JPH0121884B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0121884B2
JPH0121884B2 JP4887281A JP4887281A JPH0121884B2 JP H0121884 B2 JPH0121884 B2 JP H0121884B2 JP 4887281 A JP4887281 A JP 4887281A JP 4887281 A JP4887281 A JP 4887281A JP H0121884 B2 JPH0121884 B2 JP H0121884B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
fiber
receiving
measured
central axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP4887281A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57163851A (en
Inventor
Ichiro Inazaki
Sakae Yonezu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MITSUTOYO KK
Original Assignee
MITSUTOYO KK
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Filing date
Publication date
Application filed by MITSUTOYO KK filed Critical MITSUTOYO KK
Priority to JP4887281A priority Critical patent/JPS57163851A/ja
Publication of JPS57163851A publication Critical patent/JPS57163851A/ja
Publication of JPH0121884B2 publication Critical patent/JPH0121884B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は光フアイバーを利用した光線反射方
式による物体表面の状態等を測定するために使用
される光フアイバーの改良に関する。
光フアイバーを利用した光線反射方式による測
定方法は、被測定物の表面に測定用光線を投光用
フアイバーによつて照射し、被測定物表面からの
前記測定用光線の反射光を受光フアイバーによつ
て受光し、この受光光量の変化から被測定物の表
面の状態等を検知するものである。
例えば切削加工中の被削材の切削面の荒さを測
定する場合、受光フアイバーを通して検出される
反射光の割合は、切削表面の傾斜角分布に応じて
変化し、表面荒さは傾斜角の分布と相関性がある
ため、反射光出力によつて荒さを測定することが
できる。
ここで前記反射光出力は被測定物の表面の反射
率によつて異なり、またその反射率は被測定物の
材質によつて異なる。従つて表面荒さを正確に測
定するためには反射率の相違の影響を何らかの方
法で除去する必要がある。
このための方法として、一般に光フアイバーを
被測定面に対して垂直に配置した場合と傾斜させ
て配置した場合について、それぞれの位置での受
光用フアイバーによつて受光された反射光出力の
比を求め、これから材料の反射率の影響を除去す
るようにした方法がある。
しかしながらこのような方法の場合、投光フア
イバーと受光フアイバーが測定面に対して垂直お
よび傾斜位置をとり、二つの投光された光が互い
に干渉をし合うことになり正確な測定が困難にな
るという不都合がある。
本発明はかかる不都合を解消すべく成されたも
のであつて、小型でかつ正確に測定でき取扱いに
便利な光フアイバーを提供することを目的とす
る。
この目的は被測定物表面に垂直に配置された投
光用フアイバーと、この投光用フアイバーに平行
かつ隣接する受光用フアイバーおよび前記投光用
フアイバーと一定の角度を有する第2の受光フア
イバーと、を一体的に設けることによつて達成さ
れる。
以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明にかかる光フアイバーの実施例
を示す正面図である。
この図に示されるように、本発明にかかる光フ
アイバー1は、被測定物2の表面に対して垂直に
測定用光線を照射するようにされた投光用フアイ
バー3と、受光光束の中心軸線が前記投光用フア
イバー3の投光光束の中心軸線と平行でありかつ
隣接して配置された受光用フアイバー4と、前記
投光用フアイバー3の投光光束の中心軸線と受光
光束の中心軸線が被測定物2の表面において角度
θをなして交差する第2の受光用フアイバーと、
が一体的に設けられている。図の符号6は光源7
からの光を投光用フアイバーに導くためのレン
ズ、符号8は受光用フアイバー4からの光を受け
る受光素子、符号9は第2の受光用フアイバーの
ための受光素子をそれぞれ示す。
ここにおいて前記角度θは15度ないし40度とす
るのが理想的である。これは第2図に示されるよ
うに投光用および受光用のフアイバーの中心軸が
平行な光フアイバーを、その光束の中心軸線と被
測定2の表面に垂直な線とのなす角度ψに対する
反射光出力との関係を実験的に求めた結果による
ものである。
すなわち、第2図は角度ψを横軸に、また縦軸
には、ψ=0の場合の反射光出力を1とした場合
の各ψにおける比出力を示すものであり、4種類
の異なる表面荒さ(Rz)の材料についての実測
値を示している。これによるとψの絶対値が15度
ないし20度のとき、各試料の出力比は、表面荒さ
の変化に対して最も感度が高いことが判つた。し
たがつてθを15度ないし40度に設定すれば最も高
度が高くなる。
本発明は上記のように被測定物の表面に測定用
光線を照射するための投光用フアイバーと、前記
被測定物表面からの前記測定用光線の反射光を受
光するための受光用フアイバーとを有し、受光光
量の変化から被測定物の表面の状態等を検知する
ための光フアイバーにおいて、前記受光用フアイ
バーの受光光束の中心軸線を、前記投光用フアイ
バーの投光光束の中心軸線と平行にするととも
に、受光光束の中心軸線が前記投光用フアイバー
の中心軸線と一定角度をなす第2の受光用フアイ
バーを前記投光用フアイバーおよび受光用フアイ
バーと一体的に設けて光フアイバーを構成したの
で、2つの投光が干渉し合うことなく正確に被測
定物表面を測定できるとともに小型一体化により
取扱に便利となつたという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる光フアイバーの実施例
を示す正面図、第2図は光フアイバーの被測定面
と垂直な線に対する傾斜角と反射光出力との関係
を示すグラフである。 1……光フアイバー、2……被測定物、3……
投光用フアイバー、4……受光用フアイバー、5
……第2の受光用フアイバー。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被測定物の表面に測定用光線を照射するため
    の投光用フアイバーと、前記被測定物表面からの
    前記測定用光線の反射光を受光するための受光用
    フアイバーとを有し、受光光量の変化から被測定
    物の表面の状態等を検知するための光フアイバー
    において、前記受光用フアイバーの受光光束の中
    心軸線を、前記投光用フアイバーの投光光束の中
    心軸線と平行にするとともに、受光光束の中心軸
    線が前記投光用フアイバーの中心軸線と一定角度
    をなす第2の受光用フアイバーを前記投光用フア
    イバーおよび受光用フアイバーと一体的に設けた
    ことを特徴とする光フアイバー。 2 前記第2の受光用フアイバーの中心軸線と投
    光用フアイバーの中心軸線とのなす角度は、15度
    ないし40度とされた特許請求の範囲第1項記載の
    光フアイバー。
JP4887281A 1981-04-01 1981-04-01 Optical fiber Granted JPS57163851A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4887281A JPS57163851A (en) 1981-04-01 1981-04-01 Optical fiber

Applications Claiming Priority (1)

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JP4887281A JPS57163851A (en) 1981-04-01 1981-04-01 Optical fiber

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Publication Number Publication Date
JPS57163851A JPS57163851A (en) 1982-10-08
JPH0121884B2 true JPH0121884B2 (ja) 1989-04-24

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ID=12815373

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59143909A (ja) * 1983-02-07 1984-08-17 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 表面粗さ検出方法
JPS59143908A (ja) * 1983-02-07 1984-08-17 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 表面粗さ検出装置
GB201718699D0 (en) 2017-11-13 2017-12-27 Rolls-Royce Ltd Measuring surface roughness

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JPS57163851A (en) 1982-10-08

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