JPH01210873A - コンデンサ開閉性能試験装置 - Google Patents
コンデンサ開閉性能試験装置Info
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- JPH01210873A JPH01210873A JP63035611A JP3561188A JPH01210873A JP H01210873 A JPH01210873 A JP H01210873A JP 63035611 A JP63035611 A JP 63035611A JP 3561188 A JP3561188 A JP 3561188A JP H01210873 A JPH01210873 A JP H01210873A
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- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ｃ発明の目的コ
（産業上の利用分野）
本発明は遮断器や開閉器等のコンデンサ開閉性能を評価
するためのコンデンサ開閉性能試験装置に関する。
するためのコンデンサ開閉性能試験装置に関する。
（従来の技術）
電力系統の調相設備の１つとしてＳＣバンクや系統に発
生する高調波成分を抑制するためのフィルタバンクが使
用される。この場合、ＳＣバンク７およびフィルタバン
クの主構成要素としてはコンデンサが用いられるため、
進相電流が流れる。
生する高調波成分を抑制するためのフィルタバンクが使
用される。この場合、ＳＣバンク７およびフィルタバン
クの主構成要素としてはコンデンサが用いられるため、
進相電流が流れる。
しかして、このような進相電流の開閉を目的とするしの
として、遮断器や開閉器か使用される。
として、遮断器や開閉器か使用される。
ところが、このようなものに使用される開閉装置は、一
般の変圧器や回転電機などに使用される開閉装置と比較
して、電流遮断時に開閉極間に加わる回１￥Ｌ電圧が著
しく大きくなるなめ、厳しい条件下で使用されると言え
る。このためＳＣバンクやフィルタバンクへ適用する開
閉装置は、事前にどの程度の染件まで適用可能か充分評
価する必要かある。
般の変圧器や回転電機などに使用される開閉装置と比較
して、電流遮断時に開閉極間に加わる回１￥Ｌ電圧が著
しく大きくなるなめ、厳しい条件下で使用されると言え
る。このためＳＣバンクやフィルタバンクへ適用する開
閉装置は、事前にどの程度の染件まで適用可能か充分評
価する必要かある。
一般に中圧クラスの系統ではＳＣバンクやフィルタバン
クは非接地の３相回路構成となっている。
クは非接地の３相回路構成となっている。
この回路で電流遮断を行なうと、まず、遮断第１相では
第５図（ａ）に示すように電源側対地電圧１１に対して
１．５ＰＵの直流電圧が負荷側対地電圧１２として残り
、遮断第２相では第５図（ｂ）に示すように電源側対地
電圧１１３に対して０．８７ＰＵの直流電圧が負荷側対
地電圧１４として残り、さらに遮断第３相では第５図（
ｃ’）に示すように電源側対地電圧１５に対して一〇、
８７ＰＵの直流電圧が負荷側対地電圧１６として残るよ
うになる。ここで、ＩＰｔＪは系統相電圧波高値である
。
第５図（ａ）に示すように電源側対地電圧１１に対して
１．５ＰＵの直流電圧が負荷側対地電圧１２として残り
、遮断第２相では第５図（ｂ）に示すように電源側対地
電圧１１３に対して０．８７ＰＵの直流電圧が負荷側対
地電圧１４として残り、さらに遮断第３相では第５図（
ｃ’）に示すように電源側対地電圧１５に対して一〇、
８７ＰＵの直流電圧が負荷側対地電圧１６として残るよ
うになる。ここで、ＩＰｔＪは系統相電圧波高値である
。
このため、開閉極間には遮断第１相では２．５ＰＵ、遮
断筒２．３相では１．８７ＰＵの電圧が加わる。
断筒２．３相では１．８７ＰＵの電圧が加わる。
このような現象の基で開閉装置のコンデンサ開閉性能を
評価する手法としては、実規模の回路を構成し評価する
手法が最も正確である。
評価する手法としては、実規模の回路を構成し評価する
手法が最も正確である。
しかし、最近のように系統が大容量化して来ると、コン
デンサバンク、フィルタバンクの高電圧化、大容量化が
進められ、このような回路へ適用する開閉装置の性能を
実規模回路で評価するとすれば評価装置が大形化し、費
用的にも問題が生じてくる。
デンサバンク、フィルタバンクの高電圧化、大容量化が
進められ、このような回路へ適用する開閉装置の性能を
実規模回路で評価するとすれば評価装置が大形化し、費
用的にも問題が生じてくる。
そこで、最近では、合成試験でコンデンサ開閉性能を評
価する方法が検討されている。現在使用されている合成
試験法に用いられる構成として第６図に示すようなもの
がある。このものは電流源電源２１と電圧源電源２２を
夫々１個有し、電流ｆＸＥｆ ！ ２１の出力部にリア
クトル２３を介して補助遮断器２４を接続し、そらに供
試開閉装置２５か接続され、電圧’ａ電源２２の出力は
コンデンサ２６゛を介して、補助遮断器２４と供試開閉
装置２５に接続される構成となっている。このような構
成において、通電中の補助遮Ｕｒ器２４と供試開閉装置
２５を同時に開極し電流を遮断すると供試開閉装置２５
極間には第７図に示す電圧が印加さｈる。９通計価試験
を行なう場合には、極間電圧に加わる電圧が最も高くな
る遮断第１相の場合を、模擬し、第７図に示すように実
系統での遮ｌ！！ｒ第１相極間を圧２７に対して合成試
験時の極間電圧２８の／ｉ高値か同じになるように合成
試験が行なわれる。
価する方法が検討されている。現在使用されている合成
試験法に用いられる構成として第６図に示すようなもの
がある。このものは電流源電源２１と電圧源電源２２を
夫々１個有し、電流ｆＸＥｆ ！ ２１の出力部にリア
クトル２３を介して補助遮断器２４を接続し、そらに供
試開閉装置２５か接続され、電圧’ａ電源２２の出力は
コンデンサ２６゛を介して、補助遮断器２４と供試開閉
装置２５に接続される構成となっている。このような構
成において、通電中の補助遮Ｕｒ器２４と供試開閉装置
２５を同時に開極し電流を遮断すると供試開閉装置２５
極間には第７図に示す電圧が印加さｈる。９通計価試験
を行なう場合には、極間電圧に加わる電圧が最も高くな
る遮断第１相の場合を、模擬し、第７図に示すように実
系統での遮ｌ！！ｒ第１相極間を圧２７に対して合成試
験時の極間電圧２８の／ｉ高値か同じになるように合成
試験が行なわれる。
ここで３相実系統においてコンデンサバンク。
フィルタバンク回路へ適用される開閉装置では、電流遮
断時に極間に加わる電圧は上述したように各相２．５Ｐ
Ｕ、±１．８７ＰＵの値となり、これら値は各電流遮断
毎により発生する相がランダムに変化する。またアーク
時間も遮断第１相について言えば、実系統では１／６サ
イクル程度が最大であるが、単相の合成試験では１／２
サイクル程度である。またコンデンサ開閉時に発生する
再点弧はかならずしも最大極間電圧の発生する遮断第１
相で発生するとは言えず、極間電圧の低い遮断筒２．３
相で発生することもある。このため、これら異なる条件
の下での単相合成試験では実系統の現象と異なる結果に
なってしまうことがある。
断時に極間に加わる電圧は上述したように各相２．５Ｐ
Ｕ、±１．８７ＰＵの値となり、これら値は各電流遮断
毎により発生する相がランダムに変化する。またアーク
時間も遮断第１相について言えば、実系統では１／６サ
イクル程度が最大であるが、単相の合成試験では１／２
サイクル程度である。またコンデンサ開閉時に発生する
再点弧はかならずしも最大極間電圧の発生する遮断第１
相で発生するとは言えず、極間電圧の低い遮断筒２．３
相で発生することもある。このため、これら異なる条件
の下での単相合成試験では実系統の現象と異なる結果に
なってしまうことがある。
（発明が解決しようとする課！！Ｉり
このように、従来の試験装置による単相合成試験では、
極間に発生する電圧、アーク時間、各相ランダム開閉等
に問題があった。そこで、本発明ではこれら問題点を３
相合成試験で実系統で発生する電流、極間電圧を模擬し
、実際の現象と等価の試験を実現できるコンデンサ開閉
性能試験装置を提供するにある。
極間に発生する電圧、アーク時間、各相ランダム開閉等
に問題があった。そこで、本発明ではこれら問題点を３
相合成試験で実系統で発生する電流、極間電圧を模擬し
、実際の現象と等価の試験を実現できるコンデンサ開閉
性能試験装置を提供するにある。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
少なくとも中性点が共通接続された３相の電流源を源と
、少なくとも中性点が共通接続されな３相の電圧源電源
と、これら電流ａ電源と電圧源電源の間に直列接続され
た３相の第１の開閉装置およびコンデンサと、これら第
１の開閉装置とコンデンサの接続点に一方の各相端子が
接続されるとともに少なくとも他方の各相端子が共通接
続された３相の第２の開閉装置を具備し、上記第１およ
び第２の開閉装置の一方を補助開閉装置、他方を供試開
閉装置とするようになっている。
、少なくとも中性点が共通接続されな３相の電圧源電源
と、これら電流ａ電源と電圧源電源の間に直列接続され
た３相の第１の開閉装置およびコンデンサと、これら第
１の開閉装置とコンデンサの接続点に一方の各相端子が
接続されるとともに少なくとも他方の各相端子が共通接
続された３相の第２の開閉装置を具備し、上記第１およ
び第２の開閉装置の一方を補助開閉装置、他方を供試開
閉装置とするようになっている。
（作用）
このような構成において通電中の補助遮断器と、供試開
閉装置を同時開局すると、供試開閉装置の遮断第１相極
間には遮断時のコンデンサの電位と電圧源電圧及び第１
相より第２，３相遮断点までの電圧源電源中性点電位シ
フト分が加えられ、穀大２．５ＰＵの電圧が印加される
。一方、遮断する第２．３相での供試開閉装置の極間に
は遮断時のコンデンサの電位と電圧源電圧か加えられ、
最大１．８７ＰＵの電圧が印加される。
閉装置を同時開局すると、供試開閉装置の遮断第１相極
間には遮断時のコンデンサの電位と電圧源電圧及び第１
相より第２，３相遮断点までの電圧源電源中性点電位シ
フト分が加えられ、穀大２．５ＰＵの電圧が印加される
。一方、遮断する第２．３相での供試開閉装置の極間に
は遮断時のコンデンサの電位と電圧源電圧か加えられ、
最大１．８７ＰＵの電圧が印加される。
これにより＠流遮断過程で、見かけ上供試開閉装置の極
間には、実系統において開閉装置極間に印加されると同
等の電圧が印加されるようになる。
間には、実系統において開閉装置極間に印加されると同
等の電圧が印加されるようになる。
（実施例）
以下、この発明の一実施例を図面にしたがい説明する。
第１図は同実施例の回路構成を示している０図において
、３１は中性点を共通接続されるとともに接地された３
相の電流源電源、３２は中性点が共通接続され且つ非接
地の３相の電圧源を源で、これら電流源ｔａ３１と電圧
源電源の間に３相のりアクドル３３、補助遮断器３４お
よびコンデンサ３５を直列に接続する。
、３１は中性点を共通接続されるとともに接地された３
相の電流源電源、３２は中性点が共通接続され且つ非接
地の３相の電圧源を源で、これら電流源ｔａ３１と電圧
源電源の間に３相のりアクドル３３、補助遮断器３４お
よびコンデンサ３５を直列に接続する。
そして、３相の補助遮断器３４とコンデンサ３５との接
続点に３相の供試開閉装置３６の一方の各相端子を接続
する。この場合、供試開閉装置３６は他方の各相端子を
共通接続し且つ非接地状態になっている。
続点に３相の供試開閉装置３６の一方の各相端子を接続
する。この場合、供試開閉装置３６は他方の各相端子を
共通接続し且つ非接地状態になっている。
次に、このように構成した実施例の動作を説明する。
この場合、電流源電源３１の電圧Ｖ、と電圧源９８３２
の電圧Ｖ は各相同相電圧で、■・く■ヮ、Ｖ
１リ
アクトル３３のインピーダンスＺＬとコンデンサ３５の
インピーダンスＺ、の関係はＺ Ｌ ＜ （Ｚ Ｌ、し そして電流）原電源３１より流出する電流ｉ、と電圧源
電ａ３２より流出する電流ｉ はｉ、＞＞ｉｖＶ
１ となるように夫々設定され、かつ、ｉ、とｉ は１
ｖ １８０°位相のずれた波形で、各電流零点は一致するも
のとする。
の電圧Ｖ は各相同相電圧で、■・く■ヮ、Ｖ
１リ
アクトル３３のインピーダンスＺＬとコンデンサ３５の
インピーダンスＺ、の関係はＺ Ｌ ＜ （Ｚ Ｌ、し そして電流）原電源３１より流出する電流ｉ、と電圧源
電ａ３２より流出する電流ｉ はｉ、＞＞ｉｖＶ
１ となるように夫々設定され、かつ、ｉ、とｉ は１
ｖ １８０°位相のずれた波形で、各電流零点は一致するも
のとする。
ここで、補助遮断器３４と供試開閉装置３６が投入状態
にあると＋ ｉ−、ｉ の合成電流が供試１
ｖ 開閉装！３６を流れる。このときｉ、）＞ｉ でユろ
１ ｖ るから合鴫電流け１９で決まる。
にあると＋ ｉ−、ｉ の合成電流が供試１
ｖ 開閉装！３６を流れる。このときｉ、）＞ｉ でユろ
１ ｖ るから合鴫電流け１９で決まる。
この状態から補助遮断器３３と供試開閉装置３６を同時
に開極する。すると、合成電流の最初の香点（開極後、
すぐ電流零点が来る時は次の零点）で３相中の１相が遮
断される。この時の電圧ＨＨ源３２の当該相電圧値がコ
ンデンサ３５にチャージされ維持される。ここで、１相
が遮断されると、他の２相が遮断されるまでの位相差は
９０゜あり、よた１、ＺＬ＜くｚ。であるから？、試開
閏装！３６の共通接続点の電位はほぼ大地電位に近い状
態を維持する。このため、電圧源電源３２の中性点か１
相遮断後他の２相遮断までの時間の間に電圧シフトされ
る。この結果として、供試開閉装置３６の遮断第１相極
間には第２図（ａ）に示す電圧が印加される。また、遮
断筒２，３相は、電圧源電源３２の当該相電圧値と中性
点の電圧シフトに対応した値がコンデンサ３５に各々チ
ャージされ、維持されるので、遮断筒２．３相の供試開
閉装置３６の極間には第２図（ｂ）（ｃ）に示すような
電圧が印加されることになる。
に開極する。すると、合成電流の最初の香点（開極後、
すぐ電流零点が来る時は次の零点）で３相中の１相が遮
断される。この時の電圧ＨＨ源３２の当該相電圧値がコ
ンデンサ３５にチャージされ維持される。ここで、１相
が遮断されると、他の２相が遮断されるまでの位相差は
９０゜あり、よた１、ＺＬ＜くｚ。であるから？、試開
閏装！３６の共通接続点の電位はほぼ大地電位に近い状
態を維持する。このため、電圧源電源３２の中性点か１
相遮断後他の２相遮断までの時間の間に電圧シフトされ
る。この結果として、供試開閉装置３６の遮断第１相極
間には第２図（ａ）に示す電圧が印加される。また、遮
断筒２，３相は、電圧源電源３２の当該相電圧値と中性
点の電圧シフトに対応した値がコンデンサ３５に各々チ
ャージされ、維持されるので、遮断筒２．３相の供試開
閉装置３６の極間には第２図（ｂ）（ｃ）に示すような
電圧が印加されることになる。
したがって、このようにすれば電流遮断の過程において
、見掛は上供試開閉装置の極間に、実系統の開閉装置の
局間に印加されると同等の電圧を与えるようにできるの
で、開閉装置のコンデンサ開閉イ能の評価を精度よく行
なうことができる。
、見掛は上供試開閉装置の極間に、実系統の開閉装置の
局間に印加されると同等の電圧を与えるようにできるの
で、開閉装置のコンデンサ開閉イ能の評価を精度よく行
なうことができる。
また、リアクトルをｍＷすることで負荷電流を調整する
二とかでき、さらに、変圧器とＩＶＲを組合わせること
で電圧源電源による試０電圧を調整できるなど、電圧、
電流を簡単に可変することもできるので、幅の広い性能
評価を行なうことができる。
二とかでき、さらに、変圧器とＩＶＲを組合わせること
で電圧源電源による試０電圧を調整できるなど、電圧、
電流を簡単に可変することもできるので、幅の広い性能
評価を行なうことができる。
次に、第３図は本発明の他の実施例を示すしのである。
ところで、実系統で再点弧が発生すると、数ＰＵのサー
ジが発生し〜このサージにより、さらに再点弧が繰返さ
れ、対地間、相間で絶縁破壊を招くことがある。従来の
単相の合成試験では、供試開閉装置が再点弧を１回発生
するかどうかの評。
ジが発生し〜このサージにより、さらに再点弧が繰返さ
れ、対地間、相間で絶縁破壊を招くことがある。従来の
単相の合成試験では、供試開閉装置が再点弧を１回発生
するかどうかの評。
価が可能なだけで、再点弧が発生することで２次的にど
のような影響が現われるか評価することかできなかった
。そこで、この他の実施例では、再点弧が発生したとき
に他相に発生する過電圧を実系統と同等に発生させるこ
とで繰返し再点弧を発生する現象についても評価可能に
している。
のような影響が現われるか評価することかできなかった
。そこで、この他の実施例では、再点弧が発生したとき
に他相に発生する過電圧を実系統と同等に発生させるこ
とで繰返し再点弧を発生する現象についても評価可能に
している。
この場合、第３図では、３相の電圧′Ｊ！ｉ、電１３２
の共通接続された中性点をコンデンサ３７を介して接地
し、また、供試開閉装置３６の共通接続された他方端子
をコンデンサ３８を介して接地している。その他は、第
１図と同様であり、同一部分には同符号を１寸して説明
を省略している。
の共通接続された中性点をコンデンサ３７を介して接地
し、また、供試開閉装置３６の共通接続された他方端子
をコンデンサ３８を介して接地している。その他は、第
１図と同様であり、同一部分には同符号を１寸して説明
を省略している。
しかして、このように構成しても上述した実施例と同様
な効果が期待できる。この場合、電流が遮断されると遮
断第１相には２．うＰＵ、遮断器２．３相には１．８７
ＰＵもの電圧が極間に印加される。ここで、供試開閉装
置３６の極間耐圧がこの電圧に耐えられないと、極間で
絶縁破壊、即ち再点弧が発生するうそして、再点弧が発
生すると過電圧が発生することが知られているが、この
過電圧が他相に廻りこみ、他相の極間電圧に過電圧が発
生し、この過電圧により多層でも再点弧が発生し、さら
に大きな過電圧を発生する。
な効果が期待できる。この場合、電流が遮断されると遮
断第１相には２．うＰＵ、遮断器２．３相には１．８７
ＰＵもの電圧が極間に印加される。ここで、供試開閉装
置３６の極間耐圧がこの電圧に耐えられないと、極間で
絶縁破壊、即ち再点弧が発生するうそして、再点弧が発
生すると過電圧が発生することが知られているが、この
過電圧が他相に廻りこみ、他相の極間電圧に過電圧が発
生し、この過電圧により多層でも再点弧が発生し、さら
に大きな過電圧を発生する。
この他の実施例では遮断第１相極間電圧の最初の波高値
で再点弧が発生したと仮定すると、図に示す高周波電流
３９が流れる。すると、この高周波電流３９により電圧
源電源３２の中性点電圧が変動し、この変動分が他相の
極間電圧に重畳する。
で再点弧が発生したと仮定すると、図に示す高周波電流
３９が流れる。すると、この高周波電流３９により電圧
源電源３２の中性点電圧が変動し、この変動分が他相の
極間電圧に重畳する。
これによって他相の極間電圧にも、再点弧にとらなう過
電圧が第４図に示すように発生する。これにより、供試
開閉装置３６の１相が再点弧を起したことによる影響で
他相か再点弧するかどうかの評価を行なうこともできる
ようになる。
電圧が第４図に示すように発生する。これにより、供試
開閉装置３６の１相が再点弧を起したことによる影響で
他相か再点弧するかどうかの評価を行なうこともできる
ようになる。
なお、この発明は、上記実施例にのみ限定されず、要旨
を変更しない範囲で適宜変形して実施できる。例えば、
補助遮断器３４と供試開閉装置３６を入替えるようにし
ても上述した実施例と同様と効果が期待できる。また、
電圧源電源３２の各相電：原にリアクトルとコンデンサ
の直列回路を並列接続するようにしてもよい、こうする
と、再点弧時に流れる高周波電流がリアクトルとコンデ
ンサの直列回路に分流するため、リアクトルとコンデン
サの定数選定により再点弧時に他相に発生するサージ周
波数を選択することができる。さらに、を流ａ電源３１
の中性点を非接地とし、供試開閉装置３６の共通接続部
を直接接地するようにしてもよい。
を変更しない範囲で適宜変形して実施できる。例えば、
補助遮断器３４と供試開閉装置３６を入替えるようにし
ても上述した実施例と同様と効果が期待できる。また、
電圧源電源３２の各相電：原にリアクトルとコンデンサ
の直列回路を並列接続するようにしてもよい、こうする
と、再点弧時に流れる高周波電流がリアクトルとコンデ
ンサの直列回路に分流するため、リアクトルとコンデン
サの定数選定により再点弧時に他相に発生するサージ周
波数を選択することができる。さらに、を流ａ電源３１
の中性点を非接地とし、供試開閉装置３６の共通接続部
を直接接地するようにしてもよい。
［発明の効果コ
この発明は、少なくとも中性点が共通接続された３相の
電流源電源と、少なくとも中性点が共通接続された３相
の電圧源電源と、これら電流源電源と電圧源電源の間に
直列接続されな３相の第１の開閉装置およびコンデンサ
と、これら第１の開閉装置とコンデンサの接続点に一方
の各相端子が接続されるとともに少なくとも他方の各相
端子が共通接続された３相の第２の開閉装置を有し、上
記第１および第２の開閉装置の一方を補助開閉装置、他
方を供試開閉装置とするようになっている。これにより
３相合成試験において実系統で発生する電流、極間電圧
を模擬し、実際の現象と等価な試験を実現することがで
きる。
電流源電源と、少なくとも中性点が共通接続された３相
の電圧源電源と、これら電流源電源と電圧源電源の間に
直列接続されな３相の第１の開閉装置およびコンデンサ
と、これら第１の開閉装置とコンデンサの接続点に一方
の各相端子が接続されるとともに少なくとも他方の各相
端子が共通接続された３相の第２の開閉装置を有し、上
記第１および第２の開閉装置の一方を補助開閉装置、他
方を供試開閉装置とするようになっている。これにより
３相合成試験において実系統で発生する電流、極間電圧
を模擬し、実際の現象と等価な試験を実現することがで
きる。
第１図は本発明の一実施例を示す回路構成図、第２図は
同実施例の動作を説明するための図、第３図は本発明の
他実施例を示す回路構成図、第４図は同実施例の動作を
説明するための図、第５図乃至第７図は従来のコンデン
サ開閉性能試験装置の一例を説明するための図である。 ３１・・・電流源電源、３２・・・電圧源電源、３３・
・・リアクトル、３４・・・補助遮断器、３５・・・コ
ンデンサ、３６・・・供試開閉装置、３７．３８・・・
コンデンサ 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第３ 図 第４図 第６図
同実施例の動作を説明するための図、第３図は本発明の
他実施例を示す回路構成図、第４図は同実施例の動作を
説明するための図、第５図乃至第７図は従来のコンデン
サ開閉性能試験装置の一例を説明するための図である。 ３１・・・電流源電源、３２・・・電圧源電源、３３・
・・リアクトル、３４・・・補助遮断器、３５・・・コ
ンデンサ、３６・・・供試開閉装置、３７．３８・・・
コンデンサ 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第３ 図 第４図 第６図
Claims (1)
- 少なくとも中性点が共通接続された３相の電流源電源と
、少なくとも中性点が共通接続された３相の電圧源電源
と、これら電流源電源と電圧源電源の間に直列接続され
た３相の第１の開閉装置およびコンデンサと、これら第
１の開閉装置とコンデンサの接続点に一方の各相端子が
接続されるとともに少なくとも他方の各相端子が共通接
続された３相の第２の開閉装置を具備し、上記第１およ
び第２の開閉装置の一方を補助開閉装置、他方を供試開
閉装置とするようにしたことを特徴とするコンデンサ開
閉性能試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3561188A JP2666946B2 (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | コンデンサ開閉性能試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3561188A JP2666946B2 (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | コンデンサ開閉性能試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01210873A true JPH01210873A (ja) | 1989-08-24 |
| JP2666946B2 JP2666946B2 (ja) | 1997-10-22 |
Family
ID=12446637
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3561188A Expired - Lifetime JP2666946B2 (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | コンデンサ開閉性能試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2666946B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102495363A (zh) * | 2011-10-25 | 2012-06-13 | 南京南瑞继保电气有限公司 | ±800kV特高压直流阀组闭锁判别方法 |
-
1988
- 1988-02-18 JP JP3561188A patent/JP2666946B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102495363A (zh) * | 2011-10-25 | 2012-06-13 | 南京南瑞继保电气有限公司 | ±800kV特高压直流阀组闭锁判别方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2666946B2 (ja) | 1997-10-22 |
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