JPH01220229A - フォーカスサーボのゲイン調整装置 - Google Patents
フォーカスサーボのゲイン調整装置Info
- Publication number
- JPH01220229A JPH01220229A JP63046220A JP4622088A JPH01220229A JP H01220229 A JPH01220229 A JP H01220229A JP 63046220 A JP63046220 A JP 63046220A JP 4622088 A JP4622088 A JP 4622088A JP H01220229 A JPH01220229 A JP H01220229A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光ビームを用いてディスクからこれに記録され
た情報を再生する光学式ディスクプレーヤのフォーカス
サーボのゲイン調整装置に関する。
た情報を再生する光学式ディスクプレーヤのフォーカス
サーボのゲイン調整装置に関する。
従来の技術
光学式ピックアップの光ビームによって、ディスクの螺
旋状または同心円状のトラックから、これに記録された
情報信号を再生する光学式ディスクプレーヤにおいて、
フォーカスサーボは、光ビームの焦点のディスクの記録
面に対するずれ、いわゆるフォーカスエラーを検出して
、その出力であるフォーカスエラー信号によって光学式
ピックアップのフォーカスレンズをディスクの記録面と
垂直方向に動かしてフォーカスエラーが零になるように
するためのものである。
旋状または同心円状のトラックから、これに記録された
情報信号を再生する光学式ディスクプレーヤにおいて、
フォーカスサーボは、光ビームの焦点のディスクの記録
面に対するずれ、いわゆるフォーカスエラーを検出して
、その出力であるフォーカスエラー信号によって光学式
ピックアップのフォーカスレンズをディスクの記録面と
垂直方向に動かしてフォーカスエラーが零になるように
するためのものである。
ところで上記フォーカスサーボのゲインの調整は、サー
ボループに外から特定周波数の外乱を印加して行われる
。第３図に従来のフォーカスサーボのゲイン調整法の構
成を示す。第３図において。
ボループに外から特定周波数の外乱を印加して行われる
。第３図に従来のフォーカスサーボのゲイン調整法の構
成を示す。第３図において。
１０は情報信号が記録された光ディスク、１１は光学式
ピックアップであり光ビーム１２を上記光ディスクに入
射する。１３は上記光学式ピックアップ１１の出力１１
１を入力し、フォーカスエラー信号を作るエラー信号生
成回路である。１９はフリーケンシーレスポンスアナラ
イザーでその内部に外乱発振器２０とゲイン検出器２１
を持っておシ、外乱発振器２ｏから所望のゲイン交点周
波数に相当する正弦波状の外乱信号Ｓを加算器１８へ出
力する。加算器１８はエラー信号生成回路１３の出力Ｙ
と上記外乱信号Ｓとを加算してその出力ｘをフォーカス
サーボのループフィルタ１４へ出力する。ループフィル
タ１４はサーボループの低域補償及び位相補償を行うだ
めのものである。ループフィルタ１４の出力１４１は、
ゲイン検出器２１の出力２１１でゲインが制御される可
変利得増幅器１５へ入力され、その出力１５１はアクチ
ュエータ駆動回路１６へ入力され電力増幅されてその出
力１６１によりフォーカスレンズを動かすだめのアクチ
ュエータ１７を駆動する。
ピックアップであり光ビーム１２を上記光ディスクに入
射する。１３は上記光学式ピックアップ１１の出力１１
１を入力し、フォーカスエラー信号を作るエラー信号生
成回路である。１９はフリーケンシーレスポンスアナラ
イザーでその内部に外乱発振器２０とゲイン検出器２１
を持っておシ、外乱発振器２ｏから所望のゲイン交点周
波数に相当する正弦波状の外乱信号Ｓを加算器１８へ出
力する。加算器１８はエラー信号生成回路１３の出力Ｙ
と上記外乱信号Ｓとを加算してその出力ｘをフォーカス
サーボのループフィルタ１４へ出力する。ループフィル
タ１４はサーボループの低域補償及び位相補償を行うだ
めのものである。ループフィルタ１４の出力１４１は、
ゲイン検出器２１の出力２１１でゲインが制御される可
変利得増幅器１５へ入力され、その出力１５１はアクチ
ュエータ駆動回路１６へ入力され電力増幅されてその出
力１６１によりフォーカスレンズを動かすだめのアクチ
ュエータ１７を駆動する。
以上のように構成されたフォーカスサーボのゲイン調整
装置のうち、加算器１８とフリーケンシーレスポンスア
ナライザー１９を除く部分は、従来の光学式ディスクプ
レーヤそのものであるから説明を省略する。光学式ディ
スクプレーヤのフォーカスサーボについては、多くの文
献で述べられている（例えば、「コンパクトディスク読
本」１３８ページ〜１４３ページ、オーム社、１９８２
年）。ここでは、フリーケンシーレスポンスアナライザ
ーを用いた従来のフォーカスサーボのゲイン調整につい
て説明する。
装置のうち、加算器１８とフリーケンシーレスポンスア
ナライザー１９を除く部分は、従来の光学式ディスクプ
レーヤそのものであるから説明を省略する。光学式ディ
スクプレーヤのフォーカスサーボについては、多くの文
献で述べられている（例えば、「コンパクトディスク読
本」１３８ページ〜１４３ページ、オーム社、１９８２
年）。ここでは、フリーケンシーレスポンスアナライザ
ーを用いた従来のフォーカスサーボのゲイン調整につい
て説明する。
第３図の外乱発振器２０の出力外乱信号Ｓに着目すると
、加算器１８を介してフォーカスサーボループに印加さ
れ、ループを一巡して加算器１８の入力へ戻ってくる。
、加算器１８を介してフォーカスサーボループに印加さ
れ、ループを一巡して加算器１８の入力へ戻ってくる。
従って、加算器１８の出力Ｘと入力であるＹとの比をと
れば、この比が上記外乱信号Ｓの周波数におけるフォー
カスサーボループのゲインであることは明白である。
れば、この比が上記外乱信号Ｓの周波数におけるフォー
カスサーボループのゲインであることは明白である。
ここで７リーケンシーレスポンスアナライザー１９につ
いて第３図、第４図を使って説明する。
いて第３図、第４図を使って説明する。
第４図において、２０は上記外乱発振器である。
加算器１８の入力ＹはＹ入力増幅器２２へ、出力ＸはＸ
入力増幅器２３へ接続される。Ｙ入力増幅器２２及びＸ
入力増幅器２３の出力はマイクロコンピュータ２４でフ
ーリエ変換され、各々出力される。この各々の出力の比
を比較器２５で求めれば、上記外乱信号Ｓの周波数にお
けるフォーカスサーボループのゲインが求められる（例
えば、エヌエフ回路設計ブロック（株） ＭＯＤＩＥＬ
Ｓ−５７２０゜１５７３０ ＦＲＫＱＵＩ！：ＮＣＹ
ＲＸＳＰＯＮＳＫ ＡＮＡＬＹＺＩＣＩ’を取扱説明
書１−６ページ）。そして上記比較器２６の出力２１１
により上記可変利得増幅器１６を制御してフォーカスサ
ーボループのゲイン調整を行う。
入力増幅器２３へ接続される。Ｙ入力増幅器２２及びＸ
入力増幅器２３の出力はマイクロコンピュータ２４でフ
ーリエ変換され、各々出力される。この各々の出力の比
を比較器２５で求めれば、上記外乱信号Ｓの周波数にお
けるフォーカスサーボループのゲインが求められる（例
えば、エヌエフ回路設計ブロック（株） ＭＯＤＩＥＬ
Ｓ−５７２０゜１５７３０ ＦＲＫＱＵＩ！：ＮＣＹ
ＲＸＳＰＯＮＳＫ ＡＮＡＬＹＺＩＣＩ’を取扱説明
書１−６ページ）。そして上記比較器２６の出力２１１
により上記可変利得増幅器１６を制御してフォーカスサ
ーボループのゲイン調整を行う。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、上記のような構成では外乱発振器の出力
レベルを適切に設定しないと、フォーカスサーボループ
のゲインを正しく調整できない。
レベルを適切に設定しないと、フォーカスサーボループ
のゲインを正しく調整できない。
その理由は、コンパクトディスク（ａｎ）のような光学
式ディスクではディスクによる光学的バラツキが犬きく
、さらに光学式プレーヤのピックアップそのものの光学
的バラツキもあるため、外乱信号のレベル（すなわち、
電圧値）を一定にしても、ディスクやピックアップによ
ってフォーカスレンズの振れ量（すなわち、実゛際にレ
ンズが動く物理寸法）が異なる。このため、外乱信号の
レベルが大き過ぎるとサーボが不安定になり最悪の場合
サーボがはずれたりする。また、外乱信号のレベルカ小
す過キルト、フリーケンシーレスポンスアナライザーへ
の入力信号であるＸ、Ｙのレベルが小さくなって測定系
のＳ／Ｎが悪くなり、正しい調整ができなくなるという
問題点を有していた。
式ディスクではディスクによる光学的バラツキが犬きく
、さらに光学式プレーヤのピックアップそのものの光学
的バラツキもあるため、外乱信号のレベル（すなわち、
電圧値）を一定にしても、ディスクやピックアップによ
ってフォーカスレンズの振れ量（すなわち、実゛際にレ
ンズが動く物理寸法）が異なる。このため、外乱信号の
レベルが大き過ぎるとサーボが不安定になり最悪の場合
サーボがはずれたりする。また、外乱信号のレベルカ小
す過キルト、フリーケンシーレスポンスアナライザーへ
の入力信号であるＸ、Ｙのレベルが小さくなって測定系
のＳ／Ｎが悪くなり、正しい調整ができなくなるという
問題点を有していた。
本発明は上記問題点に鑑み、ディスクやピックアップの
光学的バラツキによらず安定したゲイン調整のできる光
学式ディスクプレーヤのフォーカスサーボのゲイン調整
装置を提供するものである。
光学的バラツキによらず安定したゲイン調整のできる光
学式ディスクプレーヤのフォーカスサーボのゲイン調整
装置を提供するものである。
課題を解決するための手段
上記問題点を解決するために本発明のフォーカスサーボ
のゲイン調整装置は、フォーカスサーボループがオープ
ン状態でのフォーカスエラー信号を検出する手段と、こ
のフォーカスエラー信号のレベルにより印加する外乱の
レベルを制御する手段とを備えたものである。
のゲイン調整装置は、フォーカスサーボループがオープ
ン状態でのフォーカスエラー信号を検出する手段と、こ
のフォーカスエラー信号のレベルにより印加する外乱の
レベルを制御する手段とを備えたものである。
作用
本発明は上記した構成によってフォーカスサーボループ
に印加する外乱のレベルを適切に設定して、ディスクや
ピックアップの光学的バラツキによらず正しいゲイン調
整ができる。
に印加する外乱のレベルを適切に設定して、ディスクや
ピックアップの光学的バラツキによらず正しいゲイン調
整ができる。
実施例
以下本発明の一実施例のフォーカスサーボのゲイン調整
装置について１図面を参照しながら説明する。第１図は
本発明の実施例におけるフォーカスサーボのゲイン調整
装置の構成を示すものである。第１図において、３０は
エラー信号生成回路１３の出力Ｙのレベルを検出するエ
ラー信号レベル検出器である。この出力３０１によって
外乱発振器２ｏの出力外乱信号Ｓのレベルを制御する。
装置について１図面を参照しながら説明する。第１図は
本発明の実施例におけるフォーカスサーボのゲイン調整
装置の構成を示すものである。第１図において、３０は
エラー信号生成回路１３の出力Ｙのレベルを検出するエ
ラー信号レベル検出器である。この出力３０１によって
外乱発振器２ｏの出力外乱信号Ｓのレベルを制御する。
３１は発振器で、その出力３１１はスイッチ３２を介し
て、アクチュエータ駆動回路１６に入力される。その他
の構成は従来と同様である。
て、アクチュエータ駆動回路１６に入力される。その他
の構成は従来と同様である。
以上のように構成されたフォーカスサーボのゲイン調整
装置について、以下第１図及び第２図を用いてその動作
を説明する。
装置について、以下第１図及び第２図を用いてその動作
を説明する。
まずスイッチ３２を（Ａ）側に接続して発振器３１の出
力３１１によりアクチュエータ１７を駆動しフォーカス
レンズをフォーカス方向（ディスク面と垂直方向）に動
かす。この時エラー信号生成回路１３の出力Ｙは光ビー
ムがディスクの記録面上で焦点を結ぶ前後において第２
図に示すような８字カーブを描く（この８字カーブのピ
ーク値はディスクやピックアップの光学的バラツキが電
圧値Ｘ（ｖ）として反映されるが、光学的距離は一定で
ある。例えば、第２図では６μｍ）。この８字カーブの
ピーク値をエラー信号レベル検出器３ｏにより検出する
。エラー信号レベル検出器３０としてはいわゆるピーク
ホールド回路を用いる。そしてこの出力３ｏ１（Ｅ（′
ｖ））に対し、Ｋ ／ ５ （７）ピーク値を持つ出力
Ｓになるように外乱発振器２０を制御する。これにより
、フォーカスサーボループに印加する外乱のレベルをデ
ィスクやピックアップの光学的バラツキによらず１μｍ
にすることができる。
力３１１によりアクチュエータ１７を駆動しフォーカス
レンズをフォーカス方向（ディスク面と垂直方向）に動
かす。この時エラー信号生成回路１３の出力Ｙは光ビー
ムがディスクの記録面上で焦点を結ぶ前後において第２
図に示すような８字カーブを描く（この８字カーブのピ
ーク値はディスクやピックアップの光学的バラツキが電
圧値Ｘ（ｖ）として反映されるが、光学的距離は一定で
ある。例えば、第２図では６μｍ）。この８字カーブの
ピーク値をエラー信号レベル検出器３ｏにより検出する
。エラー信号レベル検出器３０としてはいわゆるピーク
ホールド回路を用いる。そしてこの出力３ｏ１（Ｅ（′
ｖ））に対し、Ｋ ／ ５ （７）ピーク値を持つ出力
Ｓになるように外乱発振器２０を制御する。これにより
、フォーカスサーボループに印加する外乱のレベルをデ
ィスクやピックアップの光学的バラツキによらず１μｍ
にすることができる。
次にスイッチ３２を（Ｂ）側に接続することによりフォ
ーカスサーボループを閉じフォーカス引キ込みを行う。
ーカスサーボループを閉じフォーカス引キ込みを行う。
フォーカス引き込み動作の方法はいろいろあるが公知で
あるので説明は省略する。次に、外乱発振器２ｏの出力
レベルをＫ ／ ５にしたまま従来と同じ方法でゲイン
調整を行う。以上のように本実施例によれば、スイッチ
３２を（ム）側に接続してフォーカスサーボループがオ
ープン状態でのフォーカスエラー信号のレベルをエラー
信号レベル検出器３ｏにより検出し、その出力Ｅにより
外乱発振器２０の出力をに１５に設定することで。
あるので説明は省略する。次に、外乱発振器２ｏの出力
レベルをＫ ／ ５にしたまま従来と同じ方法でゲイン
調整を行う。以上のように本実施例によれば、スイッチ
３２を（ム）側に接続してフォーカスサーボループがオ
ープン状態でのフォーカスエラー信号のレベルをエラー
信号レベル検出器３ｏにより検出し、その出力Ｅにより
外乱発振器２０の出力をに１５に設定することで。
ディスクやピックアップの光学的バラツキによらず外乱
レベルを１μｍにすることができ、１μｍはフォーカス
サーボのＤレンジである５μｍよシ充分小さくサーボも
はずれることなく、また測定系のＳ／Ｎも充分であるた
めフリーケンシーレスポンスアナライザを用いて正しい
ゲイン調整ができる。
レベルを１μｍにすることができ、１μｍはフォーカス
サーボのＤレンジである５μｍよシ充分小さくサーボも
はずれることなく、また測定系のＳ／Ｎも充分であるた
めフリーケンシーレスポンスアナライザを用いて正しい
ゲイン調整ができる。
なお、本実施例ではエラー信号レベル検出器３゜はピー
クホールド回路としたが、エラー信号生成回路１３の出
力Ｙをム／Ｄ（アナログ・デジタ／Ｉ／）変換してその
ピーク トウ ピーク（ｐｅａｋ ｔｏ ｐｅａｋ ）
値を求め、この値により外乱発振器２０の出力レベルを
制御してもよい。また１発振器３１の出力波形はエラー
信号生成回路でフォーカスエラー信号の８字カーブが得
られるレベルであれば正弦波。
クホールド回路としたが、エラー信号生成回路１３の出
力Ｙをム／Ｄ（アナログ・デジタ／Ｉ／）変換してその
ピーク トウ ピーク（ｐｅａｋ ｔｏ ｐｅａｋ ）
値を求め、この値により外乱発振器２０の出力レベルを
制御してもよい。また１発振器３１の出力波形はエラー
信号生成回路でフォーカスエラー信号の８字カーブが得
られるレベルであれば正弦波。
三角波、のこぎシ波等いずれでもかまわない。
発明の効果
、 以上のように本発明は、フォーカスサーボループが
オープン状態でのフォーカスサーボエラー信号のレベル
を検出する手段と、このフォーカスエラー信号のレベル
により印加する外乱のレベルを制御する手段とを設ける
ことで、光学式ディスクやピックアップの光学的バラツ
キによらずに安定したフォーカスサーボのゲイン調整が
できる。
オープン状態でのフォーカスサーボエラー信号のレベル
を検出する手段と、このフォーカスエラー信号のレベル
により印加する外乱のレベルを制御する手段とを設ける
ことで、光学式ディスクやピックアップの光学的バラツ
キによらずに安定したフォーカスサーボのゲイン調整が
できる。
第１図は本発明の一実施例におけるフォーカスサーボの
ゲイン調整装置の構成を示すブロック図。 第２図はフォーカスエラー信号の８字カーブを説明する
だめの特性図、第３図は従来のフォーカスサーボのゲイ
ン調整装置のブロック図、第４図はフリーケンシーレス
ポンスアナライザを説明スルだめのブロック図である。 １ｏ・・・・・・光学式ディスク、１１・・・・・・光
学式ピックアップ、１８・・・・・・加算器、１７・・
・・・・アクチュエータ、１９・・・・・・フリーケン
シーレスポンスアナライザ、２ｏ・・・・・・外乱発振
器、２１・・・・・・ゲイン検出器％３ｏ・・・・・・
エラー信号レベル検出器、３１・・・・・・発振器。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが１名第４
図
ゲイン調整装置の構成を示すブロック図。 第２図はフォーカスエラー信号の８字カーブを説明する
だめの特性図、第３図は従来のフォーカスサーボのゲイ
ン調整装置のブロック図、第４図はフリーケンシーレス
ポンスアナライザを説明スルだめのブロック図である。 １ｏ・・・・・・光学式ディスク、１１・・・・・・光
学式ピックアップ、１８・・・・・・加算器、１７・・
・・・・アクチュエータ、１９・・・・・・フリーケン
シーレスポンスアナライザ、２ｏ・・・・・・外乱発振
器、２１・・・・・・ゲイン検出器％３ｏ・・・・・・
エラー信号レベル検出器、３１・・・・・・発振器。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが１名第４
図
Claims (1)
- 光学式ディスクプレーヤのフォーカスサーボループに、
特定周波数の外乱を印加してその開ループゲインを調整
するゲイン調整装置であって、前記フォーカスサーボル
ープがオープン状態でのフォーカスエラー信号のレベル
を検出する手段と、このフォーカスエラー信号のレベル
により印加する外乱のレベルを制御する手段とを備えた
ことを特徴とするフォーカスサーボのゲイン調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63046220A JP2718053B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | フォーカスサーボのゲイン調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63046220A JP2718053B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | フォーカスサーボのゲイン調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01220229A true JPH01220229A (ja) | 1989-09-01 |
| JP2718053B2 JP2718053B2 (ja) | 1998-02-25 |
Family
ID=12741026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63046220A Expired - Lifetime JP2718053B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | フォーカスサーボのゲイン調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2718053B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05151589A (ja) * | 1991-11-29 | 1993-06-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フオーカス制御装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62264442A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-17 | Olympus Optical Co Ltd | ル−プゲイン測定装置 |
-
1988
- 1988-02-29 JP JP63046220A patent/JP2718053B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62264442A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-17 | Olympus Optical Co Ltd | ル−プゲイン測定装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05151589A (ja) * | 1991-11-29 | 1993-06-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フオーカス制御装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2718053B2 (ja) | 1998-02-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
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