JPH01225005A - 電気接続箱用ブスバー - Google Patents
電気接続箱用ブスバーInfo
- Publication number
- JPH01225005A JPH01225005A JP4910788A JP4910788A JPH01225005A JP H01225005 A JPH01225005 A JP H01225005A JP 4910788 A JP4910788 A JP 4910788A JP 4910788 A JP4910788 A JP 4910788A JP H01225005 A JPH01225005 A JP H01225005A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- alloy
- connection box
- thickness
- migration
- plate material
- Prior art date
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- Pending
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- Other Surface Treatments For Metallic Materials (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、自動車や工作機械等に用いられる導電率や強
度が高く、且つ耐マイグレーション性や耐蝕性に優れた
電気接続箱用ブスバーに関するものである。
度が高く、且つ耐マイグレーション性や耐蝕性に優れた
電気接続箱用ブスバーに関するものである。
自動車や工作機械の内部配線等、配線の簡素化の為ワイ
ヤーハーネスに代わってブスバ一方式が広く用いられて
来ている。このブスバーに要求される品質特性は、強度
が高い事、導電性が良い事、更にその使用環境において
劣化を生じない事、即ち耐マイグレーション性及び耐蝕
性に優れている事である。
ヤーハーネスに代わってブスバ一方式が広く用いられて
来ている。このブスバーに要求される品質特性は、強度
が高い事、導電性が良い事、更にその使用環境において
劣化を生じない事、即ち耐マイグレーション性及び耐蝕
性に優れている事である。
このマイグレーション現象とは、水分の存在する環境に
おいて、電界のかかった相対する2本のブスバー間にリ
ーク電流が生じて、該ブスバーが電解腐食される現象で
ある。而してこのマイグレーション現象によるリーク電
流が大きくなると、発熱により電気接続箱が異常昇温し
、火災等の事故につながる恐れもある。
おいて、電界のかかった相対する2本のブスバー間にリ
ーク電流が生じて、該ブスバーが電解腐食される現象で
ある。而してこのマイグレーション現象によるリーク電
流が大きくなると、発熱により電気接続箱が異常昇温し
、火災等の事故につながる恐れもある。
この様な電気接続箱用ブスバーの素材としては、7/3
黄銅やタフピンチ銅等が従来から用いられている。
黄銅やタフピンチ銅等が従来から用いられている。
〔発明が解決しようとする課題]
然しながら、前記7/3黄銅は、合金成分としてZnが
多く含有されている為、導電率が低くて電気抵抗が大き
い。この為、近年行なわれている電気接続箱の小型化に
よるブスバーの小型、薄肉化に際して、ジュール熱によ
る発熱が大きすぎる為好適な材料ではなくなってきてい
る。又前記電気接続箱の使用環境は近年益々苛酷になる
傾向にあり、7/3黄銅は耐蝕性の点でも問題を生じて
きている。
多く含有されている為、導電率が低くて電気抵抗が大き
い。この為、近年行なわれている電気接続箱の小型化に
よるブスバーの小型、薄肉化に際して、ジュール熱によ
る発熱が大きすぎる為好適な材料ではなくなってきてい
る。又前記電気接続箱の使用環境は近年益々苛酷になる
傾向にあり、7/3黄銅は耐蝕性の点でも問題を生じて
きている。
一方タフピッチ銅は導電率が高い為、電気接続箱の小型
化による発熱の問題に関しては有利であるが、水分の存
在する環境においてマイグレーション現象を起こし易い
という問題がある。
化による発熱の問題に関しては有利であるが、水分の存
在する環境においてマイグレーション現象を起こし易い
という問題がある。
本発明は上記の点に鑑み鋭意検討の結果なされたもので
あり、その目的とするところは、導電率及び強度が高く
、且つ耐マイグレーション性、耐蝕性に優れた電気接続
箱用ブスバーを提供する事である。
あり、その目的とするところは、導電率及び強度が高く
、且つ耐マイグレーション性、耐蝕性に優れた電気接続
箱用ブスバーを提供する事である。
即ち本発明における請求項1の発明は、Cu又はCu合
金板素材表面に、厚さ0.2〜5μmのZn −5〜3
0%Ni合金層を有する事を特徴とする電気接続箱用ブ
スバーである。
金板素材表面に、厚さ0.2〜5μmのZn −5〜3
0%Ni合金層を有する事を特徴とする電気接続箱用ブ
スバーである。
又請求項2の発明は、Cu合金板素材がZn3〜30%
を含むCu合金である事を特徴とするCU合金板素材表
面に、厚さ0.2〜5μmのZn−5〜30%Ni合金
層を有する電気接続箱用ブスバーである。
を含むCu合金である事を特徴とするCU合金板素材表
面に、厚さ0.2〜5μmのZn−5〜30%Ni合金
層を有する電気接続箱用ブスバーである。
更に請求項3の発明は、Cu合金板素材がCr0.05
−0.45%、Sn0.01〜4.5%、Z n 0゜
05〜2.5%を含むCu合金である事を特徴とするC
u合金板素材表面に、厚さ0.2〜5μmのZn −5
〜30%Ni合金層を有する電気接続箱用ブスバーであ
る。
−0.45%、Sn0.01〜4.5%、Z n 0゜
05〜2.5%を含むCu合金である事を特徴とするC
u合金板素材表面に、厚さ0.2〜5μmのZn −5
〜30%Ni合金層を有する電気接続箱用ブスバーであ
る。
更に又請求項4の発明は、Cu合金板素材がFe 0.
1〜3.0%、Zn0.01〜1.5%、S n 0.
1〜1.5%、P0.001〜0.1%を含むCu合金
である事を特徴とするCu合金板素材表面に、厚さ0、
2〜5 p mのZ n −5〜30%Ni合金層を有
する電気接続箱用ブスバーである。
1〜3.0%、Zn0.01〜1.5%、S n 0.
1〜1.5%、P0.001〜0.1%を含むCu合金
である事を特徴とするCu合金板素材表面に、厚さ0、
2〜5 p mのZ n −5〜30%Ni合金層を有
する電気接続箱用ブスバーである。
本発明は、Cu又はCu合金板素材表面に形成されたZ
n−Ni合金層により、前記マイグレーション現象によ
るリーク電流の発生を防止すると共に、塩化物や硫化物
等の腐食発生物質による腐食を防止しようとするもので
ある。而して前記Zn−Ni合金層の厚さを0.2〜5
μmの範囲内に限定したのは、0.2μm未満では充分
な耐マイグレーション性及び耐蝕性が得られず、又5μ
mを越えると合金層の表面性状が悪くなると共に経済的
でない為である。
n−Ni合金層により、前記マイグレーション現象によ
るリーク電流の発生を防止すると共に、塩化物や硫化物
等の腐食発生物質による腐食を防止しようとするもので
ある。而して前記Zn−Ni合金層の厚さを0.2〜5
μmの範囲内に限定したのは、0.2μm未満では充分
な耐マイグレーション性及び耐蝕性が得られず、又5μ
mを越えると合金層の表面性状が悪くなると共に経済的
でない為である。
又Zn−Ni合金層の組成をZn−5−30%Niの範
囲内に限定したのは、Ni量が5%未満では充分な耐マ
イグレーション性及び耐蝕性が得られず、又30%を超
えるとマイグレーション抑制の効果が弱くなる為である
。
囲内に限定したのは、Ni量が5%未満では充分な耐マ
イグレーション性及び耐蝕性が得られず、又30%を超
えるとマイグレーション抑制の効果が弱くなる為である
。
本発明におけるCu又はCu合金板素材としては、純C
uの他Zn3〜30%を含むCu合金、Cr0.05〜
0.45%、Sn0.01〜4.5%、Zn 0.05
〜2.5%を含むCu合金、F e 0.1〜3゜0%
、Zn0.01−1.5%、S n 0.1〜1.5%
、P0.001〜0.1%を含むCu合金等を使用する
事が出来る。而して耐マイグレーション性を重視する電
気接続箱用ブスバーの場合は、比較的安価なCu −3
〜30%Zn合金を使用し、電気接続箱の小型化を重視
する場合は、強度、導電性が共に得られるC u −C
r −S n −Z n合金又はCu−F e −Z
n −S n −P合金を使用する等、目的に応じてこ
れらの合金を適宜使い分ける事が望ましい。
uの他Zn3〜30%を含むCu合金、Cr0.05〜
0.45%、Sn0.01〜4.5%、Zn 0.05
〜2.5%を含むCu合金、F e 0.1〜3゜0%
、Zn0.01−1.5%、S n 0.1〜1.5%
、P0.001〜0.1%を含むCu合金等を使用する
事が出来る。而して耐マイグレーション性を重視する電
気接続箱用ブスバーの場合は、比較的安価なCu −3
〜30%Zn合金を使用し、電気接続箱の小型化を重視
する場合は、強度、導電性が共に得られるC u −C
r −S n −Z n合金又はCu−F e −Z
n −S n −P合金を使用する等、目的に応じてこ
れらの合金を適宜使い分ける事が望ましい。
次にこれらCu合金における添加元素の作用並びに添加
量の限定理由について説明する。Znは、耐マイグレー
ション性及び耐蝕性を向上させるものであるが、Cu
−3〜30%Zn合金においてその含有量を3〜30%
の範囲内に限定したのは、3%未満ではこれらの効果が
充分でなく、又30%を超えると導電率が低くなる為で
ある。Cu−C’r−3n−Zn合金又はCu −F
e −Z n −Sn −P合金において、Snは耐マ
イグレーション性、耐蝕性並びに強度を向上させるもの
であり、Cr、Fe、P等は強度を向上させるものであ
る。
量の限定理由について説明する。Znは、耐マイグレー
ション性及び耐蝕性を向上させるものであるが、Cu
−3〜30%Zn合金においてその含有量を3〜30%
の範囲内に限定したのは、3%未満ではこれらの効果が
充分でなく、又30%を超えると導電率が低くなる為で
ある。Cu−C’r−3n−Zn合金又はCu −F
e −Z n −Sn −P合金において、Snは耐マ
イグレーション性、耐蝕性並びに強度を向上させるもの
であり、Cr、Fe、P等は強度を向上させるものであ
る。
而してこれらの添加元素の量を所定の範囲内に限定した
のは、それぞれがその下限未満であると耐マイグレーシ
ョン性、耐蝕性並びに強度向上の効果が充分でない為で
ある。又それぞれがその上限を超えると導電率が低くな
ると共に、素材自体の製造が困難となる等の問題を生じ
る為である。
のは、それぞれがその下限未満であると耐マイグレーシ
ョン性、耐蝕性並びに強度向上の効果が充分でない為で
ある。又それぞれがその上限を超えると導電率が低くな
ると共に、素材自体の製造が困難となる等の問題を生じ
る為である。
又本発明におけるZn−Ni合金層の形成方法としては
、電気メツキ等のメンキ法が一般的であるが圧接や粉末
塗布等の方法を用いる事も出来る。
、電気メツキ等のメンキ法が一般的であるが圧接や粉末
塗布等の方法を用いる事も出来る。
本発明の電気接続箱用ブスバーは、Cu又はCU合金板
素材表面にZn−Ni合金層が形成されているので、マ
イグレーション現象によるリーク電流の発生が防止され
ると共に、塩化物や硫化物等に対する耐蝕性にも優れて
いる。又Cu合金板素材としてCu −Cr −S n
−Z n合金又はCu−F e −Z n −S n
−P合金を用いる事により強度が高く、導電性が良好
な電気接続箱用ブスバー度が高く、導電性が良好な電気
接続箱用ブスバーが得られる。
素材表面にZn−Ni合金層が形成されているので、マ
イグレーション現象によるリーク電流の発生が防止され
ると共に、塩化物や硫化物等に対する耐蝕性にも優れて
いる。又Cu合金板素材としてCu −Cr −S n
−Z n合金又はCu−F e −Z n −S n
−P合金を用いる事により強度が高く、導電性が良好
な電気接続箱用ブスバー度が高く、導電性が良好な電気
接続箱用ブスバーが得られる。
[実施例1]
次に本発明を実施例により更に具体的に説明する。電気
銅に第1表に示す添加元素を添加して溶解鋳造し、これ
を熱間圧延、酸洗い後、冷間圧延、中間焼鈍、冷間圧延
の工程を繰り返して、幅2゜0mm、厚さ0.32mm
のCu合金板素材を作製した。次いでこの素材に、N
i S 04・6 H2O:300 g/41!、Zn
SO4−7H20: 80g/A、Na2SO4: 1
00 g#2、A/!2(S0.) 3−14〜18H
20:30g/j!の浴組成とし、電流密度5A/dm
2として、メツキ厚1.5μmのN i −Z n合金
メツキを施した。この様にして得られたブスバーを供試
材として、15cmX10cmX5cmの大きさの樹脂
モールドタイプの電気接続箱中に、回路長さ1.0m、
幅2.0 m m、厚さ0.32mmの各種のブスバー
を、陽、陰極間距離を最低]、 5 m mとして設置
した。
銅に第1表に示す添加元素を添加して溶解鋳造し、これ
を熱間圧延、酸洗い後、冷間圧延、中間焼鈍、冷間圧延
の工程を繰り返して、幅2゜0mm、厚さ0.32mm
のCu合金板素材を作製した。次いでこの素材に、N
i S 04・6 H2O:300 g/41!、Zn
SO4−7H20: 80g/A、Na2SO4: 1
00 g#2、A/!2(S0.) 3−14〜18H
20:30g/j!の浴組成とし、電流密度5A/dm
2として、メツキ厚1.5μmのN i −Z n合金
メツキを施した。この様にして得られたブスバーを供試
材として、15cmX10cmX5cmの大きさの樹脂
モールドタイプの電気接続箱中に、回路長さ1.0m、
幅2.0 m m、厚さ0.32mmの各種のブスバー
を、陽、陰極間距離を最低]、 5 m mとして設置
した。
この電気接続箱について、外気温25°C1相対時間通
電した後のリーク電流を測定した。
電した後のリーク電流を測定した。
又耐蝕性については、幅2.0 m m、厚さ0.32
mmのものを供試材とし、JISZ2371で規定され
る塩水噴霧試験を100時間行なって、腐食減量を測定
し、該腐食減量が10%以下のものを「01とし、10
〜30%のものをrΔ」とし、30%を超えるものを「
×」として判定した。更にJISZ2241及びHO5
05によって、引張強さ及び導電率を測定し、これらの
結果をまとめて第1表に併記した。
mmのものを供試材とし、JISZ2371で規定され
る塩水噴霧試験を100時間行なって、腐食減量を測定
し、該腐食減量が10%以下のものを「01とし、10
〜30%のものをrΔ」とし、30%を超えるものを「
×」として判定した。更にJISZ2241及びHO5
05によって、引張強さ及び導電率を測定し、これらの
結果をまとめて第1表に併記した。
第1表から明らかな様に、Cu及びCu合金板素材表面
にZn−Ni合金層を有する本発明例1〜12は何れも
、耐マイグレーション性、耐蝕性に優れている。これら
の内Cu −Cr −S n −Zn合金(本発明例6
〜10)及びCu −F e −Sn −Z n −P
合金(本発明例11.12)は特に強度及び導電性が優
れており、強度及び導電性が共に重視される場合に好適
な材料である。而してこれらの合金の組成が本発明の範
囲外である比較例18〜21は、強度或いは導電性の点
で本発明例6〜12よりも劣っている。又Cu −Z
n合金(本発明例2〜5)は、強度及び導電性の内偵れ
を重視するかによって、それに適したZn量の合金を選
定する事が出来、且つ比較的安価であって、耐マイグレ
ーション性及び耐蝕性を重視する場合に好適な材料であ
る。而して前記Zn量が本発明の範囲内よりも少ない比
較例16は、Zn添加による耐マイグレーシヨン性向上
の効果が充分でなく、又Zn量が本発明の範囲内よりも
多い比較例17は導電率が低下している。
にZn−Ni合金層を有する本発明例1〜12は何れも
、耐マイグレーション性、耐蝕性に優れている。これら
の内Cu −Cr −S n −Zn合金(本発明例6
〜10)及びCu −F e −Sn −Z n −P
合金(本発明例11.12)は特に強度及び導電性が優
れており、強度及び導電性が共に重視される場合に好適
な材料である。而してこれらの合金の組成が本発明の範
囲外である比較例18〜21は、強度或いは導電性の点
で本発明例6〜12よりも劣っている。又Cu −Z
n合金(本発明例2〜5)は、強度及び導電性の内偵れ
を重視するかによって、それに適したZn量の合金を選
定する事が出来、且つ比較的安価であって、耐マイグレ
ーション性及び耐蝕性を重視する場合に好適な材料であ
る。而して前記Zn量が本発明の範囲内よりも少ない比
較例16は、Zn添加による耐マイグレーシヨン性向上
の効果が充分でなく、又Zn量が本発明の範囲内よりも
多い比較例17は導電率が低下している。
タフピッチ銅(本発明例1)は、前記本発明例2〜12
に比べると、耐マイグレーション性は若干劣っているが
、耐蝕性は良好であり、且つ導電率が非常に高く、特に
導電性が重視される場合に好適な材料である。
に比べると、耐マイグレーション性は若干劣っているが
、耐蝕性は良好であり、且つ導電率が非常に高く、特に
導電性が重視される場合に好適な材料である。
尚Cu合金板素材表面にZn−Ni合金層を有しない従
来例22 (Cu−30Zn)及び23(タフピッチ銅
)は、それぞれ耐蝕性及び耐マイグレーション性が劣っ
ている。
来例22 (Cu−30Zn)及び23(タフピッチ銅
)は、それぞれ耐蝕性及び耐マイグレーション性が劣っ
ている。
本発明によれば、導電率及び強度が高く、且つ耐マイグ
レーション性、耐蝕性に優れた電気接続箱用ブスバーを
得る事が出来、該電気接続箱の小型化、高性能化が可能
となる等工業上顕著な効果を奏するものである。
レーション性、耐蝕性に優れた電気接続箱用ブスバーを
得る事が出来、該電気接続箱の小型化、高性能化が可能
となる等工業上顕著な効果を奏するものである。
特許出願人 古河電気工業株式会社
Claims (4)
- (1)Cu又はCu合金板素材表面に、厚さ0.2〜5
μmのZn−5〜30%Ni合金層を有する事を特徴と
する電気接続箱用ブスバー。 - (2)Cu合金板素材がZn3〜30%を含むCu合金
である事を特徴とする請求項1記載の電気接続箱用ブス
バー。 - (3)Cu合金板素材がCr0.05〜0.45%、S
n0.01〜4.5%、Zn0.05〜2.5%を含む
Cu合金である事を特徴とする請求項1記載の電気接続
箱用ブスバー。 - (4)Cu合金板素材がFe0.1〜3.0%、Zn0
.01〜1.5%、Sn0.1〜1.5%、P0.00
1〜0.1%を含むCu合金である事を特徴とする請求
項1記載の電気接続箱用ブスバー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4910788A JPH01225005A (ja) | 1988-03-02 | 1988-03-02 | 電気接続箱用ブスバー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4910788A JPH01225005A (ja) | 1988-03-02 | 1988-03-02 | 電気接続箱用ブスバー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01225005A true JPH01225005A (ja) | 1989-09-07 |
Family
ID=12821855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4910788A Pending JPH01225005A (ja) | 1988-03-02 | 1988-03-02 | 電気接続箱用ブスバー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01225005A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014525836A (ja) * | 2011-07-04 | 2014-10-02 | サン−ゴバン グラス フランス | 電気接続部材を有するウィンドウガラスの製造方法 |
-
1988
- 1988-03-02 JP JP4910788A patent/JPH01225005A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014525836A (ja) * | 2011-07-04 | 2014-10-02 | サン−ゴバン グラス フランス | 電気接続部材を有するウィンドウガラスの製造方法 |
| US9425517B2 (en) | 2011-07-04 | 2016-08-23 | Saint-Gobain Glass France | Method for producing a pane having an electrical connection element |
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