JPH0121594Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案はICテスタ用マガジン移送装置に関
し、特にテストが終つたICを取込むための空マ
ガジンを所定位置に移送する部分と、テストが終
了したICによつて満杯になつたマガジンをマガ
ジンストツカに移送させる移送装置の改良に関す
るものである。

〈考案の背景〉 ICテスタは大別してICの電気的な機能を試験
する電気試験手段と、ICをこの電気試験手段に
接続する接続部に順次１個ずつ自動的に供給する
ハンドラとにより構成される。

この考案は特にハンドラの改良に関するもので
あり、その目的とするところは取扱いが容易であ
ること及び小形化を達することができる構造とし
たマガジン移送装置を提案するものである。

〈従来の説明〉 第１図及び第２図に従来のIC試験装置におけ
るハンドラの概要を示す。従来のハンドラにおい
ては傾斜して支持された基板１０１が設けられ、
この基板１０１に横行自在に移動台１０２が支持
される。この移動台１０２は基板１０１に対して
取外しできる構造とされ、取外した状態でICを
収納した複数のマガジン１０３を装着し、供給側
マガジン１０３ａを装着した状態で移動台１０２
を基板１０１に取付ける。

移動台１０２の下側、つまり供給側マガジン１
０３ａの下端と対向する位置に各供給側マガジン
１０３ａの下端を閉塞状態に保持するシヤツタ機
構が設けられ、このシヤツタ機構により供給側マ
ガジン１０３ａに収納したICが落下しないよう
にしている。

つまり一般にマガジン１０３は第３図に示すよ
うな断面形状を持つ筒状体によつて構成され、こ
の筒状体によりICが一列に整列され、またパツ
チージの前後関係を方向付けし収納される。マガ
ジン１０３はICを収納した状態において取扱い
が容易にできるように一端が閉塞される。このた
め移動台１０２に装着する場合供給側マガジン１
０３ａはその閉塞端が上向となるように移動台１
０２に装着する。このような理由により移動台１
０２の下側にシヤツタ機構を設け、このシヤツタ
機構によりICの落下を阻止するようにしている。

一方移動台１０２の下側にICを電気試験手段
（特に図示しない）に接続する接続部１０４が設
けられる。この接続部１０４には接点駆動機構が
設けられ、ICが供給される毎に接点駆動機構が
駆動されてICの端子ピンに接点を接触させ、被
試験ICを電気試験手段に接続する。

移動台１０２は間欠駆動機構により供給側マガ
ジン１０３ａの配列ピツチ相当量ずつ間欠送りさ
れる。この間欠送りにより移動台１０２に装着し
た供給側マガジン１０３ａの下端が接続部１０４
のガイドレールと対向する位置に運ばれる。供給
側マガジン１０３ａの下端が接続部１０４のガイ
ドレールと対向する位置に運ばれるとシヤツタが
開きマガジン１０３ａからICが自重により落下
する。

接続部１０４の上流側にはICエスケープ機構
が設けられ供給側マガジン１０３ａから落下した
ICを受け止めながらその最下端のICを１個ずつ
接点駆動機構に送給する。このICエスケープ機
構の送給動作は電気試験手段が試験を終了し、接
続部１０４からICを解放する毎に行われる。こ
のようにして順次１個ずつICの試験が行われる。

接続部１０４の下流側には選別手段１０５が設
けられる。この選別手段１０５はICを案内する
レール１０６に形成した複数のスリツト１０７
ａ，１０７ｂ，１０７ｃ，１０７ｄと、このスリ
ツト１０７ａ〜１０７ｄと対向して設けられたノ
ズル１０８ａ〜１０８ｄと、スリツト１０７ａ〜
１０７ｄの下側に配置した受側マガジン１０３ｂ
とにより構成される。

ノズル１０７ａ〜１０７ｄはレール１０６に沿
つて落下して来るICの判定結果によりその中の
一つが選択されてICの先端に向つて空気を射出
し、良品と不良品及び不良の種類別にマガジンに
落下させ、良品と不良品及び不良の種類別にIC
を選別してマガジンに収納する。

受側マガジン１０３ｂは第２図で説明した供給
側マガジン１０３ａと同様の機構により装置に支
持される。つまり装置に対して横行自在に支持さ
れた基板１０９に複数の空マガジンを並べて取付
け、１本のマガジンがICによつて満杯になると、
基板１０９が１ピツチ分移動し、スリツト１０７
ａ，１０７ｂ，１０７ｃ，１０７ｄのそれぞれの
下側に空のマガジンを配置させるようにしてい
る。

〈従来の欠点〉 このように従来のICテスタ用マガジン移送装
置はマガジン１０３ａ，１０３ｂを基板１０２及
び１０９に並べて取付け、この基板１０２及び１
０９をマガジン１０３ａ，１０３ｂの配列ピツチ
分ずつ移動させる構造であるため装置全体が大形
になつてしまう欠点がある。

即ち例えば受側マガジン１０３ｂにおいて基板
１０９に取付けたマガジンの全てが満杯になる
と、ICテスタの全ての動作を停止させ、基板１
０２及び１０９を装置から取外し、基板１０２か
らは空になつたマガジンを取外し、これに代えて
ICが収納されたマガジンを装着する。また基板
１０９からはICが満杯の状態に収納されたマガ
ジンを取外し、代つて空のマガジンを装着する。

このマガジンの交換作業を行つている間はIC
のテストを実行することができないため無駄な時
間が発生する。このためテスト時間を長くできる
ようにするために基板１０２，１０９に装着する
マガジンの本数を多く採ることが考えられる。

基板１０２，１０９に装着するマガジンの本数
を多く採ると基板１０２，１０９の形状が大形と
なり、またこの基板１０２，１０９が横動するた
めICテスト装置の設置床面積が大きくなる欠点
がある。特にICの製造工場では多くのICテスト
装置を動作させるために大きな建物が必要となり
不経済である。

〈考案の目的〉 この考案の第１の目的はICテスト装置の設置
床面積を小さくすることができる受側マガジン移
送装置を提供しようとするものである。

この考案の第２の目的はテスト動作を停止しな
くともマガジンの交換を行うことができる受側マ
ガジン移送装置を提供するものである。

〈考案の概要〉 この考案では空のマガジンを多数積重ねて収納
する空マガジンストツカを設け、この空マガジン
ストツカから順次１本ずつ空のマガジンを取出し
てテストを終了したICの排出口と対向する位置
に送給し、このマガジンが満杯になると、この満
杯になつたマガジンを横に移動させる。このとき
満杯になつたマガジンを複数本分並べて支持でき
る支持部に支持する。この支持部に所定の本数の
マガジンが並べられると、並べられた状態にある
複数のマガジンを上方に持ち上げる。このように
して支持部に所定本のマガジンが並べられる毎に
マガジンは上方に持ち上げられ、ICが満杯にな
つたマガジンを下から上に積み上げるように構成
したものである。

従つてこの考案によれば空マガジンストツカ及
び満杯マガジンストツカにおいて収納するマガジ
ンの本数が多くても少なくてもストツカの対床面
積は小さくて済む。よつてICテスト装置を小形
にすることができる。

更に空マガジンストツカが空になつたとき空の
状態にあるマガジンを空マガジンストツカに補給
すればICのテスト動作を停止させなくても受側
マガジンを順次補給することができる。よつて連
続してICをテストすることができる。

〈考案の実施例〉 第４図以下にこの考案の一実施例を示す。第４
図に空マガジンストツカの構造を示す。第４図に
示す符号４００は空マガジンストツカの全体を示
す。空マガジンストツカ４００は基板４０１に互
に向い合つて植設された一対の側板４０２と、こ
の側板４０２に形成した凹溝４０３と、凹溝４０
３に両端が挿入されて積重ねられた状態に保持さ
れた空マガジンス４０４の全体を支える第１支持
手段４０５と、この第１支持手段４０５が動作し
て空マガジン４０４を下方に落下させるとき下か
ら２番目の空マガジン４０４ａを支持する第２支
持手段４０６とによつて構成される。尚この例で
は第５図に示すように２列に空マガジン４０４を
積重ねるように構成した場合を示す。

第１支持手段４０５と第２支持手段４０６によ
つて空マガジンストツカ４００から空マガジン４
０４を１本ずつ取出す手段を構成している。つま
り第１支持手段４０５はこの例では第５図に示す
ように各一対のアーム４０５ａと４０５ｂによつ
て構成した場合を示す。アーム４０５ａ，４０５
ｂが互に連動して矢印４０７の方向に回動させる
ことにより空マガジン４０４の積重ねを下方に落
下させることができる。ここで２列に積重ねた空
マガジン４０４はアーム４０５ａ，４０５ｂの回
動により一方の列と他方の列を別々に落下させる
ことができるものとする。

第１支持手段４０５が動作するとき、第２支持
手段４０６は積重ねられた空マガジン４０４の下
端から２番目の空マガジン４０４ａを支持する。
第２支持手段４０６は例えばエアプランジヤによ
つて構成することができる。エアプランジヤの可
動ロツドを側板４０２の外側から内側に貫通させ
て溝４０３内に突出させ、この可動ロツドの突出
により下から２番目の空マガジン４０４ａを両側
から支持する。この支持により下から２番目の空
マガジン４０４ａを含む上側の空マガジンは落下
することなくその位置に支持される。この結果最
下端の空マガジンだけを下方に落下させることが
できる。このようにして空マガジンストツカ４０
０から１本ずつ空マガジン４０４が取出され、そ
の取出された空マガジン４０４はICテスタ（特
に図示しない）のIC排出口４０８と対向する位
置に移送される。

この移送を行う機構を第１移送機構と称す。こ
の移送機構４０９は例えばエアプランジヤ４０９
ａとエアプランジヤ４０９ａの可動ロツドに取付
けたマガジン受具４０９ｂとによつて構成するこ
とができる。エアプランジヤ４０９ａは基板４０
１の裏側に取付けられ、基板４０１の裏側から可
動ロツドを表側に貫通させる。可動ロツドの先端
に第６図に示すコ字状に形成した受具４０９ｂを
取付ける。第１支持手段４０５が空マガジンを１
本落下させるとき第１移送機構４０９は上昇して
来て居り受具４０９ｂの凹部にマガジンを受けて
下降し、空マガジンをホルダ４１１，４１２に装
着する。

ホルダ４１１，４１２に装着されたマガジンの
端部はIC排出口４０８と対向し、IC排出口４０
８から排出されるICをマガジンに収納する。尚
IC排出口４０８は第６図に示すように複数のス
リツト４１３を有する形状とされ、この複数のス
リツト４１３によつて幅が異なるICでも流せる
ように構成した場合を示す。またこの例では２列
を一組としてICを流し、２列のICを各別に１個
ずつ試験するように構成した場合を示す。従つて
ホルダ４１１，４１２に装着したホルダには各列
からのICが排出されて来るものとする。また第
６図に示すホルダ４１１，４１２に保持されたマ
ガジンには良品又は不良品の何れか一方だけを収
納するものとする。良品と不良品の選別は排出口
４０８の上流側に存在するものとする。ここでは
良品と不良品の選別機構については特に説明しな
い。

IC排出口４０８の部分には例えば光学手段に
よつて構成したIC通過検出器４１４を設け、こ
のIC通過検出器４１４によつてマガジンに何個
のICが投入されたかを計数し、その数が所定値
に達したときマガジンが満杯になつたと判定す
る。よつてIC通過検出器４１４はICの満杯検出
手段を構成している。

マガジンが満杯になると第１移送機構４０９が
起動されて満杯になつた側のマガジンを持ち上げ
る。マガジンが所定位置まで上昇すると、第２移
送機構４１５が起動される。第２移送機構４１５
は基板４０１と平行な面に沿つて回動する一対の
レバー４１５ａ，４１５ｂによつて構成すること
ができる。このレバー４１５ａ，４１５ｂの先端
は第１移送機構によつて持ち上げられたマガジン
の下を通つてマガジンの反対側に突出する。レバ
ー４１５ａ，４１５ｂの各先端には回動自在に支
持された爪４１６が取付けられる。この爪４１６
は常時バネの偏倚力により図示する状態に突出し
ており、マガジンの下を通るときはマガジンに傾
斜面が衝合して爪４１６は下方に押される。レバ
ー４１５ａ，４１５ｂの先端がマガジンの反対側
に突出すると第１移送機構４０９が下降する。第
１移送機構４０９が下降するとマガジンはレバー
４１５ａ，４１５ｂの上に乗せられる。尚ホルダ
４１１及び４１２に支持された２本のマガジンが
同時に満杯になることは殆んどなく、必ず一方の
マガジンだけが満杯になる。仮に２本のマガジン
が同時に満杯になつたとしても二組ある第１移送
手段４０９の中の何れか一方が優先的に動作する
ように構成することができる。

この状態でレバー４１５ａ，４１５ｂは反時計
方向に回動を始める。レバー４１５ａ，４１５ｂ
が反時計方向に回動を始めると爪４１６がマガジ
ンに係合し、マガジンを図の例では左方向に引き
寄せる。基板４０１の左側半部には支持部４１７
が設けられ、レバー４１５ａ，４１５ｂの上に乗
せられて引き寄せられたマガジンは支持部４１７
の上に乗り上げて支持される。支持部４１７の幅
Ｗは例えばマガジンの３本分に相当する寸法に選
定され、マガジンが１本ずつ運ばれて来る毎に最
初に運ばれて来たマガジンは順次左方に押し出さ
れて順送りされる。支持部４１７上に３本のマガ
ジンが揃うと例えば光学式検出器４１９がこれを
検出し、第３移送機構４２１を起動させる。

第３移送機構４２１は基板４０１の側部に取付
けたレバー４２１ａが回動され、このレバー４２
１ａに取付けられたロツド４２１ｂが上方に持ち
上げられる。ロツド４２１ｂが上方に持ち上げら
れることにより支持部４１７の上に支持されてい
た３本のマガジンがロツド４２１ｂの上に乗せら
れて上方に持ち上げられる。

上方に持ち上げられたマガジンは第７図に示す
満杯マガジンストツカ７０１に押し込まれる。満
杯マガジンストツカ７０１は側板７０２に形成し
た凹溝７０３と、凹溝７０３の下部に設けた爪７
０４とによつて構成することができる。第７図に
は３本のマガジンの一方の端部と係合する側板７
０２だけを示すが、側板７０２はマガジンの両端
部に対向して設けられる。凹溝７０３には係止具
７０４が設けられる。この係止具７０４は下方に
向う傾斜面７０４ａを有し、下端部が側板７０２
に対して回動自在に取付けられ、上端側が常時バ
ネにより押出されている。

従つて第３移送手段４２１によつてマガジンが
上方に押上げられ、マガジンの両端が爪７０４の
傾斜面７０４ａに掛ると爪７０４は押されて側板
７０２内に引込む。第３移送機構４２１が最高位
置まで上昇すると、マガジンは爪７０４の上端よ
り上側に達する。マガジンの両端が爪７０４の上
端より上側に達すると爪７０４の上端が凹溝７０
３内に突出する。この結果第３移送機構４２１が
降下してもマガジンは爪７０４に支持されてその
位置に保持される。

マガジンが第３移送機構４２１によつて順次持
ち上げられて来ると、爪７０４によつて支持され
ていたマガジンの下側に次のマガジンが挿入され
て、順次満杯の状態にあるマガジンが積み上げら
れる。満杯マガジンストツカ７０１の上端までマ
ガジンが積上げられると、その状態を例えばラン
プ又はブザー等で表示し、警報を行う。

〈考案の効果〉 上記したようにこの考案によれば空のマガジン
と満杯になつたマガジンは側板４０２と７０２に
よつて構成される空マガジンストツカと満杯マガ
ジンストツカに積重ねられて収納されるからマガ
ジンの本数が多くてもストツカの床面積が大きく
なることはない。また支持部４１７の幅Ｗをマガ
ジンの整数倍に選定すれば、小さな床面積で多量
の満杯マガジンを収容する事ができるため装置全
体を小形にすることができる。

また空マガジンストツカにマガジンが無くなつ
た場合及び満杯マガジンストツカ７０１にマガジ
ンが溜り過ぎたときテスト動作を中断する必要が
あるが、その状態に達する前に空マガジンを補給
し、また満杯マガジンを除去すればよいためテス
ト動作を中断させることなく連続してテスト動作
を行わせることができる。

支持部４１７に運ばれて来るマガジンを順次押
し出しにより左方向に移動させ、最初に運ばれて
来たマガジンが最左端に達したとき、第３移送機
構を動作させるように構成したから、第２移送機
構４１５と第３移送機構４２１との間でマガジン
の受渡しを行う場合、第３移送機構４２１に対し
てマガジンを位置決めして供給しなくてもよい。
従つて位置決機構をこの点で省略しているから構
造を簡素化している。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のICテスト装置の概要を説明す
るための側面図、第２図はICの供給側マガジン
の取付状態を説明するための斜視図、第３図は
ICを収納するマガジンの構造を説明するための
斜視図、第４図はこの考案によるマガジン移送装
置に用いる空マガジンストツカと第１移送機構の
一実施例を示す側面図、第５図は第４図を上方か
ら見た平面図、第６図はこの考案のマガジン移送
装置に用いる第２、第３移送機構の一実施例を示
す斜視図、第７図はこの考案のマガジン移送装置
に用いる満杯マガジンストツカの一実施例を示す
斜視図である。 ４００…空マガジンストツカ、４０９…第１移
送機構、４１４…満杯検出手段、４１５…第２移
送機構、４１７…支持部、４１９…マガジン本数
検出手段、７０１…満杯マガジンストツカ。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ 棒状の空マガジンを積重ねて支持する空マガ
   ジンストツカと、 Ｂ この空マガジンストツカに積重ねられた空マ
   ガジンの最下端の空マガジンをIC排出口と対
   向する位置に順次移送する第１移送機構と、 Ｃ IC排出口と対向する位置に装着された空マ
   ガジンにICが順次供給され、そのマガジンに
   ICが満杯になつたことを検出する満杯検出手
   段と、 Ｄ この満杯検出手段が満杯を検出することによ
   り起動され上記IC排出口と対向する位置に装
   着されたマガジンをマガジンの長手方向と直交
   する方向に移送する第２移送機構と、 Ｅ この第２移送機構により移送されたマガジン
   を複数本並列に並べて支持する支持部と、 Ｆ この支持部に所定の本数のマガジンが並べら
   れたことを検出するマガジン本数検出手段と、 Ｇ このマガジン本数検出手段が上記支持部上に
   所定の本数のマガジンが並べられたことを検出
   したとき起動され、支持部上に支持されたマガ
   ジンを順次下から上に押上げる第３移送機構
   と、 Ｈ ICが収納されたマガジンを順次積み上げて
   保持する満杯マガジンストツカと、 から成るICテスタ用マガジン移送装置。