JPH01227079A - 回路基板検査方法 - Google Patents
回路基板検査方法Info
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- JPH01227079A JPH01227079A JP63053365A JP5336588A JPH01227079A JP H01227079 A JPH01227079 A JP H01227079A JP 63053365 A JP63053365 A JP 63053365A JP 5336588 A JP5336588 A JP 5336588A JP H01227079 A JPH01227079 A JP H01227079A
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- Japan
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- measuring
- circuit board
- impedance
- measured
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、電子部品等が実装された回路基板の良否を
検査する回路基板検査方法に関するものである。
検査する回路基板検査方法に関するものである。
電子部品等が実装された回路基板の検査にインサーキッ
トテスタと称される回路基板検査装置が利用されるよう
になってきた。この種の装置は被検査回路基板個々の回
路内容によって種々の測定が実行できるように構成され
ており、その一般的な例が第５図に示されている。
トテスタと称される回路基板検査装置が利用されるよう
になってきた。この種の装置は被検査回路基板個々の回
路内容によって種々の測定が実行できるように構成され
ており、その一般的な例が第５図に示されている。
すなわち、信号源１は例えば直流定電圧源（ＤＣ，Ｖ）
２、直流定電流＠（ＤＣ，Ａ）３、交流定電圧源（ＡＣ
，Ｖ）４からなり、スキャナ５を介して被検査回路基板
（以下、「テスト基板」と言う。）６へ測定用信号を加
え、その応答信号をスキャナ７にて測定部８へ取り込む
ようになっている。？ｌ１ｇ定部８は例えば直流電圧測
定器（ＤＣ，Ｖメータ）９、直流電流測定器（ＤＣ，Ａ
メータ）１０、ＬＣ測定器（Ｌ、Ｃメータ）１１を備え
ており、基板上の部品種類によりソフトウェアでそれに
適した測定ユニットを定め測定を行うようになっている
。なお、測定系を切り換えるコントローラ１２などが設
けられている。
２、直流定電流＠（ＤＣ，Ａ）３、交流定電圧源（ＡＣ
，Ｖ）４からなり、スキャナ５を介して被検査回路基板
（以下、「テスト基板」と言う。）６へ測定用信号を加
え、その応答信号をスキャナ７にて測定部８へ取り込む
ようになっている。？ｌ１ｇ定部８は例えば直流電圧測
定器（ＤＣ，Ｖメータ）９、直流電流測定器（ＤＣ，Ａ
メータ）１０、ＬＣ測定器（Ｌ、Ｃメータ）１１を備え
ており、基板上の部品種類によりソフトウェアでそれに
適した測定ユニットを定め測定を行うようになっている
。なお、測定系を切り換えるコントローラ１２などが設
けられている。
この装置を利用した従来の測定方法についていくつかの
例を説明すると、第６図にはテスト基板６に装着された
ＩＣ素子とその電源回路が示されているが、一般には電
圧安定化用として図示のように比較的大容量の有極性コ
ンデンサＣが接続されている。この場合、コンデンサの
容量を交流信号で測定しようとするとインピーダンスが
低く高速の測定ができないから例えば直流定電流源３を
信号源となし、定電流で一定時間充電したのちその端子
間電圧を測定する。更に所定時間充電して再び端子間電
圧を測定し、２つの電圧とその間の充電時間とから容量
を求めて良否判定を行う。なお、最初の充電開始直後定
電流源３の出力端子電圧を測定し、それがこの定電流源
の開放電圧に等しければコンデンサＣは未実装、電圧測
定で２回目の電圧が上昇していなければ回路のブリッジ
と判定する。
例を説明すると、第６図にはテスト基板６に装着された
ＩＣ素子とその電源回路が示されているが、一般には電
圧安定化用として図示のように比較的大容量の有極性コ
ンデンサＣが接続されている。この場合、コンデンサの
容量を交流信号で測定しようとするとインピーダンスが
低く高速の測定ができないから例えば直流定電流源３を
信号源となし、定電流で一定時間充電したのちその端子
間電圧を測定する。更に所定時間充電して再び端子間電
圧を測定し、２つの電圧とその間の充電時間とから容量
を求めて良否判定を行う。なお、最初の充電開始直後定
電流源３の出力端子電圧を測定し、それがこの定電流源
の開放電圧に等しければコンデンサＣは未実装、電圧測
定で２回目の電圧が上昇していなければ回路のブリッジ
と判定する。
第７図に示されるような回路網においてコンデンサＣの
容量を測定する場合には、例えば交流定電圧源４からダ
イオードＤ１．Ｄ２が動作しないような波高値約０．２
Ｖ以下の電圧を加え、Ｌ、Ｃメータ１１にてその容量を
測定する。抵抗Ｒについても同様に波高値０．２ｖ以下
の電圧を加え、ＤＣ，Ａメータ１０にて流れる電流を測
定しその抵抗値を求める。ダイオードＤユ、Ｄ２につい
ては例えば直流定電流源３から子方向と一方向の電流を
流し、同定電流源３の出力端子電圧をそれぞれＤＣ，Ｖ
メータ９にて測定する。
容量を測定する場合には、例えば交流定電圧源４からダ
イオードＤ１．Ｄ２が動作しないような波高値約０．２
Ｖ以下の電圧を加え、Ｌ、Ｃメータ１１にてその容量を
測定する。抵抗Ｒについても同様に波高値０．２ｖ以下
の電圧を加え、ＤＣ，Ａメータ１０にて流れる電流を測
定しその抵抗値を求める。ダイオードＤユ、Ｄ２につい
ては例えば直流定電流源３から子方向と一方向の電流を
流し、同定電流源３の出力端子電圧をそれぞれＤＣ，Ｖ
メータ９にて測定する。
上記従来の検査方法によると、基板上の部品それぞれに
対応した測定方法が利用できるという利点がある。しか
しその反面、各種の信号源と測定器が必要となり装置が
大形化する。また、これらの機器は検査プログラムによ
り動作させるが、そのためには使用者側で部品側々の特
性等を熟知して検査プログラムを作成する必要があり、
プログラム作成者の技能によっては不良の検出力が異な
ることもある。なお、例えばガード処理（Ｇ）により他
の部品からの影響を減らす手法が併用されるが、この場
合スキャナ等がより大形化するとともにガード処理はい
わゆるカットアンドトライの要素が多く、検査プログラ
ムの作成に長時間かかるという欠点がある。
対応した測定方法が利用できるという利点がある。しか
しその反面、各種の信号源と測定器が必要となり装置が
大形化する。また、これらの機器は検査プログラムによ
り動作させるが、そのためには使用者側で部品側々の特
性等を熟知して検査プログラムを作成する必要があり、
プログラム作成者の技能によっては不良の検出力が異な
ることもある。なお、例えばガード処理（Ｇ）により他
の部品からの影響を減らす手法が併用されるが、この場
合スキャナ等がより大形化するとともにガード処理はい
わゆるカットアンドトライの要素が多く、検査プログラ
ムの作成に長時間かかるという欠点がある。
この発明は上記の事情に鑑みなされたもので、その目的
は、テスト基板上の測定対象とする部品、回路網等に例
えば信号源から周波数又はレベルの異なる複数の測定用
信号を加え、その応答信号に基づいてそれぞれ測定した
インピーダンスデータをあらかじめ同一条件で良品基板
を測定して得られた基準データと比較することにより、
判定のバラツキなどが無く、かつ、簡単で、高度のプロ
グラム作成技能を特に必要としない回路基板検査方法を
提供することにある。
は、テスト基板上の測定対象とする部品、回路網等に例
えば信号源から周波数又はレベルの異なる複数の測定用
信号を加え、その応答信号に基づいてそれぞれ測定した
インピーダンスデータをあらかじめ同一条件で良品基板
を測定して得られた基準データと比較することにより、
判定のバラツキなどが無く、かつ、簡単で、高度のプロ
グラム作成技能を特に必要としない回路基板検査方法を
提供することにある。
この発明を実施するための装置が第１図に示されている
が、上記課題を解決するため例えば繰り返し同期が異な
る３種類のクロックパルスを送出可能とするクロック発
生器１４ｃと、この送出パルスを所定数計数するカウン
タ１４ｂと、その計数データをそれぞれ所望レベルのア
ナログ交流電圧に変換して出力するＤ／Ａコンバータ１
４ａとからなる測定用信号源１４を備えている。
が、上記課題を解決するため例えば繰り返し同期が異な
る３種類のクロックパルスを送出可能とするクロック発
生器１４ｃと、この送出パルスを所定数計数するカウン
タ１４ｂと、その計数データをそれぞれ所望レベルのア
ナログ交流電圧に変換して出力するＤ／Ａコンバータ１
４ａとからなる測定用信号源１４を備えている。
上記信号源１４によると、測定信号として例えば所望レ
ベルで周波数が３種類の交流電圧が得られる。よってこ
れらの信号を測定対象回路網などに加えると、測定部１
８においては信号の種類に対応した回路網全体としての
インピーダンスが得られ。
ベルで周波数が３種類の交流電圧が得られる。よってこ
れらの信号を測定対象回路網などに加えると、測定部１
８においては信号の種類に対応した回路網全体としての
インピーダンスが得られ。
回路網を構成する部品側々を測定しなくても基板の良否
を検査することができる。
を検査することができる。
第１図を再び参照すると、例えば信号源１４から発せら
れた所望の測定用交流電圧はスキャナ１５を介してテス
ト基板１６上のインピーダンスＺＸを有する部品又は回
路網に加えられ、その応答信号はスキャナ１７を介して
測定部１８に取り込まれ測定されるようになっている。
れた所望の測定用交流電圧はスキャナ１５を介してテス
ト基板１６上のインピーダンスＺＸを有する部品又は回
路網に加えられ、その応答信号はスキャナ１７を介して
測定部１８に取り込まれ測定されるようになっている。
この場合、信号源１４、テスト基板１６、測定部１８間
の測定回路は基板１６に設けられた図示しない測定点に
応じてスキャナ１５゜１７により切り換えられ、また、
信号源１４でも所定の測定用信号が選択されるが、それ
らの動作は例えばコントローラ１９が測定部１８内の検
査プログラムに基づいて制御するようになっている。
の測定回路は基板１６に設けられた図示しない測定点に
応じてスキャナ１５゜１７により切り換えられ、また、
信号源１４でも所定の測定用信号が選択されるが、それ
らの動作は例えばコントローラ１９が測定部１８内の検
査プログラムに基づいて制御するようになっている。
この実施例においては、上記信号源１４から周波数の異
なる３つの測定用信号ｆ１． ｆ、、 ｆ、が発せられ
るようになっている。各信号の周波数とレベルは第２図
（イ）及び（ロ）に示されるように２通りに設定されて
いる。すなわち、同図（イ）では周波数が例えばそれぞ
れ１０ｋ）ｌｚ、 １ ｋＨｚ、 １００１（ｚで各々
約±０．２■の同一レベルとされ、（ロ）ではｆｌ（１
０ｋＨｚ）とｆ ３（１００七）が例えば約±０．２■
でｆ２（１ｋＨｚ）は約±０．５Ｖとなっている。
なる３つの測定用信号ｆ１． ｆ、、 ｆ、が発せられ
るようになっている。各信号の周波数とレベルは第２図
（イ）及び（ロ）に示されるように２通りに設定されて
いる。すなわち、同図（イ）では周波数が例えばそれぞ
れ１０ｋ）ｌｚ、 １ ｋＨｚ、 １００１（ｚで各々
約±０．２■の同一レベルとされ、（ロ）ではｆｌ（１
０ｋＨｚ）とｆ ３（１００七）が例えば約±０．２■
でｆ２（１ｋＨｚ）は約±０．５Ｖとなっている。
これらの測定用信号を形成するため、クロック発生器１
４ｃから例えば繰り返し周期の異なる３種類のクロック
パルスＰ工ｌ ｐｉｔ Ｐ３を発し、カウンタ１４ｂに
計数させるようになっている。カウンタ１４ｂの計数デ
ータはそれぞれＤ／Ａコンバータ１４ａにてアナログ電
圧に変換され、例えば図示しないローパスフィルタ、増
幅器等を経て上記信号ｆ１ないしｆ、が形成される。
４ｃから例えば繰り返し周期の異なる３種類のクロック
パルスＰ工ｌ ｐｉｔ Ｐ３を発し、カウンタ１４ｂに
計数させるようになっている。カウンタ１４ｂの計数デ
ータはそれぞれＤ／Ａコンバータ１４ａにてアナログ電
圧に変換され、例えば図示しないローパスフィルタ、増
幅器等を経て上記信号ｆ１ないしｆ、が形成される。
第３図を参照しながら補足説明をすると、クロック発生
器１４ｃは例えば測定部１８の親クロックを分周して繰
り返し同期１μｓのパルスＰ工と、その１７１０分周し
た繰り返し周期１０ｔｌｓのパルスＰい及び更に１／１
０分周した繰り返し周期１００μｓのパルスＰ３を形成
し、コントローラ１９からの制御により例えばＰｌ、Ｐ
、、Ｐ、の順にそれぞれ１００個ずつ出力する。
器１４ｃは例えば測定部１８の親クロックを分周して繰
り返し同期１μｓのパルスＰ工と、その１７１０分周し
た繰り返し周期１０ｔｌｓのパルスＰい及び更に１／１
０分周した繰り返し周期１００μｓのパルスＰ３を形成
し、コントローラ１９からの制御により例えばＰｌ、Ｐ
、、Ｐ、の順にそれぞれ１００個ずつ出力する。
カウンタ１４ｂは例えばバイナリ８ビツトアツプダウン
カウンタとし、スタートは１００カウントの位置、計数
上、下限値をそれぞれ１２５及び７５とすると、上記３
種のパルスＰ１ないしＰ３を各々１００個計数したとき
の時間は１００ｔＩｓ、 １ ｍｓ 、 １０ｍ５とな
る。よって、その計数データをＤ／Ａコンバータ１４ａ
にてアナログ電圧に変換すると、周波数１０ｋＨｚ、
１ ｋＨｚ、 １００Ｈｚの三角波信号が得られる。こ
れらを例えばローパスフィルタにて波形整形し、利得可
変の増幅器を通すと上記第２図に示す測定用信号ｆ１な
いしｆ３が得られる。
カウンタとし、スタートは１００カウントの位置、計数
上、下限値をそれぞれ１２５及び７５とすると、上記３
種のパルスＰ１ないしＰ３を各々１００個計数したとき
の時間は１００ｔＩｓ、 １ ｍｓ 、 １０ｍ５とな
る。よって、その計数データをＤ／Ａコンバータ１４ａ
にてアナログ電圧に変換すると、周波数１０ｋＨｚ、
１ ｋＨｚ、 １００Ｈｚの三角波信号が得られる。こ
れらを例えばローパスフィルタにて波形整形し、利得可
変の増幅器を通すと上記第２図に示す測定用信号ｆ１な
いしｆ３が得られる。
従来の検査方法においては一般に、例えば基板に装着さ
れた部品のり、Ｃ，Ｈの絶対値を測定して規格値などと
比較するようになっているから、測定用信号に交流を用
いる場合には測定誤差の原因となる波形ひずみを極めて
小さくする必要がある。しかしこの実施例では上記した
ように良品基板とテスト基板のインピーダンスを同一条
件で測定し比較するようになっているので、波形ひずみ
と測定誤差とは直接的な関係が無いから簡単な波形整形
で実用上差し支えない。なお、上記カウンタ１４ｂとク
ロック発生器１４ｃを例えばメモリに置き換えて第２図
の信号に対応する波形データを記憶させ、コントローラ
１９からの番地信号にてそれらのデータをＤ／Ａコンバ
ータ１４ａに与えるようにしてもよい。
れた部品のり、Ｃ，Ｈの絶対値を測定して規格値などと
比較するようになっているから、測定用信号に交流を用
いる場合には測定誤差の原因となる波形ひずみを極めて
小さくする必要がある。しかしこの実施例では上記した
ように良品基板とテスト基板のインピーダンスを同一条
件で測定し比較するようになっているので、波形ひずみ
と測定誤差とは直接的な関係が無いから簡単な波形整形
で実用上差し支えない。なお、上記カウンタ１４ｂとク
ロック発生器１４ｃを例えばメモリに置き換えて第２図
の信号に対応する波形データを記憶させ、コントローラ
１９からの番地信号にてそれらのデータをＤ／Ａコンバ
ータ１４ａに与えるようにしてもよい。
次に、上記第７図に示されるような並列部品で構成され
た回路網に対する検査方法の一例を説明すると、測定周
波数とインピーダンスの関係は例えば第４図に示される
ように抵抗に関しては周波数に関係無く一定で、周波数
が高くなるとコンデンサのインピーダンスは下がり、コ
イルのインピーダンスは上がる。ただし、同図の横軸、
縦軸はそれぞれ対数目盛にしである。
た回路網に対する検査方法の一例を説明すると、測定周
波数とインピーダンスの関係は例えば第４図に示される
ように抵抗に関しては周波数に関係無く一定で、周波数
が高くなるとコンデンサのインピーダンスは下がり、コ
イルのインピーダンスは上がる。ただし、同図の横軸、
縦軸はそれぞれ対数目盛にしである。
ここで、第２図（イ）の信号を加えるとダイオードのカ
ットオフ電圧は約０．２〜０．４■であるから作動せず
、抵抗とコンデンサの合成インピーダンスが測定できる
。この測定値が良品基板の測定データに対して所定の許
容差、例えば±３σ内にあれば良と判定する。抵抗とコ
イルの合成インピーダンスも同様にして測定できる。な
お、ダイオード等を含む回路のチエツクには第２図（ロ
）に示す如く、ｆ工ｊ ｆ２９ ｆ、の周波数を変えて
り、Ｃ，Ｒ等の部品特性を測定し、また、そのうちの−
波、例えばｆ２をＯ，ＳＶの信号とすることでダイオー
ドの特性の判定も可能である。
ットオフ電圧は約０．２〜０．４■であるから作動せず
、抵抗とコンデンサの合成インピーダンスが測定できる
。この測定値が良品基板の測定データに対して所定の許
容差、例えば±３σ内にあれば良と判定する。抵抗とコ
イルの合成インピーダンスも同様にして測定できる。な
お、ダイオード等を含む回路のチエツクには第２図（ロ
）に示す如く、ｆ工ｊ ｆ２９ ｆ、の周波数を変えて
り、Ｃ，Ｒ等の部品特性を測定し、また、そのうちの−
波、例えばｆ２をＯ，ＳＶの信号とすることでダイオー
ドの特性の判定も可能である。
以上、詳細に説明したように、この発明による回路基板
検査方法は例えば一つの信号源から周波数とレベルを可
変とする複数の測定用信号を発してテスト基板の同一測
定点に加え、その応答信号により測定した複数のインピ
ーダンスデータを同−条件で測定した良品基板のデータ
とそれぞれ比較してその良否を判定するようになってい
る。
検査方法は例えば一つの信号源から周波数とレベルを可
変とする複数の測定用信号を発してテスト基板の同一測
定点に加え、その応答信号により測定した複数のインピ
ーダンスデータを同−条件で測定した良品基板のデータ
とそれぞれ比較してその良否を判定するようになってい
る。
したがって検査対象が並列部品からなる回路網などの場
合、部品個々の値を測定して規格値と比較する必要が無
いため使用者側の検査プログラム作成が容易になり、高
精度で基板検査を行うことができる。また、各種の信号
源や測定器を備える必要が無く、装置の簡素化とコスト
ダウンに大きく貢献することができる。
合、部品個々の値を測定して規格値と比較する必要が無
いため使用者側の検査プログラム作成が容易になり、高
精度で基板検査を行うことができる。また、各種の信号
源や測定器を備える必要が無く、装置の簡素化とコスト
ダウンに大きく貢献することができる。
第１図ないし第４図はこの発明による回路基板検査方法
の実施例に係り、第１図はその装置構成の一例を示すブ
ロック線図、第２図は測定用信号の波形図、第３図は信
号源の内部動作説明図、第４図はインピーダンス測定例
の説明図、第５図は従来装置の構成を示すブロック線図
、第６図及び第７図は測定対象の一例を示す回路図であ
る。 図中、１４は信号源、１６は被検査回路基板、１８は測
定部、Ｚｘは測定対象回路のインピーダンスである。 第３図 （Ｑ ＰＩ：Ｉ）Ｉｓ 、 Ｐ２：ｌ０ｐＳ 、 Ｐ５ ：ｌ
ＯＯ於Ｓ第４図 一４′。 第１図 ５５漉） 第２図
の実施例に係り、第１図はその装置構成の一例を示すブ
ロック線図、第２図は測定用信号の波形図、第３図は信
号源の内部動作説明図、第４図はインピーダンス測定例
の説明図、第５図は従来装置の構成を示すブロック線図
、第６図及び第７図は測定対象の一例を示す回路図であ
る。 図中、１４は信号源、１６は被検査回路基板、１８は測
定部、Ｚｘは測定対象回路のインピーダンスである。 第３図 （Ｑ ＰＩ：Ｉ）Ｉｓ 、 Ｐ２：ｌ０ｐＳ 、 Ｐ５ ：ｌ
ＯＯ於Ｓ第４図 一４′。 第１図 ５５漉） 第２図
Claims (1)
- （１）信号源から被検査回路基板に測定用信号を加えて
得られる応答信号により測定部にて上記基板のインピー
ダンスを測定し、該測定データをあらかじめ良品基板を
測定して得られた基準データと比較して上記基板の良否
を判定する回路基板検査方法において、 上記信号源から上記被検査回路基板の同一測定点へ周波
数又はレベルの異なる複数の測定用信号を順に加え、そ
の応答信号により測定した複数のインピーダンスデータ
をそれぞれ基準データと比較することを特徴とする回路
基板検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63053365A JPH06103335B2 (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 回路基板検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63053365A JPH06103335B2 (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 回路基板検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01227079A true JPH01227079A (ja) | 1989-09-11 |
| JPH06103335B2 JPH06103335B2 (ja) | 1994-12-14 |
Family
ID=12940783
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63053365A Expired - Fee Related JPH06103335B2 (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 回路基板検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06103335B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001264398A (ja) * | 1999-11-22 | 2001-09-26 | Fujitsu Ten Ltd | 電子部品検査装置及び検査方法 |
-
1988
- 1988-03-07 JP JP63053365A patent/JPH06103335B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001264398A (ja) * | 1999-11-22 | 2001-09-26 | Fujitsu Ten Ltd | 電子部品検査装置及び検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06103335B2 (ja) | 1994-12-14 |
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