JPH0123048B2 - - Google Patents
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- JPH0123048B2 JPH0123048B2 JP9706481A JP9706481A JPH0123048B2 JP H0123048 B2 JPH0123048 B2 JP H0123048B2 JP 9706481 A JP9706481 A JP 9706481A JP 9706481 A JP9706481 A JP 9706481A JP H0123048 B2 JPH0123048 B2 JP H0123048B2
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- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 31
- 239000011295 pitch Substances 0.000 claims description 20
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 15
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/244—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、比較的大きな移動距離を高い分解能
と精度で測定する装置に関する。
と精度で測定する装置に関する。
比較的小さな移動距離の測定器には、リニアゲ
ージ、マグネスケール、インダクトシンなどがあ
り、いずれも1〜10μm内外の高い分解能と精度
とを備えている。これらの構成は、スリツト、磁
極、コイルなどの発信部が微小な等ピツチに配列
されたスケールに対して、光源と受光素子、磁束
応答形ヘツド、コイルなどの受信部を二つ有する
検出器を対向させたものであり、その二つの受信
部は、前記発信部の適宜個を間に互にその発信部
ピツチの1/4だけずらされている。したがつて、
スケールと検出器が相対的に発信部の1ピツチ分
だけ移動させられるごとに、検出器の各受信部に
は周期的出力が発生することになり、互の周期的
出力は90度(機械的距離は発信部ピツチの1/4)
の位相差を持つことになる。
ージ、マグネスケール、インダクトシンなどがあ
り、いずれも1〜10μm内外の高い分解能と精度
とを備えている。これらの構成は、スリツト、磁
極、コイルなどの発信部が微小な等ピツチに配列
されたスケールに対して、光源と受光素子、磁束
応答形ヘツド、コイルなどの受信部を二つ有する
検出器を対向させたものであり、その二つの受信
部は、前記発信部の適宜個を間に互にその発信部
ピツチの1/4だけずらされている。したがつて、
スケールと検出器が相対的に発信部の1ピツチ分
だけ移動させられるごとに、検出器の各受信部に
は周期的出力が発生することになり、互の周期的
出力は90度(機械的距離は発信部ピツチの1/4)
の位相差を持つことになる。
そこで、この二つの周期的出力を方向判別部に
導入し、一方の周期的出力を基準にした他方の周
期的出力の位相の進み、遅れを判別することによ
りスケールと検出器の相対的移動方向に応じた判
別出力を発生させ、その判別出力に応じ、前記の
周期的出力またはそれを逓倍部を介して逓倍した
出力を計数部の加算、減算入力端に切換導入する
ことにより、スケールと検出器の相対移動距離を
計数部の計数値に変換するようにしたものであ
る。
導入し、一方の周期的出力を基準にした他方の周
期的出力の位相の進み、遅れを判別することによ
りスケールと検出器の相対的移動方向に応じた判
別出力を発生させ、その判別出力に応じ、前記の
周期的出力またはそれを逓倍部を介して逓倍した
出力を計数部の加算、減算入力端に切換導入する
ことにより、スケールと検出器の相対移動距離を
計数部の計数値に変換するようにしたものであ
る。
しかして、上記の測定器の測定分解能は、計数
部の1カウントが表わす移動距離であり、これは
発信部の配列ピツチと、その配列ピツチ移動ごと
に検出器に発生する周期的出力の逓倍率によつて
定まる。したがつて、原理的には、発信部の配列
ピツチをできる限り微小にし、かつ、逓倍率を大
にすれば、より高分解能測定が可能となるが、精
度を確保するには、さらに、そのピツチの形成と
逓倍を正確に行う必要がある。
部の1カウントが表わす移動距離であり、これは
発信部の配列ピツチと、その配列ピツチ移動ごと
に検出器に発生する周期的出力の逓倍率によつて
定まる。したがつて、原理的には、発信部の配列
ピツチをできる限り微小にし、かつ、逓倍率を大
にすれば、より高分解能測定が可能となるが、精
度を確保するには、さらに、そのピツチの形成と
逓倍を正確に行う必要がある。
ところで、このように微小ビツチで発信部を形
成する場合、スケールが長尺になればなる程、そ
の製作装置の問題も含めて技術的にも、経剤的に
も困難度が増し、現状では、比較的小さな移動距
離の測定用のものしか高精度、高分解能の測定器
はみあたらない。
成する場合、スケールが長尺になればなる程、そ
の製作装置の問題も含めて技術的にも、経剤的に
も困難度が増し、現状では、比較的小さな移動距
離の測定用のものしか高精度、高分解能の測定器
はみあたらない。
本発明は、上記欠点を除き、高精度に、かつ微
小ビツチで発信部の製作が行える比較的短尺のス
ケールを利用し、そのスケールの長手方向には、
スケール全長より短い適宜の間隔で複数個の検出
器を配列し、隣合つた位置に配置された検出器の
周期的出力を切換制御部と位相ずれ演算部に各導
入して両検出器の周期的出力の有無に応じた切換
出力と両検出器の周期的出力の位相ずれに対応し
たずれ距離出力とを発生させ、前記切換出力に応
じて計数部と接続する検出器または逓倍部を選択
的に切換えると共に、その切換の前後の検出器間
における前記ずれ距離出力を計数部に加え、切換
の前後の検出器間における配設位置誤差に起因す
る発信部ピツチ以内のずれ距離の補正を行なうよ
うにしたものである。以下、リニアゲージを例に
とり、本発明の実施例について詳細に説明する。
小ビツチで発信部の製作が行える比較的短尺のス
ケールを利用し、そのスケールの長手方向には、
スケール全長より短い適宜の間隔で複数個の検出
器を配列し、隣合つた位置に配置された検出器の
周期的出力を切換制御部と位相ずれ演算部に各導
入して両検出器の周期的出力の有無に応じた切換
出力と両検出器の周期的出力の位相ずれに対応し
たずれ距離出力とを発生させ、前記切換出力に応
じて計数部と接続する検出器または逓倍部を選択
的に切換えると共に、その切換の前後の検出器間
における前記ずれ距離出力を計数部に加え、切換
の前後の検出器間における配設位置誤差に起因す
る発信部ピツチ以内のずれ距離の補正を行なうよ
うにしたものである。以下、リニアゲージを例に
とり、本発明の実施例について詳細に説明する。
これは、比較的短尺のスケールを利用し、それ
による測定器が備える分解能、精度のもとで、そ
の約2倍の移動距離を測定するようにしたもので
ある。
による測定器が備える分解能、精度のもとで、そ
の約2倍の移動距離を測定するようにしたもので
ある。
第1図において、リニアゲージは、スピンドル
4を筐体5に上下方向のみに移動自在に支承して
そのスピンドル4の下部を筐体5の下面から突出
させ、その筐体5内においては、スリツトを等ピ
ツチPで配列したスケール1をスピンドル4に固
定し、そのスケール1を挾んで対向する状態に光
源と受光素子の対23と21および24と22を
筐体5の内壁に固定し、その受光素子21,22
の対向面には、スケール1と同じピツチの適宜数
のスリツトを有する検出スリツト板25を固定
し、この光源と受光素子の対23と21および2
4と22の配置間隔を前記のスリツトピツチPの
(n+1/4)P〔ただし、nは整数で受光素子の大
きさにより定まる適宜の数〕としたものである。
4を筐体5に上下方向のみに移動自在に支承して
そのスピンドル4の下部を筐体5の下面から突出
させ、その筐体5内においては、スリツトを等ピ
ツチPで配列したスケール1をスピンドル4に固
定し、そのスケール1を挾んで対向する状態に光
源と受光素子の対23と21および24と22を
筐体5の内壁に固定し、その受光素子21,22
の対向面には、スケール1と同じピツチの適宜数
のスリツトを有する検出スリツト板25を固定
し、この光源と受光素子の対23と21および2
4と22の配置間隔を前記のスリツトピツチPの
(n+1/4)P〔ただし、nは整数で受光素子の大
きさにより定まる適宜の数〕としたものである。
したがつて、上記のリニアゲージにおいては、
前記光源と受光素子の対23と21および24と
22、それにこれらと対向する検出スリツト板2
5が検出器2となり、また、その各対が受信部と
なり、スケール1のスリツトが発信部となる。
前記光源と受光素子の対23と21および24と
22、それにこれらと対向する検出スリツト板2
5が検出器2となり、また、その各対が受信部と
なり、スケール1のスリツトが発信部となる。
この検出器1の上方には、検出器1と同様の構
成要素すなわち、互に(n+1/4)P隔てて配設
された2対の光源と受光素子33と31および3
4と32、受光素子31,32の対向面に固定さ
れた検出スリツト板35からなる検出器3が配置
され、両検出器3と2の配設間隔は、前記スケー
ル1の全長Lよりも短かく、検出器2の下側の受
光素子21と検出器3の上側の受光素子31の間
隔が略Lとなつている。
成要素すなわち、互に(n+1/4)P隔てて配設
された2対の光源と受光素子33と31および3
4と32、受光素子31,32の対向面に固定さ
れた検出スリツト板35からなる検出器3が配置
され、両検出器3と2の配設間隔は、前記スケー
ル1の全長Lよりも短かく、検出器2の下側の受
光素子21と検出器3の上側の受光素子31の間
隔が略Lとなつている。
以上のものにおいて、スケール1と検出器2が
対向している第1図の状態からスピンドル1が上
方(または下方)に移動すると、スケール1も一
体的に移動し、スケール1上のスリツトと検出ス
リツト板25のスリツトによつて形成されるモア
レじまが、そのスリツトピツチ移動ごとに周期的
に変化することになり、光源23,24から受光
素子21,22に達する光量が周期的に変化して
受光素子21,22には、スケール1がそのスリ
ツトピツチ移動するごとに周期的に変化する電圧
出力が発生する。この受光素子21,22に発生
する電圧出力の波形は、正弦波状であり、両素子
21,22に配設位置が異なる結果、互に90度の
位相差を持つている。そして、スケール1が上方
に移動する場合と下方に移動する場合とでは、一
方の電圧出力に対する他方の電圧出力の位相は90
度分反転することになる。
対向している第1図の状態からスピンドル1が上
方(または下方)に移動すると、スケール1も一
体的に移動し、スケール1上のスリツトと検出ス
リツト板25のスリツトによつて形成されるモア
レじまが、そのスリツトピツチ移動ごとに周期的
に変化することになり、光源23,24から受光
素子21,22に達する光量が周期的に変化して
受光素子21,22には、スケール1がそのスリ
ツトピツチ移動するごとに周期的に変化する電圧
出力が発生する。この受光素子21,22に発生
する電圧出力の波形は、正弦波状であり、両素子
21,22に配設位置が異なる結果、互に90度の
位相差を持つている。そして、スケール1が上方
に移動する場合と下方に移動する場合とでは、一
方の電圧出力に対する他方の電圧出力の位相は90
度分反転することになる。
次に、スケール1がスピンドル1の移動に伴つ
てさらに上方に移動し、検出器3の下方の受光素
子31と対向すると、前記と同様にして受光素子
31には周期的電圧出力が発生し始め、続いてそ
れより1/4ピツチ上方にさらにスケール1が移動
すると、スケール1は上方の受光素子32と対向
して、それから周期的電圧出力が発生し始める。
そして、さらにスケール1が上方に移動すると、
スケール1の下端が検出器2の下側の受光素子2
1、続いて上側の受光素子22の配置位置を通り
抜ける結果、受光素子21,22の電圧出力は一
定となる。
てさらに上方に移動し、検出器3の下方の受光素
子31と対向すると、前記と同様にして受光素子
31には周期的電圧出力が発生し始め、続いてそ
れより1/4ピツチ上方にさらにスケール1が移動
すると、スケール1は上方の受光素子32と対向
して、それから周期的電圧出力が発生し始める。
そして、さらにスケール1が上方に移動すると、
スケール1の下端が検出器2の下側の受光素子2
1、続いて上側の受光素子22の配置位置を通り
抜ける結果、受光素子21,22の電圧出力は一
定となる。
以上の結果、各検出器2,3において、受光素
子21と22,31と32に発生する周期的な電
圧出力の一方を基準にした他方の進み、遅れを検
出することにより、スピンドル4の移動方向が判
別されることになり、また、両検出器2,3の受
光素子21,22,31,32の電圧出力の有無
を検出すると、スケール1と対向している検出器
が判別されることになる。
子21と22,31と32に発生する周期的な電
圧出力の一方を基準にした他方の進み、遅れを検
出することにより、スピンドル4の移動方向が判
別されることになり、また、両検出器2,3の受
光素子21,22,31,32の電圧出力の有無
を検出すると、スケール1と対向している検出器
が判別されることになる。
また、検出器2,3の下側または上側の受光素
子どうし21と31または22と32の位相ずれ
を検出すると、検出器2と3の初期の配設位置誤
差によるスリツトピツチ以内のずれ距離が求めら
れることになる。
子どうし21と31または22と32の位相ずれ
を検出すると、検出器2と3の初期の配設位置誤
差によるスリツトピツチ以内のずれ距離が求めら
れることになる。
次に、上記の周期的出力の有無の検出結果によ
り、計数部と接続される検出器を切換え、各検出
器における二つの周期的電圧出力間の位相の進
み、遅れの検出結果により、計数部での加、減計
数を切換え、さらに、検出器の切換時には、両検
出器の配設位置誤差により出じたずれ距離を補正
する必要がある。
り、計数部と接続される検出器を切換え、各検出
器における二つの周期的電圧出力間の位相の進
み、遅れの検出結果により、計数部での加、減計
数を切換え、さらに、検出器の切換時には、両検
出器の配設位置誤差により出じたずれ距離を補正
する必要がある。
以下、その処理回路について説明する。
第2図において、前記検出器2,3の各受光素
子21,22,23,24に発生した周期的な電
圧出力は、波形整形部6,7,8,9により矩形
波に整形された後、波形整形部6,7の出力は、
逓倍部11と方向判別部12に、また、波形整形
部8,9の出力は、逓倍部14と方向判別部にそ
れぞれ導入される。逓倍部11,13では、それ
ぞれ入力矩形波の立上り、立下りを微分して合成
することにより4逓倍したパルス出力を形成し、
切換制御部の切換部17にそれぞれ送出し、ま
た、方向判別部12,14では、それぞれ波形整
形部6,8の出力を基準にした波形整形部7,8
の出力の位相を検出し、位相が遅れている場合の
み判別出力を切換部17に送出する。他方、切換
制御部の切換出力発生部16には波形整形部6と
9の出力、すなわち、検出器1の下側の受光素子
21と検出器2の上側の受光素子32の周期的出
力を整形した出力が導入されている。この両整形
出力は90度の位相差を持つており、したがつて、
第3図aに示すように、スケール1が検出器2か
ら検出器3の方向に移動して検出器3と対向する
と、以後、受光素子21に出力が発生してから90
度の位相遅れで受光素子32に出力が発生し、逆
に、bに示すように、スケール1が検出器3から
検出器2の方向に移動して検出器2と対向する
と、以後、受光素子32に出力が発生してから90
度の位相遅れで受光素子21に出力が発生するこ
とになる。この切換出力発生部16は、この受光
素子21と32に共に出力が発生する状態になる
に際しての両受光素子21,32の出力の発生時
期を判別するものであり、受光素子21の出力の
発生後に受光素子32の出力が発生した場合に
は、以後切換出力を切換部17に送出させ、前記
と逆に受光素子32の出力発生後に受光素子21
に出力が発生した場合には、切換出力の送出を停
止させる。
子21,22,23,24に発生した周期的な電
圧出力は、波形整形部6,7,8,9により矩形
波に整形された後、波形整形部6,7の出力は、
逓倍部11と方向判別部12に、また、波形整形
部8,9の出力は、逓倍部14と方向判別部にそ
れぞれ導入される。逓倍部11,13では、それ
ぞれ入力矩形波の立上り、立下りを微分して合成
することにより4逓倍したパルス出力を形成し、
切換制御部の切換部17にそれぞれ送出し、ま
た、方向判別部12,14では、それぞれ波形整
形部6,8の出力を基準にした波形整形部7,8
の出力の位相を検出し、位相が遅れている場合の
み判別出力を切換部17に送出する。他方、切換
制御部の切換出力発生部16には波形整形部6と
9の出力、すなわち、検出器1の下側の受光素子
21と検出器2の上側の受光素子32の周期的出
力を整形した出力が導入されている。この両整形
出力は90度の位相差を持つており、したがつて、
第3図aに示すように、スケール1が検出器2か
ら検出器3の方向に移動して検出器3と対向する
と、以後、受光素子21に出力が発生してから90
度の位相遅れで受光素子32に出力が発生し、逆
に、bに示すように、スケール1が検出器3から
検出器2の方向に移動して検出器2と対向する
と、以後、受光素子32に出力が発生してから90
度の位相遅れで受光素子21に出力が発生するこ
とになる。この切換出力発生部16は、この受光
素子21と32に共に出力が発生する状態になる
に際しての両受光素子21,32の出力の発生時
期を判別するものであり、受光素子21の出力の
発生後に受光素子32の出力が発生した場合に
は、以後切換出力を切換部17に送出させ、前記
と逆に受光素子32の出力発生後に受光素子21
に出力が発生した場合には、切換出力の送出を停
止させる。
この結果、前記第3図aの状態後、スケール1
がさらに検出器3の方向に移動し続ける間は切換
出力が発生し続け、また、その後、スケール1が
検出器2の方向に移動し、前記第3図bの状態に
達した後は、切換出力の送出が停止され、以後再
びスケール1が検出器3の方向に移動して(a)の状
態となるまでは切換出力は送出されないことにな
る。
がさらに検出器3の方向に移動し続ける間は切換
出力が発生し続け、また、その後、スケール1が
検出器2の方向に移動し、前記第3図bの状態に
達した後は、切換出力の送出が停止され、以後再
びスケール1が検出器3の方向に移動して(a)の状
態となるまでは切換出力は送出されないことにな
る。
前記の切換部17は、この切換出力発生部16
の切換出力および前記方向判別部12,14の各
判別出力に応じて逓倍部11,13のパルス出力
の導通を選択的に切換えることになり、以下、そ
の詳細を第4図により説明する。
の切換出力および前記方向判別部12,14の各
判別出力に応じて逓倍部11,13のパルス出力
の導通を選択的に切換えることになり、以下、そ
の詳細を第4図により説明する。
図において、アンドゲート71,72には、そ
れぞれ前記逓倍部11,13の逓倍パルスが導入
され、その導通はそれぞれ前記切換信号発生部1
6の切換出力の反転出力、切換出力により制御さ
れている。したがつて、アンドゲート71は、切
換出力の送出が停止されている間導通して逓倍パ
ルスを次のアンドゲート73,74に送出し、ア
ンドゲート72は、切換出力が送出される間導通
して逓倍パルスを次のアンドゲート75,76に
送出することになる。すなわち、スケール1が第
3図aの位置から検出器3と対向して移動する間
は、検出器3の周期的出力を逓倍したパルスが送
出され、スケール1が第3図bの位置から検出器
2と対向して移動する間は、検出器2の周期的出
力を逓倍したパルスが送出されることになる。
れぞれ前記逓倍部11,13の逓倍パルスが導入
され、その導通はそれぞれ前記切換信号発生部1
6の切換出力の反転出力、切換出力により制御さ
れている。したがつて、アンドゲート71は、切
換出力の送出が停止されている間導通して逓倍パ
ルスを次のアンドゲート73,74に送出し、ア
ンドゲート72は、切換出力が送出される間導通
して逓倍パルスを次のアンドゲート75,76に
送出することになる。すなわち、スケール1が第
3図aの位置から検出器3と対向して移動する間
は、検出器3の周期的出力を逓倍したパルスが送
出され、スケール1が第3図bの位置から検出器
2と対向して移動する間は、検出器2の周期的出
力を逓倍したパルスが送出されることになる。
次に、アンドゲート73と74,75と76の
導通は、それぞれ方向判別部12,14の判別出
力により制御されることになり、アンドゲート7
3,75は判別出力が送出される間導通し、アン
ドゲート74,76は判別出力の送出が停止され
ている間導通してそれぞれそこに導入される前記
逓倍パルスを通過させる。この場合、判別出力は
前記したように、スケール1が上方に移動中送出
されるので、結局、アンドゲート73,75は、
スケール1が上方に移動する間導通し、アンドゲ
ート74,76はスケール1が下方に移動する間
導通し、このとき、スケール1が検出器2と対向
していれば、その移動方向に応じてアンドゲート
73または74から逓倍パルスが送出され、スケ
ール1が検出器3と対向していれば、その移動方
向に応じてアンドゲート75または76から逓倍
パルスが送出されることになる。以下、スケール
1の上方への移動中にアンドゲート73または7
5を通過する逓倍パルスは、オア回路77を介し
て計数部18の加算端子に入力され、スケールの
下方への移動中にアンドゲート74または76を
通過する逓倍パルスはオア回路78を介して計数
部18の減算端子に入力され、それぞれ加算また
は減算計数されることになる。
導通は、それぞれ方向判別部12,14の判別出
力により制御されることになり、アンドゲート7
3,75は判別出力が送出される間導通し、アン
ドゲート74,76は判別出力の送出が停止され
ている間導通してそれぞれそこに導入される前記
逓倍パルスを通過させる。この場合、判別出力は
前記したように、スケール1が上方に移動中送出
されるので、結局、アンドゲート73,75は、
スケール1が上方に移動する間導通し、アンドゲ
ート74,76はスケール1が下方に移動する間
導通し、このとき、スケール1が検出器2と対向
していれば、その移動方向に応じてアンドゲート
73または74から逓倍パルスが送出され、スケ
ール1が検出器3と対向していれば、その移動方
向に応じてアンドゲート75または76から逓倍
パルスが送出されることになる。以下、スケール
1の上方への移動中にアンドゲート73または7
5を通過する逓倍パルスは、オア回路77を介し
て計数部18の加算端子に入力され、スケールの
下方への移動中にアンドゲート74または76を
通過する逓倍パルスはオア回路78を介して計数
部18の減算端子に入力され、それぞれ加算また
は減算計数されることになる。
次に、19は位相ずれ演算部であり、前記波形
整形部6と8,7と9の各出力を入力し、その各
出力どうしの位相ずれ時間と周期を測定すると共
に、その比を演算することにより検出器2と3の
配設時のずれ距離を算出し、記憶する演算回路、
記憶回路とよりなる。このずれ距離は、あらかじ
めスピンドル4の下端を等速カムに押付けてスピ
ンドル4を等速で上方に移動させ、スケール1が
両検出器2,3と対向した位置において測定され
る前記位相ずれ時間と周期から算出され、これ
は、検出器2と3の配設距離の誤差(受光素子2
1と31および22と32の間隔はスリツトピツ
チの整数倍に設定しなければならないが、設定時
にずれが生じることは避けられず、ピツチが微小
になるとそれを機械的に調整することも難しい)
に相当する。以下、この記憶されたずれ距離は、
前記の切換出力が送出される間、計数部18に加
えられ、切換出力の送出が停止された際には除か
れることになる。
整形部6と8,7と9の各出力を入力し、その各
出力どうしの位相ずれ時間と周期を測定すると共
に、その比を演算することにより検出器2と3の
配設時のずれ距離を算出し、記憶する演算回路、
記憶回路とよりなる。このずれ距離は、あらかじ
めスピンドル4の下端を等速カムに押付けてスピ
ンドル4を等速で上方に移動させ、スケール1が
両検出器2,3と対向した位置において測定され
る前記位相ずれ時間と周期から算出され、これ
は、検出器2と3の配設距離の誤差(受光素子2
1と31および22と32の間隔はスリツトピツ
チの整数倍に設定しなければならないが、設定時
にずれが生じることは避けられず、ピツチが微小
になるとそれを機械的に調整することも難しい)
に相当する。以下、この記憶されたずれ距離は、
前記の切換出力が送出される間、計数部18に加
えられ、切換出力の送出が停止された際には除か
れることになる。
以上のものにおいて、いま、第1図に示すよう
にスケール1が検出器2と対向した状態で、スピ
ンドル4の上方への移動に伴つて上方に移動する
と、受光素子21,22は周期的出力が発生し、
逓倍部11によつてそれは4逓倍される。このと
き、検出器3の受光素子32には周期的出力が発
生していないので、切換出力発生部16から切換
出力は送出されず、アンドゲート71(第4図)
が導通して前記逓倍パルスがアンドゲート73,
74に加えられるが、方向判別部12から判別出
力が送出される結果、アンドゲート73のみが導
通し、そこを通過した逓倍パルスがオア回路77
を介して計数部18の加算端子に加えられ、逓倍
パルスの加算計数が行われる。したがつて、スピ
ンドル4がスケール1のスリツトピツチの1/4だ
け移動するごとに計数部18の計数値は1カウン
トづつ増加する。この状態からスピンドル4がさ
らに上方に移動し、スケール1が検出器3と対向
し、その上方の愛光素子32に周期的出力が発生
すると、切換出力発生部16から切換出力が送出
されることになり、アンドゲート72を導通し、
アンドゲート71を遮断する。この結果、検出器
3の受光素子31,32に発生する周期的出力を
逓倍部13により逓倍したパルスがアンドゲート
75,76に加えられるが、方向判別部14から
判別出力が送出されているのでアンドゲート75
のみが導通し、そこを通過したパルスがオア回路
77を介して計数部18の加算端子に加えられ、
その逓倍パルスの計数が行われる。したがつて、
スピンドルの移動距離がスケール1の全長を越え
ても連続的にその移動距離に応じて計数部18の
計数値が増加することになる。また、この切換出
力の送出と同時に位相ずれ演算部19に記憶され
ているずれ距離も計数部18に加算される。
にスケール1が検出器2と対向した状態で、スピ
ンドル4の上方への移動に伴つて上方に移動する
と、受光素子21,22は周期的出力が発生し、
逓倍部11によつてそれは4逓倍される。このと
き、検出器3の受光素子32には周期的出力が発
生していないので、切換出力発生部16から切換
出力は送出されず、アンドゲート71(第4図)
が導通して前記逓倍パルスがアンドゲート73,
74に加えられるが、方向判別部12から判別出
力が送出される結果、アンドゲート73のみが導
通し、そこを通過した逓倍パルスがオア回路77
を介して計数部18の加算端子に加えられ、逓倍
パルスの加算計数が行われる。したがつて、スピ
ンドル4がスケール1のスリツトピツチの1/4だ
け移動するごとに計数部18の計数値は1カウン
トづつ増加する。この状態からスピンドル4がさ
らに上方に移動し、スケール1が検出器3と対向
し、その上方の愛光素子32に周期的出力が発生
すると、切換出力発生部16から切換出力が送出
されることになり、アンドゲート72を導通し、
アンドゲート71を遮断する。この結果、検出器
3の受光素子31,32に発生する周期的出力を
逓倍部13により逓倍したパルスがアンドゲート
75,76に加えられるが、方向判別部14から
判別出力が送出されているのでアンドゲート75
のみが導通し、そこを通過したパルスがオア回路
77を介して計数部18の加算端子に加えられ、
その逓倍パルスの計数が行われる。したがつて、
スピンドルの移動距離がスケール1の全長を越え
ても連続的にその移動距離に応じて計数部18の
計数値が増加することになる。また、この切換出
力の送出と同時に位相ずれ演算部19に記憶され
ているずれ距離も計数部18に加算される。
次に、この状態からスピンドル4が下方に移動
させられ始めると、方向判別部14から判別出力
が送出されなくなり、アンドゲート75が遮断
し、アンドゲート76が導通してアンドゲート7
2から導入される逓倍パルスをオア回路78を介
して計数部18の減算端子に送り、減算計数を行
わせることになる。したがつて、以後、スピンド
ルの下降距離に応じて計数部18の計数値は減少
していくことになる。
させられ始めると、方向判別部14から判別出力
が送出されなくなり、アンドゲート75が遮断
し、アンドゲート76が導通してアンドゲート7
2から導入される逓倍パルスをオア回路78を介
して計数部18の減算端子に送り、減算計数を行
わせることになる。したがつて、以後、スピンド
ルの下降距離に応じて計数部18の計数値は減少
していくことになる。
続いて、さらにスピンドル4が下方に移動させ
られ、スケール1が検出器2と対向し、その下側
の受光素子21に周期的出力が発生すると、切換
出力発生部16からの切換出力の送出が停止し、
アンドゲート71が導通し、アンドゲート72が
遮断される。この結果、検出器2の周期的出力を
逓倍部11により逓倍したパルスがアンドゲート
73,74に加えられることになるが、このとき
方向判別部12からは判別出力が送出されないの
で、アンドゲート74のみが導通し、そこを通過
したパルスがオア回路78を介して計数部18の
減算端子に加えられ、減算計数されることにな
る。したがつて、スピンドル4がその全長を越え
る距離だけ下方に移動しても連続的にその移動距
離に応じて計数部18の計数値が減少することに
なる。また、この切換出力の送出停止と同時に、
位相ずれ演算部19から計数部18に加えられて
いたずれ距離は減算されることになる。
られ、スケール1が検出器2と対向し、その下側
の受光素子21に周期的出力が発生すると、切換
出力発生部16からの切換出力の送出が停止し、
アンドゲート71が導通し、アンドゲート72が
遮断される。この結果、検出器2の周期的出力を
逓倍部11により逓倍したパルスがアンドゲート
73,74に加えられることになるが、このとき
方向判別部12からは判別出力が送出されないの
で、アンドゲート74のみが導通し、そこを通過
したパルスがオア回路78を介して計数部18の
減算端子に加えられ、減算計数されることにな
る。したがつて、スピンドル4がその全長を越え
る距離だけ下方に移動しても連続的にその移動距
離に応じて計数部18の計数値が減少することに
なる。また、この切換出力の送出停止と同時に、
位相ずれ演算部19から計数部18に加えられて
いたずれ距離は減算されることになる。
以上の計果、スピンドル4の移動距離は、スケ
ール1の全長の約2倍の距離にわたつて連続的に
計数部18の計数値に変換されることになる。
ール1の全長の約2倍の距離にわたつて連続的に
計数部18の計数値に変換されることになる。
なお、上記実施例においては、スケール1の全
長の約2倍の移動距離を測定するものを例示した
が、検出器をさらに増加して上方に配列し、か
つ、隣合う検出器について前記と同様の切換を行
うことにより測定範囲は拡張される。
長の約2倍の移動距離を測定するものを例示した
が、検出器をさらに増加して上方に配列し、か
つ、隣合う検出器について前記と同様の切換を行
うことにより測定範囲は拡張される。
また、上記実施例は本発明をリニアゲージに実
施した場合であるが、受信部の配列されたスケー
ルに対して2つの受信部からなる検出器を対向さ
せてその相対的な移動距離を測定する移動距離測
定器には前記と同様に実施できる。
施した場合であるが、受信部の配列されたスケー
ルに対して2つの受信部からなる検出器を対向さ
せてその相対的な移動距離を測定する移動距離測
定器には前記と同様に実施できる。
また、上記実施例においては、検出器2,3に
発生する出力を4逓倍する場合につき例示した
が、必要な測定分解能と精度により逓倍部を省略
したり、あるいは逆にさらに多逓倍するようにし
てもよい。
発生する出力を4逓倍する場合につき例示した
が、必要な測定分解能と精度により逓倍部を省略
したり、あるいは逆にさらに多逓倍するようにし
てもよい。
また、上記実施例においては、位相ずれ演算部
の演算を周期的出力間の位相ずれ時間と周期的出
力の周期の比としたが、受光素子21,22,3
1,32に発生する電圧出力を同時にサンプルホ
ールドし、その電圧V21,V22,V31,V32から次
の演算式により位相ずれθを算出し、ずれ距離を
求めるようにしても同様である。
の演算を周期的出力間の位相ずれ時間と周期的出
力の周期の比としたが、受光素子21,22,3
1,32に発生する電圧出力を同時にサンプルホ
ールドし、その電圧V21,V22,V31,V32から次
の演算式により位相ずれθを算出し、ずれ距離を
求めるようにしても同様である。
θ=tan-1(V31/V32)−tan-1 (V21/V22)
以上のとおりであり、本発明は、高分解能、高
精度に発信部が配列される短尺スケールに対し
て、その長手方向にスケール全長より短い間隔で
複数個の検出器を配列し、隣合つた検出器とスケ
ールとの対向状態に応じて計数する検出器の周期
的出力を切換えると共に、その切換時には切換前
後の検出器間の位相ずれ距離を補正するので、ス
ケール全長より大きな移動距離まで連続的に、か
つ高精度、高分解能で測定することができる。
精度に発信部が配列される短尺スケールに対し
て、その長手方向にスケール全長より短い間隔で
複数個の検出器を配列し、隣合つた検出器とスケ
ールとの対向状態に応じて計数する検出器の周期
的出力を切換えると共に、その切換時には切換前
後の検出器間の位相ずれ距離を補正するので、ス
ケール全長より大きな移動距離まで連続的に、か
つ高精度、高分解能で測定することができる。
第1図は本発明をリニアゲージに実施した例を
示す要部の斜視図、第2図は本発明の処理回路の
実施例を示すブロツク線図、第3図は検出器とス
ケールとの対向関係を表わすモデル図、第4図は
第3図の切換部の実施例を示すブロツク線図であ
る。 1:スケール、2,3:検出器、21,22,
31,32:受光素子、23,24,33,3
4:光源、25,35:検出スリツト板、11,
13:逓倍部、16:切換出力発生部、17:切
換部、18:計数部、19:位相ずれ演算部。
示す要部の斜視図、第2図は本発明の処理回路の
実施例を示すブロツク線図、第3図は検出器とス
ケールとの対向関係を表わすモデル図、第4図は
第3図の切換部の実施例を示すブロツク線図であ
る。 1:スケール、2,3:検出器、21,22,
31,32:受光素子、23,24,33,3
4:光源、25,35:検出スリツト板、11,
13:逓倍部、16:切換出力発生部、17:切
換部、18:計数部、19:位相ずれ演算部。
Claims (1)
- 1 微小ピツチで発信部を配列したスケールを検
出器と対向させ、スケールと検出器が相対的に一
定距離移動するごとに検出器に発生する周期的出
力を取出し、その周期的出力またはそれを逓倍部
を介して逓倍した出力を計数部により計数させる
移動距離測定器において、前記検出器を複数個と
し、その各検出器はスケールの長手方向にスケー
ル全長より短い間隔で配列し、隣合つた位置に配
列した検出器の周期的出力を切換制御部と位相ず
れ演算部に各導入して両検出器の周期的出力の有
無に応じた切換出力と両検出器の周期的出力の位
相ずれに対応したずれ距離出力とを発生させ、前
記切換出力に応じて計数部と接続する検出器また
は逓倍部を選択的に切換えると共に、その切換の
前後の検出器間における前記ずれ距離出力を計数
部に加えることを特徴とする移動距離測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9706481A JPS57211012A (en) | 1981-06-22 | 1981-06-22 | Measuring device for moving distance |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9706481A JPS57211012A (en) | 1981-06-22 | 1981-06-22 | Measuring device for moving distance |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57211012A JPS57211012A (en) | 1982-12-24 |
| JPH0123048B2 true JPH0123048B2 (ja) | 1989-04-28 |
Family
ID=14182212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9706481A Granted JPS57211012A (en) | 1981-06-22 | 1981-06-22 | Measuring device for moving distance |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57211012A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4138298A1 (de) * | 1990-11-21 | 1992-06-04 | Nippon Denso Co | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungsfreien messung einer bewegungsgroesse |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63256860A (ja) * | 1987-04-14 | 1988-10-24 | Toyota Motor Corp | リニアセンサのオ−バ−スピ−ド検知方法 |
-
1981
- 1981-06-22 JP JP9706481A patent/JPS57211012A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4138298A1 (de) * | 1990-11-21 | 1992-06-04 | Nippon Denso Co | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungsfreien messung einer bewegungsgroesse |
| US5270539A (en) * | 1990-11-21 | 1993-12-14 | Nippondenso Co., Ltd. | Method and apparatus for non-contact position determination using variable width slit array and linear CCD sensor |
| DE4138298B4 (de) * | 1990-11-21 | 2004-07-08 | Denso Corp., Kariya | Verfahren und Vorrichtung zur berührungsfreien Messung einer Bewegungsgröße |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57211012A (en) | 1982-12-24 |
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