す。
L素子電圧−発光効率曲線(b)と共に第7図に示す。
これらの比較からも3本発明の11 Ill EL素子
は、従来例の薄膜EL素子の約2倍の発光効率を得るこ
とが出来る。
は、従来例の薄膜EL素子の約2倍の発光効率を得るこ
とが出来る。
このように1本発明実施例の薄膜EL素子によれば、約
2Qft−L(フットランバート)の輝度を得るのに約
100V以下の低電圧でよ<、piiめて実用的なもの
となっている。
2Qft−L(フットランバート)の輝度を得るのに約
100V以下の低電圧でよ<、piiめて実用的なもの
となっている。
なお、実施例については、CaS:Eu薄膜を発光層に
用いた場合について説明したが、これに限定されること
なく、母材をSrSとして。
用いた場合について説明したが、これに限定されること
なく、母材をSrSとして。
発光中心不純物のみをフッ化セリウム(CeFz)塩化
カリウム(K)等で置き喚えたSrS:0.1〜I C
e F 、 、 S r S : 0.1〜1%Eu等
の柱状多結晶でもよいことはいうまでもない。
カリウム(K)等で置き喚えたSrS:0.1〜I C
e F 、 、 S r S : 0.1〜1%Eu等
の柱状多結晶でもよいことはいうまでもない。
また、実施例においては、CaS:Euの柱状多結晶薄
膜を成膜するのに、夫々Ca、S。
膜を成膜するのに、夫々Ca、S。
Euの入った3つのルツボを蒸着源として用いたが、C
ab、S、Euの3つあるいは、CaS、S、EuSの
3つあるいは、Ca、S、CaS、Eu等、適宜調整可
能である。
ab、S、Euの3つあるいは、CaS、S、EuSの
3つあるいは、Ca、S、CaS、Eu等、適宜調整可
能である。
加えて、この薄膜EL素子は1表示装置以外にも照明用
として、光記録媒体への信号の書き込み、読み出し、消
去用の光源としても使用可能である。
として、光記録媒体への信号の書き込み、読み出し、消
去用の光源としても使用可能である。
(発明の効果)
以上述べたように本発明の薄膜EL素子によれば1発光
層を複数個の蒸発源を独立的に温度コントロールしつつ
蒸着せしめた柱状多結晶で構成し、かつ基板層と発光層
の間にバッファ層を入れたため低い駆動電圧で高輝度、
高効率を得られるという優れた効果がある。
層を複数個の蒸発源を独立的に温度コントロールしつつ
蒸着せしめた柱状多結晶で構成し、かつ基板層と発光層
の間にバッファ層を入れたため低い駆動電圧で高輝度、
高効率を得られるという優れた効果がある。
第1図は本発明の薄膜EL素子の発光層の結晶構造を示
す図、第2図は本発明に基づくバッファ層の形成方法の
原理図、第3図は本発明に基づく発光層の形成方法の原
理図、第4図は本発明実施例の薄膜EL素子を示す図、
第5図(a)乃至(f)は同素子の製造工程閲、第6図
(a)および(b)は夫々2本発明および従来例の薄1
lIEL素子の発光層のX線回折の結果を示す図、第7
図は本発明および従来例のFi IIGI E L素子
の電圧−輝度特性の比較図、第8図(a)および(b)
は本発明および従来例の薄膜EL素子の電圧−発光効率
の比較図、第9図は従来例のFA膜EL素子の発光層の
形成方法の原理を示す図、第10図は従来例の発光層の
結晶構造を示す図、第11図は従来例の薄膜EL素子を
示す図である。 1、11.18・・・真空N 2・・・ペレット3・
・・電子銃 4・・・電子ビーム14・・・
基板 E・・・電子1m・・・発光中心不
純物 B・・・結晶粒界面12、13.15.16.1
7・・・ルツボ21・・・発光層 22・・
・バッファ層23・・・ガラス基板 24・・・
透明電極25・・・第1の誘電体層 26・・・第2
の誘電体層27・・・背面電極 特許用101人 株式会社小松製作所 代理人 (弁理士)岡 1)和 喜 第1図 第2図 第3図 (d)26 (e) 27 第5図 4寸孫の発光層の結晶性 30 40 50 □、(・)
第6図 (a) 従来の結晶性 2θ(°) 第6図 (b) 50 100 150 ト(y> 第7図 第9図 第10図 手続補正書 く方式) %式% 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都港区赤坂二丁目3番6号4、
代理人 7、補正の内容 3頁3行目の「33発明の名称」の記載を「3、発明の
詳細な説明」と補正する。 手続補正書(方式) %式% 1、事件の表示 昭和62年特許願第2[1020
3号2、発明の名称 薄膜EL素子およびその製造方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所(居所) 東京都港区赤坂2丁目3番6号電話(0
3)584−7111 (代)4、補正命令の日付(発
送口) 平成 1年 3月 7日 5、補正の対象 明細書の図面の簡単な説明の欄 6、補正の内容 (15)頁の17行から19行を次の通りに補正する。 「第8図(a)および(b)は本発明および従来例の薄
膜EI、素子の電圧−発光効率の比較図」を[第8図は
本発明(a)および従来例(b)の薄膜EL累子の電圧
−発光効率の比較図」に補正する。
す図、第2図は本発明に基づくバッファ層の形成方法の
原理図、第3図は本発明に基づく発光層の形成方法の原
理図、第4図は本発明実施例の薄膜EL素子を示す図、
第5図(a)乃至(f)は同素子の製造工程閲、第6図
(a)および(b)は夫々2本発明および従来例の薄1
lIEL素子の発光層のX線回折の結果を示す図、第7
図は本発明および従来例のFi IIGI E L素子
の電圧−輝度特性の比較図、第8図(a)および(b)
は本発明および従来例の薄膜EL素子の電圧−発光効率
の比較図、第9図は従来例のFA膜EL素子の発光層の
形成方法の原理を示す図、第10図は従来例の発光層の
結晶構造を示す図、第11図は従来例の薄膜EL素子を
示す図である。 1、11.18・・・真空N 2・・・ペレット3・
・・電子銃 4・・・電子ビーム14・・・
基板 E・・・電子1m・・・発光中心不
純物 B・・・結晶粒界面12、13.15.16.1
7・・・ルツボ21・・・発光層 22・・
・バッファ層23・・・ガラス基板 24・・・
透明電極25・・・第1の誘電体層 26・・・第2
の誘電体層27・・・背面電極 特許用101人 株式会社小松製作所 代理人 (弁理士)岡 1)和 喜 第1図 第2図 第3図 (d)26 (e) 27 第5図 4寸孫の発光層の結晶性 30 40 50 □、(・)
第6図 (a) 従来の結晶性 2θ(°) 第6図 (b) 50 100 150 ト(y> 第7図 第9図 第10図 手続補正書 く方式) %式% 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都港区赤坂二丁目3番6号4、
代理人 7、補正の内容 3頁3行目の「33発明の名称」の記載を「3、発明の
詳細な説明」と補正する。 手続補正書(方式) %式% 1、事件の表示 昭和62年特許願第2[1020
3号2、発明の名称 薄膜EL素子およびその製造方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所(居所) 東京都港区赤坂2丁目3番6号電話(0
3)584−7111 (代)4、補正命令の日付(発
送口) 平成 1年 3月 7日 5、補正の対象 明細書の図面の簡単な説明の欄 6、補正の内容 (15)頁の17行から19行を次の通りに補正する。 「第8図(a)および(b)は本発明および従来例の薄
膜EI、素子の電圧−発光効率の比較図」を[第8図は
本発明(a)および従来例(b)の薄膜EL累子の電圧
−発光効率の比較図」に補正する。
Claims (6)
- (1) 発光層が柱状多結晶材料から構成され,かつ発
光層はII−V族化合物に発光中心を構成する元素又は化
合物を添加した材料からなる柱状多結晶の薄膜EL素子
において,発光層と基板の間にバッファ層を設けたこと
を特徴とする薄膜EL素子。 - (2) 前記発光層は硫化カルシウム(CaS)にユウ
ロピウム(Eu)を添加してなる柱状多結晶から成り,
バッファ層は硫化亜鉛(ZnS)より成る特許請求の範
囲第(1)項記載の薄膜EL素子。 - (3) 透明電極と誘電体層と発光層と,背圧電極とを
具えた薄膜EL素子の製造方法において,発光層の形成
工程が,発光層の母材あるいは母材の構成元素と発光中
心不純物とを夫々別の蒸発源すなわち多元から蒸発せし
め,基板上に設けたバッファ層上で結合させる多元蒸着
工程であることを特徴とする薄膜EL素子の製造方法。 - (4) 前記多元蒸着工程は10^−^3Torr乃至
10^−^6Torrの真空中で行なうことを特徴とす
る特許請求の範囲第(4)項記載の薄膜EL素子の製造
方法。 - (5) 前記多元蒸発工程は,カルシウム(Ca)又は
硫化カルシウム(CaS)とイオウ(S)とユウロピウ
ム(Eu)又は硫化ユウロピウム(EuS)とからなる
蒸発源から組み合わされて,CaS:Eu発光層を形成
する工程であることを特徴とする特許請求の範囲第(3
)項記載の薄膜EL素子の製造方法。 - (6) 前記多元蒸着工程は前記蒸着源がストロンチウ
ム(Sr)又は硫化ストロンチウム(SrS)とイオウ
(S)とフッ化セリウム(CeF_3)および塩化カリ
ウム(KCl)とからなる蒸発源から組み合わされて,
SrS:Ce,K発光層を形成する工程であることを特
徴とする特許請求の範囲第(3)項記載の薄膜EL素子
の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62260203A JPH01206594A (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 薄膜el素子およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62260203A JPH01206594A (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 薄膜el素子およびその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01206594A true JPH01206594A (ja) | 1989-08-18 |
Family
ID=17344768
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62260203A Pending JPH01206594A (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 薄膜el素子およびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01206594A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04137484A (ja) * | 1990-09-28 | 1992-05-12 | Komatsu Ltd | 薄膜el素子の製造方法 |
| US6876146B2 (en) | 2002-03-26 | 2005-04-05 | Tdk Corporation | Electroluminescence phosphor multilayer thin film and electroluminescence element |
| EP1284280A3 (en) * | 2001-08-10 | 2005-06-08 | The Westaim Corporation | Phosphor thin film and EL panel |
| US6939482B2 (en) | 2002-09-20 | 2005-09-06 | Tdk Corporation | Phosphor thin film, manufacturing method of the same, and electroluminescent panel |
| US6942932B2 (en) | 2002-02-13 | 2005-09-13 | Tdk Corporation | Phosphor and EL panel |
| US6984460B2 (en) | 2002-03-26 | 2006-01-10 | Tdk Corporation | Phosphor thin film, manufacturing method of the same, and electroluminescence panel |
| US8466615B2 (en) | 2003-02-28 | 2013-06-18 | Ifire Ip Corporation | EL functional film and EL element |
-
1987
- 1987-10-14 JP JP62260203A patent/JPH01206594A/ja active Pending
Cited By (7)
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| JPH04137484A (ja) * | 1990-09-28 | 1992-05-12 | Komatsu Ltd | 薄膜el素子の製造方法 |
| EP1284280A3 (en) * | 2001-08-10 | 2005-06-08 | The Westaim Corporation | Phosphor thin film and EL panel |
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| US6876146B2 (en) | 2002-03-26 | 2005-04-05 | Tdk Corporation | Electroluminescence phosphor multilayer thin film and electroluminescence element |
| US6984460B2 (en) | 2002-03-26 | 2006-01-10 | Tdk Corporation | Phosphor thin film, manufacturing method of the same, and electroluminescence panel |
| US6939482B2 (en) | 2002-09-20 | 2005-09-06 | Tdk Corporation | Phosphor thin film, manufacturing method of the same, and electroluminescent panel |
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