JPH01236513A - 積層セラミック体用内部電極ペースト - Google Patents
積層セラミック体用内部電極ペーストInfo
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- JPH01236513A JPH01236513A JP63062386A JP6238688A JPH01236513A JP H01236513 A JPH01236513 A JP H01236513A JP 63062386 A JP63062386 A JP 63062386A JP 6238688 A JP6238688 A JP 6238688A JP H01236513 A JPH01236513 A JP H01236513A
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- Japan
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- internal electrode
- electrode paste
- ceramic
- laminated ceramic
- ceramic body
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/09—Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
- H05K1/092—Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4611—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
- H05K3/4626—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials
- H05K3/4629—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials laminating inorganic sheets comprising printed circuits, e.g. green ceramic sheets
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、積層セラミックコンデンサやセラミック多層
基板等の積層セラミック体の内部電極として用いられる
、銅または銅を主成分とする合金層を形成するために用
いられる積層セラミック体用内部電極ペーストに関する
ものである。
基板等の積層セラミック体の内部電極として用いられる
、銅または銅を主成分とする合金層を形成するために用
いられる積層セラミック体用内部電極ペーストに関する
ものである。
従来の技術
近年、電極層とセラミック層とを層状に積層−体止した
積層セラミック体が積層コンデンサやセラミック多層基
板等の電子部品として急速に需要が増大している。
積層セラミック体が積層コンデンサやセラミック多層基
板等の電子部品として急速に需要が増大している。
ところで、従来の積層セラミックコンデンサは焼成温度
が1300℃以上のチタン酸バリウム等をセラミック材
料として用いており、内部電極材料としてはセラミック
材料の焼成温度より融点が高温であるPt 、 Pdな
どの高価な金属を用いる必要があった。従って、製品コ
スト低減のため安価な卑金属を内部電極に用いようとす
る試みが成されている。
が1300℃以上のチタン酸バリウム等をセラミック材
料として用いており、内部電極材料としてはセラミック
材料の焼成温度より融点が高温であるPt 、 Pdな
どの高価な金属を用いる必要があった。従って、製品コ
スト低減のため安価な卑金属を内部電極に用いようとす
る試みが成されている。
これに対し発明者らは、900〜10oO℃の低温で焼
成可能な鉛ペロブスカイト酸化物を誘電体に用い、銅ま
たは銅を主成分とする合金を内部電極に用いた積層コン
デンサ素子を提案してきた。
成可能な鉛ペロブスカイト酸化物を誘電体に用い、銅ま
たは銅を主成分とする合金を内部電極に用いた積層コン
デンサ素子を提案してきた。
また、これとは別にチタン酸バリウム系誘電体を用い、
Niを内部電極に用6た積層セラミックコンデンサが提
案されており、その製造方法については特開昭60−1
78611号公報に記載の方法などが知られている。
Niを内部電極に用6た積層セラミックコンデンサが提
案されており、その製造方法については特開昭60−1
78611号公報に記載の方法などが知られている。
一方、セラミック多層基板は焼成温度が15oO〜17
00℃と高いアルミナをセラミック材料に用い、WやM
Oを内部電極(配線導体)とするアルミナ多層基板が主
体であった。しかしながら、電子機器の高周波化とデジ
タル化に伴いセラミック材料の低誘電率化と内部電極(
配線導体)の低抵抗化が強く望まれている。このため、
IMIIzにおける誘電率が6.7と低く(アルミナで
は1o)、900〜1000℃と低温で焼成可能なA1
2o、−Ca OS 102 M g OB 20
sをセラミック材料とじNi、 cu 、 Au 、ム
gまたはムg−Pd等を内部電極(配線導体)とするセ
ラミック多層基板が提案されている。
00℃と高いアルミナをセラミック材料に用い、WやM
Oを内部電極(配線導体)とするアルミナ多層基板が主
体であった。しかしながら、電子機器の高周波化とデジ
タル化に伴いセラミック材料の低誘電率化と内部電極(
配線導体)の低抵抗化が強く望まれている。このため、
IMIIzにおける誘電率が6.7と低く(アルミナで
は1o)、900〜1000℃と低温で焼成可能なA1
2o、−Ca OS 102 M g OB 20
sをセラミック材料とじNi、 cu 、 Au 、ム
gまたはムg−Pd等を内部電極(配線導体)とするセ
ラミック多層基板が提案されている。
以上示したような、従来の銅または銅合金を内部電極と
する積層セラミック体の内部電極形成に用いられていた
内部電極ペーストは、出発原料に銅合金または金属銅の
粉末もしくは、CuOを用いていた。
する積層セラミック体の内部電極形成に用いられていた
内部電極ペーストは、出発原料に銅合金または金属銅の
粉末もしくは、CuOを用いていた。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、上記のような従来の技術では克服すべき
二つの問題点が生じる。このことは内部電極ペースト及
びセラミック材料中に用いられる有機バインダーに起因
している。
二つの問題点が生じる。このことは内部電極ペースト及
びセラミック材料中に用いられる有機バインダーに起因
している。
すなわち、一番目の問題点はセラミック材料をシート成
形するために用いられる有機バインダー及び内部電極ペ
ーストに含まれる有機バインダーが内部電極材料の酸化
が発生しないような非酸化性雰囲気では、完全に除去す
るのが困難で有機バインダーのカーボナイズ現象が発生
しやすく、焼成時にセラミック材料が残留しているカー
ボンにより、還元され素子の絶縁抵抗の低下や焼結密度
の低下が生じることにある。
形するために用いられる有機バインダー及び内部電極ペ
ーストに含まれる有機バインダーが内部電極材料の酸化
が発生しないような非酸化性雰囲気では、完全に除去す
るのが困難で有機バインダーのカーボナイズ現象が発生
しやすく、焼成時にセラミック材料が残留しているカー
ボンにより、還元され素子の絶縁抵抗の低下や焼結密度
の低下が生じることにある。
次に、二番目の問題点は酸化性雰囲気で完全に有機バイ
ンダーを除去しようとする際に生じる。
ンダーを除去しようとする際に生じる。
すなわち、内部電極ペーストの出発原料に金属銅及び銅
合金粉末を用いた場合、有機バインダ成分の除去(以下
単にバインダーアウトと記す)の際に内部電極材料の酸
化やこの除虫じる体積膨張により、高周波における誘電
損失の増大やクラックが発生するといった問題を有して
いた。また、−方円部電極ペーストの出発原料にCuO
を用いた場合には、酸化性雰囲気でのバインダーアウト
時にクラックの発生は生じないが、焼成または還元処理
工程において、CuOを金属銅に還元する際に大きな体
積収縮を生じ焼結体にクラックが発生したりセラミック
層と電極層との間に空洞が生じるいわゆるデラミネーシ
ョンが発生するといった問題を有していた。
合金粉末を用いた場合、有機バインダ成分の除去(以下
単にバインダーアウトと記す)の際に内部電極材料の酸
化やこの除虫じる体積膨張により、高周波における誘電
損失の増大やクラックが発生するといった問題を有して
いた。また、−方円部電極ペーストの出発原料にCuO
を用いた場合には、酸化性雰囲気でのバインダーアウト
時にクラックの発生は生じないが、焼成または還元処理
工程において、CuOを金属銅に還元する際に大きな体
積収縮を生じ焼結体にクラックが発生したりセラミック
層と電極層との間に空洞が生じるいわゆるデラミネーシ
ョンが発生するといった問題を有していた。
さらに、内部電極ペーストの出発原料にCu2Oを用い
た場合には、積層数が比較的少ないか電極面積が小さい
場合には問題ないが、積層数が多い場合には金属含有量
の低いCu 20を用いているため、還元処理の際クラ
ックが発生したりして好ましくない。
た場合には、積層数が比較的少ないか電極面積が小さい
場合には問題ないが、積層数が多い場合には金属含有量
の低いCu 20を用いているため、還元処理の際クラ
ックが発生したりして好ましくない。
以上述べたような問題点は、高密度及び高容量化等のた
めに積層数の多い積層セラミック体はど顕著にみられる
。
めに積層数の多い積層セラミック体はど顕著にみられる
。
また、内部電極ペーストの出発原料として金属を用いた
場合には、平均粒子径の小さい金属粉末が必要で、製造
時の粉砕に要するコスト及び防錆処理に要するコストな
どのため地金では安価な卑金属の利点を十分に生かせな
いという問題があった。
場合には、平均粒子径の小さい金属粉末が必要で、製造
時の粉砕に要するコスト及び防錆処理に要するコストな
どのため地金では安価な卑金属の利点を十分に生かせな
いという問題があった。
本発明はこのような問題点を解決するもので、積層数の
多い銅を内部電極とする積層セラミック体において、酸
化性雰囲気にてバインダー除去が可能で、しかも、その
後の還元処理により、クラック等の構造欠陥が発生しな
い信頼性の優れた内部電極ペーストを提供することを目
的とするものである。
多い銅を内部電極とする積層セラミック体において、酸
化性雰囲気にてバインダー除去が可能で、しかも、その
後の還元処理により、クラック等の構造欠陥が発生しな
い信頼性の優れた内部電極ペーストを提供することを目
的とするものである。
課題を解決するだめの手段
上記課題を解決するために、本発明の積層セラミック体
用内部電極ペーストは出発原料に平均粒子径0.1〜1
0μmのCu2O及びCuからなる■合物において、C
u含有量が10〜70wt%である混合物を用い、Cu
2O及びOu −4たは、Cu2O及びGuと添加無機
成分の混合物に対し、0.6〜10wt%の有機バイン
ダ及び溶剤を添加したものである。また、積層するセラ
ミック材料を構成する元素、まだはこれを含む化合物も
しくは銅と合金をつくる金属元素、またはこれを含む化
合物を無機成分として= Cu2O及びCUの混合物に
対して、1〜50W t%添加したものを電極ペースト
としたものである。
用内部電極ペーストは出発原料に平均粒子径0.1〜1
0μmのCu2O及びCuからなる■合物において、C
u含有量が10〜70wt%である混合物を用い、Cu
2O及びOu −4たは、Cu2O及びGuと添加無機
成分の混合物に対し、0.6〜10wt%の有機バイン
ダ及び溶剤を添加したものである。また、積層するセラ
ミック材料を構成する元素、まだはこれを含む化合物も
しくは銅と合金をつくる金属元素、またはこれを含む化
合物を無機成分として= Cu2O及びCUの混合物に
対して、1〜50W t%添加したものを電極ペースト
としたものである。
作用
本発明の積層セラミック体用内部電極ペーストを用いる
ことにより、酸化性雰囲気にてクラックの発生等の問題
を生じることなく有機バインダーを完全に除去でき、カ
ーボンの残留を防ぐことができるので、焼成時のセラミ
ック材料の還元による絶縁抵抗の低下、焼成密度の低下
を防ぐことができる。すなわち、 Cu2Oは金属鋼に
比べGuOへの酸化による体積膨張が約6%と小さいた
め金属銅のみを用いた場合に比べ、酸化性雰囲気でのバ
インダーアウトの際クラックが発生しないのである。ま
た、このバインダーアウト時に生成したCuOは、26
0〜660℃の低温でかつ比較的高酸素分圧で完全に還
元されるため、バインダーアウト後のグリーンボディを
適当な還元条件にて還元処理することにより、良好な導
電性を有する内部電極を得ることができる。また、Cu
2O及びGuの混合物を出発原料に用いた場合には、C
UOやGu20f単独で出発原料に用いた場合に比べ、
内部電極ペーストの印刷・乾燥後の塗膜中における単位
体積当たりの金属含有量が高いため、還元処理の際の体
積収縮が小さく還元処理後のグリーンボディ及び焼結体
にクラックやデラミネーションが発生しない。さらに、
この還元処理後のグリーンボディを内部電極が酸化され
ず、セラミック材料が還元されない雰囲気にて焼成する
ことにより、セラミック層が緻密で絶縁抵抗が高く所望
の特性を有するとともに、内部電極層が酸化物の介在が
なく良好な導電性を有する完全な金属銅である積層セラ
ミック体が得られることとなる。
ことにより、酸化性雰囲気にてクラックの発生等の問題
を生じることなく有機バインダーを完全に除去でき、カ
ーボンの残留を防ぐことができるので、焼成時のセラミ
ック材料の還元による絶縁抵抗の低下、焼成密度の低下
を防ぐことができる。すなわち、 Cu2Oは金属鋼に
比べGuOへの酸化による体積膨張が約6%と小さいた
め金属銅のみを用いた場合に比べ、酸化性雰囲気でのバ
インダーアウトの際クラックが発生しないのである。ま
た、このバインダーアウト時に生成したCuOは、26
0〜660℃の低温でかつ比較的高酸素分圧で完全に還
元されるため、バインダーアウト後のグリーンボディを
適当な還元条件にて還元処理することにより、良好な導
電性を有する内部電極を得ることができる。また、Cu
2O及びGuの混合物を出発原料に用いた場合には、C
UOやGu20f単独で出発原料に用いた場合に比べ、
内部電極ペーストの印刷・乾燥後の塗膜中における単位
体積当たりの金属含有量が高いため、還元処理の際の体
積収縮が小さく還元処理後のグリーンボディ及び焼結体
にクラックやデラミネーションが発生しない。さらに、
この還元処理後のグリーンボディを内部電極が酸化され
ず、セラミック材料が還元されない雰囲気にて焼成する
ことにより、セラミック層が緻密で絶縁抵抗が高く所望
の特性を有するとともに、内部電極層が酸化物の介在が
なく良好な導電性を有する完全な金属銅である積層セラ
ミック体が得られることとなる。
また、無機成分として積層セラミック体に用いるセラミ
ック材料を構成する元素または、これを含む化合物の形
で添加したυ、セラミック材料と親和性のあるガラスフ
リット等を添加することにより、内部電極層とセラミッ
ク層との接着性を向上させることができる。
ック材料を構成する元素または、これを含む化合物の形
で添加したυ、セラミック材料と親和性のあるガラスフ
リット等を添加することにより、内部電極層とセラミッ
ク層との接着性を向上させることができる。
さらに、積層セラミック体に用いるセラミック材料の焼
結温度や必要とする電極の特性に応じて銅と合金をつく
る他の金属元素を金属、酸化物もしくは他の化合物の形
で添加することにより銅合金内部電極層を得ることがで
きる。
結温度や必要とする電極の特性に応じて銅と合金をつく
る他の金属元素を金属、酸化物もしくは他の化合物の形
で添加することにより銅合金内部電極層を得ることがで
きる。
実施例
以下に本発明の内部電極ペーストを積層セラミック体と
して、積層セラミックコンデンサに適用した場合の実施
例について説明する。
して、積層セラミックコンデンサに適用した場合の実施
例について説明する。
(実施例1)
誘電体セラミックとして次に示す組成式で表わされる材
料を用いた。
料を用いた。
(Pb1.gBI C&、、)25 ) (Mg y、
Nby、 )、、。
Nby、 )、、。
”a2s <”34 W、H)(L(1503,
(125誘電体セラミック粉末は通常のセラミック製造
方法に従い裏遺した。仮焼条件は800℃2時間とした
。粉砕した仮焼粉末は仮焼粉末に対し、有機バインダー
としてSwt%のポリビニルブチラール樹脂、可塑剤と
して3wt%のジブチルフタレート、50wt%の溶剤
と共にボールミルで混合しドクターブレードを用い]享
さ35μmにシート化した。内部電極ペーストとしては
、それぞれ平均粒子径0.08 μm 、 1.0
μm 、 9..5 μm 。
(125誘電体セラミック粉末は通常のセラミック製造
方法に従い裏遺した。仮焼条件は800℃2時間とした
。粉砕した仮焼粉末は仮焼粉末に対し、有機バインダー
としてSwt%のポリビニルブチラール樹脂、可塑剤と
して3wt%のジブチルフタレート、50wt%の溶剤
と共にボールミルで混合しドクターブレードを用い]享
さ35μmにシート化した。内部電極ペーストとしては
、それぞれ平均粒子径0.08 μm 、 1.0
μm 、 9..5 μm 。
12μmの4種類の平均粒子径をもっCu20(Cu2
0として純度99チ)または平均粒子径0.06μm
、 0,5μm、10μm、15μmの4穐類の銅及
び平均粒子径1.2μmのCuOを出発原料として用い
た。この銅、 Cu2O、CuOまたはCuとCu2O
の混合物において、Cu含有量がs、10,50,70
,80wt%の混合物に対し、 0.3 wt% 、
0.5 wt%、 2.5 wt% 。
0として純度99チ)または平均粒子径0.06μm
、 0,5μm、10μm、15μmの4穐類の銅及
び平均粒子径1.2μmのCuOを出発原料として用い
た。この銅、 Cu2O、CuOまたはCuとCu2O
の混合物において、Cu含有量がs、10,50,70
,80wt%の混合物に対し、 0.3 wt% 、
0.5 wt%、 2.5 wt% 。
10wtチ、15wt%のエチルセルロースと46wt
%のテレピン油を溶剤として添加し三本ロールで混練し
、電極ペーストとしスクリーン印刷法を用い、誘電体セ
ラミックグリーンシート上に内部電極パターンを印刷し
た。この時の印刷厚みは12〜18μmであった。これ
を電極が左右交互に引き出されるように積層し切断した
。
%のテレピン油を溶剤として添加し三本ロールで混練し
、電極ペーストとしスクリーン印刷法を用い、誘電体セ
ラミックグリーンシート上に内部電極パターンを印刷し
た。この時の印刷厚みは12〜18μmであった。これ
を電極が左右交互に引き出されるように積層し切断した
。
このようにして作成した積層体は、磁器ボート内に粗粒
ジルコニアを敷き、その上に載せ空気中で昇温速度12
°C/hrにてeoo’cまで昇温し600℃にて6時
間保持してバインダーアウトした。
ジルコニアを敷き、その上に載せ空気中で昇温速度12
°C/hrにてeoo’cまで昇温し600℃にて6時
間保持してバインダーアウトした。
第1図に示すように、バインダーアウトした積層体試料
14を載せた磁器ボート12を、管状炉中の内径60r
anの炉心管11の内部に入れ、20’C3wt%アン
モニア水15をバブリングした窒素ガスを毎分1リット
ル流し、450’Cで8時間保持し、内部電極を還元し
た。
14を載せた磁器ボート12を、管状炉中の内径60r
anの炉心管11の内部に入れ、20’C3wt%アン
モニア水15をバブリングした窒素ガスを毎分1リット
ル流し、450’Cで8時間保持し、内部電極を還元し
た。
第2図に焼成時の積層体を入れるマグネシア磁器容器の
断面を示す。また、第3図に焼成炉炉心・aの断面をそ
れぞれ示す。マグネシア磁器容器21内には上述の仮焼
粉22を体積の祐程度敷きつめた上に200メツシユの
zrO2粉23全23問敷き、そのうえに内部電極を還
元処理した積層体26を置いた。マグネシア磁器の蓋2
4をし、管状電気炉の炉心管26内に挿入し、炉心管内
をロータリーポンプで脱気したのち、N2−H22層ガ
スで置換し、酸素分圧が1×10 となるようN2とH
2ガスの混合比を調節しながら混合ガスを流し980℃
まで400℃/hrで昇温し2時間保持後400’C/
hrで降温した。炉心管内のPO2は挿入した安定化ジ
ルコニア酸素センサー27の大気側と炉内部側に構成し
た白金成極から引き出した電極間の電圧×(v)から次
式から求めた。
断面を示す。また、第3図に焼成炉炉心・aの断面をそ
れぞれ示す。マグネシア磁器容器21内には上述の仮焼
粉22を体積の祐程度敷きつめた上に200メツシユの
zrO2粉23全23問敷き、そのうえに内部電極を還
元処理した積層体26を置いた。マグネシア磁器の蓋2
4をし、管状電気炉の炉心管26内に挿入し、炉心管内
をロータリーポンプで脱気したのち、N2−H22層ガ
スで置換し、酸素分圧が1×10 となるようN2とH
2ガスの混合比を調節しながら混合ガスを流し980℃
まで400℃/hrで昇温し2時間保持後400’C/
hrで降温した。炉心管内のPO2は挿入した安定化ジ
ルコニア酸素センサー27の大気側と炉内部側に構成し
た白金成極から引き出した電極間の電圧×(v)から次
式から求めた。
Po2= 0.2・axp (4F E /RT )こ
こで、Fはファラデ一定数96489クーロン。
こで、Fはファラデ一定数96489クーロン。
Rはガス定数8.3144 J /lleg −mol
、Tは絶対温度である。
、Tは絶対温度である。
積層セラミックコンデンサの外形は2.8 X 1.4
XO19wRで有効電極面積は一層当たり1.3125
順2(1,75X 0.7511111 ) 、電極層
の厚みは3.0〜4.0μm、誘電体層は一層当たり2
6.0μmで有効層数は30層、上下に無効層を7層ず
つ設けた。このようにして得られた積層セラミックコン
デンサに外部電極として、In−Ga合金を塗布し、室
温における容i、tanδを1vの交流電圧を印加しI
KHzの周波数で測定した。また、抵抗率は60 V
/ mmの電圧を印加後1分値から求めた。
XO19wRで有効電極面積は一層当たり1.3125
順2(1,75X 0.7511111 ) 、電極層
の厚みは3.0〜4.0μm、誘電体層は一層当たり2
6.0μmで有効層数は30層、上下に無効層を7層ず
つ設けた。このようにして得られた積層セラミックコン
デンサに外部電極として、In−Ga合金を塗布し、室
温における容i、tanδを1vの交流電圧を印加しI
KHzの周波数で測定した。また、抵抗率は60 V
/ mmの電圧を印加後1分値から求めた。
第1表及び第2表に容量、tanδ、抵抗値。
及び得られた積層セラミックコンデンサの構造欠陥や製
造工程中に発生した問題点を備考欄に示した。
造工程中に発生した問題点を備考欄に示した。
第1表及び第2表から明らかなように、出発原料として
はバインダーアウト時のクラックや還元処理時及び焼成
時のデラミネーションの発生しないCu含有量が10〜
70wt%のCu2OとCuの混合物が好ましい。また
、その平均粒子径としては0.1〜10μmが好ましい
ことがわかる。すなわち、0.1μmより小さい場合に
は内部電極ペースト印刷時のバッキングが十分でなく塗
膜の密度が低く還元処理後クラックが発生したり、焼成
時にデラミネーションが発生することとなる。−方、1
0μmより大きい場合には、ノ(インダーアウト時にC
uOへの酸化による体積膨張によりクラックが発生する
。
はバインダーアウト時のクラックや還元処理時及び焼成
時のデラミネーションの発生しないCu含有量が10〜
70wt%のCu2OとCuの混合物が好ましい。また
、その平均粒子径としては0.1〜10μmが好ましい
ことがわかる。すなわち、0.1μmより小さい場合に
は内部電極ペースト印刷時のバッキングが十分でなく塗
膜の密度が低く還元処理後クラックが発生したり、焼成
時にデラミネーションが発生することとなる。−方、1
0μmより大きい場合には、ノ(インダーアウト時にC
uOへの酸化による体積膨張によりクラックが発生する
。
有機バインダーの添加量としては、Cu2Oに対し0.
5〜10wt%が最適であると思われる。有機バインダ
ーの添加量が0.5wt%未満では、電極ペーストとし
てのチクソ性が低下し印刷時に滲みが発生し好ましくな
い。一方、10wt%より多いとバインダーアウト時に
有機)(インダーの分解により発生する多量の分解ガス
により、クラックが発生し好ましくない。
5〜10wt%が最適であると思われる。有機バインダ
ーの添加量が0.5wt%未満では、電極ペーストとし
てのチクソ性が低下し印刷時に滲みが発生し好ましくな
い。一方、10wt%より多いとバインダーアウト時に
有機)(インダーの分解により発生する多量の分解ガス
により、クラックが発生し好ましくない。
ところで、実施例1では有機バインダーとしてエチルセ
ルロースを用いたが、アクリル樹脂等の他の有機バイン
ダーを用いてもよい。
ルロースを用いたが、アクリル樹脂等の他の有機バイン
ダーを用いてもよい。
(実施例2)
誘電体セラミック材料、およびそのシート化については
実施例1と同様の方法を用いた。
実施例1と同様の方法を用いた。
内部電極ペーストとしては、平均粒径1.0μmのCu
20(Cu20として純度99%)及び平均粒子径0.
6μmのOuを1:1に混合したものを出発原料に用い
この混合物に対し、0.5〜6゜wt%の無機成分(第
3表に示すような誘電体セラミック材料と同一またはと
れを構成する元素もしくはその化合物)、さらにこの(
3u20 、 Cu及び無機成分に対し2.5 wt%
のエチルセルロースとswt%のテレピン油を溶剤とし
て添加して、三本ロールで混練し電極ペーストとし、ス
フl −ン印刷法を用い誘電体セラミックグリーンシー
ト上に内部電極パターンを印刷した。これを電極が左右
交互に引き出されるように積層し切断した。
20(Cu20として純度99%)及び平均粒子径0.
6μmのOuを1:1に混合したものを出発原料に用い
この混合物に対し、0.5〜6゜wt%の無機成分(第
3表に示すような誘電体セラミック材料と同一またはと
れを構成する元素もしくはその化合物)、さらにこの(
3u20 、 Cu及び無機成分に対し2.5 wt%
のエチルセルロースとswt%のテレピン油を溶剤とし
て添加して、三本ロールで混練し電極ペーストとし、ス
フl −ン印刷法を用い誘電体セラミックグリーンシー
ト上に内部電極パターンを印刷した。これを電極が左右
交互に引き出されるように積層し切断した。
また、このとき有効層数が30層及び60層の試料を作
製した。
製した。
このようにして作製した積層体を、実施例1と同様にし
て還元処理及び焼成を行い積層セラミックコンデンサを
作製し、In −Ga合金を外部電極として塗布した。
て還元処理及び焼成を行い積層セラミックコンデンサを
作製し、In −Ga合金を外部電極として塗布した。
この試料について室温における容量、tanδを1vの
交流電圧を印加しIKHzの周波数で測定した。また、
抵抗率は60 V / rtrmの電圧を印加後1分値
から求めた。
交流電圧を印加しIKHzの周波数で測定した。また、
抵抗率は60 V / rtrmの電圧を印加後1分値
から求めた。
第3表に容量、tanδ、抵抗値、及び得られた積層セ
ラミックコンデンサの構造欠陥や製造工程中に発生した
問題点を備考欄に示した。
ラミックコンデンサの構造欠陥や製造工程中に発生した
問題点を備考欄に示した。
(以下余白)
第3表から明らかなように、誘電体セラミック材料と同
一またはこれを構成する元素もしくはその化合物を、1
〜50wt%添加することにより、積層数を増加させて
も内部電極とセラミックとの接着強度が向上し、還元処
理後のクラックや焼成後のデラミネーションのない良好
な積層セラミックコンデンサが得られる。ここで、無機
成分の添加量を1wt%未満にすると、接着強度の向上
が不十分で積層数を60層といったような多積層にする
と、バインダーアウト後の還元処理により、CuOが金
属銅に還元される際の体積収縮が大きくなり、クラック
が発生したりする。一方、無機成分の添加量が50wt
%を越えると内部電極層が網目状になったり、電極とし
ての連続性が低下しcE極としての機能を果たさなくな
り好ましくない。
一またはこれを構成する元素もしくはその化合物を、1
〜50wt%添加することにより、積層数を増加させて
も内部電極とセラミックとの接着強度が向上し、還元処
理後のクラックや焼成後のデラミネーションのない良好
な積層セラミックコンデンサが得られる。ここで、無機
成分の添加量を1wt%未満にすると、接着強度の向上
が不十分で積層数を60層といったような多積層にする
と、バインダーアウト後の還元処理により、CuOが金
属銅に還元される際の体積収縮が大きくなり、クラック
が発生したりする。一方、無機成分の添加量が50wt
%を越えると内部電極層が網目状になったり、電極とし
ての連続性が低下しcE極としての機能を果たさなくな
り好ましくない。
なお、本実施例では誘電体セラミック材料と同一または
これを構成する元素もしくはその化合物を添加した場合
についてのみ示しだが、セラミック材料と親和性のある
ホウケイ酸亜鉛ガラス等のガラスフリットを無機成分と
して添加しても同様の効果が得られる。
これを構成する元素もしくはその化合物を添加した場合
についてのみ示しだが、セラミック材料と親和性のある
ホウケイ酸亜鉛ガラス等のガラスフリットを無機成分と
して添加しても同様の効果が得られる。
(実施例3)
誘電体セラミックとして次に示す組成式で表される材料
を用いた。
を用いた。
(PbusCaas ) (MgHNbz )[190
(ui34w%)[110S シート化については実施例1及び2と同様の方法を用い
た。
(ui34w%)[110S シート化については実施例1及び2と同様の方法を用い
た。
内部電極ペーストとしては、平均粒径1.0μmのCu
20(Cu20として純度99%)及び平均粒子径0.
5μmのCuを1:1に混合したものを出発原料に用い
、銅と合金を形成する金属として平均粒子径1.0μm
のNiをCu2O及びCuの混合物に対し40wt%添
加した。次にこのCu 。
20(Cu20として純度99%)及び平均粒子径0.
5μmのCuを1:1に混合したものを出発原料に用い
、銅と合金を形成する金属として平均粒子径1.0μm
のNiをCu2O及びCuの混合物に対し40wt%添
加した。次にこのCu 。
Cu2O及ヒNlに対し2.5wt%のエチルセルロー
スと45wt%のテレピン油を溶剤として添加して、三
本ロールで混練し電極ペーストとし、スクリーン印刷法
を用い誘電体セラミックグリーンシート上に内部電極パ
ターンを印刷した。これを、電極が左右交互に引き出さ
れるように積ノーシ切断した。また、このときの有効層
数は20層とした次に、この積層体を実施例1及び2と
同様にして還元処理したのち、1160℃にて酸素分圧
がI X10 となるような条件にて焼成した。
スと45wt%のテレピン油を溶剤として添加して、三
本ロールで混練し電極ペーストとし、スクリーン印刷法
を用い誘電体セラミックグリーンシート上に内部電極パ
ターンを印刷した。これを、電極が左右交互に引き出さ
れるように積ノーシ切断した。また、このときの有効層
数は20層とした次に、この積層体を実施例1及び2と
同様にして還元処理したのち、1160℃にて酸素分圧
がI X10 となるような条件にて焼成した。
一方、比較例としてNiを含まない内部電極ペーストを
作製し、上記と同様にして積層セラミックコンデンサを
作製したわ このようにして得られた積層セラミックコンデンサに、
In−Ga合金を外部電極として塗布した。この試料に
ついて室温における容量、tanδを1vの交流電圧を
印加しIKIIzの周波数で測定した。
作製し、上記と同様にして積層セラミックコンデンサを
作製したわ このようにして得られた積層セラミックコンデンサに、
In−Ga合金を外部電極として塗布した。この試料に
ついて室温における容量、tanδを1vの交流電圧を
印加しIKIIzの周波数で測定した。
その結果、Nii含有した本発明による内部電極ペース
トラ用いた試料においては、容量が1.2nFでtan
δが20X10 と良好な結果が得られた。一方、比
較例としてN1を含有しない内部電極ペーストを用いた
試料では、容量が得られなかった。このことは、焼成温
度が1150’Cと高(Niを含有しない場合には、銅
の融点1083℃を越えるため焼成中に銅が溶融し、こ
の際の表面張力により銅が粒状となり、内部電極として
の機能を失うため、容量が得られなくなったと考えられ
る。一方、本発明のNii含有した内部電極ペーストラ
用いた場合には、この合金の融点が1150’ce越え
るため、焼成中に溶融することなく内部電極が焼結し、
良好な内部電極をもつ積層セラミックコンデンサが得ら
れることとなる。
トラ用いた試料においては、容量が1.2nFでtan
δが20X10 と良好な結果が得られた。一方、比
較例としてN1を含有しない内部電極ペーストを用いた
試料では、容量が得られなかった。このことは、焼成温
度が1150’Cと高(Niを含有しない場合には、銅
の融点1083℃を越えるため焼成中に銅が溶融し、こ
の際の表面張力により銅が粒状となり、内部電極として
の機能を失うため、容量が得られなくなったと考えられ
る。一方、本発明のNii含有した内部電極ペーストラ
用いた場合には、この合金の融点が1150’ce越え
るため、焼成中に溶融することなく内部電極が焼結し、
良好な内部電極をもつ積層セラミックコンデンサが得ら
れることとなる。
なお1本実施例では金属Nlを用いたが、その他の化合
物の形で用いても同様の効果が得られる。
物の形で用いても同様の効果が得られる。
また、その他の銅と合金を形成する金属もしくはその化
合物を添加することにより、内部電極材料の融点や導電
性等の特性を制御することができる。
合物を添加することにより、内部電極材料の融点や導電
性等の特性を制御することができる。
さらに、実施例2で示したように積層数の多い積層セラ
ミック体において、内部成極層とセラミック材料層との
接着強度を改善する目的で添加した無機成分を銅と合金
を形成する金属もしくはその化合物と同時に添加するこ
とにより、積層数の多い積ノーセラミック体に適した内
部電極ペーストが得られる。
ミック体において、内部成極層とセラミック材料層との
接着強度を改善する目的で添加した無機成分を銅と合金
を形成する金属もしくはその化合物と同時に添加するこ
とにより、積層数の多い積ノーセラミック体に適した内
部電極ペーストが得られる。
以上の三つの実施例より明らかなように、本発明による
平均粒子径0.1〜10μmのCu2O及びCuからな
る混合物において、Cu含有量が10〜70wt%であ
る混合物を用い、この混合物に対し0.5〜10wt%
の万機バインダ及び溶剤を添加したことを特徴とする積
層セラミック体用内部電極ペーストもしくは、積層する
セラミック材料を構成する元素またはこれを含む化合物
もしくは銅と合金をつくる金属元素またはこれを含む化
合物を無機成分として、 Cu2O及びCuの混合物に
対して1〜50wt%添加したものに対し、0.6〜1
0wt%の有機バインダー、さらに溶剤を含有すること
を特徴とする積層セラミック体用内部電極ペーストを用
いることにより、構造欠陥のない良好な積層セラミック
体が得られることとなる。
平均粒子径0.1〜10μmのCu2O及びCuからな
る混合物において、Cu含有量が10〜70wt%であ
る混合物を用い、この混合物に対し0.5〜10wt%
の万機バインダ及び溶剤を添加したことを特徴とする積
層セラミック体用内部電極ペーストもしくは、積層する
セラミック材料を構成する元素またはこれを含む化合物
もしくは銅と合金をつくる金属元素またはこれを含む化
合物を無機成分として、 Cu2O及びCuの混合物に
対して1〜50wt%添加したものに対し、0.6〜1
0wt%の有機バインダー、さらに溶剤を含有すること
を特徴とする積層セラミック体用内部電極ペーストを用
いることにより、構造欠陥のない良好な積層セラミック
体が得られることとなる。
なお、本実施例では積層セラミック体として積層セラミ
ックコンデンサに限って説明したが、セラミック多層基
板やセラミック積層アクチュエータ等の他の積層セラミ
ック体において、本発明の内部電極ペーストを用いるこ
とにより、同様の効果が得られることは言うまでもない
。
ックコンデンサに限って説明したが、セラミック多層基
板やセラミック積層アクチュエータ等の他の積層セラミ
ック体において、本発明の内部電極ペーストを用いるこ
とにより、同様の効果が得られることは言うまでもない
。
発明の効果
本発明の内部電極ペーストを用いることにより。
クラックやデラミネーション等の構造欠陥の発生しない
、信頼性の漫れたf!4または銅合金?内部電極とする
、積層セラミック体を得ることができるとともに積層セ
ラミック体の多積層化が可能となり、部品の高性能化と
高密度実装が可能となる。
、信頼性の漫れたf!4または銅合金?内部電極とする
、積層セラミック体を得ることができるとともに積層セ
ラミック体の多積層化が可能となり、部品の高性能化と
高密度実装が可能となる。
第1図は本発明の一実施例による内部電極の還元装置を
示す断面図、第2図は焼成時のマグネシア容器を示す断
面図、第3図は焼成炉の炉心管を示す断面図である。 11・・・・・・炉心管、12・川・・磁器ボート、1
3・・・・・・粗粒ジルコニア、14・・・・・・積層
体試料、16・・・・・・アンモニア水。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 此2図 6 どl
示す断面図、第2図は焼成時のマグネシア容器を示す断
面図、第3図は焼成炉の炉心管を示す断面図である。 11・・・・・・炉心管、12・川・・磁器ボート、1
3・・・・・・粗粒ジルコニア、14・・・・・・積層
体試料、16・・・・・・アンモニア水。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 此2図 6 どl
Claims (4)
- (1)平均粒子径0.1 〜10μmのCu_2O及び
Cuからなる混合物において、Cu含有量が10〜70
wt%である混合物に対し、0.5〜10wt%有機バ
インダー、さらに溶剤を含有することを特徴とする積層
セラミック体用内部電極ペースト。 - (2)平均粒子径0.1 〜10μmのCu_2O及び
Cuからなる混合物において、Cu含有量が10〜70
wt%である混合物に対し、1〜50wt%の無機成分
を含有し、Cu_2O,Cu及びその他の無機成分の混
合物に対し、0.5〜10wt%の有機バインダー、さ
らに溶剤を含有することを特徴とする積層セラミック体
用内部電極ペースト。 - (3)無機成分が積層セラミック体におけるセラミック
材料と同一または、これを構成する元素もしくはその化
合物であることを特徴とする請求項2記載の積層セラミ
ック体用内部電極ペースト。 - (4)無機成分が積層セラミック体における、電極材料
である銅と固溶体を形成する元素もしくはその化合物で
あることを特徴とする請求項2記載の積層セラミック体
用内部電極ペースト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63062386A JP2825813B2 (ja) | 1988-03-16 | 1988-03-16 | 積層セラミック体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63062386A JP2825813B2 (ja) | 1988-03-16 | 1988-03-16 | 積層セラミック体の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01236513A true JPH01236513A (ja) | 1989-09-21 |
| JP2825813B2 JP2825813B2 (ja) | 1998-11-18 |
Family
ID=13198633
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63062386A Expired - Fee Related JP2825813B2 (ja) | 1988-03-16 | 1988-03-16 | 積層セラミック体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2825813B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0817241A (ja) * | 1994-06-30 | 1996-01-19 | Mitsuboshi Belting Ltd | 銅導体ペーストおよび銅導体膜の製造方法 |
| JP2020111682A (ja) * | 2019-01-11 | 2020-07-27 | Jx金属株式会社 | 導電性組成物 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62263894A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-16 | Dai Ichi Kogyo Seiyaku Co Ltd | 銅導電ペ−スト |
| JPS6481106A (en) * | 1987-09-22 | 1989-03-27 | Sumitomo Metal Mining Co | Composition for forming conductive film |
-
1988
- 1988-03-16 JP JP63062386A patent/JP2825813B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62263894A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-16 | Dai Ichi Kogyo Seiyaku Co Ltd | 銅導電ペ−スト |
| JPS6481106A (en) * | 1987-09-22 | 1989-03-27 | Sumitomo Metal Mining Co | Composition for forming conductive film |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0817241A (ja) * | 1994-06-30 | 1996-01-19 | Mitsuboshi Belting Ltd | 銅導体ペーストおよび銅導体膜の製造方法 |
| EP0779773A1 (en) * | 1994-06-30 | 1997-06-18 | Mitsuboshi Belting Ltd. | Copper conductor paste and production method of copper conductor film |
| JP2020111682A (ja) * | 2019-01-11 | 2020-07-27 | Jx金属株式会社 | 導電性組成物 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2825813B2 (ja) | 1998-11-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |