JPH01223341A - 非破壊検査用標準試験体の製造方法 - Google Patents

非破壊検査用標準試験体の製造方法

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JPH01223341A
JPH01223341A JP63051243A JP5124388A JPH01223341A JP H01223341 A JPH01223341 A JP H01223341A JP 63051243 A JP63051243 A JP 63051243A JP 5124388 A JP5124388 A JP 5124388A JP H01223341 A JPH01223341 A JP H01223341A
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JP
Japan
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defect
molten metal
melting point
simulation body
shape
Prior art date
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Pending
Application number
JP63051243A
Other languages
English (en)
Inventor
Kosuke Itoga
糸賀 興右
Koji Dojo
康二 道場
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kawasaki Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Kawasaki Heavy Industries Ltd
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Publication date
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Publication of JPH01223341A publication Critical patent/JPH01223341A/ja
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は超音波探傷等の非破壊検査に使用する標準試
験体の製造方法に関するものである。
(従来の技術及びその問題点) 鋳物や溶接部に内在する各種欠陥を検出するための非破
壊検査法としては、超音波探傷法や放射線透過試験法が
周知であるが、これら検査法においては、欠陥の存在を
検出するのみならず、検出された欠陥の形状や寸法をも
特定することが要求されている。しかしながら、上記各
検査法において、欠陥の形状や寸法に関連して得られる
出力値、例えば超音波探傷法において得られる反射エコ
ーの大きさ、反射エコーの存在領域幅等は、内在する欠
陥の形状、寸法等に応じて変化するものの、さらに被検
査部の寸法や材質等によっても大きく変化し、そのため
上記各非破壊検査法によって、欠陥の形状や寸法を正確
には把握し難いのが実情である。
そこでこの対策として、被検査部と同寸法、同材質で、
かつ内部に各種欠陥を内在させた標準試験体を準備して
おき、得られた検査データと上記標準試験体でのデータ
とを比較し、これから実際の欠陥の形状や寸法を推定す
る方法を採用することが考えられる。ところでこの場合
、標準試験体においては、既知の形状及び寸法の欠陥を
内在させておく必要がある訳であるが、現在のところ、
この種の試験体を正確に製造し得る有効な方法が開発さ
れておらず、上記のような標準試験体を利用した検査法
も実用に供せられていない状態である。
この発明は上記した従来の問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的は、上記のような既知の形
状、寸法の欠陥を内在させた標準試験体を、精度良く、
しかも高能率に製造することのできる非破壊検査用標準
試験体の製造方法を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) そこで第1請求項記載の非破壊検査用標準試験体の製造
方法においては、欠陥を模擬した形状、寸法の欠陥模擬
体を製作し、この模擬体よりも低融点の溶湯中に上記欠
陥模擬体を埋設し、この状態で溶湯を凝固させることを
特徴としている。
またこの場合、欠陥模擬体が、熱膨張の小さい、炭化物
、ホウ化物、窒化物等の非酸化物系セラミックスであり
、上記溶湯が鋼の溶湯であるのが好ましいが、特にこれ
ら材質に限定される訳ではない。
(作用) 上記によれば、既知の形状、寸法の欠陥模擬体を、はと
んどそのままの状態で標準試験体に内在させることが可
能となるので、精度の良い試験体が得られることになる
。しかもこの場合、特に複雑な製造プロセースを必要と
する訳でもないので、その製造作業は容易なものとなる
。
(実施例) 次にこの発明の非破壊検査用標準試験体の製造方法の具
体的な実施例について、図面を参照しつつ詳細に説明す
る。
まず第1図(a)(b)に示すように、高融点かつ熱膨
張係数の小さい材料で、欠陥を模擬した形状及び寸法の
欠陥模擬体1を成形、加工する。このような欠陥模擬体
1の構成材料としては、例えば高密度炭化ケイ素5iC
(融点2700″C以上、熱膨張率4、OXl0−’/
”C)や窒化ケイ素5iJL  (融点約1900℃、
熱膨張率2.75X10−”/”C)を挙げることがで
きる。
次いで第2図に示すように、任意形状の鋳型2中の適当
な位置に、上記欠陥模擬体lを配置し、この状態で鋳型
2中に金属溶湯3を注湯する。この場合、溶湯3として
は、上記欠陥模擬体1よりも融点の低いもの、例えばt
!R(融点約1539℃)の溶湯を用いる。
そして上記のように欠陥模擬体1を内在させたまま溶湯
3を凝固させ、鋳型2から取出して(第3図)、これを
そのまま、あるいは適当な後加工を施して標準試験体4
として使用する。なお必要に応じて、第4図に示すよう
に別部材5を使用し、これを固相接合等の方法にて上記
標準試験体4に接合し、これら全体を試験体として利用
することもある。
以上にこの発明の非破壊検査用標準試験体の製造方法の
実施例の説明をしたが、上記実施例によれば、次のよう
な利点が生ずることになる。まず第1には、任意の形状
、寸法の欠陥模擬体1を精度良く内在させた標準試験体
4が得られ、そのためこの試験体4を利用した各種検査
が精度良く行えるということである。また第2には、鋳
型2を所望形状に加工しておけば、それだけで所望形状
の試験体4が得られ、しかも拡散接合等の特別のプロセ
スを必ずしも要する訳ではないから、試験体4を容易に
、かつ高能率に製造し得るということである。さらに、
平面状欠陥、線状欠陥、球状欠陥等、あらゆる形状の欠
陥を模擬し得るという利点も生ずることになる。
(発明の効果) この発明の非破壊検査用標準試験体の製造方法によれば
、既知の形状、寸法の欠陥模擬体を、はとんどそのまま
の状態で標準試験体に内在させることが可能となり、そ
のため精度の良い試験体が得られ、これにより各種検査
精度を向上することが可能となる。しかも特に複雑な製
造プロセスが必要とされる訳ではないので、その製造作
業を容易に高能率に行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図はこの発明の非破壊検査用標準試験
体の製造方法の一例の説明図で、第1図(a)は欠陥模
擬体を平面から見た説明図、同図ら)は正面から見た説
明図、第2図は鋳込み作業の説明図、第3図は標準試験
体の説明図、第4図は標準試験体の他の使用例の説明図
である。 1・・・欠陥模擬体、2・・・鋳型、3・・・溶湯、4
・・・標準試験体。 特許出願人        川崎重工業株式会社(。、
〈:≦1

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、欠陥を模擬した形状、寸法の欠陥模擬体を製作し、
    この模擬体よりも低融点の溶湯中に上記欠陥模擬体を埋
    設し、この状態で溶湯を凝固させることを特徴とする非
    破壊検査用標準試験体の製造方法。
JP63051243A 1988-03-03 1988-03-03 非破壊検査用標準試験体の製造方法 Pending JPH01223341A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007057414A (ja) * 2005-08-25 2007-03-08 Sumitomo Metal Ind Ltd 超音波探傷試験の感度校正用試験片とその製造方法
JP2012220386A (ja) * 2011-04-12 2012-11-12 Ihi Inspection & Instrumentation Co Ltd 非破壊試験用溶接試験片の製作方法
CN105572229A (zh) * 2014-10-15 2016-05-11 空中客车运营简化股份公司 部件无损测试系统的校准的验证方法及组装件
JP2021043106A (ja) * 2019-09-12 2021-03-18 三菱重工業株式会社 放射線透過試験用模擬部材、放射線透過試験用模擬画像作成方法、放射線透過試験装置、放射線透過試験手法評価方法、放射線透過試験手法選定方法、放射線透過試験データ評価方法、および放射線透過試験学習データ生成方法

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