JPH01216217A - 電子天びん - Google Patents
電子天びんInfo
- Publication number
- JPH01216217A JPH01216217A JP4283088A JP4283088A JPH01216217A JP H01216217 A JPH01216217 A JP H01216217A JP 4283088 A JP4283088 A JP 4283088A JP 4283088 A JP4283088 A JP 4283088A JP H01216217 A JPH01216217 A JP H01216217A
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- JP
- Japan
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- weight
- data
- load
- built
- error
- Prior art date
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- Pending
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、校正用の分銅を内蔵した電子天びんに関する
。
。
〈従来の技術〉
測定レンジが広く、かつ、高分解能のいわゆる高精度型
の電子天びんにおいては、一般に、構成パーツの温度依
存性等によって感度が狂いやすい。
の電子天びんにおいては、一般に、構成パーツの温度依
存性等によって感度が狂いやすい。
そこで、常に正確な測定を行えるように、このような電
子天びんでは、通常、校正用の基準分銅を内蔵し、適宜
にその分銅を荷重検出部に負荷して感度校正を行うよう
構成している。
子天びんでは、通常、校正用の基準分銅を内蔵し、適宜
にその分銅を荷重検出部に負荷して感度校正を行うよう
構成している。
ところで、天びんメカニズムには一般に偏置誤差（四隅
誤差）があり、普通は天びんの測定レンジ内でのこの誤
差が測定値に表れない程度に調整して実用に供している
。しかし、高精度型の電子天びんでは、このような誤差
が測定値に影響を及ぼさないレベルまでに調整すること
は困難であり、実際、完全には調整しきれていないのが
現状である。
誤差）があり、普通は天びんの測定レンジ内でのこの誤
差が測定値に表れない程度に調整して実用に供している
。しかし、高精度型の電子天びんでは、このような誤差
が測定値に影響を及ぼさないレベルまでに調整すること
は困難であり、実際、完全には調整しきれていないのが
現状である。
従って、高精度型の電子天びんで、校正用の内蔵分銅を
荷重検出部に負荷する場合、その位置は皿の中心を通る
鉛直線上になければならない。す −なわち、負荷位置
が上記の線上からずれていると、感度校正時に偏置誤差
が影響し、その校正精度を低下させてしまうことになる
。
荷重検出部に負荷する場合、その位置は皿の中心を通る
鉛直線上になければならない。す −なわち、負荷位置
が上記の線上からずれていると、感度校正時に偏置誤差
が影響し、その校正精度を低下させてしまうことになる
。
以上のことから、従来の高精度型の電子天びんでは、内
蔵分銅はその重心が皿の中心を通る鉛直線上にくる状態
で荷重検出部に負荷されるよう設計されている。
蔵分銅はその重心が皿の中心を通る鉛直線上にくる状態
で荷重検出部に負荷されるよう設計されている。
〈発明が解決しようとする課題〉
上述のような内蔵分銅の負荷位置の制約は、その分銅の
形状や分銅加除機構等の制約につながり、部品点数の増
加、機構複雑化による組立作業の煩雑化、およびメイン
テナンスの困難化等の原因となっている。
形状や分銅加除機構等の制約につながり、部品点数の増
加、機構複雑化による組立作業の煩雑化、およびメイン
テナンスの困難化等の原因となっている。
本発明はこの点に鑑みてなされたもので、校正用内蔵分
銅の負荷位置の制約をなくし、形状や機構を簡素化して
生産性およびメインテナンス性の向上をはかることので
きる、電子天びんの提供を目的としている。
銅の負荷位置の制約をなくし、形状や機構を簡素化して
生産性およびメインテナンス性の向上をはかることので
きる、電子天びんの提供を目的としている。
く課題を解決するための手段〉
上記の目的を達成するための構成を第１図に示す基本概
念図を参照しつつ説明すると、本発明は皿ａに係合する
荷重検出部すからのデータと、感度メモリＣ内の係数を
用いて、計量値演算手段ｄによって皿ａ上への載荷質量
を算出するとともに、校正用の内蔵分銅ｅおよびその加
除機構ｆと、内蔵分銅ｅの荷重検出部すへの負荷時にお
けるデータとこの内蔵分銅ｅの既知質量とから感度メモ
リＣ内の係数を更新する校正演算手段ｇを備えた天びん
において、皿ａ上に所定荷重をその中心に載せたとき、
およびその中心から所定方向に所定距離だけ偏らせて載
せたときのデータの差を算出する偏置誤差算出手段りと
、その算出結果を記憶する偏置誤差メモリｉと、その偏
置誤差メモリｉの内容を用いて、校正演算手段ｇによる
係数の更新時に、皿ａの中心線に対する内蔵分銅ｅの負
荷位置の偏りＬに起因する誤差を補正する補正演算手段
ｊを備えたことによって、特徴づけられる。
念図を参照しつつ説明すると、本発明は皿ａに係合する
荷重検出部すからのデータと、感度メモリＣ内の係数を
用いて、計量値演算手段ｄによって皿ａ上への載荷質量
を算出するとともに、校正用の内蔵分銅ｅおよびその加
除機構ｆと、内蔵分銅ｅの荷重検出部すへの負荷時にお
けるデータとこの内蔵分銅ｅの既知質量とから感度メモ
リＣ内の係数を更新する校正演算手段ｇを備えた天びん
において、皿ａ上に所定荷重をその中心に載せたとき、
およびその中心から所定方向に所定距離だけ偏らせて載
せたときのデータの差を算出する偏置誤差算出手段りと
、その算出結果を記憶する偏置誤差メモリｉと、その偏
置誤差メモリｉの内容を用いて、校正演算手段ｇによる
係数の更新時に、皿ａの中心線に対する内蔵分銅ｅの負
荷位置の偏りＬに起因する誤差を補正する補正演算手段
ｊを備えたことによって、特徴づけられる。
〈作用〉
内蔵分銅ｅを皿ａの中心を通る鉛直線（中心線）からし
だけずらせて荷重検出部すに負荷するよう構成すれば、
前述のようにそのデータには偏置誤差が含まれる。本発
明では、この誤差を演算によって補正することで、内蔵
分銅ｅを中心線からずらせて負荷する構造でも高い校正
精度を得ることを可能とする。
だけずらせて荷重検出部すに負荷するよう構成すれば、
前述のようにそのデータには偏置誤差が含まれる。本発
明では、この誤差を演算によって補正することで、内蔵
分銅ｅを中心線からずらせて負荷する構造でも高い校正
精度を得ることを可能とする。
すなわち、天びん出荷前に、皿ａの中心にある一定の荷
重を載せ、次に、同じ荷重を所定方向に所定距離だけず
らせて載せることにより、偏置誤差算出手段りは両者の
データの差を算出し、偏置誤差メモリｉ内に格納する。
重を載せ、次に、同じ荷重を所定方向に所定距離だけず
らせて載せることにより、偏置誤差算出手段りは両者の
データの差を算出し、偏置誤差メモリｉ内に格納する。
従って、その内容は当該天びん固有の、所定方向への荷
重偏置による誤差の発生状況を表す情報となり、これを
用いれば、内蔵分銅ｅの負荷位置の中心線に対するずれ
Ｌに起因する誤差分を補正できる。
重偏置による誤差の発生状況を表す情報となり、これを
用いれば、内蔵分銅ｅの負荷位置の中心線に対するずれ
Ｌに起因する誤差分を補正できる。
〈実施例〉
本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第２図は本発明実施例の構成図である。
ロバ−パル機構１によって可動方向が鉛直方向に規制さ
れた皿２は、荷重検出部３に係合している。荷重検出部
３は、例えは電磁力平衡機構やＡ−Ｄ変換器等を含み、
その出力データはインターフェース４を介して制御部５
に採り込まれる。
れた皿２は、荷重検出部３に係合している。荷重検出部
３は、例えは電磁力平衡機構やＡ−Ｄ変換器等を含み、
その出力データはインターフェース４を介して制御部５
に採り込まれる。
制御部５はマイクロコンピュータによって構成されてお
り、ＣＰＵ５１．ＲＯＭ５２．ＲＯＭ５３および不揮発
性ＲＡＭ５４等を備えている。ＲＯＭ５２には、通常の
測定用プログラムのほかに、後述する偏置誤差測定プロ
グラムおよび感度校正プログラムが書き込まれている。
り、ＣＰＵ５１．ＲＯＭ５２．ＲＯＭ５３および不揮発
性ＲＡＭ５４等を備えている。ＲＯＭ５２には、通常の
測定用プログラムのほかに、後述する偏置誤差測定プロ
グラムおよび感度校正プログラムが書き込まれている。
また、不揮発性ＲＡＭ５４には、偏置誤差を格納するエ
リアと、荷重データを質量値に換算するための係数を格
納するためのエリアが設定されている。
リアと、荷重データを質量値に換算するための係数を格
納するためのエリアが設定されている。
制御部５には、測定結果（質量）表示するための表示器
６が接続されているとともに、インターフェース４を介
して、分銅加除機構８のモータ８１を駆動するためドラ
イバ８２が接続されている。
６が接続されているとともに、インターフェース４を介
して、分銅加除機構８のモータ８１を駆動するためドラ
イバ８２が接続されている。
分銅加除機構８は、既知質量Ｍの内蔵分銅７を荷重検出
部３に負荷もしくは負荷解除するための機構であって、
前述したモータ８１によって回動されるカム８３と、そ
のカム８３の回動によって傾斜角が変化するレバー８４
等を備えてなり、レバー８４の先端に内蔵分銅７が支承
されている。
部３に負荷もしくは負荷解除するための機構であって、
前述したモータ８１によって回動されるカム８３と、そ
のカム８３の回動によって傾斜角が変化するレバー８４
等を備えてなり、レバー８４の先端に内蔵分銅７が支承
されている。
ロバ−パル機構１の可動はり１１には、内蔵分銅７を支
承するための分銅受け１２が所定方向に突出して固着さ
れており、レバー８４の先端が所定量だけ下方に変位し
たときに内蔵分銅７はこの分銅受け１２上に載り、荷重
検出部３に負荷される。その負荷位置は、皿２の中心を
通る鉛直線に対してしたけ偏っている。
承するための分銅受け１２が所定方向に突出して固着さ
れており、レバー８４の先端が所定量だけ下方に変位し
たときに内蔵分銅７はこの分銅受け１２上に載り、荷重
検出部３に負荷される。その負荷位置は、皿２の中心を
通る鉛直線に対してしたけ偏っている。
第３図はＲＯＭ５２に書き込まれた偏置誤差測定用プロ
グラムの内容を示すフローチャートである。このプログ
ラムは、天びん出荷時に選択される。このプログラムに
おいては、定められた質量Ｍｏを有する分銅を用意し、
その分銅をまず皿２の中央に載せると、そのときの荷重
データＤ０がＲＡＭ５３内に格納される。次に、その分
銅を皿２上に、中央から分銅受け１２の突出方向に定め
られた距離ｌだけずらして載せる。これにより、そのと
きの荷重データＤｌｌｌがＲＡＭ５３内に格納される。
グラムの内容を示すフローチャートである。このプログ
ラムは、天びん出荷時に選択される。このプログラムに
おいては、定められた質量Ｍｏを有する分銅を用意し、
その分銅をまず皿２の中央に載せると、そのときの荷重
データＤ０がＲＡＭ５３内に格納される。次に、その分
銅を皿２上に、中央から分銅受け１２の突出方向に定め
られた距離ｌだけずらして載せる。これにより、そのと
きの荷重データＤｌｌｌがＲＡＭ５３内に格納される。
次に、このデータＤ０とＤｌｌ＋の差ｄが、ｄ ””
Ｄｏ＋ Ｄｏ ’−−−・・−・−一一一一・−（１
）によって算出され、不揮発性ＲＡＭ５４内に格納され
、プログラムを終了する。
Ｄｏ＋ Ｄｏ ’−−−・・−・−一一一一・−（１
）によって算出され、不揮発性ＲＡＭ５４内に格納され
、プログラムを終了する。
第４図はＲＯＭ５２に書き込まれた感度校正用プログラ
ムの内容を示すフローチャートである。
ムの内容を示すフローチャートである。
このプログラムは、校正指令キー（図示せず）を押す等
によって選択される。校正指令が与えると、モータ８１
が駆動され、内蔵分銅７が分銅受け１２上に載せられ、
そのとき荷重データＤ、がＲＡＭ５３内に格納される。
によって選択される。校正指令が与えると、モータ８１
が駆動され、内蔵分銅７が分銅受け１２上に載せられ、
そのとき荷重データＤ、がＲＡＭ５３内に格納される。
次に、このデータＤ、に含まれる偏置誤差分が、不揮発
性ＲＡＭ５４内の偏置誤差データｄ、そのデータｄを求
めたときの分銅質量Ｍ０および偏置距離１１内蔵分ｗ４
７の質量Ｍおよび偏置距離りを用いて、次の（２）式に
よって補正される。
性ＲＡＭ５４内の偏置誤差データｄ、そのデータｄを求
めたときの分銅質量Ｍ０および偏置距離１１内蔵分ｗ４
７の質量Ｍおよび偏置距離りを用いて、次の（２）式に
よって補正される。
Ｍ、 ｆｆ
これによって得られたデータＤは１．内蔵分銅７の偏置
による誤差を排除したデータ、つまり内蔵骨ｗ４７を皿
２の中心を通る鉛直線上に負荷したときに得られるデー
タと等価となる。
による誤差を排除したデータ、つまり内蔵骨ｗ４７を皿
２の中心を通る鉛直線上に負荷したときに得られるデー
タと等価となる。
次に、補正後のデータＤと質量Ｍから、データを質量値
に換算するための係数Ｋが、 Ｋ＝−−・−・・−・−・・−−−−−（３）によって
算出され、不揮発性ＲＡＭ５４内に新たに格納され、通
常の測定ルーチンへと戻る。
に換算するための係数Ｋが、 Ｋ＝−−・−・・−・−・・−−−−−（３）によって
算出され、不揮発性ＲＡＭ５４内に新たに格納され、通
常の測定ルーチンへと戻る。
通常の測定ルーチンでは、以後、更新された係数Ｋを用
いて荷重データを質量値に換算し、表示器６に表示する
わけである。
いて荷重データを質量値に換算し、表示器６に表示する
わけである。
なお、偏置誤差を質量で測定し、内蔵分銅７の偏置誤差
の補正も質量側、つまり（３）式のＭに誤差分を加減し
てもよい。この場合、係数の変化に伴う誤差は含まれる
ことになるが、その量は極めてわずかで、無視し得る程
度である。
の補正も質量側、つまり（３）式のＭに誤差分を加減し
てもよい。この場合、係数の変化に伴う誤差は含まれる
ことになるが、その量は極めてわずかで、無視し得る程
度である。
また、荷重検出部近傍に温度センサを設けておき、その
センサ出力の時間当りの変化量が一定値以下になったと
きに限り、上述した感度校正用プログラムが実行される
よう構成しておくことによ □す、高い感度校正
精度を維持することができる。
センサ出力の時間当りの変化量が一定値以下になったと
きに限り、上述した感度校正用プログラムが実行される
よう構成しておくことによ □す、高い感度校正
精度を維持することができる。
更に、ロバ−パル機構１の可動はり１１と、それに対向
する固定はりにそれぞれ温度センサを配設しておき、両
者の出力差が一定値以下のときに限って感度校正用プロ
グラムが実行されるよう構成することにより、更に感度
校正精度を高く維持することができる。
する固定はりにそれぞれ温度センサを配設しておき、両
者の出力差が一定値以下のときに限って感度校正用プロ
グラムが実行されるよう構成することにより、更に感度
校正精度を高く維持することができる。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、校正用の内蔵分
銅を、皿の中心を通る鉛直線から偏らせて荷重検出部に
負荷するよう構成しても、その偏りに起因する誤差は既
に記憶している偏置誤差データを用いた演算によって補
正され、正確な感度校正が行われるから、内蔵分銅の負
荷位置に関する制約をなくすることができる。このこと
は、例えば天びんケース外に分銅受けを延ばして分銅を
載せる等の構造をも可能とし、内蔵分銅の形状や分銅加
除機構の設計上の自由度を大幅に向上させることになり
、構造上の簡素化や部品点数の削減等が可能となって、
コストダウンおよびメインテナンスの容易化を達成でき
る。
銅を、皿の中心を通る鉛直線から偏らせて荷重検出部に
負荷するよう構成しても、その偏りに起因する誤差は既
に記憶している偏置誤差データを用いた演算によって補
正され、正確な感度校正が行われるから、内蔵分銅の負
荷位置に関する制約をなくすることができる。このこと
は、例えば天びんケース外に分銅受けを延ばして分銅を
載せる等の構造をも可能とし、内蔵分銅の形状や分銅加
除機構の設計上の自由度を大幅に向上させることになり
、構造上の簡素化や部品点数の削減等が可能となって、
コストダウンおよびメインテナンスの容易化を達成でき
る。
第１図は本発明の構成を示す基本概念図、第２図は本発
明実施例の構成図、 第３図および第４図はそのＲＯＭ５３に書き込まれた偏
置誤差測定用プログラムおよび感度校正用プログラムの
内容を示すフローチャートである。 ２・・・・皿 ３・・・・荷重検出部 ５・・・・制御部 ７・・・・内蔵分銅 ８・・・・分銅加除機構 １２・・・分銅骨は 特許出願人 株式会社島津製作所代 理 人
弁理士 西１）新Ｊ 第３図 第４図
明実施例の構成図、 第３図および第４図はそのＲＯＭ５３に書き込まれた偏
置誤差測定用プログラムおよび感度校正用プログラムの
内容を示すフローチャートである。 ２・・・・皿 ３・・・・荷重検出部 ５・・・・制御部 ７・・・・内蔵分銅 ８・・・・分銅加除機構 １２・・・分銅骨は 特許出願人 株式会社島津製作所代 理 人
弁理士 西１）新Ｊ 第３図 第４図
Claims (1)
- 皿に係合する荷重検出部からのデータと、感度メモリ内
の係数を用いて、計量値演算手段によって皿上への載荷
質量を算出するとともに、校正用の内蔵分銅およびその
加除機構と、上記内蔵分銅の上記荷重検出部への負荷時
におけるデータと当該内蔵分銅の既知質量値とから上記
感度メモリ内の係数を更新する校正演算手段を備えた天
びんにおいて、上記皿上に所定荷重をその中心に載せた
とき、およびその中心から所定方向に所定距離だけ偏ら
せて載せたときのデータの差を算出する偏置誤差算出手
段と、その算出結果を記憶する偏置誤差メモリと、その
偏置誤差メモリの内容を用いて、上記校正演算手段によ
る係数の更新時に、上記皿の中心線に対する上記内蔵分
銅の負荷位置の偏りに起因する誤差を補正する補正演算
手段を有していることを特徴とする、電子天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4283088A JPH01216217A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4283088A JPH01216217A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 電子天びん |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01216217A true JPH01216217A (ja) | 1989-08-30 |
Family
ID=12646882
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4283088A Pending JPH01216217A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01216217A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20110232357A1 (en) * | 2010-03-23 | 2011-09-29 | Mettler-Toledo Ag | Calibration arrangement for an electronic balance |
-
1988
- 1988-02-24 JP JP4283088A patent/JPH01216217A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20110232357A1 (en) * | 2010-03-23 | 2011-09-29 | Mettler-Toledo Ag | Calibration arrangement for an electronic balance |
| US8763440B2 (en) * | 2010-03-23 | 2014-07-01 | Mettler-Toledo Ag | Calibration arrangement for an electronic balance |
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