JPH0121910B2 - - Google Patents
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- JPH0121910B2 JPH0121910B2 JP55073212A JP7321280A JPH0121910B2 JP H0121910 B2 JPH0121910 B2 JP H0121910B2 JP 55073212 A JP55073212 A JP 55073212A JP 7321280 A JP7321280 A JP 7321280A JP H0121910 B2 JPH0121910 B2 JP H0121910B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- samples
- container
- analyzer
- special
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/025—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は試料供給装置に係り、特に自動分析装
置の試料吸入位置に液体試料を自動的に移動させ
る試料供給装置に関する。
置の試料吸入位置に液体試料を自動的に移動させ
る試料供給装置に関する。
従来の自動分析装置に用いられている試料供給
装置は、例えば第１図に示すごとく、円板１上に
試料容器２が配列され、回転中心３の回りに例え
ば矢印５の方向に１個ずつ間欠的に回転し、自動
分析装置（図示せず）の試料吸入位置４へ試料容
器２を順次移動させるような方式である。第１図
に示してある状態を分析開始の基準位置とする
と、自動分析装置の試料吸入位置４にある試料容
器６は自動分析装置較正のうち０点調整に用いる
ブランク用試料（通常は蒸留水などが用いられ
る）を入れておくための試料容器であり、次の試
料容器７は利得調整に用いる標準試料を入れてお
くための試料容器である。続く試料容器８以下は
被測定試料を入れるための試料容器である。
装置は、例えば第１図に示すごとく、円板１上に
試料容器２が配列され、回転中心３の回りに例え
ば矢印５の方向に１個ずつ間欠的に回転し、自動
分析装置（図示せず）の試料吸入位置４へ試料容
器２を順次移動させるような方式である。第１図
に示してある状態を分析開始の基準位置とする
と、自動分析装置の試料吸入位置４にある試料容
器６は自動分析装置較正のうち０点調整に用いる
ブランク用試料（通常は蒸留水などが用いられ
る）を入れておくための試料容器であり、次の試
料容器７は利得調整に用いる標準試料を入れてお
くための試料容器である。続く試料容器８以下は
被測定試料を入れるための試料容器である。
分析測定を開始して試料容器８以下の普通試料
を分析測定中の緊急に特別の試料を分析測定する
必要が生じた場合は、自動分析装置の試料吸入位
置４以外の位置であつて、円板１とは無関係な特
別の位置に緊急試料の入つた試料容器をセツト
し、自動分析装置の試料吸入プローブが試料吸入
位置４に来ないで上記の特別の位置に来るように
して普通試料の分析測定中に緊急試料の分析測定
を割込むようにしている。上記の従来技術では緊
急試料を同時に１個しか扱えないという欠点を有
する。また、濃度既知の精度管理用試料を時々分
析測定し、その分析結果により分析装置による日
常分析測定の精度管理が一般に行なわれている
が、その精度管理用試料の設置位置がなく、その
都度、特別に分析測定するか、又は上記した緊急
試料用の設置位置に精度管理用試料を置きかえて
分析測定する等の方法がとられている。上記の操
作はマニアルで行なわれるので、その都度オペレ
ータの労力を要し、また、試料取違いの恐れがあ
る。
を分析測定中の緊急に特別の試料を分析測定する
必要が生じた場合は、自動分析装置の試料吸入位
置４以外の位置であつて、円板１とは無関係な特
別の位置に緊急試料の入つた試料容器をセツト
し、自動分析装置の試料吸入プローブが試料吸入
位置４に来ないで上記の特別の位置に来るように
して普通試料の分析測定中に緊急試料の分析測定
を割込むようにしている。上記の従来技術では緊
急試料を同時に１個しか扱えないという欠点を有
する。また、濃度既知の精度管理用試料を時々分
析測定し、その分析結果により分析装置による日
常分析測定の精度管理が一般に行なわれている
が、その精度管理用試料の設置位置がなく、その
都度、特別に分析測定するか、又は上記した緊急
試料用の設置位置に精度管理用試料を置きかえて
分析測定する等の方法がとられている。上記の操
作はマニアルで行なわれるので、その都度オペレ
ータの労力を要し、また、試料取違いの恐れがあ
る。
本発明の目的は、精度管理用試料および標準試
料を一度設置しておくだけでこれらを繰返しサン
プリングすることができ、しかも緊急試料も容易
にサンプリングすることができる試料供給装置を
提供することにある。
料を一度設置しておくだけでこれらを繰返しサン
プリングすることができ、しかも緊急試料も容易
にサンプリングすることができる試料供給装置を
提供することにある。
本発明では、円周上に普通試料用の容器設置穴
の列を有し他の円周上の特殊試料用の容器設置穴
の列を有する回転可能な試料保持テーブルを備
え、上記普通試料用容器設置穴と上記特殊試料用
容器設置穴のそれぞれに対応する検知穴を有し試
料保持テーブルに固定されている位置検知板を備
え、上記特殊試料用の容器設置穴の列は、精度管
理用試料設置領域、標準試料設置領域および緊急
試料設置領域に位置検知板上の検知穴に対応づけ
て部分的に割り当てられており、分析装置からの
指令に応じて試料保持テーブル上の精度管理用試
料、標準試料又は緊急試料を試料吸入プローブに
対応する位置に選択的に位置付けるテーブル位置
付け装置を備えたことを特徴とする。
の列を有し他の円周上の特殊試料用の容器設置穴
の列を有する回転可能な試料保持テーブルを備
え、上記普通試料用容器設置穴と上記特殊試料用
容器設置穴のそれぞれに対応する検知穴を有し試
料保持テーブルに固定されている位置検知板を備
え、上記特殊試料用の容器設置穴の列は、精度管
理用試料設置領域、標準試料設置領域および緊急
試料設置領域に位置検知板上の検知穴に対応づけ
て部分的に割り当てられており、分析装置からの
指令に応じて試料保持テーブル上の精度管理用試
料、標準試料又は緊急試料を試料吸入プローブに
対応する位置に選択的に位置付けるテーブル位置
付け装置を備えたことを特徴とする。
本発明の望ましい実施例では、普通試料列およ
び特殊試料列上を横切るようにピペツタに接続さ
れた試料吸排管もしくは試料吸入プローブを移動
可能に配設する。そして、普通試料列移送路上の
試料は、１つあるいは複数ずつ順次定常的にサン
プリングされるように、普通試料の移送タイミン
グと試料吸入プローブの動作とが関係づけられ
る。また、特殊試料列移送路上の試料は、必要に
応じて普通試料のサンプリングの合い間にサンプ
リングされる。すなわち、普通試料の一連のサン
プリング動作の途中に割り込んで特殊試料がサン
プリングされるように、所定の特別の動作プログ
ラムあるいはオペレータの意志に基づいて、特殊
試料列移送路上に置かれた特定の特殊試料を、試
料吸入プローブが上下動される基準位置に移送
し、この移送動作と試料吸入プローブの動作とが
関係づけられる。
び特殊試料列上を横切るようにピペツタに接続さ
れた試料吸排管もしくは試料吸入プローブを移動
可能に配設する。そして、普通試料列移送路上の
試料は、１つあるいは複数ずつ順次定常的にサン
プリングされるように、普通試料の移送タイミン
グと試料吸入プローブの動作とが関係づけられ
る。また、特殊試料列移送路上の試料は、必要に
応じて普通試料のサンプリングの合い間にサンプ
リングされる。すなわち、普通試料の一連のサン
プリング動作の途中に割り込んで特殊試料がサン
プリングされるように、所定の特別の動作プログ
ラムあるいはオペレータの意志に基づいて、特殊
試料列移送路上に置かれた特定の特殊試料を、試
料吸入プローブが上下動される基準位置に移送
し、この移送動作と試料吸入プローブの動作とが
関係づけられる。
普通試料列移送路と特殊試料列移送路とは、同
じ移送手段上に形成される。この場合、一方の試
料列がサンプリング動作にあるときは、他方の試
料列のサンプリングは停止される。試料吸入プロ
ーブは、普通試料列移送路上と、特殊試料列移送
路上と、反応容器が多数配例された反応ライン上
との間を移動し得る。試料吸入プローブに吸入さ
れた試料は、反応容器内に吐出され、その後所定
試薬との反応後光学的に測定されて特定成分濃度
が求められる。
じ移送手段上に形成される。この場合、一方の試
料列がサンプリング動作にあるときは、他方の試
料列のサンプリングは停止される。試料吸入プロ
ーブは、普通試料列移送路上と、特殊試料列移送
路上と、反応容器が多数配例された反応ライン上
との間を移動し得る。試料吸入プローブに吸入さ
れた試料は、反応容器内に吐出され、その後所定
試薬との反応後光学的に測定されて特定成分濃度
が求められる。
以下、本発明の実施例を詳細に説明する。第２
図は本発明の一実施例の側断面図を示す。回転可
能な試料保持板（試料保持テーブル）９は、外筒
１０に一体的に固定され、外筒１０は内筒１１に
軸受１２，１３を介して回転可能に支持されてい
る。内筒１１はベース１４に固定されている。外
筒１０は検知板１５が固定され、外筒１０の外周
に歯１６が付いている。ベース１４に固定された
モータ１８の軸には歯車１７が固定されており、
歯車１６と連結してモータ１８の回転を試料保持
板９に伝える。検知器１９，２０，２はベース１
４に固定された金具２２，２３，２４にそれぞれ
保持されている。
図は本発明の一実施例の側断面図を示す。回転可
能な試料保持板（試料保持テーブル）９は、外筒
１０に一体的に固定され、外筒１０は内筒１１に
軸受１２，１３を介して回転可能に支持されてい
る。内筒１１はベース１４に固定されている。外
筒１０は検知板１５が固定され、外筒１０の外周
に歯１６が付いている。ベース１４に固定された
モータ１８の軸には歯車１７が固定されており、
歯車１６と連結してモータ１８の回転を試料保持
板９に伝える。検知器１９，２０，２はベース１
４に固定された金具２２，２３，２４にそれぞれ
保持されている。
第３図は検知板５と検知器１９，２０，２１の
関係を示した平面図である。検知器１９，２０，
２１は光学的位置検知器（ホトインターラプタ）
であり、それぞれ検知板１５上の検知穴２５，２
６，２７を検知する。これらの位置検知器１９，
２０，２１はモータ１８および制御装置と共にテ
ーブル位置付け装置を構成する。
関係を示した平面図である。検知器１９，２０，
２１は光学的位置検知器（ホトインターラプタ）
であり、それぞれ検知板１５上の検知穴２５，２
６，２７を検知する。これらの位置検知器１９，
２０，２１はモータ１８および制御装置と共にテ
ーブル位置付け装置を構成する。
第４図は試料保持板９の平面図であり、試料容
器列２８と２９の関係を説明する。普通試料容器
列２８は普通試料用の試料容器を40個設置するた
めのものであり、試料吸入プローブのある基準位
置３０から番号１、２、３、……、40が付してあ
る。特殊試料容器列２９はブランク用試料、標準
試料、精度管理用試料、緊急試料用の試料容器を
設置するためのものであり、基準位置３０にある
試料容器３１はブランク用試料用であり、試料容
器３２から試料容器３３までの続く16個は標準試
料用であり、試料容器３４，３５，３６は精度管
理試料用であり、試料容器３７から試料容器３８
までの続く10個の容器は緊急試料用である。
器列２８と２９の関係を説明する。普通試料容器
列２８は普通試料用の試料容器を40個設置するた
めのものであり、試料吸入プローブのある基準位
置３０から番号１、２、３、……、40が付してあ
る。特殊試料容器列２９はブランク用試料、標準
試料、精度管理用試料、緊急試料用の試料容器を
設置するためのものであり、基準位置３０にある
試料容器３１はブランク用試料用であり、試料容
器３２から試料容器３３までの続く16個は標準試
料用であり、試料容器３４，３５，３６は精度管
理試料用であり、試料容器３７から試料容器３８
までの続く10個の容器は緊急試料用である。
動作原理を以下に説明する。生化学分析装置
（図示せず）が分析を開始すると、生化学分析装
置からの指令によりモータ１８を回転する。検知
穴２６が検知器２０に到達したとき検知器２０か
ら分析装置へ信号が送られ、分析装置からの指令
によりモータ１８は停止する。このとき、試料容
器列２８の１番目の試料容器および試料容器３１
が基準位置３０に停止するように調整されてい
る。分析装置は、較正する必要があるならば分析
装置の試料吸入プローブ（図示せず）が試料容器
列２９の試料容器３１の位置まで移動して来てブ
ランク用試料を吸入し、分析測定する。続いて分
析装置からの指令によりモータ１８が回転し、検
知穴２７の１個が検知器２１を通過しようとした
とき、検知器２１から分析装置へ信号が送られ、
分析装置からの指令によりモータ１８は停止す
る。このとき、試料容器３２は基準位置３０に到
達しているように検知穴２７が作られている。上
記動作により分析装置は第１番目の標準試料を試
料吸入プローブ内に吸入し反応容器へ移送して分
析測定する。上記の動作を繰返し、分析装置の較
正に必要な基準試料を順次、分析装置に供給する
ことができる。
（図示せず）が分析を開始すると、生化学分析装
置からの指令によりモータ１８を回転する。検知
穴２６が検知器２０に到達したとき検知器２０か
ら分析装置へ信号が送られ、分析装置からの指令
によりモータ１８は停止する。このとき、試料容
器列２８の１番目の試料容器および試料容器３１
が基準位置３０に停止するように調整されてい
る。分析装置は、較正する必要があるならば分析
装置の試料吸入プローブ（図示せず）が試料容器
列２９の試料容器３１の位置まで移動して来てブ
ランク用試料を吸入し、分析測定する。続いて分
析装置からの指令によりモータ１８が回転し、検
知穴２７の１個が検知器２１を通過しようとした
とき、検知器２１から分析装置へ信号が送られ、
分析装置からの指令によりモータ１８は停止す
る。このとき、試料容器３２は基準位置３０に到
達しているように検知穴２７が作られている。上
記動作により分析装置は第１番目の標準試料を試
料吸入プローブ内に吸入し反応容器へ移送して分
析測定する。上記の動作を繰返し、分析装置の較
正に必要な基準試料を順次、分析装置に供給する
ことができる。
本実施例では最大16種類の成分を分析すること
ができるように容器列２９に標準試料を最大16種
類設置できるようになつている。必要な標準試料
の供給が終ると分析装置からの指令によりモータ
１８を回転し、検知穴２６が検知器２０に到達し
たときに分析装置からの指令によりモータ１８は
停止する。分析装置の試料吸入プローブは基準位
置３０にある第１番目の普通試料を吸入して分析
測定する。以下、順次、第２番目、第３番目、…
…の普通試料を分析測定することができる。上記
のように普通試料を測定中、定期的に、例えば、
普通試料10個分析測定毎に、精度管理用試料を分
析測定したい場合には、試料容器列２８の第10番
目の普通試料を分析測定後、分析装置からの指令
によりモータ１８が回転して試料容器３４を基準
位置３０の所まで移動させる。分析装置の試料吸
入プローブは試料容器３４内の第１番目の精度管
理用試料を吸入し、分析測定する。
ができるように容器列２９に標準試料を最大16種
類設置できるようになつている。必要な標準試料
の供給が終ると分析装置からの指令によりモータ
１８を回転し、検知穴２６が検知器２０に到達し
たときに分析装置からの指令によりモータ１８は
停止する。分析装置の試料吸入プローブは基準位
置３０にある第１番目の普通試料を吸入して分析
測定する。以下、順次、第２番目、第３番目、…
…の普通試料を分析測定することができる。上記
のように普通試料を測定中、定期的に、例えば、
普通試料10個分析測定毎に、精度管理用試料を分
析測定したい場合には、試料容器列２８の第10番
目の普通試料を分析測定後、分析装置からの指令
によりモータ１８が回転して試料容器３４を基準
位置３０の所まで移動させる。分析装置の試料吸
入プローブは試料容器３４内の第１番目の精度管
理用試料を吸入し、分析測定する。
以下、必要に応じて、分析装置からの指令によ
り第２、第３番目の精度管理用試料を供給するこ
とができる。
り第２、第３番目の精度管理用試料を供給するこ
とができる。
上記の動作において、分析装置は検知器２１か
らの検知信号の回数をカウントすることにより、
円周の試料容器列２９のうち目的の試料容器を基
準位置に停止させればよい。上記の動作に続い
て、再び普通試料の供給に戻つて、第11番目の普
通試料を基準位置３０の所に移動させる。上記の
動作は、分析装置が検知器１９からの検知信号の
回数をカウントすることにより行なえる。以下同
様にして、普通試料、精度管理用試料を供給して
いる間に、緊急試料を分析測定する必要が生じた
場合、上記の試料の順次供給に割込んで、緊急試
料を供給することができる。
らの検知信号の回数をカウントすることにより、
円周の試料容器列２９のうち目的の試料容器を基
準位置に停止させればよい。上記の動作に続い
て、再び普通試料の供給に戻つて、第11番目の普
通試料を基準位置３０の所に移動させる。上記の
動作は、分析装置が検知器１９からの検知信号の
回数をカウントすることにより行なえる。以下同
様にして、普通試料、精度管理用試料を供給して
いる間に、緊急試料を分析測定する必要が生じた
場合、上記の試料の順次供給に割込んで、緊急試
料を供給することができる。
緊急試料の試料容器（１〜10個）は第４図にお
ける試料容器３７から３８の間に設置され、分析
装置からの指令により目的の緊急試料を基準位置
３０に移動させることができる。上記の動作にお
いて、分析装置は検知器２１の検知信号の回数を
カウントすることにより試料供給装置を制御する
ことができる。必要なだけの緊急試料の供給が終
ると、また、普通試料と精度管理用試料の順次試
料供給に戻ればよい。分析測定に必要な試料の供
給が終了して、分析装置よりモータ１８の回転指
令が来ない限り、本試料供給装置は停止し続け
る。
ける試料容器３７から３８の間に設置され、分析
装置からの指令により目的の緊急試料を基準位置
３０に移動させることができる。上記の動作にお
いて、分析装置は検知器２１の検知信号の回数を
カウントすることにより試料供給装置を制御する
ことができる。必要なだけの緊急試料の供給が終
ると、また、普通試料と精度管理用試料の順次試
料供給に戻ればよい。分析測定に必要な試料の供
給が終了して、分析装置よりモータ１８の回転指
令が来ない限り、本試料供給装置は停止し続け
る。
本発明の実施例によれば、分析装置は試料供給
装置のモータを動作させ、回転停止位置を決める
ための検知信号により、モータを停止させるだけ
という、極めて簡単な制御で、多様な試料供給が
行なえる。
装置のモータを動作させ、回転停止位置を決める
ための検知信号により、モータを停止させるだけ
という、極めて簡単な制御で、多様な試料供給が
行なえる。
本発明の実施例によれば、試料保持板上に２列
の試料容器列を設けているため、とかく大形にな
りがちな回転式試料供給装置のスペース効率を向
上させることができる。
の試料容器列を設けているため、とかく大形にな
りがちな回転式試料供給装置のスペース効率を向
上させることができる。
以上説明したように、本発明によれば、標準試
料および精度管理用試料を一度設置しておくだけ
でこれらを自動的に繰返してサンプリングするこ
とができるので、検査技師が標準試料や精度管理
試料を再三装置に設置するという手間が省ける。
また、本発明では、特殊試料用容器設置穴の列
が、精度管理用試料設置領域、標準試料設置領域
および緊急試料設置領域に部分的に割り当てられ
ているので、緊急試料も特別な駆動機構を使わず
に容易にサンプリングすることができる。
料および精度管理用試料を一度設置しておくだけ
でこれらを自動的に繰返してサンプリングするこ
とができるので、検査技師が標準試料や精度管理
試料を再三装置に設置するという手間が省ける。
また、本発明では、特殊試料用容器設置穴の列
が、精度管理用試料設置領域、標準試料設置領域
および緊急試料設置領域に部分的に割り当てられ
ているので、緊急試料も特別な駆動機構を使わず
に容易にサンプリングすることができる。
第１図は従来技術による試料供給装置の説明
図、第２図は本発明の一実施例の側断面図、第３
図は回転停止の位置検知板と検知器の関係を説明
する平面図、第４図は試料保持板上の試料配列を
説明する平面図である。 ９……試料保持板、１５……検知板、１８……
モータ、１９，２０，２１……検知器、２５，２
６，２７……検知穴、２８，２９……容器列、３
０……基準位置。
図、第２図は本発明の一実施例の側断面図、第３
図は回転停止の位置検知板と検知器の関係を説明
する平面図、第４図は試料保持板上の試料配列を
説明する平面図である。 ９……試料保持板、１５……検知板、１８……
モータ、１９，２０，２１……検知器、２５，２
６，２７……検知穴、２８，２９……容器列、３
０……基準位置。
Claims (1)
- １ 円周上に普通試料用の容器設置穴の列を有し
他の円周上に特殊試料用の容器設置穴の列を有す
る回転可能な試料保持テーブルを備え、上記普通
試料用容器設置穴と上記特殊試料用容器設置穴の
それぞれに対応する検知穴を有し上記試料保持テ
ーブルに固定されている位置検知板を備え、上記
特殊試料用の容器設置穴の列は、精度管理用試料
設置領域、標準試料設置領域および緊急試料設置
領域に上記位置検知板上の検知穴に対応づけて部
分的に割り当てられており、分析装置からの指令
に応じて上記試料保持テーブル上の精度管理用試
料、標準試料又は緊急試料を試料吸入プローブに
対応する位置に選択的に位置付けるテーブル位置
付け装置を備えたことを特徴とする試料供給装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7321280A JPS56168555A (en) | 1980-05-30 | 1980-05-30 | Sample feeder |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7321280A JPS56168555A (en) | 1980-05-30 | 1980-05-30 | Sample feeder |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56168555A JPS56168555A (en) | 1981-12-24 |
| JPH0121910B2 true JPH0121910B2 (ja) | 1989-04-24 |
Family
ID=13511619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7321280A Granted JPS56168555A (en) | 1980-05-30 | 1980-05-30 | Sample feeder |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56168555A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012251804A (ja) * | 2011-05-31 | 2012-12-20 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58144751A (ja) * | 1982-02-24 | 1983-08-29 | Olympus Optical Co Ltd | 自動分析装置 |
| JPS58144752A (ja) * | 1982-02-24 | 1983-08-29 | Olympus Optical Co Ltd | 液体移送装置 |
| JPH01140165U (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | ||
| CN102445551B (zh) * | 2010-09-30 | 2016-01-13 | 广州阳普医疗科技股份有限公司 | 血型分析仪 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6057546B2 (ja) * | 1978-06-07 | 1985-12-16 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
-
1980
- 1980-05-30 JP JP7321280A patent/JPS56168555A/ja active Granted
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012251804A (ja) * | 2011-05-31 | 2012-12-20 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56168555A (en) | 1981-12-24 |
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