JPH01218201A - 任意波形発生装置 - Google Patents
任意波形発生装置Info
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- JPH01218201A JPH01218201A JP4367588A JP4367588A JPH01218201A JP H01218201 A JPH01218201 A JP H01218201A JP 4367588 A JP4367588 A JP 4367588A JP 4367588 A JP4367588 A JP 4367588A JP H01218201 A JPH01218201 A JP H01218201A
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- signal
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は任意波形発生装置における出力波形の品位の改
善に関するものである。
善に関するものである。
第３図に従来の任意波形発生器の構成例を示す。
任意波形発生装置はオペレータが所望の波形データを予
め装置に入力し、その波形を装置から出力させ、シミュ
レーション等に使用するような装置である。
め装置に入力し、その波形を装置から出力させ、シミュ
レーション等に使用するような装置である。
同図において波形メモリ５１には、所望の出力波形を形
成する振幅値が各アドレスに書込まれている。この波形
データはオペレータが図示していないコンピュータの助
けを借りて入力することができる。波形メモリ５１の内
容はコンピュータの制御により順次読みだされ、ＤＡ変
換器５２にてアナログ信号へ変換され、増幅器（以下Ａ
ＭＰと記す）５３で増幅される。そして、ＡＭＰ５３の
出力は可変減衰器（以下ＡＴＴと記す）５４にて所望の
出力レベルに合わされ、フィルタ５５を介して出力波形
が負荷５へ加えられる。
成する振幅値が各アドレスに書込まれている。この波形
データはオペレータが図示していないコンピュータの助
けを借りて入力することができる。波形メモリ５１の内
容はコンピュータの制御により順次読みだされ、ＤＡ変
換器５２にてアナログ信号へ変換され、増幅器（以下Ａ
ＭＰと記す）５３で増幅される。そして、ＡＭＰ５３の
出力は可変減衰器（以下ＡＴＴと記す）５４にて所望の
出力レベルに合わされ、フィルタ５５を介して出力波形
が負荷５へ加えられる。
一般に、伝送系を介して信号を負荷へ加えた場合、出力
装置側（この場合、任意波形発生装置）の信号波形と、
負荷の受電端の波形とは異なってくる。伝送経路での信
号の歪みがあるからである。
装置側（この場合、任意波形発生装置）の信号波形と、
負荷の受電端の波形とは異なってくる。伝送経路での信
号の歪みがあるからである。
また、第３図の装置では、波形メモリ５１以降の梢成要
素、即ちＤＡ変換器５２とＡＭＰ５３とＡＴＴ５４とフ
ィルタ５５においても信号の歪みが発生している。従っ
て、負荷５へ出力したい所望の波形データを波形メモリ
５１へ格納しても、実際に負荷５へ加えられる波形は、
所望の波形と異なったものになる。
素、即ちＤＡ変換器５２とＡＭＰ５３とＡＴＴ５４とフ
ィルタ５５においても信号の歪みが発生している。従っ
て、負荷５へ出力したい所望の波形データを波形メモリ
５１へ格納しても、実際に負荷５へ加えられる波形は、
所望の波形と異なったものになる。
しかし第３図に示す従来の任意波形発生装置は、上述し
た伝送系や波形メモリ５１以降の回路素子（ＤＡ変換器
５２やＡ Ｍ Ｐ ５３等）によって生じる信号の歪み
を考慮しない構成であるため実際に負荷５へ加えられる
波形は、所望の波形と異なるという課題があった。
た伝送系や波形メモリ５１以降の回路素子（ＤＡ変換器
５２やＡ Ｍ Ｐ ５３等）によって生じる信号の歪み
を考慮しない構成であるため実際に負荷５へ加えられる
波形は、所望の波形と異なるという課題があった。
本発明の目的は、伝送系や波形メモリ５１以降の回路素
子による信号の歪みを校正し、所望の波形を負荷へ加え
ることができる任意波形発生装置を提供することである
。
子による信号の歪みを校正し、所望の波形を負荷へ加え
ることができる任意波形発生装置を提供することである
。
本発明は、上記課題を解決するために
波形を形成する振幅データが書込まれる第１の波形メモ
リ（２）と、 この第１の波形メモリの内容を読み出しこれをアナログ
信号へ変換し、第１の伝送系（４）を介して負荷へアナ
ログ波形を加える発生部（３）と、伝達特性が既知であ
る第２の伝送系（６）を介して前記負荷の受電端のアナ
ログ波形を検出しこれをデジタル信号へ変換して出力す
る検出器と、この検出器の出力信号と後述する第２の波
形メモリからの信号を導入し、これの差を演算する比較
器と、 前記負荷の受電端へ、負荷へ加えたい所望の波形を加え
た場合に、第２の伝送系（６）を介して検出器（７）、
から比較器（８）へ出力される波形のデータを演算する
データ校正部（１１）と、このデータ校正部からの波形
データが書込まれる第２の波形メモリ（９）と、 比較器の出力が０となるように前記第１の波形メモリ（
２）の内容を書換える校正用データ演算部（１０）と、 を備えるようにしたものである。
リ（２）と、 この第１の波形メモリの内容を読み出しこれをアナログ
信号へ変換し、第１の伝送系（４）を介して負荷へアナ
ログ波形を加える発生部（３）と、伝達特性が既知であ
る第２の伝送系（６）を介して前記負荷の受電端のアナ
ログ波形を検出しこれをデジタル信号へ変換して出力す
る検出器と、この検出器の出力信号と後述する第２の波
形メモリからの信号を導入し、これの差を演算する比較
器と、 前記負荷の受電端へ、負荷へ加えたい所望の波形を加え
た場合に、第２の伝送系（６）を介して検出器（７）、
から比較器（８）へ出力される波形のデータを演算する
データ校正部（１１）と、このデータ校正部からの波形
データが書込まれる第２の波形メモリ（９）と、 比較器の出力が０となるように前記第１の波形メモリ（
２）の内容を書換える校正用データ演算部（１０）と、 を備えるようにしたものである。
本願の装置は、負荷の受電端の波形を検出し、この検出
波形と“校正波形”との差をとり、この差がＯとなるよ
うに制御している。一般に負荷の受電端の波形と検出波
形とは異なる。それは第２の伝送系や検出器で検出波形
は歪みを受けるからである０本発明は、伝達特性が既知
である第２の伝送系や検出器における歪みをも考慮して
前記“校正波形”を予め演算し、この“校正波形”と検
出波形との差が０となるように制御しているので目的の
波形と非常に一致度の高い波形を負荷へ加えることがで
きる。
波形と“校正波形”との差をとり、この差がＯとなるよ
うに制御している。一般に負荷の受電端の波形と検出波
形とは異なる。それは第２の伝送系や検出器で検出波形
は歪みを受けるからである０本発明は、伝達特性が既知
である第２の伝送系や検出器における歪みをも考慮して
前記“校正波形”を予め演算し、この“校正波形”と検
出波形との差が０となるように制御しているので目的の
波形と非常に一致度の高い波形を負荷へ加えることがで
きる。
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明に係る任意波形発生装置の一実施例を示
す図、第２図は第１図装置の各部の信号のタイムチャー
トである。
す図、第２図は第１図装置の各部の信号のタイムチャー
トである。
第１図において、１はコンピュータであり、第１図装置
の全体を制御するとともに、本発明の特徴とする動作も
制御する。なお、後述するデータ校正部１１及び校正用
データ演算部１０は、このコンピュータ１における演算
機能で置換えることができる。
の全体を制御するとともに、本発明の特徴とする動作も
制御する。なお、後述するデータ校正部１１及び校正用
データ演算部１０は、このコンピュータ１における演算
機能で置換えることができる。
２は第１の波形メモリであり、波形を形成する振幅デー
タが書込まれている。この振幅データはコンピュータ１
の助けを借りてオペレータが入力するが、この第１の波
形メモリ２の内容は後述する校正用データ演算ｇｉｏの
面きにより修正される。
タが書込まれている。この振幅データはコンピュータ１
の助けを借りてオペレータが入力するが、この第１の波
形メモリ２の内容は後述する校正用データ演算ｇｉｏの
面きにより修正される。
３は発生部であり、第１の波形メモリ２の内容を読み出
しこれをアナログ信号へ変換し、第１の伝送系４を介し
て負荷５ヘアナログ波形を加えるものである。この発生
部３の校正は特に限定しないが、第１図では波形メモリ
２からの信号をアナログへ変換するＤＡ変換器３１と、
このＤＡ変換器３１の出力を増幅する増幅器３２と、こ
の増幅器３２の出力レベルを調整するＡ Ｔ Ｔ ３３
と、このＡ Ｔ Ｔ ３３の出力の不要な成分を除去す
るフィルタとから構成した例で示した。
しこれをアナログ信号へ変換し、第１の伝送系４を介し
て負荷５ヘアナログ波形を加えるものである。この発生
部３の校正は特に限定しないが、第１図では波形メモリ
２からの信号をアナログへ変換するＤＡ変換器３１と、
このＤＡ変換器３１の出力を増幅する増幅器３２と、こ
の増幅器３２の出力レベルを調整するＡ Ｔ Ｔ ３３
と、このＡ Ｔ Ｔ ３３の出力の不要な成分を除去す
るフィルタとから構成した例で示した。
４は第１の伝送系であり、この伝送系を介して本願発明
の出力波形が負荷５に加えられる。
の出力波形が負荷５に加えられる。
６は第２の伝送系であり、負荷５の受電端の信号を取出
し、次段の検出器７へ伝達するものである。この第２の
伝送系６は例えば同軸ライン等で構成でき、本発明にお
いては第２の伝送系６として予め伝達特性が既知のもの
を使用することが条件である。
し、次段の検出器７へ伝達するものである。この第２の
伝送系６は例えば同軸ライン等で構成でき、本発明にお
いては第２の伝送系６として予め伝達特性が既知のもの
を使用することが条件である。
７は検出器であり、第２の伝送系６を介して負荷５の受
電端のアナログ波形を検出しこれをデジタル信号へ変換
するものである。なお、コンピュータ１はこの検出器７
の伝達特性を予め知ることができ、この検出器７の伝達
特性データと第２の伝達系６の伝達特性データとを用い
て後述する“校正波形”を作成することができる。
電端のアナログ波形を検出しこれをデジタル信号へ変換
するものである。なお、コンピュータ１はこの検出器７
の伝達特性を予め知ることができ、この検出器７の伝達
特性データと第２の伝達系６の伝達特性データとを用い
て後述する“校正波形”を作成することができる。
８は比較器であり、検出器７の出力信号と後述する第２
の波形メモリからの信号を導入し、これの差を演算する
ものである。
の波形メモリからの信号を導入し、これの差を演算する
ものである。
９は第２の波形メモリであり、次に説明するような”校
正波形”のデータが各アドレスに書込まれている。負荷
５へ所望の波形（任意波形発生装置から負荷５へ実際に
加えたい波形）が加わったと仮定すると、受電端Ｐ１と
第２の伝送系６を介して検出器７へ前記所望の波形が伝
達される。しかし、検出器７へ伝達された波形は既に第
２の伝送系６により歪みを受け、所望の波形と異なって
いる。更に、検出器７でデジタル変換された波形データ
は、この検出器７でも歪みを受は受電端Ｐ１における所
望の波形と大部具なってしまう、このように受電端Ｐ１
へ所望の波形を加えた場合に、第２の伝送系６を介して
検出器７から比較器８へ出力される波形のことを本明細
書では“校正波形”という。
正波形”のデータが各アドレスに書込まれている。負荷
５へ所望の波形（任意波形発生装置から負荷５へ実際に
加えたい波形）が加わったと仮定すると、受電端Ｐ１と
第２の伝送系６を介して検出器７へ前記所望の波形が伝
達される。しかし、検出器７へ伝達された波形は既に第
２の伝送系６により歪みを受け、所望の波形と異なって
いる。更に、検出器７でデジタル変換された波形データ
は、この検出器７でも歪みを受は受電端Ｐ１における所
望の波形と大部具なってしまう、このように受電端Ｐ１
へ所望の波形を加えた場合に、第２の伝送系６を介して
検出器７から比較器８へ出力される波形のことを本明細
書では“校正波形”という。
この“校正波形”データは、データ校正部１１で演算す
ることができる。このデータ校正部１１は独立した演算
装置でも良いし、又はコンピュータ１内における演算機
能で置換えても良い、ここではコンピュータ１の演算機
能として説明する０本発明では、第２の伝送系６と検出
器７に伝達特性が既知のものを使用しており、負荷５へ
与える所望の波形データも既知であるから、受電端Ｐ１
へこの所望の波形を加えたときの検出器７の出力データ
、即ち、“校正波形”のデータはコンピュータｌのデー
タ校正部１１を用いて算出できる。
ることができる。このデータ校正部１１は独立した演算
装置でも良いし、又はコンピュータ１内における演算機
能で置換えても良い、ここではコンピュータ１の演算機
能として説明する０本発明では、第２の伝送系６と検出
器７に伝達特性が既知のものを使用しており、負荷５へ
与える所望の波形データも既知であるから、受電端Ｐ１
へこの所望の波形を加えたときの検出器７の出力データ
、即ち、“校正波形”のデータはコンピュータｌのデー
タ校正部１１を用いて算出できる。
１０は校正用データ演算部であり、この部分は独立した
演算機能素子で構成して良いし、又はコンピュータ１に
おける演算機能で兼用しても良い。
演算機能素子で構成して良いし、又はコンピュータ１に
おける演算機能で兼用しても良い。
この校正用データ演算部１０は、第１の波形メモリ２か
らデータを読み出し、比較器８の出力信号がＯとなるよ
うに（“校正波形”と検出波形が等しくなるように）、
第１の波形メモリ２から読みだした波形データに校正演
算を加え、その校正した波形データを第１の波形メモリ
２の元のアドレスへ書込むものである。
らデータを読み出し、比較器８の出力信号がＯとなるよ
うに（“校正波形”と検出波形が等しくなるように）、
第１の波形メモリ２から読みだした波形データに校正演
算を加え、その校正した波形データを第１の波形メモリ
２の元のアドレスへ書込むものである。
以上のように構成された第１図装置の動作を第２図を参
照しながら説明する。第２図の各波形図で横軸は時間（
ただしく４）図はアドレス）、縦軸は振幅を表わす。
照しながら説明する。第２図の各波形図で横軸は時間（
ただしく４）図はアドレス）、縦軸は振幅を表わす。
発明を分り易くするため、ここでは発生部３での波形歪
みはないものと仮定して説明する。また本発明の装置は
、検出器７と比較器８と校正用データ演算部１０等から
の帰還ループが設けられており、負荷へ加えられる波形
が安定する前と、安定後に分けて説明する方が分り易い
ので、第２図では（Ａ）として安定前、（Ｂ）として安
定後に分けて記載した。
みはないものと仮定して説明する。また本発明の装置は
、検出器７と比較器８と校正用データ演算部１０等から
の帰還ループが設けられており、負荷へ加えられる波形
が安定する前と、安定後に分けて説明する方が分り易い
ので、第２図では（Ａ）として安定前、（Ｂ）として安
定後に分けて記載した。
オペレータは、第２図（１）のような波形を負荷５に加
えたいため、第２図（１）の波形データを第１の波形メ
モリ２に入力し、その結果、第２図（υの波形が発生部
３から出力される。この第２図（１）の波形は、第１の
伝送系４にて歪み（第２図の例では高周波領域の成分が
減衰）、負荷５の受電端Ｐ１では第２図（２）のように
変形し、所望の波形（第２図（１））とは異なってしま
う、なお、この■の波形は時間漏れもともなっている。
えたいため、第２図（１）の波形データを第１の波形メ
モリ２に入力し、その結果、第２図（υの波形が発生部
３から出力される。この第２図（１）の波形は、第１の
伝送系４にて歪み（第２図の例では高周波領域の成分が
減衰）、負荷５の受電端Ｐ１では第２図（２）のように
変形し、所望の波形（第２図（１））とは異なってしま
う、なお、この■の波形は時間漏れもともなっている。
この受電端Ｐ１の波形（第２図（１））は、第２の伝送
系６を介してコンピュータ２で制御されるサンプリング
周期で検出器７に取込まれる。そしてここでデジタル値
へ変換され第２図（３）のようなデータとなる。
系６を介してコンピュータ２で制御されるサンプリング
周期で検出器７に取込まれる。そしてここでデジタル値
へ変換され第２図（３）のようなデータとなる。
なお、第２図（３）は検出器７のデジタルデータ出力を
アナログ的に表現したものである。
アナログ的に表現したものである。
一方、第２の波形メモリ９には、上述した“校正波形”
が予め格納されている。この“校正波形”は、負荷５の
受電端Ｐ１へ所望の波形〈第２図では（１）の波形）を
加えた時の検出器７の出力波形であるから、第２図（４
）のような波形である。“校正波形”のデータは第２の
伝送系６と検出器７の既知の伝達特性を用い、データ校
正部１１（又はコンピュータ１自身）で演算することが
できる。
が予め格納されている。この“校正波形”は、負荷５の
受電端Ｐ１へ所望の波形〈第２図では（１）の波形）を
加えた時の検出器７の出力波形であるから、第２図（４
）のような波形である。“校正波形”のデータは第２の
伝送系６と検出器７の既知の伝達特性を用い、データ校
正部１１（又はコンピュータ１自身）で演算することが
できる。
この第２図（４）の校正波形データは、コンピュータ１
の制御により読みだされ比較器８に加えられる。なお、
コンピュータ１は第２の伝送系６と検出器７の伝達特性
を把握しているので第２図（３）の波形の位相タイミン
グを知ることができる。従って、第２図（３）の波形の
位相に応じた第２図（４）の校正波形の位相、即ち、第
２図（３）と（４）の２つの波形の比較すべき位相を一
致させるように第２の波形メモリ９から適切なタイミン
グで校正波形データを読み出し比較器８へ加えることが
できる。
の制御により読みだされ比較器８に加えられる。なお、
コンピュータ１は第２の伝送系６と検出器７の伝達特性
を把握しているので第２図（３）の波形の位相タイミン
グを知ることができる。従って、第２図（３）の波形の
位相に応じた第２図（４）の校正波形の位相、即ち、第
２図（３）と（４）の２つの波形の比較すべき位相を一
致させるように第２の波形メモリ９から適切なタイミン
グで校正波形データを読み出し比較器８へ加えることが
できる。
動作が安定する前は、比較器８からは大きな誤差信号が
校正用データ演算部１０へ出力される。そして誤差信号
が０となるように校正用データ演算部１０は、第１の波
形メモリ２の内容を修正し、成る動作時間後において発
生部３の出力波形は第２図（５）のようになり、比較器
８から出力される誤差信号はＯとなる。このとき負荷５
の受電端波形は第２図（６）のように、所望の波形と一
致する。
校正用データ演算部１０へ出力される。そして誤差信号
が０となるように校正用データ演算部１０は、第１の波
形メモリ２の内容を修正し、成る動作時間後において発
生部３の出力波形は第２図（５）のようになり、比較器
８から出力される誤差信号はＯとなる。このとき負荷５
の受電端波形は第２図（６）のように、所望の波形と一
致する。
上述では発生部３での歪みを０として説明したが、発生
部３にて歪みがあっても、これらは第１図の制御ループ
内に含まれるので、この発生部３の歪みも本発明では消
去される。
部３にて歪みがあっても、これらは第１図の制御ループ
内に含まれるので、この発生部３の歪みも本発明では消
去される。
以上述べたように本発明によれば所望の波形と一致した
実波形を負荷に加えることができる。
実波形を負荷に加えることができる。
第１図は本発明に係る任意波形発生装置の一実施例を示
す図、第２図は第１図装置の各部の信号のタイムチャー
ト、第３図は従来例を示す図である。 １・・・コンピュータ、２・・・第１の波形メモリ、３
・・・発生部、４・・・第１の伝送系、６・・・第２の
伝送系、７・・・検出器、８・・・比較器、９・・・第
２の波形メモリ、１０・・・校正用データ演算部、１１
・・・データ校正部、ズリＪ 図
す図、第２図は第１図装置の各部の信号のタイムチャー
ト、第３図は従来例を示す図である。 １・・・コンピュータ、２・・・第１の波形メモリ、３
・・・発生部、４・・・第１の伝送系、６・・・第２の
伝送系、７・・・検出器、８・・・比較器、９・・・第
２の波形メモリ、１０・・・校正用データ演算部、１１
・・・データ校正部、ズリＪ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 波形を形成する振幅データが書込まれる第１の波形メモ
リ（２）と、 この第１の波形メモリの内容を読み出しこれをアナログ
信号へ変換し、第１の伝送系（４）を介して負荷へアナ
ログ波形を加える発生部（３）と、伝達特性が既知であ
る第２の伝送系（６）を介して前記負荷の受電端のアナ
ログ波形を検出しこれをデジタル信号へ変換して出力す
る検出器と、この検出器の出力信号と後述する第２の波
形メモリからの信号を導入し、これの差を演算する比較
器と、 前記負荷の受電端へ、負荷へ加えたい所望の波形を加え
た場合に、第２の伝送系（６）を介して検出器（７）か
ら比較器（８）へ出力される波形のデータを演算するデ
ータ校正部（１１）と、このデータ校正部からの波形デ
ータが書込まれる第２の波形メモリ（９）と、 比較器の出力が０となるように前記第１の波形メモリ（
２）の内容を書換える校正用データ演算部（１０）と、 を備えたことを特徴とする任意波形発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4367588A JPH01218201A (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 任意波形発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4367588A JPH01218201A (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 任意波形発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01218201A true JPH01218201A (ja) | 1989-08-31 |
Family
ID=12670415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4367588A Pending JPH01218201A (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 任意波形発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01218201A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0451831A3 (en) * | 1990-04-13 | 1992-11-19 | Advantest Corporation | Low-distorted waveform generating method and waveform generator using the same |
| WO2008149675A1 (ja) * | 2007-06-05 | 2008-12-11 | Advantest Corporation | 波形発生装置、波形発生方法およびプログラム |
-
1988
- 1988-02-26 JP JP4367588A patent/JPH01218201A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0451831A3 (en) * | 1990-04-13 | 1992-11-19 | Advantest Corporation | Low-distorted waveform generating method and waveform generator using the same |
| WO2008149675A1 (ja) * | 2007-06-05 | 2008-12-11 | Advantest Corporation | 波形発生装置、波形発生方法およびプログラム |
| US7999578B2 (en) | 2007-06-05 | 2011-08-16 | Advantest Corporation | Waveform generation device, waveform generation method, and computer readable medium |
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