JPH01210835A

JPH01210835A - 差圧伝送器の校正装置

Info

Publication number: JPH01210835A
Application number: JP3560988A
Authority: JP
Inventors: Taichi Koyashiki; 小屋敷　太一; Tatsuo Kagifuku; 辰緒鍵福
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1988-02-18
Filing date: 1988-02-18
Publication date: 1989-08-24
Anticipated expiration: 2012-06-11
Also published as: JP2618952B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の口約］（産業上の利用分野）本発明は、例えば原子力発電設備に配設されている各プ
ロセス配管の差圧を１ｌ１１定する差圧伝送器の校正装
置に関する。

（従来の技術）原子力発電所においては蒸気や廃液等の各種流体が流れ
る管が配設されている。このような６管の差圧を測定す
ることは原子ツノ発電の運転の安全性向上を図るために
重要である。

ところで、かかる差圧を測定するために差圧伝送器が使
用されるが、この差圧伝送器は例えば１年に２回の割に
その動作特性が正常であるか検査されて校正されている
。第３図は差圧伝送器の校正装置であって、各種流体の
流れる各プロセス配管１，２にはそれぞれラック元弁３
．４が設けられた各連通管５，６が接続されている。そ
して、これら連通管５．６はそれぞれドレン弁７．８を
通［１，て共通接続されている。さて、これら連通管５
．６のうち連通管５には第１校正用配管９が接続される
とともに連通管６には第２校正用配管１０が接続されて
いる。これら第１及び第２校正用配管９．１０には、そ
れぞれ均圧弁１１，１２゜１３が接続され、かつこれら
第１及び第２校正用配管９．１０の終端にそれぞれテス
ト弁１４゜１５が接続されている。なお、均圧弁１３は
第１及び第２狡ｉＥ用配管９，１０を連通する如く接続
されている。そして、第１及び第２校正用配管９゜１０
の間に差圧伝送器１６が接続されている。ここで、第１
校正用配管９が差圧伝送器１６の高圧側の導入口に接続
され、第２校正用配管１０が差圧伝送器１６の低圧側の
導入口に接続されている。

一方、１７は校正装置であって、ディジタルポルトメー
タ１８、窒素ボンベ１９及び精密圧力計２０が備えられ
ている。ディジタルポルトメータ１８は差圧伝送器１６
に接続されるものであり、又窒素ボンベ１つは加圧弁２
１．継手２２を介してテスト弁１４に連通させて接続さ
れるものである。なお、２３は減圧弁である。

かかる構成においてプロセス配管１．２の差圧を測定す
る場合は、各ラック弁３，４及び各均圧弁１１．１２を
開放するとともに均圧弁１３．各ドレン弁７，８及び各
テスト弁１４．１５を閉じて行なわれる。

一方、校正を行う場合は、先ず各ラック弁３゜４を閉じ
るとともに各ドレン弁７．８を開いて、各プロセス配管
１，２の圧力が各連通管５．６に加わらないようにする
とともに各連通管５．６内の流体を抜く。この状態にデ
ィジタルポルトメータ１８が差圧伝送器１６に接続され
るとともに窒素ボンベ１９が加圧弁２１．継手２２を介
してテスト弁１４に接続され、かつ精密圧力計２０が加
圧弁２１と継手２２との間に接続される。このとき、各
テスト弁１４．１５は開放される。従って、第２校正月
配管１０内は大気圧となる。

しかして、この状態に精密圧力計２０に表示される圧力
値を監視しながら減圧弁２３を閉じた状態で加圧弁２１
を徐々に開いたり、あるいは加圧弁２１を閉じた状態で
減圧弁２３を徐々に開いて第１校正用配管９に６値の校
正用圧力を加える。

そして、これら校正用圧力とこれら校ｉＥ用圧力を加え
たときのディジタルポルトメータ１８に表示される各差
圧とを比較し、その差が所定範囲よりも大きければ、差
圧伝送器１６は、その測定差圧が精密圧力＝１２０で表
示される圧力値に合わされて校正される。

しかしながら、このような校正装置］７には次のような
問題がある。すなわち、校正を行うにあたってディジタ
ルポルトメータ１８や窒素ボンベ１９を差圧伝送器１６
の設置位置まで運ばなければならずその運搬が大変であ
り、又窒素ボンベ１９を現場に備えることによってその
設置スペースを必要とする。さらに、ディジタルポルト
メータ１８や精密圧力計２０の表示を読み取る作業員の
作業範囲が必要となる。又、校正の前に各連通管５，６
内の流体を抜き取らなければならず、その作業に時間が
かかる。なお、校正が終了したのちに再び各連通管５，
６に流体を張らなければならないのでこの作業にも時間
がかかる。そのうえ、これら作業時に被曝の恐れがある
。

一方、校ＩＦ作業時には差圧伝送器１６の一方の導入口
は大気圧としているので、実際のプロセス配管］、２の
差圧を測定する場合のような静圧における校正はできな
い。さらに、校正用圧力を加えるのに加圧弁２］及び減
圧弁２３を手動で調節するので、校に用圧力の設定に手
間がかかり、そのうえ校ｉＬ用圧力を加えたときにディ
ジタルポルトメータ１８の表示圧力値から差圧伝送器１
６の評価を出すまでに時間がかかる。特に校正点が複数
ある場合に時間がかかる。又、各校正用配管９゜１０が
垂直方向に配置されていると、精密圧力計２０の設置位
置における圧力と差圧伝送器１６の設置位置における圧
力とが異なる場合があり、このような場合における補正
が必要となる。

（発明か解決しようとする課題）以上のように校正作業に手間がかかるうえその校正作業
に要する時間が長くかかり、かつ実際のプロセスに即し
た静圧での校正ができないものであった。

そこで本発明は、校正作業を容易にしてその校正ｌＨ１
間を短縮し、かつ実際のプロセスに沿った静圧での校Ｗ
か粘度高くできる差圧伝送器の校正装置を提供すること
を目的とする。

［発明の構成］（課題を解決するための手段）本発明は、各プロセス配管の差圧を測定する差圧伝送器
の咬ｉ［装置において、差圧伝送器の一方の導入口と連
通ずる第１校正用配管に設けられた第１圧力調節弁と、
差圧伝送器の他方の導入口と連通ずる第２校正用配管に
設けられた第２圧力調節弁と、第１及び第２校正用配管
に圧力を加える加圧装置と、差圧伝送器の各導入口に加
える複数の校正用圧力で形成した校正用圧力パターンが
設定されこの校正用圧力パターンに従って第１及び第２
圧力１周節弁の開度をそれぞれ制御する校正圧力制御手
段と、この校正圧力制御手段により各校正用圧力が順次
差圧伝送器の各導入口に加わったときにそれぞれ出力さ
れる差圧伝送器からの各差圧信号を受けこれら各差圧と
校正用圧力とを比較して差圧伝送器の誤差を求める校正
判定手段とを備えて上記目的を達成しようとする差圧伝
送器の校正装置である。

（作用）このような手段を備えたことにより、校正圧力制御手段
は校正用圧力パターンに従って第１及び第２圧力調節弁
の開度をそれぞれ制御して校正用圧力パターンの校正用
圧力を第１及び第２校正用配管に加える。このとき、校
正判定手段御手段は差圧伝送器からの差圧を受けこの差
圧と校正゛用圧力とを比較して差圧伝送器の誤差を求め
る。

（実施例）以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。なお、第３図と同一部分には同一符号を付してその
詳しい説明は省略する。

第１図は差圧伝送器の校正装置の全体構成図である。第
１及び第２校正用配管９．１ｏは共に調圧装置３０に導
かれて共通接続され、さらにこの共通管３１が調圧装置
３ｏがら出されて加圧装置３２に導かれている。この加
圧装置３２は第１及び第２校正用配管９，１ｏに圧力を
加えるもので、圧力レギュレータ３３及びブースタポン
プ３４がら構成されている。なお、３５は入口側の管で
ある。

さて、調圧装置３０内における共通管３１にはノズルフ
ラッパ形サーボ弁（以下、サーボ弁と省略する）３６が
設けられ、かつ第１校正用配管９には第１圧力調節弁と
しての同形のサーボ弁３７が設けられるとともに第２校
正用配管１ｏには第２圧力調節弁としての同形のサーボ
弁３８が設けられている。さらに、第１校正用配管９と
第２校正用配管１０との間にはこれら管９．１０を連通
ずる如く電磁弁３９が設けられている。又、第１校正用
配管９には校正用圧力センサ４ｏが設けられるとともに
第１校正用配管つと第２校正用配管１０との間には校正
用差圧センサ４１が設けられている。なお、第１及び第
２校正用配管９，１゜にはそれぞれアキュームレータ４
２．４３が設けられて各管９，１０内の圧力を安定化さ
せている。

一方、４４は圧力コントローラであって、これはＣＰＵ
　（中央処理装置）やメモリ等から構成されるもので校
正圧力制御手段４５と校正判定手段４６との機能を有し
ている。校正圧力制御手段４５は差圧伝送器１６の各導
入口に加える複数の校正用圧力（校正点）で形成した校
正用圧力パターンが設定されこの校正用圧力パターンに
従って各サーボ弁３７．３８の開度を示す各圧力制御信
号ｓｖ２．ｓｖ、を送出する機能を持ったものであり、
又校正判定手段４６は校正用圧力パターンの各校正用圧
力が差圧伝送器１６の各導入口に加わっているときにそ
れぞれ出力される差圧伝送器からの差圧検出信号Ｐｖ１
を受け、この検出差圧Ｐｖ３と校正用差圧センサ４１で
検出した校正用圧力ＰＶ１とを比較して差圧伝送器１６
の動作誤差を求める機能を持ったものである。なお、圧
力コントローラ４４は、これら機能の他にサーボ弁３６
に圧力制御信号ｓ■１を送出し、がっ校正用圧力センサ
４０からの圧力検出信号Ｐｖ１を受けて第１及び第２校
正用配管９，１ｏ内に圧力を所定値に制御する機能を白
°している。なお、４７にサーボアンプであって、これ
は各圧力制御信号ｓｖ、、ｓｖ、！及びＳｖ３を受ケチ
各す−ホ弁３６．３７．３８を駆動させる信号に変換し
て送出するものである。

次に上記の如く構成された装置での校正作用について第
２図に示す校正フローチャートに従って説明する。先ず
各ラック元弁３．４が閉じられるとともに各ドレン弁７
．８（第１図では不図示）が開かれて、各プロセス配管
１，２の圧力が各連通管５．６に力１目つらないように
するとともに各連通管５．６内の流体が抜かれる。この
後、各均圧弁１１．１２が閉しられるとともに均圧弁１
３、各テスト弁１４，１５、電磁弁３９が開放される。

なお、このとき各サーボ弁３７．３８は開放状態にある
。そして、ステップＳ１において圧力コントローラ４４
に差圧伝送器１６のレンジや耐圧値及び校正用圧力パタ
ーンが入力される。

ここで、校１Ｅ用圧力パターンについて説明すると、プ
ロセス配管１．２の差圧測定を行うときに実際に差圧伝
送器１６に加わる静圧が、第１校正用配管９の接続され
る一方の導入口で例えば７０に９゜第２校正用配管１０
の接続される他方の導入口で例えばＧＯＫｇであれば、
校正用圧力パターンは例えば第１ｔ２正川配管９に加わ
る圧力を７ｏＫｇで一定とし、第２校１１−１用配管１
０に加わる圧力を例えば６０゜（ｉｆ、　６２．・・・
７０に’Ｊの校正点とするものとなる。そして、このよ
うな校正用圧力パターンは各差圧伝送器１６ごとのもの
が多数圧カコントローラ４に記憶される。

従って、次のステップＳ２において圧力コントローラ４
４は、差圧伝送器１６に対応した校正用圧力パターンを
選択し、次のステップＳ３においてサーボ弁３６に対し
て第１及び第２校正用配管９゜１０内の圧力を例えば校
正用圧力ＢＯＫｇとする圧力制御信号Ｓｖ１を送出する
。これにより、圧力制御信号Ｓ■１はサーボアンプ４７
を通ってサーボ弁３６に加えられ、このサーボ弁３６は
その開度が制御される。従って、このとき加圧装置３２
からは液体１例えば水が高圧力で共通管３１を通つて第
１及び第２校正用配管９．１０に加えられているので、
第１及び第２校正用配管９．１０内の圧力はサーボ弁３
６で制御される。そして、これら管９，１０内の圧力が
校正用圧力センサ４０て検出され、その圧力検出信号Ｐ
ｖ１が圧力コントローラ４４に送られる。この圧力コン
トローラ４４はステップＳ４において圧力検出信号Ｐｖ
１を取り込んでステップＳ５において第１及び第２校正
用配管９，１．０内の圧力が８０１’ｊに達したかを判
断する。この判断において第１及び第２校正用配管９．
１０内の圧力が８０±αＫｉｔの範囲内に在れば８０Ｋ
ｙの校正用圧力に到達したと判断する。そして、この校
ＩＥ用圧力に到達したと判断すると、圧力コントローラ
４４はステップＳ６に移って電磁弁３９に対して全閉の
制御信号を送出する。

次に圧力コントローラ４４では校正圧力制御手段４５が
作動してステップ８７〜Ｓ９とステップｓｌ。

〜ｓ１２が並列処理される。すなわち、校正圧力制御手
段４５はステップＳ７においてサーボ弁３７に対して第
１校正用配管９内の圧力を校正用圧カフ０に９とする圧
力制御信号ＳＶ２を送出するとともにステップｓｌｏに
おいてサーボ弁３８に対して第２校正用配管１０内を校
正用圧力ｅｏＫｇとする圧力制御信号Ｓｖ４を送出する
。そして、校正圧力制御手段４５はステップｓ８．　ｓ
９において校正用圧力センサ４０からの圧力検出信号Ｐ
Ｖ１を取り込んで第１咬ＩＦ、用配管９内が校１Ｅ用圧
カフ０Ｋｇに達したかを判断し、同時にステップｓ１１
．．　ｓ１２において校正用差圧センサ４１からの校正
の差圧検出信号ＰＶ２を取り込んでこの校正差圧が各圧
力制御信号ｓｖ２．ｓｖ、、との差つまりｔｏ／（９に
許容圧力αを加えた範囲内にあるかを判断する。このよ
うにして第１校正用配管９内の圧力が７０に’ｌに到達
するとともに第２校正用配管１０内の圧力がａｏＫｇに
到達して校正差圧がｌ　Ｄ　Ｋｇになったと判断すると
、ステップｓ１３に移って校正判定手段４６は差圧伝送
器１６からの差圧検出信号ＰＶ３を取り込む。そして、
校正判定手段４６は校正用差圧センサ４１からの差圧検
出信号Ｐｖ２と差圧伝送器１６からの差圧検出ｆ。号Ｐ
Ｖ３とを対応させてメモリの記憶し、さらにこれら検出
信号Ｐ■２、Ｐ■３から校１Ｅ差圧に対する差圧伝送器
１６のΔか１定差圧の誤差を演算し求める。次にステッ
プｓ１５において校正用圧力パターンにおける各校正点
の校正用圧力に対する測定が終了したかを判断し、終了
しなければ再びステップｓ？、　ｓｌＯに戻って校正圧
力制御手段４５はサーボ弁３７に対して第１校正用配管
９内の圧力を校正用圧力１０に９とする圧力制御信号Ｓ
Ｖ２を送出し続けるとともにサーボ弁３８に対して第２
校正用配管１０内の圧力を次の校正点の校正用圧力ＧＩ
Ｋ９とする圧力制御信号ＳＶ３を送出する。しかして、
上記と同様にして校正判定手段４６は校正用差圧センサ
４１からの差圧検出信号Ｐｖ２と差圧伝送器１６からの
差圧検出１ば号Ｐｖ３とを対応させてメモリの記憶し、
さらにこれら検出信号Ｐ■２、Ｐｖ３から校正差圧に対
する差圧伝送器１６の／ｌ１１１定差圧の誤差を演算し
求める。

このようにして全ての校正点に対する測定が終了すると
、圧力コントローラ４４は各校正点て求めた各誤差から
差圧伝送器１６の補正値を作成する。そして、差圧伝送
器１６が各プロセス配管１゜２間の差圧を測定するとき
、圧カコントローラ４４は校正時に求めた補正値によっ
て測定差圧を補正する。

このように上記一実施例においては、校正用圧力パター
ンに従って各サーボ弁３７．３８の開度をそれぞれ制御
して各校正用圧力を第１及び第２校正用配管９．１０に
加え、このとき差圧伝送器１６からの差圧検出信号Ｐ■
３を受けてこの差圧と校正差圧とを比較して差圧伝送器
１６のｚｔ差を求めるようにしたので、調圧装置３０等
が軽量となって運搬が容易となる。さらに、静圧下にお
いて差圧を測定できて実際のプロセス配管１　、．２１
７１の差圧を測定する場合と同一条件で校ｉＥができる
。

そして、この校正時においては自動で正確な校正用圧力
を第１及び第２校正用配管９．１に加えることができる
ので高精度な校正ができる。又、自動的により校正作業
の作業性を向上できるとともにその作業時間を短縮でき
、かつ被曝の恐れが無くなる。特にノズルスラッパ形サ
ーボ弁を使用しているので液体を抜き取る作業が無くな
る。

なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、共
通管３１を使用せずに第１及び第２校正用配管９．１０
に対してそれぞれ直接加圧装置を接続するようにしても
よい。又、ノズルスラッパ形サーボ弁に限らず液体にも
適用できる弁であればよい。

［発明の効果］このように本発明によれば、校正作業を容易にしてその
校正時間を短縮し、かつ実際のプロセスに沿った静圧で
の校正が精度高くできる差圧伝送器の校正装置を提供で
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係わる差圧伝送器の校正装置の一実施
例を示す全体構成図、第２図は同装置の校正フローチャ
ート、第３図は従来の校正装置の構成図である。１．２・・・プロセス配管、３．４・・・ラック元弁、
５．６・・・連通管、９・・・第１校正用配管、１０・
・・第２校正用配管、１１，１２．１３・・・均庄弁、
１４゜１５・・・テスト弁、１６・・・差圧伝送器、３
０・・・調圧装置、３１・・・共通弁、３２・・・加圧
装置、３６゜３７．３８・・・サーボ弁、３９・・・電
磁弁、４０・・・校正用センサ、４１・・・校正用差圧
センサ、４２゜４３・・・アキュームレータ、４４・・
・圧力コントローラ、４５・・・校正圧力制御手段、４
６・・・校正判定手段、４７・・・サーボアンプ。出願人代理人　弁理士　鈴江武彦第１図

Claims

【特許請求の範囲】

各プロセス配管の差圧を測定する差圧伝送器の校正装置
において、前記差圧伝送器の一方の導入口と連通する第
１校正用配管に設けられた第１圧力調節弁と、前記差圧
伝送器の他方の導入口と連通する第２校正用配管に設け
られた第２圧力調節弁と、前記第１及び第２校正用配管
に圧力を加える加圧装置と、前記差圧伝送器の各導入口
に加える複数の校正用圧力で形成した校正用圧力パター
ンが設定されこの校正用圧力パターンに従って前記第１
及び第２圧力調節弁の開度をそれぞれ制御する校正圧力
制御手段と、この校正圧力制御手段により各校正用圧力
が順次前記差圧伝送器の各導入口に加わったときにそれ
ぞれ出力される前記差圧伝送器からの各差圧信号を受け
これら各差圧と前記校正用圧力とを比較して前記差圧伝
送器の誤差を求める校正判定手段とを具備したことを特
徴とする差圧伝送器の校正装置。