JPH01238385A - 撮像装置と電子スチルカメラ - Google Patents

撮像装置と電子スチルカメラ

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JPH01238385A
JPH01238385A JP63066640A JP6664088A JPH01238385A JP H01238385 A JPH01238385 A JP H01238385A JP 63066640 A JP63066640 A JP 63066640A JP 6664088 A JP6664088 A JP 6664088A JP H01238385 A JPH01238385 A JP H01238385A
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Masaaki Nakayama
正明 中山
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、固体撮像素子を利用した撮像装置及びこの撮
像装置を使用して、静止画の撮影・記録を行なう電子ス
チルカメラに関するものである。
従来の技術 一般的に、従来からの固体撮像素子の各水平画素列て対
する走査方法には第3図(A) 、 (B)に示すよう
に大きく2つの方法がある。
第1の走査方法は第3図(ム)に示すように、各画素に
蓄積された信号電荷を第1のフィールドで画素4oの並
んだ水平画素列を垂直方向の1列おきに走査しく第3図
(ム)の実線で示す走置)、第2のフィールドで先に走
査しなかった残りの水平画素列を走査して(第3図(ム
)の破線で示す走査)、2つのフィールド(=1フレー
ム)で全信号電荷を読み出す方法である。第2の走査方
法は第3図(B)°に示すように、1回の水平走査で隣
接する2つの水平画素列を走査して、1フィールドで全
信号電荷を読み出す方法である。
以上の2つの走査方法をそれぞれテレビカメラに使用し
たときの長所・短所は次のとおりである。
第1の走査方法は、残像が大きいという欠点がある半面
、垂直解像度の良好な画像が得られる。
第2の走査方法は、垂直解像度は劣化するが、′ 残像
が小さくなるという長所がある。
したがって1状況に応じてこの2つの走査方法を切り替
えて使用することが原理的に可能である。
この具体構成の従来例を第4図に示す。同図において、
レンズ1によシ固体撮像素子2に被写体像が導かれてい
る。一方駆動パルス発生回路9では、前記した2つの走
査方法によシ変化する2種類の駆動パルス群及び走査方
法に関わらず共通のパルス群が発生されており、それぞ
れ、第1の走査方法に対応した第1の駆動パルス群は第
1の切り替えスイッチ8の端子ムに、第2の走査方法に
対応した第2の駆動パルス群は第1の切υ替えスイッチ
8の端子Bに導かれている。そしてこの2種の駆動パル
ス群は、走査方法切り替えスイッチ70指令によってい
ずれか一種のパルス群が選択され、共通パルス群と共に
駆動回路4に導かれる。そして、駆動回路4は駆動電圧
発生回路41から供給される電圧群によって、それぞれ
のパルスの電圧をそれぞれに適した電圧に変換して、各
種の直流電圧群と共に固体撮像素子2に印加する。そし
て、固体撮像素子2からは被写体に応じた電気信号が読
み出され、信号処理回路3で処理され出力端子42より
出力される。この出力信号について考えると、第1の切
り替えスイッチ8が端子ムを選択しているときには、固
体撮像素子2は、前記した第1の走査方法で走査されて
いるため、残像は大きいが垂直解像度の良好な信号が出
力され、端子Bが選択されているときには、固体撮像素
子2は、前記した第2の走査方法で走査されているため
、垂直解像度は低いが残像の小さい信号が出力される。
なお、以上述べた従来例においては、走査方法によって
は固体撮像素子2に印加される駆動パルスの種類は一部
変わるが、その波高値は変化しないように構成されてい
るのが一般的である。
次に、前記した2つの走査方法を電子スチルカメラに応
用した時について考えると、第1の方法は、フレーム画
像が得られるという長所があシ垂直解像度の良好な画像
の撮影記録に適している。
第2の方法は、フィールド画像しか得られず垂直解像度
が劣化するという欠点がある半面、一般に画像は垂直相
関性が強く、垂直解像度が半分になっても総合の画質と
してはフレーム画像とでそれ程大きな差が無く、フレー
ム画像に比して1ケの記録媒体に記録できる画像の枚数
が2倍になるという長所を有している。
したがって、電子スチルカメラでは、状況に応じて、第
1.第2の走査方法を切り換えて使用する事が従来°か
ら考えられている。(例えば、特開昭59−14947
B号公報) この例を第5図に示す。第5図において、1Qはレンズ
、11は絞り、12はシャッター、13は固体撮像素子
、14は信号処理回路、16は測光素子、16は露出制
御回路、50は固体撮像素子走査方法切換スイッチ、6
1は素子駆動回路、23は記録方法切換スイッチ、24
は記録ヘッド切換スイッチ、26は記録ヘッド切換信号
入力端子、26は記録装置、27は第1の記録ヘッド、
28は第2の記録ヘッド、29は第1の記録領域、3o
は第2の記録領域、22は記録モード切換スイッチであ
る。次に第6図の動作を説明する。測光素子16で被写
体の明るさが測定され、この測光素子15からの情報に
より、露出制御回路16において適正露光量が決定され
、この値に基づいて被写体撮影時に絞シ11の絞り値及
びシャッター12のシャッター秒時を固体撮像素子13
に適正露光量を与える値に制御する。そして、固体撮像
素子13は、素子駆動回路61よシ発生された駆動信号
を、走査方法切換スイッチ60で切り換えられた駆動信
号によって走査され、信号電荷が読み出されて信号処理
回路14に導かれる。信号処理回路14で、記録装置2
6への記録に適した信号形態に処理された信号は記録方
法切換スイッチ23に導かれる。一方、記録モード切換
スイッチ22で、フレーム記録モードとフィールド記録
モードいずれかが選択されて、この情報に基づいて、フ
レーム記録モードが選択された時には、走査方法切換ス
イッチ60は端子人の方に、記録方法切換スイッチ23
は端子ムの方に切り換えられる。また、記録モード切換
スイッチ22が、フィールド記録モードが選択された時
には、走査方法切換スイッチ60は端子Bの方に、記録
方法切換スイッチ23は端子Bの方に切換えられる。な
お、走査方法切換スイッチ60の端子ムには、前記した
第1の走査方法を行なう為の駆動信号が、端子Bには前
記した第2の走査方法を行なう為の駆動信号が導かれて
いるものとする。したがって、フレーム記録モードが選
択された時には、固体撮像素子13は第1の走査方法で
走査され、信号処理回路14からの信号は、記録方法切
換スイッチ23の端子ムに導かれ、該信号はヘッド切換
スイッチ24によって第1フィールド目には第1の記録
ヘッド27に、第2フィールド目には第2の記録ヘッド
28に導かれて、それぞれ第1フィールドの信号は第1
の記録領域2.9に、第2フィールドの信号は第2の記
録領域3oに記録される。またフィールド記録モードが
選択された時には、固体撮像素子13は第2の走査方法
で走査され、信号処理回路14からの信号は、記録方法
切換スイッチ23の端子Bに導かれ、第1の記録ヘッド
27によって第1の記録領域29に記録される。なお端
子26にはフィールド切換パルスが供給されている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら以上のような固体撮像素子の走査方法を切
り換える従来の構成の撮像装置およびテレビカメラや電
子スチルカメラにおいては、固体撮像素子での取扱い可
能電荷量すなわち飽和信号レベルの点で、次のような問
題点を有していた。
その問題点を第6図を用いて説明する。
第6図は、フォトダイオードアレイ61、φv1〜φv
4 のパルスで4相駆動される垂直転送C0D(WOO
D)63、及びトランスファゲート領域62を主要部と
するインタライン転送方式C0D(IT−COD)の概
念図であり、同図(ム)は、前記した第1の走査方法に
おける信号電荷の流れを、(B)は前記した第2の走査
方法における信号電荷の流れを示す。同図(ム)におい
て、第1のフィールドの垂直ブランキング期間には同図
(A)−(!L)に示すように、第1のフィールドに対
応した1水平行おきのフォトダイオード61−aの信号
電荷のみがV−c ODK移送され、有効期間にV−C
jCD63、及び図示していない水平転送can及び出
力アンプを介して信号電荷として読み出される。又同図
(A) −(b)に示すように、第2のフィールドの垂
直ブランキング期間には、第1のフィールドでは読み出
されなかった、第2のフィールドに対応したフォトダイ
オード61−bの信号電荷のみがV−caDに移送され
、第1のフィールドの信号と同様に読み出される。次に
同図(B)においては、各7イールドの垂直ブランキン
グ期間に、全てのフォトダイオードの信号電荷が”l/
−CCD63に移送され(同図(ム)−(a))た後に
、同図(A) −(b) 、 (C) K示すように、
隣りあう2つの水平行のフォトダイオードの電荷が混合
され、有効期間にv−CCD63及び水平COD、出力
アンプを介して、1フィールド期間分の信号電荷として
読み出される。
いま、1つのフォトダイオードに蓄積可能な最大電荷量
をMp2面積をムp、V−CODで転送可能な最大電荷
量をMo、V−CCD1段の面積を^Cとおくと、Mp
、Meはそれぞれムp、Acと比例関係にあると共に、
Ap十ムC=一定(同一サイズ、同一画素数の撮像素子
では)の関係があるので、k、・Mp十に0・Mc=一
定つまり、Mp+kMO=C=一定   ・・・・・・
・・・・・・・・・(1)(kp、kc、に=に6/k
p:比例定数)となる。
一方、前記の第2の走査方法でのV−COD部が取り扱
う電荷量Scについて考えると、第1の走査方法では、
フォトダイオード1ケに蓄積された電荷量S、との関係
は50=8.となり、第2の走査方法ではS、=25.
となる。したがって、それぞれの取り扱い可能最大電荷
量Mp t Mo の関係は、 第1の走査方法では M  =)J   ・・・・・・
・・・(2)p 第2の走査方法では M0=2M、  ・・・・・・・
・・C)にあれば、(1)式の制限のため総合的にこの
撮像素子から取り出せる信号電荷量は最大となる。しか
しながら、同一の撮像素子で、上記?)式、(句式を同
時に満足することはできず、たとえば、撮像素子の素子
設計で輩。=ljpに設計すると、 この撮像素子を第
1の走査方法で走査したときの飽和信号レベル”g!I
IILlvは(1)式にM0=M、を代入することによ
り、 Sigrta ax t OCM。=Mp =、十kG
  ’−”曲” (4)となる。この値は同様の素子(
同−設計基準、同−サイズ、同一素子数)の第1の走査
方法での最大値である。同様にこの素子を第2の走査方
法で走査した時の飽和信号レベルSi6□8.は、この
素子のMcによって決定され、 となる。この値は、後に述べるように、同様の素子の第
2の走査方法での最大値ではない。この最大値は、MO
=2Mpとなるように素子設計を行なったときに得られ
、その値SigfIlaX2はMO=2 Mpを(1)
式に代入して、 S 1gm1X 2 OCMa =Q   −−−−−
−中、、、 中(6)i+に となる。しかしこの素子を、第1の走査方法で走査した
時の飽和信号レベルSig□x2はとの素子のMp K
よって決定されるので となる。
つまり、第1の走査方法を優先して設計した撮像素子で
、走査方法を切り換えると、第1の走査方法のときには
満足のゆく飽和信号レベルが得られるが、第2の走査方
法では理想の値より低い飽和信号レベルしか得られず、
その差は である。
一方、第2の走査方法を優先して設計した撮像素子では
、第2の走査方法のときには満足のゆく飽和信号レベル
が得られるが、第1の走査方法では、理想よシ低い飽和
信号レベルしか得られない(その差は である。)という問題点かあシ、解像度向上の為画素数
が多くなシ飽和信号レベルが小さくなる傾向にある固体
撮像素子を用いた撮像装置においては、大きな問題点と
なっている。
本発明はかかる点に鑑み、飽和信号のレベルを増加する
ことができる撮像装置と電子スチルカメラを提供せんと
するものである。
課題を解決するだめの手段 本発明は上記課題を解決するため、固体撮像素子の走査
状態を切り換える第1の切り換え手段と、この第1の切
り換え手段と連動して前記固体撮像素子に印加する直流
電圧値もしくは駆動パルス電圧値を切り換える第2の切
り換え手段より構成されたものである。
作用 本発明は上記した構成によシ、固体撮像素子の走査状態
の切り換えと連動して、この固体撮像素子に印加する駆
動パルスの波形(電圧を含まない)のみならず、印加す
る直流電位及び駆動パルス波高値もしくはいずれか一方
の値を切り換えることにより、前記固体撮像素子の飽和
信号レベルを増加させることができる。
実施例 実施例の説明の前にまず本発明の原理について、現在固
体撮像素子として良く使われている縦形オーバm7o−
構造OCD撮像素子(MOD−COD )を例として説
明する。第7図は、VOD−CCtDの基本構成図であ
シ、水平及び垂直方向に複数個配列されたフォトダイオ
ード(PD )71、)ランスファゲート領域(TG)
72、φV1〜φV4の4相駆動パルスで駆動される垂
直転送can(v−CCD )73、水平0CjDシフ
トレジスタ(H−CjCD)74、および出力アンプ7
6で構成されている。第8図(a)は単位画素の断面を
示す図で、PD71.V2段(7)V−CCD81、お
よび閾値を圧を制御したTG領領域ら成っておp、v−
caDとTGが共通の転送電極で駆動されるトランスフ
ァゲート電極レス構造となっている。またデバイスはP
ウェル82内に形成されていて、PD71は不純物濃度
が低く、接合の浅いPウェル(1pw)内に、PD71
以外(7)V−CCDsl、fヤンネルストップ領域8
3および図示していない出力アンプなどの周辺回路は比
較的濃度が高く深い接合のPウェル(2PW)内に形成
されている。
そしてこの1PWはPウェルとn形基板間(n−−8U
B)84に印加される逆バイアス電圧vSUB86によ
って完全に空乏化されるような不純物濃度分布になって
おり、PDのn+領域86.1pw(p領域)およびn
形基板間84で構成される縦形バンチスルートランジス
タによってプルーミング抑制が行なわれる。
この撮像素子の動作を説明すると、まずこのv OD−
c ODOY−c c nは第9図に示すような4相の
ダブルクロッキングパルスで駆動され、クロックパルス
φv2とφV4はTGとv−ccDを駆動するためvL
 + vM + vHの3値レベルをもち、φV1とφ
V3はv−ccDを駆動すルvLl vM O2値パル
スになっている。入射光86に応じて各PD71に蓄積
された信号電荷は垂直ブランキング(V−BLK)期間
に垂直転送パルスφV2(またはφV4)がハイレベル
V、になるとTG領域72を介して対応するV−C(l
jDへ読み出される。
この信号電荷は1水平期間の周期で並列にH−CCD7
4へ転送され、出力アンプ76からビデオ信号として取
シ出される。PD71 、TG72゜V−CCD81で
の電荷の状態を更に詳しく説明する。
第10図は、PD直下の1PWが完全に空乏化するよう
な基板バイアスが印加されている時の電位分布を示して
おシ、垂直クロックパルスがハイレベルvHになると、
PDから信号電荷がv−canに読み出される。(第1
0図矢印101の電荷の流れ)同時にPDの電位はTG
領領域チャンネル電位ψTGH(φv=vH)でセット
される(曲線EMPTYの状態)。信号読み出しが完了
して垂直クロックパルス電圧がvMになるとPDは浮遊
状態になシ、次の電荷蓄積を開始する。そしてPDの電
位は信号電荷の増加と共に低くなってゆき、PDを形成
しているn+領領域IPW間の障壁電圧が小さくなって
ゆく。やがて、n+領領域基板間にバンチスルー電流が
流れ始め、(同図矢印102の電荷の流れンそれ以上発
生した過剰電荷はすべて基板に流れ込む(曲線’Ful
llの状態)。
つま’) Vsubによって制御されるIPWの最小電
位ψPDが電荷転送時におけるTG領領域チャンネル9
丁GM(φv==vM)よシ高くなるようKVsub電
圧を設定すれば、過剰電荷はV−CODへオーバーフロ
ーすることなく、すべてn形基板へ掃き出されてプルー
ミングが完全に抑制される。
上記動作より、PDに蓄積可能な電荷量Mpは次式で与
えられる。
Mp ;Cpo(ψ丁GM−ψPD )       
”’”” ””°−−−−−(8)但し、CPDはPD
の容量 (−してプルーミング抑制のためには、上記動作の説明
よシ・ 970M<ψ、D       ・・・・・・・・・・
・・・・・(9)つまシ ψpo”ψア。、+Δψ     ・・・・・・・・・
・・・・・・(1o)(但しΔψ〉0) であるのでこれを(8)式に代入すると、次式のように
なる。
Mp=Cpo(ψTGM−ψ丁CM−Δψ)°°川用 
−(11)一方、v−ccDの転送可能最大電荷量Mc
は、垂直クロックパルスの7M電圧とvL電圧との差に
↓シ決定されるので次式によシ表わされる。
Me =kc (VM  VL )   ・・・・・・
・・・・・・・・・(12)但しkCは比例定数 kc
>。
またS (1O)式、(11)式をvHtvM+vSu
b O電圧値で表現すると、ψ、DはVsubと、ψT
0つはvMと、ψτGHはvHと比例関係にあるので、
それぞれ(13)式、 (14)式のようになる。
vsub” a、VM+ ”2   −・・・・・=・
(13)MP =kP(vHvM>  a3・+++H
+++++++ (14)一方、一般に半導体素子には
印加可能な電圧範囲があシ、このCOD撮像素子も例外
ではないため、vH電圧及びvL電圧値はこの範囲内の
それぞれほぼ最大値、最小値に設定して固定することが
’P * ’Cを大きくする為の条件となる。この条件
を(12)式、 (14)式に代入すると、MC=kC
vM−KL、        ・=−・−・−(15)
Mp=KH−に、VM−−−−−−−−−−−−(16
)となる。1より:c1、MCeMPはv証値により変
えることができるがMo、M、との関係はトレードオフ
の関係にある。つまシ、Mcを大きくするには7M電圧
値を高くすれば良いがM、は小さくなり、逆に7M電圧
値を低くすればM、は大きくなるが、Mcは小さくなる
。なおりMの変化に応じてVsubを変化させてプルー
ミングを抑制する必要があることも(13)式よシ明ら
かである。
また撮像素子の一般的な2つの走査方法のうち、第1の
走査方法のときはMC” MP *第2の走査方法のと
きはMc:2MPの条件が、(1)式の条件を保ちなが
らの飽和信号レベルを最大とする条件であるので、この
条件をほぼ満足するようにvMを変化させれば、同一の
撮像素子で走査方法に関わらず常に理想に近い飽和信号
レベルを得ることができる。そしてこのvMの変化に応
じて、Vsubを変化させればプルーミングの抑制も可
能となる。以上のMC==M、、Mo=2MPの条件を
満足する為のVMの値を(16)式、 (16)式よシ
求めると次式のようになる。
走査方法1のとき Mc: M、よシ vliubl=&1”VMt+!L2  −=−−−−
−−−−(20)走査方法2のとき MC= 2M、  より YHb2=41 @VM2+’!L2  °−−−−−
−−−−−(22)このYMlとYMlを比較すると、 (23)式の分子に(17)式、(18)式を代入する
と(23)式の分子=ka(kpVH−a5) −に、
−kO−vL=に6 kp (VH−#1 ”j−に6
− a 3・・・・・・・・・・・・(24) となシ、vH>vL、&3は微小値、kQ)O、kp)
の条件を考慮すると、(24)式の値は零よシ犬きくな
り、したがって7M2〉vMlとなる。つまり、第2の
走査方法の時のvM値よシ第1の走査方法のときのvM
値を低くすれば良く、それに応じて’f sub電圧も
変化させれば良いことになる。なお、第2の走査方法の
ときのVsubの値をal・vMlよシ大きく設定すれ
ば、第2の走査方法においてもψpo>970Mとなシ
、プルーミングを抑制できるので、この時にはVsub
の電圧値を、走査方法変化、したがって7M変化に応じ
て変化させる必要はない。
なお説明が前後するが、第1と第2走査方法の切り換え
は第11図に示すように、φv1〜φv4のクロックパ
ルスのV −BLK期間の波形を変えることにより行な
われる。つまシ、第1の走査方法においては、1回のV
−BLK期間にφv2もしくはφv4のいずれかがvH
レベルになり、相当するPDの電荷がV−OCDに読み
出される。第2の走査方法においては、1回のV−BL
K期間にφv2.φv4両方がvHレベルになシ、すべ
てのPDの電荷がV−CODに読み出される。
次に以上述べた本発明の原理を達成した実施例について
説明する。
第1図は本発明の第1の実施例であシ第4図と同一部分
は同一符号で示しである。同図において、レンズ1によ
シ固体撮像素子2に被写体像が導かれている。一方駆動
パルス発生回路9では、前記した2つの走査方法によシ
変化する2種の駆動パルス群及び走査方法に関わらず共
通のパルス群が発生されておシ、第1の走査方法に対応
したパルス群(例えば固体撮像素子が本発明の原理の項
で説明uたVOD−COD(7)ときには、第11図(
IL)に示す垂直転送パルスφv1〜φ74)が第1の
切り換えスイッチ8の端子ムに、第2の走査方法に対応
した第2の駆動パルス群(例えば、第11図(b)に示
す垂直転送パルスφv1〜φV4)は第1の切り換えス
イッチ8の端子Bに導かれている。そしてこの2種の駆
動パルス群は、走査方法変化換えスイッチ7の指令によ
っていずれか一種のパルス群が選択され、共通パルス群
(例えばH−COD駆動パルス等)と共に、駆動回路4
に導かれる。また、駆動回路4には、駆動電圧発生回路
6から走査状態に関わらず変化しない電圧群(例えば、
V、。
VΔやH−COD駆動用電圧)が直接、そして走査状態
により変化させる電圧群(例えば、固体撮像素子が本発
明の原理の項で説明したVOD−CjODのときには7
M電圧及びVsub電圧)は、第2の切り換えスイッチ
6によって選択されて印加されている。そして前記した
、駆動パルス群はこれらの電圧群によって電圧変換され
た駆動パルス群として各種の直流電圧群と共に固体撮像
素子に印加される。なお、第2の切り換えスイッチ5の
端子人には第1の走査方法に適した直流電位(例えばV
ii+ +vSubj )75f、端子B Kld第2
 tv走査方法に適した直流電位(例えば7M21 V
sgubz )が印加されておシ、この第2の切り換え
スイッチ6は第1の切り換えスイッチ8と連動して、走
査状態切り換えスイッチ7の指令によって切り換えられ
ている。つまシ第1の走査方法が指令された時には、第
1の切り換えスイッチ8.第2の切り換えスイッチ5と
もに端子人が、第2の走査方法が指令された時には端子
Bが選択される。このようにして、固体撮像素子2から
出力される映像信号は・第1の走査方法で走査されてい
るときは、残像が大きいが垂直解像度の良好な信号であ
υ、第2の走査方法で走査されているときには垂直解像
度は低いが残像の小さい信号であることは従来例と同様
であるが、更にその飽和信号レベルは、その駆動電圧が
各走査方法でほぼ最適な値に設定されていることにより
、各走査方法ともにほぼ理想的な値まで大きくされてい
て従来例に比しダイナミックレンジが拡大されている。
なおここでいう理想的な飽和信号レベルとは、同一寸法
・同一画素数の条件で各走査方法に最適な固体撮像素子
(つまシPDとV−OCDの面積の割υ振り等を最適に
した素子)で得られる飽和信号レベルである。
次に、第2図は本発明の第2の実施例であり、第5図の
従来の電子スチルカメラに本発明を適用してその飽和信
号レベルを大きくして、ダイナミックレンジを拡大した
例である。同図におい、て第6図と同一部分は同一符号
で示すとともに、更に第1図との共通部分は同一符号で
示してあシ、全ての構成ブロックが、第1図及び第6図
と共通で動作もすべて説明されているのでここでは省略
する。
また、本発明によれば前記した2つの走査方法で飽和信
号レベルをほぼ最適値まで大きくできることを説明した
が、本発明の主旨は前記2つの走査方法のときに限定さ
れるものでなく、例えば゛KD−TV方式用の固体撮像
素子を、KD−TV方式用に倍速順次走査方法(つま1
V−1cD1段で取り扱う電荷の量は1つのフォトダイ
オードの電荷量でよい場合)と、従来のTV方式用にP
Dミックス方式のインタレース走査(つまりV−COD
1段で取シ扱う電荷の量は2つのフォトダイオードの電
荷となる場合)とに切り換えて使用する場合のように、
走査方法を切υ換えることによυV−1cDI段の取り
扱うべき電荷量(対応するフォトダイオード数)が異な
る場合に、特に有用であることは明らかである。
発明の効果 以上のように本発明における撮像装置、およびフレーム
記録モードとフィールド記録モードの切り換えに応じて
走査方法を切り換える電子スチルカメラにおいて、各走
査方法に応じて固体撮像素子に印加する駆動パルスの波
形だけでなくその波高値もしくは波高値と直流電位を切
り換えることによシ、その飽和信号レベルを大きくして
ダイナミックレンジを拡大することができ、実用的な効
果が大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示すブロック図、第2
図は本発明の他の実施例を示すブロック図、第3図は固
体撮像素子の走査方法を示す説明図、第4図は従来の撮
像装置のブロック図、第5図は従来の電子スチルカメラ
のブロック図、第6図はIT−COD固体撮像素子での
2つの走査方法での電荷の読み出し方法を示す状態図、
第7図は縦形オーバーフロー構造撮像素子(vOD−C
(、D)の基本構成図、第8図はVOD−(jCD素子
の単位画素の断面図、第9図はvon−can素子のV
−00Dへ印加する垂直クロックパルスφVの波形図、
第10図は第8図に示したVOD−COD素子の単位画
素の電位分布を示す概略図、第11図は2つの走査方法
でのVOD−1cjDへ印加するφVパルスの垂直ブラ
ンキング期間の波形図である。 1.10・・・・・・レンズ、2.13・・・・・・固
体撮像素子、3.14・・・・・・信号処理回路、4・
・・・・・撮像素子駆動回路、6・・・・・・第2の切
り換えスイッチ、6・・・・・・駆動電圧発生回路、7
・・・・・・走査状態切り換えスイッチ、8・・・・・
・第2の切り換えスイッチ、9・・・・・・駆動パルス
発生回路、11・・・・・・絞シ、12・・・・・・シ
ャッター、22・・・・・・記録モード切り換えスイッ
チ・26・・・・・・記録装置。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 寡2図 と′l    の 第 3 図 (A) 4θ どB) 迷l玄a 第4図 第5図 萬 6 図 (B) 71−−−フストタオオード 2−TG 73−一一垂直軟透CCD 75−也カアンフ0 第 7 図 7/−PD 2−TG δ乙−入射光 第9図 第10図 水子7fI 第11図 (αン灸査方法/のφV V−BLK期間ツマAにス V−BLKM間パッス IVaへ−一!lテVd−一一一

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)固体撮像素子の走査状態を切り換える第1の切り
    換え手段と、この第1の切り換え手段と連動して前記固
    体撮像素子に印加する直流電圧値および駆動パルス波高
    値もしくはいずれか一方の値を切り換える第2の切り換
    え手段を具備したことを特徴とする撮像装置。
  2. (2)第1の切り換え手段は、複数画素の信号を混合し
    て読み出す第1の走査状態と、単一画素の信号を順次読
    み出す第2の走査状態とに切り換えることを特徴とする
    請求項1記載の撮像装置。
  3. (3)第1の切り換え手段が、画素配列がフレーム画像
    を出力するように構成された固体撮像素子において、隣
    接する2つの水平画素列の信号を1回の水平走査で同時
    に読み出し1フィールド期間で全画面を走査する第1の
    走査状態と、第1のフィールドで奇数もしくは偶数水平
    画素列の信号で1列ずつ順次走査し第2フィールドで残
    りの画素列の信号を1列ずつ順次走査し、フレーム期間
    で全画面を走査する第2の走査状態とに切り換えること
    を特徴とする請求項1記載の撮像装置。
  4. (4)第2の切り換え手段は、固体撮像素子の垂直シフ
    トレジスタの転送パルス電圧値または、この転送パルス
    電圧値及びプルーミング抑制制御電圧値を切り換えるこ
    とを特徴とする請求項1記載の撮像装置。
  5. (5)固体撮像素子の走査状態を、隣接する2つの水平
    画素列の信号を1回の水平走査で同時に読み出し1フィ
    ールド期間で全画面で走査する第1の走査状態と、第1
    のフィールドで奇数もしくは偶数水平画素列の信号を1
    列ずつ順次走査し第2フィールドで残りの画素列の信号
    を1列ずつ順次走査し1フレーム期間で全画面を走査す
    る第2の走査状態とに切り換える第1の切り換え手段と
    、この第1の切り換え手段と連動して前記固体撮像素子
    に印加する駆動パルス電圧値を切り換える第2の切り換
    え手段と、前記第1の切り換え手段と連動して記録モー
    ドをフィールド画像記録とフレーム画像記録とに切り換
    える第3の切り換え手段とを具備したことを特徴とする
    電子スチルカメラ。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5642163A (en) * 1994-08-31 1997-06-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Imaging apparatus for switching the accumulative electric charge of an image pickup device
JP2003032549A (ja) * 2001-07-19 2003-01-31 Olympus Optical Co Ltd 撮像装置

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