JPH01213691A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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Publication number
JPH01213691A
JPH01213691A JP63039202A JP3920288A JPH01213691A JP H01213691 A JPH01213691 A JP H01213691A JP 63039202 A JP63039202 A JP 63039202A JP 3920288 A JP3920288 A JP 3920288A JP H01213691 A JPH01213691 A JP H01213691A
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JP
Japan
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column
row
memory cell
memory
address
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Pending
Application number
JP63039202A
Other languages
English (en)
Inventor
Norio Tanaka
紀夫 田中
Hiroyuki Sakai
浩之 坂井
Tsutomu Furuhashi
勉 古橋
Yasuo Hocchi
発知 恭生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Industry and Control Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microsoftware Systems Inc
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microsoftware Systems Inc filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
■産業上の利用分野】 本発明は、記憶装置に係り、特に水平方向、垂直方向に
関わらず、2値化された文字や図形などの画像データを
、高速に描画できる表示メモリに適した半導体記憶装置
に関する。
【従来の技術】
従来の表示メモリは、アドレスと、表示メモリのメモリ
セルがl対lに対応しており、この表示メモリを用いて
システムを構成し、かつ表示メモリのアクセスの方向を
走査線(横)方向と、走査線と垂直(縦)方向に切換え
る方法として、例えば特開昭61−167986号に記
載されている。この公知例においては、縦方向のアドレ
ス付けは、走査線方向に8ビツト(1バイト)とし、バ
イト単位で垂直方向にアドレッシングを連続的に行なう
構成をとっている。 ■発明が解決しようとする課題1 上記従来の方式は、例えば文字フォントを垂直方向に連
続的に書込む場合には効果的であるが、直線やビットイ
メージデータを垂直方向に書込む場合は、1ドツトを書
込むのに1メモリサイクルを要する。水平方向の場合は
8ドツトを書込むのに1メモリサイクルで済むのに比べ
て8倍の処理時間がかかることになる。 したがって、垂直方向の直線描画において、水平方向へ
の描画速度と比較して、遅くなり、描画性能の点で問題
があった。 本発明の目的は、垂直方向、水平方向共に同一の描画処
理性能が得られる表示メモリに適した半導体記憶装置を
提供することにある。
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明による半導体記憶装
置は、 n行n列(nは2以上の整数)に配列されたメモリセル
を備えた半導体記憶装置であって、上記各メモリセルは
、読み書きを許容する2系統の選択信号入力端と、切換
信号により選択可部な2系統の1ビットデータ入力端と
を有し、上記各メモリセルの第1の系統の選択信号入力
端は各行毎に共通接続され、第2の系統の選択信号入力
端は各列毎に共通接続され、かつ、上記各メモリセルの
第1の系統のデータ入力端は各列毎に共通接続され、第
2の系統のデータ入力端は各行毎に共通接続されたこと
を特徴とするものである。 上記各メモリセルは、その1ビットデータ出力端も2系
統有することが望ましいが、データの読出方向を固定と
するような場合には、l系統だけでもよい。 この半導体記憶装置を有効に機能させる手段として、さ
らに、上記切換信号が上記第1の系統のデータ入力を選
択するとき、上記行毎に共通接続された上記第1の系統
の選択信号入力のいずれかを有効化し、上記切換信号が
上記第2の系統のデータ入力を選択するとき、上記列毎
に共通接続された上記第2の系統の選択信号入力のいず
れかを有効化する選択手段を設けてもよい。 さらに、本発明は、表示メモリ等に適したより実用的な
半導体記憶装置として、 上記n行n列に配列されたメモリセルからなるメモリセ
ルアレイをさらに行列形式に配置した記憶手段と、 上記メモリセルアレイの行を指定するアレイ行アクセス
手段と、 上記メモリセルアレイの列を指定するアレイ列アクセス
手段と、 上記アレイ行アクセス手段および上記アレイ列アクセス
手段により指定されたメモリセルアレイ内の任意のメモ
リセル行またはメモリセル列を指定する選択手段と、 上記アレイ行アクセス手段および上記アレイ列アクセス
手段に与える上記記憶手段のアドレス信号を変換するア
ドレス変換手段とを備えるものを提供する。 (作用] 本発明の半導体記憶装置は、n行n列(nは2以上の整
数)に配列されたメモリセルからなるメモリセルアレイ
を構成要素とし、このメモリセルアレイには上記切換信
号によりメモリセルの行または列を切換えてアクセスて
きるようにした。したがって、nビットの並列データを
行または列のいずれの方向にも書込み、または読出すこ
とができる。いずれの行(または列)をアクセスするか
は、例えば上記選択手段により選択することができる。 また、このメモリセルアレイをさらに行列形式に配列す
れば、ビットマツプ表示メモリ等に適した記憶手段を提
供できる。この場合、上記アレイ行アクセス手段および
アレイ列アクセス手段へ与える上記記憶手段のアドレス
信号をアドレス変更手段により変換する(例えば、上記
切換手段に従って同一アドレスの上記アレイ行アクセス
手段に与える部分と上記アレイ列アクセス手段に与える
部分を交換する)ことにより、水平または垂直のいずれ
の方向にも連続したアドレッシングを行なうことかでき
る。この半導体記憶装置を利用した表示メモリによって
、直線やビットイメージデータを垂直方向に書込む場合
にも水平方向の場合と同様の処理時間で書込むことが可
能になる。
【実施例】
本発明の一実施例を第3図により説明する。 同図において、半導体記憶装置lは、アドレス信号2、
切換信号3、書込信号4、およびデータ入力5を入力と
して受け、データ出力6を出力する。アドレス信号2は
、アドレス変換回路7に入力され、ここで切換信号3の
状態に応じて、所定の規則に従って変換される。アドレ
ス変換回路7の出力は行アドレスデコーダ8および列ア
ドレスデコーダ9に与えられ、一部のアドレス71はセ
レクタ10に入力され、セレクタの出力11はメモリブ
ロック100に与えられる。また切換信号3もメモリブ
ロック100に入力される。切換信号3はメモリブロッ
ク100に対するアクセスの方向、すなわち、一つのア
ドレスをメモリセルの縦方向に選択するか、横方向に選
択するかを切換える信号である。アドレス変換回路7は
、切換信号3により、縦/横のアクセスを行なうように
アドレスを出力する。行アドレスデコーダ8は、与えら
れたアドレス値72に対して、行を選択するためのデコ
ーダであり、列アドレスデコーダ9は与えられたアドレ
ス値73に対して、列を選択するためのデコーダである
。これらのデコーダの出力81および91に従って、メ
モリブロック100の中のメモリセルアレイ部101の
一つが選択され、メモリに対する書込、読出の操作が行
なわれる。 次に、切換信号3により制御されるメモリブロック10
0の詳細について第2図により説明する。 アドレス変換回路7により、変換されたアドレス71は
セレクタ10内のデコーダ12に入力され、その出力が
行セレクタ13および列セレクタ14に入力される。こ
のとき、切換信号3により、行セレクタ13または列セ
レクタ14の一方が選択される0行セレクタ13の出力
15と列セレクタ14の出力11+はメモリセルアレイ
110に与えられ、メモリセルアレイ110の中の行ま
たは列の一つを選択する信号となる。本実施例ではメモ
リセルアレイ110は8ビツト×8ビツトで示している
がデータビットの幅により可変となることは明らかであ
る。また、第1図に示した行アドレスデコーダ8と列ア
ドレスデコーダ9とにより選択されたメモリセルアレイ
部101だけを有効とするために、行デコード信号81
aおよび列デコード信号91aを用いてメモリセルアレ
イ110を制御する0両デコード信号81a、91aは
、同時に、メモリセルアレイ110の出力6の制御も行
なう、このために、行デコード信号81aと列デコード
信号91aが共に有効であるときANDゲート102に
より有効信号103が得られ、さらにこの有効信号10
3は書込信号4によりANDゲート104を通過して書
込有効信号105となり、メモリセルアレイ110への
書込を制御する。メモリセルアレイ110の入力データ
5は各セルに与えられる。出力データ106.107は
それぞれ縦方向アクセス、横方向アクセスによる出力で
あり、これをアクセスの方向を決める切換信号3で選択
することによりセレクタ108を通して正しい出力デー
タ6が得られる。また、このとき、出力データ6は他の
メモリセルアレイと接続されるが、その出力を有効/無
効にする信号として有効信号103が用いられる。 次にメモリセルアレイ110の内容について第3図によ
り説明する。 第2図に示したメモリセルアレイ110は8行×8列で
示したが、第1図においてはその一部として4行×4列
の構成を示す。8行×8列の場合はこれを単純に拡張す
ればよい。 各メモリセル110a〜110pには共通入力として、
切換信号3および書込有効信号105が与えられている
。横方向アクセスに対しては行セレクト信号15、縦方
向アクセスに対しては列セレクト信号16が与えられる
。このとき行セレクト信号15と列セレクト信号16の
中で唯一つだけが有効となるように制御されるため、書
込、または読出の対象となるのは第1図の例では、横ま
たは縦の4ビツト分となる。 入力信号5は入力の各ビットに対応するメモリセル11
0a〜 110pに与えられる0例えば入力ビット(0
)5aは横方向アクセスの場合メモリセル110a 、
110e 、110i 、110mに与えられ、縦方向
アクセスの場合、メモリセル110a 、110b 、
110c 、110dに与えられる。同様に入力ビット
(lから3)5b〜5dもそれぞれ対応するメモリセル
に入力される。 次に出力信号は、横方向出力111と縦方向出力112
に分けて出力される。各メモリセル110x(Xはa〜
p)の出力は、結線で接続されているが、メモリセル1
10x内の出力はスリーステートバッファで出力され、
選択出力されるように構成するため問題はない。横方向
出力111と縦方向出力112は出力セレクタ108に
入力され、切換信号3により選択出力される。またこの
とき、当該メモリセルアレイ110が選択されたアレイ
であるかどうかを示す有効信号103により、出力のス
リーステート制御が行なわれる。 次に、第4図に出力セレクタ108の具体例を示す。第
4図は出力セレクタ108の1ビツト分である。横方向
出力111と縦方向出力112は切換信号3によって、
ANDゲート 108a 、108b、ORゲート 1
08c、インバータ108dより構成されるセレクタを
通り、選択出力される。ORゲート108cの出力はス
リーステートバッファ 108eにより出力され、その
スリーステートの制御信号として、有効信号103が与
えられる。 第5図にメモリセル110a〜110pの1ビツト分の
セルの具体例を示す、メモリセルはNORゲート120
.121、ANDゲート122.123、インバータ1
24で構成され、書込のための信号として書込有効信号
105と行セレクト信号15または列セレクト信号16
が有効のときにのみ書込可能とするためにANDゲート
125とORゲート126を設けている。これにより、
アドレス信号2および切換信号3によって選択されたメ
モリセル群のみに対して書込を行なうように制御できる
。入力データには、横方向人力5xと縦方向入力5yと
があり、これを切換信号3で選択入力する。このときの
選択回路はANDゲート127.128、ORゲート1
2g、インバータ130で構成され、切換信号3が“l
”のとき横方向入力5xが、″0”のとき縦方向入力5
yが入力信号となる。次に、出力はメモリセルの出力を
スリーステートバッファ131゜132でそれぞれ横方
向出力111および縦方向出力112に分割して出力す
る。このような構成のメモリセルを横方向および縦方向
に同じ数(ビット)だけ並べることにより、メモリセル
アレイ110を構成することができる。このときのビッ
ト数としては、データ出力6のビット幅、例えば8ビツ
ト、16ビツトなどを選択する。 次に、第2図におけるセレクタ10の具体例を第6図を
用いて説明する。 この例ではデータのビット幅を8ビツトとしているため
、セレクタのビット数も8ビツトとなり、したがってデ
コードのための入力は3ビツト(23=8)となる。ア
ドレス信号71a 、 71b 。 71cの3ビツトはインバータ12a 、 12b 、
 12cとANDゲート12d〜12kによって構成さ
れるデコーダ12に入力され、各デコード出力を得る。 デコード出力は行セレクタ13および列セレクタ14に
与えられ、かつ切換信号3によって行セレクタ13また
は列セレクタ14のどちらかの出力のみを有効とするよ
うに制御する。切換信号3が“1”のときは行セレクタ
13が選択され、0”のときはインバータ14aにより
列セレクタ14が選択される。 これにより、行セレクタ13と列セレクタ14のAND
ゲート13d〜13にと14d〜14にの中の一つだけ
か有効となり、メモリセルアレイIIGの中の1行また
は1列を選択できることになる。 次に、第3図におけるメモリブロック100の中からメ
モリセルアレイ部110を選択する行アドレスデコーダ
8および列アドレスデコーダ9について述べる。 第3図の実施例では、メモリセルアレイ部110の構成
として4×4となっているが、これは、用とに応じてn
xn (nは正の整数)でよい。ここで2” =n (
mは正の整数)であれば、アドレス変換回路の変換か容
易となる。本実施例ではm=2、n=4の例を示してい
る。 第7図に行アドレスデコーダ8、列アドレスデコーダ9
の具体例を示す。ここでは、行アドレスデコーダ8と列
アドレスデコーダ9とは同一構成であるので、行アドレ
スデコーダ8についてのみ示した。この例では、アドレ
ス信号72a 、 72bをインバータ8e、8fおよ
びANDゲート8g。 8h、8i、8jによりデコードしており、2ビツトの
アドレス入力から一つの行を選択していることになる。 次に、アドレス変換回路7について第8図を用いて説明
する。 第3図の例ではメモリの容量は128バイト(8バイト
×16)であるのでアドレスはAo〜A6の7ビツトで
よい。このとき、アクセスの方向ごとにアドレスを割当
てると第8図に示すようになる。すなわち、行アドレス
デコーダ8に与えるアドレス72と列アドレスデコーダ
9に与えるアドレス73とを入替えることにより実現で
きる。ここで行アドレスデコーダ8、列アドレスデコー
ダ9は各2ビツト必要であるため、アドレスの上位2ビ
ツトと下位2ビツトを割当て、メモリブロックには中間
の残り3ビツトを共通に与えればよいことがわかる。こ
の様子を第9図に示すメモリブロックの機念図で説明す
る。 横方向アクセスの場合アドレスは横方向に進行する。こ
のときは、したがって列アドレスデコーダ9に下位のア
ドレスビットAo、Arを割付ける。次に、アドレス4
がアドレス0の真下に相当するためメモリブロック10
0内でのデコード回路を用いる。このメモリブロック1
00は8バイト分あるためアドレスビットは3ビツト必
要である。 これがA t 、 A 3. A 4に相当する。さら
に行方向にはアドレスA s 、 A aを与えること
によりメモリセルアレイ110の選択ができる。同様に
縦方向の場合は、行方向にアドレスが進行していくため
、行アドレス信号72にアドレスの下位A、、A、を、
列アドレス信号73にアドレスの上位A s 、 A 
t、を与えればよいことになる。 次に、各メモリセルアレイ110のビット重みについて
第10図に示す。 第1図に示したメモリセルアレイ配列の例では入力5a
が、セルの第1行(110a 、110b 、110c
 、110d )および第1列(110a 、110e
 、110i 。 110m)に接続され、同様に入力5bはセルの第2行
および第2列に、入力5Cはセルの第3行および第3列
に、入力5dは第4行および第4列にそれぞれ接続され
ている。この際、同一の行のセルについては、その縦方
向入力5y(第5図)が共通接続され、同一の列のセル
については、その横方向入力5x(第5図)が共通接続
される。この例では入力5aをLSBとするとLSBが
横方向では左側、縦方向では上側となる。また、入力5
の行あるいは列のどちらか一方の入力結線を反転、つま
りMSBとLSBを順次、逆順に接続することにより、
横方向または縦方向のLSBとMSBの位置を反転させ
るようにすることも可能である。このときはメモリセル
アレイの中で左に90°回転した状態で記憶することを
意味する。 第11図にメモリブロック100を8行×8列にしたと
きのアドレス変換の対応図を示す。 この場合、行アドレスデコーダ8および列アドレスデコ
ーダ9は各3ビツトずつ要するのでアドレスの上位3ビ
ツト、下位3ビツトをメモリブロック100に与えるこ
とになる。このようにメモリブロック100のセルアレ
イ数が増加しても同様の方法で対応できる。 第12図に、第8図に示すアドレス変換対応図に基づく
アドレス変換回路7の具体例を示す。 第8図の対応図では、切換信号3により、アドレスAo
−AIとアドレスA s 、 A sを切換えればよい
ためAND−ORゲート74.75.76、77とイン
バータ78で実現できる。この、ときの切換信号3につ
いては、半導体記憶装置1の外部にレジスタ(図示せず
)を設けて指定することにより可能であり、また、アド
レス信号の使用していない上位ビット1ビツトを割当て
て、メモリ空間のイメージ空間とし指定することも可能
である。 (発明の効果] 本発明によれば、メモリブロック内のアクセスの方向を
横または縦に指定して選択できるので、従来の横方向へ
の描画と同等の速度で縦方向への描画が可能となり、描
画処理速度を向上させることのできる半導体記憶装置を
提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による半導体記憶袋との一実施例のブロ
ック結線図、第2図は第1図の記憶装置をその駆動回路
と共に示すブロック結線図、第3図は第1図の記憶装置
をさらに行列形式に配置した記憶装置のブロック図、第
4図、第5図、第6図はそれぞれ第2図の各ブロックの
詳細回路図、第7図は第3図のブロックの詳細回路図、
第8図および第11図は第3図のアドレス変換回路のア
ドレス変換を示す対応図、第9図および第10図は本発
明の第3図の記憶装着のメモリセルの配置概念図、第1
2図は第3図のブロックの詳細回路図である。 1−・・半導体記憶装置 2・・・アドレス信号 3・・・切換信号 4・・・書込信号 5・・・入力信号 6・・・出力信号 7・・・アドレス変換回路 10−・・セレクタ(選択手段) 13−・・行セレクタ 14−・・列セレクタ 108−・・出力セレクタ 100−・・メモリブロック 110−・・メモリセルアレイ 8・・・行アドレスデコーダ (アレイ行アクセス手段) 9・・・列アドレスデコーダ (アレイ列アクセス手段)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、n行n列(nは2以上の整数)に配列されたメモリ
    セルを備えた半導体記憶装置であって、上記各メモリセ
    ルは、読み書きを許容する2系統の選択信号入力端と、
    切換信号により選択可能な2系統の1ビットデータ入力
    端とを有し、 上記各メモリセルの第1の系統の選択信号入力端は各行
    毎に共通接続され、第2の系統の選択信号入力端は各列
    毎に共通接続され、かつ、上記各メモリセルの第1の系
    統のデータ入力端は各列毎に共通接続され、第2の系統
    のデータ入力端は各行毎に共通接続されたことを特徴と
    する半導体記憶装置。 2、上記切換信号が上記第1の系統のデータ入力を選択
    するとき、上記行毎に共通接続された上記第1の系統の
    選択信号入力のいずれかを有効化し、上記切換信号が上
    記第2の系統のデータ入力を選択するとき、上記列毎に
    共通接続された上記第2の系統の選択信号入力のいずれ
    かを有効化する選択手段をさらに備えたことを特徴とす
    る請求項1記載の半導体記憶装置。 3、上記n行n列に配列されたメモリセルからなるメモ
    リセルアレイをさらに行列形式に配置した記憶手段と、 上記メモリセルアレイの行を指定するアレイ行アクセス
    手段と、 上記メモリセルアレイの列を指定するアレイ列アクセス
    手段と、 上記アレイ行アクセス手段および上記アレイ列アクセス
    手段により指定されたメモリセルアレイ内の任意のメモ
    リセル行またはメモリセル列を指定する選択手段と、 上記アレイ行アクセス手段および上記アレイ列アクセス
    手段に与える上記記憶手段のアドレス信号を変換するア
    ドレス変換手段とを備えることを特徴とする請求項1記
    載の半導体記憶装置。
JP63039202A 1988-02-22 1988-02-22 半導体記憶装置 Pending JPH01213691A (ja)

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JP63039202A JPH01213691A (ja) 1988-02-22 1988-02-22 半導体記憶装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018160029A (ja) * 2017-03-22 2018-10-11 株式会社東芝 半導体集積回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018160029A (ja) * 2017-03-22 2018-10-11 株式会社東芝 半導体集積回路

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