JPH01227112A - 自動焦点調整装置 - Google Patents

自動焦点調整装置

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JPH01227112A
JPH01227112A JP5397988A JP5397988A JPH01227112A JP H01227112 A JPH01227112 A JP H01227112A JP 5397988 A JP5397988 A JP 5397988A JP 5397988 A JP5397988 A JP 5397988A JP H01227112 A JPH01227112 A JP H01227112A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、カメラ等の光学機器の自動焦点調整装置に係
り、特に撮像光学系の焦点検出時に行う位相差検出の演
算処理をアナログ信号処理にて行なうカメラの自動焦点
調整装置に使用するに好適な自動焦点調整装置に関する
〔従来の技術〕
従来のカメラ等の光学機器の自動焦点調整装置に用いら
れる自動焦点検出装置は、第12図に示す構成となって
おり、撮影レンズ1の後方に位置する撮像等偏置20更
に後方に、コンデンサレンズ3、セパレータレンズ4及
び位相差検出装置が順に配置されている。
位相差検出装置は、セパレータレンズ4によって結像さ
れる1対の被写体像を受光してこれを光電変換するCC
D等のラインセンサ5.6と、該ラインセンサ5.6の
各画素における光度分布に応じて発生する電気信号に基
づき合焦状態を判別する処理回路7より構成されている
ラインセンサ5.6上の結像は、被写体像が撮像等偏置
2より前方に位置する前ピン状態にあっては光軸8側に
近づき、逆に後ピン状態にあっては光軸8より遠ざかり
、合焦状態では前ピンと後ピンの中間の所定の位置とな
る。従って、処理回vJ!7が、夫々のラインセンサ5
,6より発生した電気信号に基づき、結像の光軸8より
の位置を検出することで合焦状態を判別している。 ラ
インセンサ5,6上の結像の位置を検出するために位相
差検出の手法が用いられている。この手法は、次式(1
)に基づく演算によりラインセンサ5.6上の1対の結
像の相関演算値を求め、相関演算値が最小となるまでこ
れらの結像の相対移動量(位相差)に基づいて合焦状態
を判別する。
ただし、lは1から9までの整数で、上記の相対移動量
を示す。
但し!=1ではシフト動作が行われてない状態にあり、
!≧2以上でシフト動作が行われる。
例えば、B(k)はラインセンサ5の各画素より時系列
的に出力される電気信号、R(k+f−1)はラインセ
ンサ6の各画素より時系列に出力される電気信号であり
、βを1乃至9まで変化させる毎に上記式〔1)の演算
を行えば、相関演算値H(1)、H(2)、・・・H(
9)が得られる。例えば、相関演算値H(5)が最小値
となる場合に合焦状態であると予め設定しておき、これ
よりずれた位置での相関演算値が最小値となれば、その
ずれ量即ちβ=5までの位相差をピントのずれ(ディフ
ォーカス量)として検出することができる。
従来の処理回路7の構成を第13図に示す。ラインセン
サ5.6の各画素により発生したアナログの電気信号B
 (k)、R(k)を、A/D変換器9によって例えば
8ビツトのデジタルデータに変換し、マイクロコンピュ
ータ10を介して一旦RA M (Random Ac
cess Memory ) l lに記憶させ、その
後これらのデジタルデータに基づいて上記式(1)の演
算を行うようになっている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、この様な従来の自動焦点調整装置にあっ
ては、撮像光学系の焦点検出時における位相検出の演算
処理に関してはマイクロコンピュータ等を用いてデジタ
ル信号処理による演算を行っているため、高速かつ高精
度の演算を行うためには高価なA/D変換器等を必要と
し、又、演算を行うマイクロコンピュータ等の量子化に
起因するまるめ誤差が生じて演算精度の低下を招来し、
更に、演算処理のためのコンピュータプログラム設計の
負担が大きくなるとともに多量のデジタルデータを記憶
する証憶装置を必要とする等の理由で部品点数が多(装
置の大型化を招来するなどの問題があった。
本発明はこのような事情に鑑みて成されたものであり、
簡単な構成で且つ被写体に対する撮像光学系の合焦制御
を高速且つ高精度で行うことができる自動焦点調整装置
を提供することを目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的を達成するため本発明は、被写体の一対の光学
像の相対的位置を検出して撮像光学系が合焦点状態にあ
るか否かを判別し、合焦点状態にない場合には前記相対
的位置に基づいて撮像光学系を合焦点状態に至るまでそ
の光軸方向に駆動することにより焦点合わせを行う自動
焦点調整装置において、一つの画素を形成する光電変換
素子が複数個、ライン状に配設されてなる一対のセンサ
を含み、該一対のセンサにより前記一対の光学像を光電
変換し該光電変換により発生した一方の光学1象に相当
するアナログ電気信号と他方の光学像に相当するアナロ
グ電気信号とを所定周期で画素単位毎にずらしながら非
破壊的に出力するセンサ手段と、該センサ手段より出力
される一対のアナログ電気信号を+口開演算し、相関演
算値を出力するアナログ演算手段と、該アナログ演算手
段より時系列的に出力される相関演算値を順次、大小比
較する比較手段と、撮像光学系をその光軸方向に駆動す
る駆動手段と、前記比較手段の出力信号を取り込み、該
比較出力に基づいてアナログ演算手段から出力される相
関演算値が最小となる前記センサ手段の画素位置を求め
且つ該画素位置の合焦時における画素位置からのずれ量
を算出すると共に、該ずれ量からディフォーカス量を算
出し、該ディフォーカス量に応じて撮像光学系をその光
軸上の合焦位置まで駆動させるように駆動手段を制御す
る制御手段と、を有することを特徴とするものである。
〔作用〕
本発明による自動焦点調整装置では撮像光学系を介して
一つの画素を形成する光電変換素子がライン状に複数個
、配設されてなるセンサ手段を構成する一対のセンサに
各々、被写体の光学像が結像される。
前記センサ手段からは一対の光学像の光度分布に応じた
一対のアナログ電気信号を所定周期で画素単位毎にする
しながら非破壊的に出力される。
該センサ手段から出力される一対のアナログ電気信号は
アナログ演算手段により相関演算され、時系列的に相関
演算値が出力される。
アナログ演算手段より出力される相関演算値は比較手段
により大小比較され、その比較結果に基づいて制御手段
は、相関演算値が最小となった前記センサ手段の画素位
置の合焦時における画素位置からのずれ量を求め、該ず
れ量からディフォーカス量を演算し、1發像光学系が合
焦状態になる方向に前記ディフォーカス量だけ撮像光学
系を駆動するように駆動手段を制御する。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳説する。
第1図には本発明が適用される自動焦点調整装置を備え
たカメラの一実施例の構成が示されている。同図におい
て、ズームレンズ20は被写[1を焦点面に結像さゼる
フォーカスレンズ群2OAと、焦点距離を変更するバリ
エータ−レンズ群20Bと、焦点距離の移動に伴って生
じる焦点ずれを補正するコンペンセーターレンズ群20
Cと、マスターレンズ群20D、20Eとから構成され
ている。コンペンセーターレンズ群20Cとマスターレ
ンズ群20Dとの間には絞り22が配設されている。ま
た、マスターレンズ群20D及び20Eの間にはビーム
スプリッタ24が配設されている。
フォーカスレンズ群2OAは図示しない第10内筒に保
持され第1の外筒に内通されている。第1の外筒を回動
させることによりフォーカスレンズ群2OAを光軸方向
に移動できるようになっており、その外筒の回動は直流
モータ66によって行われる。直流モータ66はモータ
駆動回路68から出力される駆動信号により回転駆動さ
れるようになっている。第1の外筒の回動に伴って所定
位置に移動するフォーカスレンズ群2OAの絶対位置は
第10外筒に設けられたフォーカスレンズ位置検出部7
0から出力されるグレーコードによる位置データから判
定することができる。グレーコードによる位置データは
フォーカスレンズ位置検出部70に形成されたパターン
電極によって作成され、フォーカスレンズ群2OAの移
動位置を示す位置データが制御回路86に出力されるよ
うになっている。
制御回路86は、マイクロコンビコータ等で構成され、
焦点制御を含むカメラ各部の制御を行うが、本実施例で
は焦点制御以外の制御については本発明の本旨から外れ
るので説胡を省略する。
直流モータ66の回転軸は歯車機構を介して第1の外筒
に連結されており、該第1の外筒は直流モータ66によ
り回動されるようになっている。
その回動量はスリットが放射状に多数形成された円板6
4A及びフォトインクラブタロ4Bから成るエンコーダ
64によって検出される。
フォーカスレンズ群2OAの移tlJlの検出は直流モ
ータ66の回転量をスリット付円板のスリット数を計数
する検出器によって検出し、該検出値とフォーカスレン
ズ群2OAの移動量とを対応づけておくことにより行う
ように構成してもよい。
バリエータ−レンズ群20B及びコンペンセーターレン
ズ群20Cは図示しない第2の内筒に共に保持され第2
の外筒に内通されている。第2の外筒はその内側にカム
溝が形成され、カム溝には第2の内筒の外側に突設され
たピンが位置している。第2の外筒が回動されることに
よってズームレンズの倍率が変化するが被写体像は常に
撮像用のCCD42の受光面に結像されるようになって
いる。ズームレンズの倍率は第20外筒に設けられたズ
ームレンズ検出部72から出力されるグレーコードによ
るズーム情報(本実施例ではズームレンズの焦点距離f
z)から調べることができる。
ズームレンズ検出B72から出力されるズーム情報は制
御回路86に人力される。
絞りを通過した光はビームスプリッタ24で撮像光学系
とAF光学系に分岐される。
ビームスプリッタ24により分岐された光はAF (A
uto Focus)用レンズ26、反射鏡28、セン
サ光学系30を介してAF用のセンサ手段32により受
光されるようになっている。センサ光学系は第12図に
示すコンデンサンズ3、セパレータレンズ4等から構成
されている。
絞り22は制御回路86によって駆動制御される図示し
てないサーボモータによってその開口が調節されるよう
になっている。
ズームレンズを通った光は反射鏡34によって上方に9
0゛反射されてビームスブリブタ36に入射される。反
射鏡34は撮影時には上方に蹴り上がり、これにより入
射光はローパスフィルタ38、シマブタ40を介して撮
像用のCCD42の受光面に結像される。CCD42の
受光面には被写体像に対応した電荷が蓄積され、その電
荷パターンに応じた電気信号が記録部44に出力される
ローパスフィルタ38は干渉縞が発生しないように入射
光のうち不要成分を除去するために設けられており、シ
ャッタ40はCCD42の受光時間を調節するためのも
のである。記録部44は入力信号に基づいて被写体像を
示す映像信号を作成し磁気シート等の記録媒体に記録す
るように構成されている。
ビームスプリッタ36に入射した光はそのまま結像用レ
ンズ44を介してファインダ光学系に導かれ、ビームス
プリッタ36の光の一部は、受光素子46で受光される
受光素子46によって光電変換された電気信号は制御回
路86に人力され、制御回路86はこの入力信号に基づ
いて絞り22の絞り値及びシャッタ40のシャッタスピ
ードを制御する。
ファインダ光学系は反射鏡48と、リレーレンズ50と
、接眼レンズ52とから構成されている。
カメラ本体の上部にはストロボ53が設!され、ストロ
ボ53の本体内には自動焦点調節を行う際、被写界光の
輝度が不足している場合に補助光として使用する発光素
子12が設けられている。
制御回路86はカメラ本体を統括、制御する回路であり
、該制御回路86には電源スィッチ、シャツタレリーズ
ボタン等の操イ乍部88、各種データを表示させる表示
部等(図示せず)が接続されている。
さて、センサ手段より出力される光電変換されたアナロ
グ電気信号はアナログ演算手段74に人力され、該アナ
ログ演算手段74により相関演算が行われる。センサ手
段32及びアナログ演算手段74の構成を第2図に示す
。同図においてセンサ手段32は参照イメージセンサ3
20、基準イメージセンサ321、参照読出B522及
び基準読出部323から構成されており、参照イメージ
センサ320及び基準イメージセンサ321は、第12
図のラインセンサ5.6に相当し、画素毎に発生した信
号電荷を複数の電荷転送エレメントにより転送するcc
p <電荷蓄積デイバイス)を備えている。
また、参照読出部322と基卓読出部323は、各イメ
ージセンサ320.321で光電変換された被写体像に
関するアナログ電気信号(以下、画素信号という)を所
定タイミングで時系列的に出力するようになっている。
アナログ演算手段74はアナログ演算部740、制御信
号発生部742及びAGC回路744から構成されてい
る。
アナログ演算740は、参照続出部322及び基卓続出
部323より出力される画素単位毎にずらしながら出力
される画素信号R(k)、B (k)に基づいて位相差
検出の演算を行い、その演算結果を出力端子745へ出
力する。
制御信号発生B742は装置全体の作動タイミングを制
御するための各種制御信号を発生し、例えば、イメージ
センサ320,321内の前記CCDを転送動作させる
ための電荷転送りロック信号、読出部322.323に
おける画素信号R(k)、B (k)の出力動作を該電
荷転送りロック信号に同期した所定タイミングで行わせ
る制御信号その他を発生する。
AGC回路744は、イメージセンサ320.321の
各画素に発生する信号電荷を検出し、所定の電荷量とな
ったことを検出すると位相差検出の演算を開始すべきこ
とを制御信号発生部742へ指令する。
第3図は第2図に示すブロック図に基づ5)で構成され
た具体的な回路を示す。第2図の各ブロックに対応づけ
て回路を説胡すると、参照イメージセンサ320及び基
準イメージセンサ321はほぼ同じ構成からなり、夫々
の画素となる光電変換素子Drl 〜DrnSDbl 
〜Dbnを有する受光部100.101と、夫々の受光
部100.101に発生する信号電荷を画素毎に蓄積す
るために設けられたCCDより成る蓄積部102.10
3と、蓄積部102.103より転送される信号電荷を
取込み、これるを水平方向へ電荷転送するCCDで形成
されたンフトレジスタR104,105で構成されてい
る。
即ち、蓄積部102.103及びシフトレジスタ部10
4.105は光電変換素子Drl 〜Drn。
Dbl〜Dbnに対応した電荷転送エレメントTr1〜
Trn、 Tbl 〜TbnXCr1〜Crn5Cbl
 〜Cbnを有し、蓄積部102.103は信号電荷を
シフトレジスタ部104.105へ並列転送し、シフト
レジスタ部104はそれを水平方向へ転送する。尚、後
述するが、基準イメージセンサ側のシフトレジスタB1
05はンフトレジスタ′B104と異なり信号電荷の水
平方向への転送を行わないようになっている。
106.107は、受光部100.101から蓄積部1
02.103へ信号電荷を移動させるチャネル部の表面
上に形成される導電層であり、ポリンリコン層で形成さ
れ、ポテンシャル障壁部となる。
108.109は信号電荷の移動を制御するトランスフ
ァゲートである。
更に、夫々の電荷転送ニレメン)Crl〜Crn。
Cbl〜Cbnに隣接してフローティングゲートFrl
〜Frn、 Fbl〜Fbnが形成され、夫々のフロー
ティングゲートFrl −FrnXFbl 〜Fbnは
、ゲートに制御信号CEが供給されるMO3型FET 
 Mrl 〜Mrn、 Mbl 〜Mbnを介してリセ
ット端子RESに接続されると共に、ゲートにチャネル
切換信号GHI−CHnが印加されることによりマルチ
プレックス動作を行うMO3型FET  Qrl〜Qr
n 、 Qbl 〜Qbnを介して共通接点Pr 、 
Pb に接続され、共通接点Pr 、 Pb は夫々イ
ンピーダンス変換回路110.111を介して接点Pr
01PbOに接続されている。
インピーダンス変換回路110.111は共に同一の回
路構成からなり、電源■DDとアース端子間にドレイン
・ソース路を直列接続するMO3型FET  Irl、
Ir2、Ibl、Ib2と、MO3型FET  Tri
、Iblのゲート・ソース間に並列接続されリフレッシ
ュ信号φRが印加されると共通接点Pr 、Pb を電
源VDDにクランプするM OS型FET1r3、Ib
3を有し、M OS型FET  Ir2、Ib2のゲー
トは所定電位にバイアスされている。
次に、シフトレジスタ部104.105とフローティン
グゲートFrl 〜Frn、 Fbl 〜Fbnの位置
関係を第4図と共に説明する。
参照イメージセンサ320側の受光部100、蓄積部1
02、シフトレジスタ部104の光電変換素子及び電荷
転送エレメントは共に等しいピッチ幅Wで48個ずつ形
成され、両側の4個ずつの部分から成る第1、第2ブロ
ツクIR、IIRを除く40個の部分から成る第3ブロ
ツクII[Rの電荷転送エレメントCrl〜Cr40 
にフローティングゲ−トFrl〜F r40 が併設さ
れ、更に32個のフローティングゲートFrl〜F r
32 から成る第4ブロツクrVRと、残りの第5ブロ
ツクVRに分類されている。そして、フローティングゲ
ートFrl〜Fr40 の一端は、第3図のMO3型F
ET  Mrl、Mr2、・・・を介してリセット端子
RESに接続され、その内のフローティングゲートFr
l〜F r32が第3図のMOS型F E T  Qr
l 〜Qrnを介して接点Pr に接続されている。即
ち、第3図には、第4図の第3、第4ブロツクII[R
、rVRの部分を代表して示し、他のIR、UR、VR
の部分の記載は省略しであるが、これらは信号電荷を水
平方向へ転送する際などに作動する予備の領域となって
いる。
一方、基準イメージセンサ321例の受光部101、蓄
積部103、ンフトレジスタ部105の光電変換素子及
び電荷転送エレメントは共に等しいピッチ幅W(参照イ
メージセンサ320側とも等しい)で40個ずつ形成さ
れ、両側の4個ずつの部分から成る第1、第2ブロツク
IB 、 IIBを除く第3ブロツクI[[B の電荷
転送エレメントCbl〜Cb32 に隣接してフローテ
ィングゲートFbl〜Fb32 が併設されている。そ
して、フローティングゲー)Fbl〜F b32 の夫
々の一端は、第3図のM OS型F E T  Mbl
 〜Mbn 、 Qbl 〜Qbnに接続されている。
即ち、第3図には第4図の第3ブロツクI[IB につ
いて示されている。
又、受光部100は光軸90に対して距離!1だけ離し
て形成され、受光部101は距離11に4ピッチ幅4W
を加算した距離β2(=11+4・W)だけ離して形成
されている。
次に、この実施例による位相差検出装置は、半導体集積
回路装置としてワンチップ化されるものであり、イメー
ジセンサ100(101)からフローティングゲートF
rl 〜Frn (Fbl 〜Fbn )にかけて示す
第5図の概略断面図に基づいて、その構造を説明する。
第5図において、ト■型半導体基板の表面部分に形成さ
れたP型拡散層(P −well )の一部に複数のN
゛型眉形成されることで受光部100(101)の光電
変換素子群が構成されている。又、半導体基板上には8
102層(図示せず)を介して、信号STSを生じる障
壁部106(107)、蓄積部102(103)の各電
荷転送エレメントを構成する転送ゲート電極層、トラン
スファゲート108(109)を構成するゲート電極層
及び、シフトレジスタ部104 (105)の各電荷転
送エレメントを構成する転送ゲート電極層が併設されて
いる。更に、シフトレジスタ部104.105の隣りに
は、フローティングゲートFrl〜Frn。
Fbl〜Fbnを構成するポリシリコン層及び、電源V
DDにクランプされる電極層Alが積層されている。こ
の電極層Alは、複数形成されるフローティングゲート
Fr1−Frn、 Fbl 〜Fbnの上面全体を覆う
ように形成されている。そして、各フローティングゲー
トの一端にMO3型FET  Mrl〜MrnSMbl
〜Mbnが接続されている。
また半導体基板の表面部分に形成された受光部100°
(101)に隣接して8102層(図示せず)を介して
ラテラルオーバフローゲー)(LOG)90が設けられ
ており、更にラテラルオーバフローゲート90に隣接し
て半導体基板の表面部分にラテラルオーバフロードレイ
ン(LOD)92が形成されている。
オーバフローゲート90には手動により又は自動的に切
り替えられるスイッチ94を介して電源電圧Vcc又は
電圧VBA (VBA < Vcc )が供給されるよ
うになっている。
さて、リセット端子RESに印加されるリセット信号φ
FGを電源VDDと等しい電位にして”H”レベルの制
御信号CEによりMO3型FET  Mr1〜Mrn、
 Mbl〜Mbnを介してフローティングゲ−) Fr
l 〜FrnXFbl 〜Fbnを電源VDDにクラン
プした後、再びMO3型F E T  Mrl 〜Mr
nSMb1〜Mbnを遮断状態にすると、第5図中の点
線で示すように半導体基板内に深いポテンシャル井戸が
形成され、シフトレジスタ部104 (105)の信号
電荷がフローティングゲート下の領域へ流入する。この
流入した信号電荷の夫々の電荷量に応じた電圧降下が夫
々のフローティングゲー)Frl 〜Frn (Fbl
 〜Fbn )に生じ、受光部100(101)上の結
像パターンを電圧信号として検出することができる。
一方、リセット端子RESをアース電位にしてからMO
3型FET  Mrl 〜Mrn、Mbl 〜Mbnを
オンにすることによりフローティングゲートFrl〜F
rn、 Fbl〜Fbnを“L″レベルすると、フロー
ティングゲート下の領域のポテンシャル井戸が浅くなり
、再び信号電荷をシフトレジスタ部104(105)へ
戻すことができる。このような信号電荷の移動は非破壊
的に行われるので、信号電荷の読出しを何回も繰り返す
ことができる。
一方、受光部100 (101)により光電変換されて
生じた信号電荷のうちの不要電荷はラテラルオーバフロ
ーゲート90を電源電圧Vcc(>VB八)1こクラン
プすること(こよりラテラルオーバフロードレイン(L
OD)領域92に排出される。
従って受光部100を構成する複数の光電変換素子群の
うちの特定の範囲に嘱する光電変換素子の信号電荷のみ
をフローティングゲー)Frl〜Frn(Fbl〜Fb
n)下の領域に流入させ、電圧信号として検出するには
上記特定の範囲外の光電変換素子に生じた信号電荷を上
述したようにラテラルオーバフロードレイン領域92に
排出すれ+fよい。
このようにフローティングゲートFrl〜Frn。
Fbl〜Fbnを介して発生する信号をMO3型FET
  Qrl 〜Qrn、 Qbl 〜Qbnのマルチブ
lz−/クス動作により時系列の信号R(k)、B(k
)に変換してアナログ演算紅740の端子PrQ、Pb
Qに出力する。
制御信号発生部742は、所定周期のチャネル切換信号
CHI 〜C)In 、蓄積部102.103と転送り
ロック信号Tf 、 )ランスファゲート108.10
9のゲート信号TG、シフトレジスタ部104.105
の転送りロック信号φr1〜φr4、φbl〜φb4、
イネーブル信号EN、クリア信号CLR及び制御信号C
E、φSR,φSitを所定のタイミングで発生する。
次に、第2図及び第3図に示す位相差検出装置による位
相差検出の動作を第6図のタイミングチャートと共に説
明する。
時刻to の前において、光電変換素子Drl〜Drn
、 Dbl〜Dbnが所定の信号電荷を発生したことを
AGC回路744により検出されると、AC信号が“H
″レベルなり、時刻to に印加されたスタート信号S
TR(カメラのレリーズボタン等に連動して生じる)に
同期して演算処理が開始する。まず、リセット端子28
へは一定周期Ta のリセット信号φRが発生する。又
、時刻to からt3 までの期間、シフトレジスタ部
104.105の各電荷転送エレメント(第4図参照)
に4相駆動力式に基づく電荷転送を1ピッチ分だけ行わ
せる4相りロック信号φr1〜φr4、φb1〜φb4
が発生する。
この電荷転送エレメントによる電荷転送の間の時刻t1
 において、制御信号CEが”H”レベルとなってMO
3型FET  〜1rl 〜Mrn、 Mbl 〜Mb
nがターンオンしている時にリセット信号φFGが“L
oから“H”レベルに反転することにより、7o−ティ
ングゲートFrl 〜Fr40 、Fbl 〜Fb32
は電源電圧VDDの電位にクランプされ、時刻t2にお
いて制御信号CEが“L″レベルなってMO3型FET
  Mrl、Mr2、・・・、Mbl、Mb2、・・が
高インピーダンスとなることによりフローティングゲー
トはそのまま電位に保持される。これにより、フローテ
ィングゲート下の半導体基板内には第5図に示すような
ポテンシャル井戸が形成される。そして、時刻t2 よ
り若干前の時点でゲート信号φTGによるトランスファ
ゲート108、109の導通が行われるので、蓄積部1
02.103の信号電荷がシフトレジスタ部104.1
05の対応する電荷転送エレメントへ移される。そして
電荷転送エレメントの転送動作が時刻t4において完了
するまでに上記夫々のポテンシャル井戸に信号電荷は更
に移される。
次に、時刻t4乃至t5の期間において、チャネル切換
信号CHI 〜CH32が出力され、マルチプレクサ回
路を構成するM OS型FET  Qrl〜Qrn、 
Qbl〜Qbnがターンオンされ、各画素毎の時系列信
号が接点Pro、Pb(lに出力される。接点PrQ、
PbOの信号波形は例えば第6図のCQi に示すよう
に現れる。即ち、各フローテイングゲー) Frl〜l
”rnSFbl〜Fbnは画素毎の信号電荷に相当する
電圧降下が発生し、接点Pr01PbOには電源電圧V
DDを基準として該電圧降下分だけ下がった電圧波形が
現れる。
次に、第2図に示すアナログ演算部740の構成を第7
図に基づいて説明する。このアナログ演算部740はス
イッチド・キャパシタ債分器から成り、端子Pro (
第3図参照)より延設された信号線が、互いに直列接続
されたスイッチング端子140、容量素子Csl及びス
イッチング素子141を介して差動積分器142の反転
入力端子に接続され、容量素子Cslの両端がスイッチ
ング素子143.144を介してグランド端子に接続さ
れている。
一方、端子PbQ(第3図参照)より延設された信号線
°が、互いに直列接続するスイッチング素子145、容
量素子Cs2及びスイッチング素子146を介して差動
積分器1420反転入力端子に接続され、容量素子Cs
2の両端がスイッチング素子147.148を介してグ
ランド端子に接続されている。差動積分器142の反転
入力端子と出力端子149との間には、相互に並列接続
したスイッチング素子150と容量素子CI が接続さ
れている。
更に、端子PrQ、 PbQより延設された信号線には
アナログコンパレータ151の反転・被反転入力端子が
接続され、その入力端子がチャネルセレクト回路152
0入力端子に接続され、該チャネルセレクト回路152
はスイッチング素子140.141.143.144.
145.146.147.148の「オン」、「オフ」
を制御するセレクト信号φ1、φ2、φKA、φKBを
発生する。
アナログコンパレータ151は被演算信号のレベルがR
(k)≧B(k)の時は“H”レベル、R(k) <B
 (k)の時は“L”レベルの極性信号Sgn(k)を
出力し、この極性信号Sgn(k)ルベルに従ってセレ
クト信号φ1、φ2、φKA。
φKBの電圧レベルが決定されるようになっている。
次に、かかる構成からなるアナログ演算部740の動作
を第8図のタイミングチャートに基づいて説明する。
まず、図示していないリセット手段よりのリセット信号
φIsT によりスイッチング素子150が「オン」と
なって容量素子CIの不要電荷を放電した後、再びスイ
ッチング素子150を「オフ」にして第8図に示す動作
が開始される。
センサ手段32における参照読出部322、基71!読
出部323からは同図(A>に示すように所定の周期で
被演算信号R(k)、B (k)が出力される。時刻t
1 乃至t2 の期間のように被演算信号がR(k)≧
B(k)の関係にあると極性信号Sgn(k)は“H”
となり、同図(B)、(C)、(D)、(E)に示すよ
うな矩形波のセレクト信号φl、φ2、φKA、φKB
が発生する。ここでセレクト信号φ1とφ2、φKA、
φKBは相互に同時には“H”とはならないタイミング
で発生する。
一方、時刻t3乃至t4の期間のように被演算信号がR
(k) <B (k)の関係にあると極性信号Sgn(
k)は”L”となり、時間t1 乃至t2とは位相が逆
のセレクト信号φに^、φKBが発生する。尚、セレク
ト信号φ1、φ2は極性信号Sgn(k)のレベルにか
かわらず同じタイミングで発生する。
これらのセレクト信号φ1、φ2、φKA、φKBによ
り期間t1〜t2 の前半の周期TFIではスイッチン
グ素子144.148及びスイッチング素子140.1
47が「オン」となり、被演算信号R(k)が容量素子
Cslに充電され、容量素子C82の不要電荷が放電さ
れる。次に期間t1〜t2の後半の周期TRIにおいて
はスイッチング素子143.141が「オン」となるの
で容量素子Cslと容Js子CIの電荷が結合され、更
にこれと同時にスイッチング素子145.146が「オ
ン」、スイッチング素子147.148が「オフ」とな
るので、被演算信号B(k)が容量素子C32を介して
差動積分器142に供給される。この結果、次式(2)
に示す電荷q(k)が容量素子CI に蓄積される。
q(k)= 一方、時刻t3乃至t4のように被演算信号がR(k)
 <B (k)の場合には、該期間t3〜t4の前半の
周期TF2においてスイッチング素子144.148及
びスイッチング素子143.145が「オン」となり、
被演算信号B(k)が容量素子CS2に充電され、容量
素子Cslの不要電荷が放電される。次に期間t3〜t
4の後半の周期TR2においてはスイッチング素子14
7.146が「オン」となるので容量素子C32と容量
素子C。
の電荷が結合され、更にこれと同時にスイッチング素子
140.141が「オン」、スイッチング素子143.
144が「オフ」となるので、被演算1言号R(k)が
容量素子Cslを介して差動積分器142に供給される
。この結果、次式(3)に示す電荷q(k)が容量素子
CI に蓄積される。
q(k)= 上式(°2)、(3)から明らかなように、このアナロ
グ演算部740は必ずレベルの大きな被演算信号からレ
ベルの小さな被演算信号を減算した値に相当する電荷を
容量素子C+I:蓄積するので、時系列の被演算信号R
(1)、・・・R(n)、B(1)・・・B(n)につ
′、)で処理を繰り返し行うと、次式(4)に示すよう
に、これらの信号の差の絶対1mHが出力端子745に
電圧として得られる。
上式(4)の演算を完了すると、参照続出部322は参
照イメージセンサ320のシフトレジスタ!104に保
持されている信号電荷を雌刃のシフトレジスタ部105
の信号電荷に対して1ピッチ分電荷転送し、その相互に
位相のずれた信号電荷を再び時系列的に読出してアナロ
グ演算部740は上式(4)の演算処理を行う。そして
更にシフトレジスタ部104.105の信号電荷の位相
をずらしこれを繰り返し行う。この位相のずれは前記の
相対移動量2に相当し、この移動量lを順次変化させた
時の相関演算値は次式(5)として得ることができ、出
力端子745より電圧として検出される。
sl 即ち、上式(5)は前記式(1)に相当し、相関演算値
H(1)、H(2)、・・・H(りがアナログ信号処理
にて求められる。
次に時刻tlo乃至tllの期間において、先の時刻t
6乃至tlOと同じ処理が所定の回数だけ繰り返され、
シフトレジスタ部104において順にシフトされるパタ
ーンとソフトされないシフトレジスタ部105のパター
ンとの相関演算値が1尋られる。
以上の処理は、!をシフト動作の回数とすれば、で示さ
れ、従来例で述べたデジタル信号処理による相関演算値
〔式(1)を参照〕に相当する。
第10図(a)〜(C)は、8回のシフト動作によって
出力端子了45よ:つ++ろれる信号Voutの彼形例
を示し、同図(a)のように1’=4の時に最小値とな
るようなt目間演算値のパターンが発生した場は、合焦
状態にあると識別することができ、同図(b)のように
f<4の時の相関演算値が最小の時は前ピン状態、同図
(C)のように1〉4の時に最小となる時は、後ピン状
態であり、2の値によってピントとずれ量も同時に検出
することができる。
以上説明したように、この実゛施例によれば、アナログ
信号処理により相関演算値の演算を行うので演算速度が
極めて速く、また回路をユニット化することができるの
で半導体集積回路装置として製造するのに適している。
特に半導体集積回路のうちコンデンサーの相対精度は極
めて曇れており、回路のユニット化と相俟って高精度の
演算が可能となる。
更に、シフトレジスタにはフローティングゲートを設は
信号電荷を非破壊的に繰り返し読出すことができるので
、被写体像に関わるパターンの信号を記憶するための記
憶装置が不要となり、小形の位相差検出装着を提供する
ことができる。
再び第1図にもどる。上述したようにアナログ演算手段
74内のアナログ演算部740により相関演算1aH1
’)が算出され、該相関演算値H1)はサンプルホール
ド回路76を介して又は直接比較器78に人力される。
アナログ演算手段74からは周期的に相関演算値Hi)
l’は1以上の整数)がH(1)、H(2)、・・・と
順次、出力されるが、比較器78の非反転入力端子には
タイミングパルス発生器80により制御されるサンプル
ホールド回路76により前回、アナログ演算手段74よ
り出力された相関演算値が保持される。ここでアナログ
演算手段74より前回、出力された1目関演算値をH(
β=1)、今回出力された相関演算値をHi)とすれば
、Hl!−1)とHi)との大小関係が比較器78によ
り比較される。
制御回路86は比較器78の比較結果に基づいてズーム
レンズ20の焦点副筒を行う駆動手段である直流モータ
66を駆動制御するための制御信号をモータ駆動回路6
8に出力する。
次に制御回路86により実行される自動焦点制御処理プ
ログラムの内容を第11図に示す。同図においてプログ
ラムが起動されると、タイミングパルス発生器80は制
御回路86からの制御信号を受けてサンプルホールド回
路76にタイミングパルスを出力し、該サンプルホール
ド回路76はアナログ演算手段74より出力される相関
演算値H(β)を所定の周期でサンプルホールドする(
ステップ500)。次いでサンプルホールド回路76に
より保持されている前回、アナログ演算手段74より出
力された相関演算値H(f−1)と、今回出力された相
関演算値Hi)との大小比較が比較器78により行われ
る(ステップ501)。
ステップ501でH(β−1)<H(β)であると判定
された場合には制御回路86内のソフトカウンタの計数
値Jがインクリメントされ、ステップ501に戻る(ス
テップ502)。
ここでソフトカウンタはアナログ演算手段74によりア
ナログ相関演算を行う際の参照イメージセンサ320と
基準イメージセンサ321との画素単位でのずれ量(相
対移動量)J(本実施例ではj=1〜9)を計数するカ
ウンタである。
ステップ501でH1’−1)>H(りであると判定さ
れた場合にはその時点におけるソフトカウンタの内容」
が取り込まれ(ステップ503)、ディフォーカス演算
が行われる(ステップ504・)。ディフォーカス演算
は次のようにして行われる。即ち、合焦時において相対
移動量が土−にで、相関演算1aH(β)が最小になる
ものとする。非合焦時における相関演算値H(りが最小
となる場合の相対移動量をJとすると、非合焦時71、 におけるト目開演算1mH(β)が最大となる相対後、
Xl 動量と合焦時における相関演算1aH(1)が最大とな
る相対移動量との差nは n=に−(j工1) ・・・(7) (nは正又は負の符号をとる。) となる。次にズームレンズ20のフォーカスレンズ群2
0A(第1図)のディフォーカス量をΔd1相関演算値
H(β)が最大となるイメージセンサ320.321上
における画素単位当たりのディフォーカス量をΔXとす
ると、ディフォーカス量Δdは Δd=△x−n   ・・・(8) となる。
尚、上式(7)において本実施例ではに=5である。ま
たnの符号はフォーカスレンズ群2OAを撮像光学系の
光軸方向に駆動する方向を示し、直流モータ66の回転
駆動方向に対応している。
制御回路86は、上式(7)、(8)によりディフォー
カス量Δdを算出し、更に該ディフォーカス量に応じて
フォーカスレンズ群2OAその光軸上、合焦位置まで移
動させるようにモータ66を駆動するための制御信号が
モータ駆動回路68に出力される(ステップ505)。
この結果、フォーカスレンズ群20A1延いてはズーム
レンズ20が合焦状態に焦点調整がなされる。
尚、上記実施例では本発明に係る自動焦点調整装置をカ
メラについて適用した場合について説明したが、これに
限定されることなく他の光学機器、例えば測距装着等に
も適用可能であることは勿論である。
〔発明の効果〕
以上に説明したように本発明では被写体の一対 、の光
学像の相対的位置を検出して撮像光学系が合焦点状態に
あるか否かを判別し、合焦点状態にない場合には前記相
対的位置に基づいて撮像光学系を合焦点状態に至るまで
その光軸方向に駆動することにより焦点合わせを行う自
動焦点調整装置において、一つの画素を形成する光電変
換素子が複数個、ライン状に配設されてなる一対のセン
サを含み、該一対のセンサにより前記一対の光学像を光
電変換し該光電変換により発生した一方の光学像に相当
するアナログ電気信号と他方の光学像に相当するアナロ
グ電気濡場とを所定周期で画素単位毎にずらしながら非
破壊的に出力するセンサ手段と、該センサ手段により出
力される一対のアナログ電気信号を相関演算し、相関演
算値を出力するアナログ演算手段と、該アナログ演算手
段より時系列的に出力される相関演算値を順次、大小比
較する比較手段と、撮像光学系をその駆動方向に駆動す
る駆動手段と、前記比較手段の出力信号を取り込み、該
比較出力に基づいてアナログ演算手段から出力される相
関演算値が最小となる前記センサ手段の画素位置を求め
且つ該画素位置の合焦時における画素位置からのずれ童
を算出すると共に、該ずれ量からディフォーカス量を算
出し、該ディフォーカス量に応じて撮像光学系をその光
軸上の合焦位置まで駆動させるように駆動手段を制御す
る制御手段とを具備するように構成したので、本発明に
よれば被写体に対する撮像光学系の合焦制御を簡単な構
成で高速且つ高精度で行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明が適用される自動焦点調整装置を備えた
カメラの一実施例の構成を示すブロック図、第2図は第
1図における位相差検出装置の一実施例の構成を示すブ
ロック図、第3図は第2図の実施例の具体的な回路構成
を示す回路図、第4図は参照部及び基準部の受光部、蓄
積部、シフトレジスタ部及びフローティングゲートの配
置を示す説明図、第5図は受光部、蓄積部、シフトレジ
スタ部及びフローティングゲートの要部断面を概略的に
示す縦断面図、第6図は第3図の回路動作を説明するた
めのタイミングチャート、第7図は第3図におけるアナ
ログ演算部の具体的な回路構成を示す回路図、第8図は
アナログ演算部の動作を示すタイミングチャート、第9
図は相関演算値の演算過程を説明するための説明図、第
10図は相関演算値より合焦状態を判別するための原理
を示す説明図、第11図は制御回路により実行される自
動焦点制御処理プログラムの内容を示すフローチャート
、第12図は従来の自動焦点調整装置の構成を示す概略
構成図、第13図は第12図における位相差検出装置の
構成を示すブロック図である。 20・・・ズームレンズ、  32・・・センサ手段、
68・・・モータ駆動回路、 74・・・アナログ演算
手段、  76・・・サンプリングホールド回路、  
78・・比較器、 86・・・制御回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被写体の一対の光学像の相対的位置を検出して撮像光学
    系が合焦点状態にあるか否かを判別し、合焦点状態にな
    い場合には前記相対的位置に基づいて撮像光学系を合焦
    点状態に至るまでその光軸方向に駆動することにより焦
    点合わせを行う自動焦点調整装置において、 一つの画素を形成する光電変換素子が複数個、ライン状
    に配設されてなる一対のセンサを含み、該一対のセンサ
    により前記一対の光学像を光電変換し該光電変換により
    発生した一方の光学像に相当するアナログ電気信号と他
    方の光学像に相当するアナログ電気信号とを所定周期で
    画素単位毎にずらしながら非破壊的に出力するセンサ手
    段と、該センサ手段より出力される一対のアナログ電気
    信号を相関演算し、相関演算値を出力するアナログ演算
    手段と、 該アナログ演算手段より時系列的に出力される相関演算
    値を順次、大小比較する比較手段と、撮像光学系をその
    光軸方向に駆動する駆動手段と、 前記比較手段の出力信号を取り込み、該比較出力に基づ
    いてアナログ演算手段から出力される相関演算値が最小
    となる前記センサ手段の画素位置を求め且つ該画素位置
    の合焦時における画素位置からのずれ量を算出すると共
    に、該ずれ量からディフォーカス量を算出し、該ディフ
    ォーカス量に応じて撮像光学系をその光軸上の合焦位置
    まで駆動させるように駆動手段を制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする自動焦点調整装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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