JPH01239743A - 電子顕微鏡像記録読取方法 - Google Patents
電子顕微鏡像記録読取方法Info
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- JPH01239743A JPH01239743A JP63066750A JP6675088A JPH01239743A JP H01239743 A JPH01239743 A JP H01239743A JP 63066750 A JP63066750 A JP 63066750A JP 6675088 A JP6675088 A JP 6675088A JP H01239743 A JPH01239743 A JP H01239743A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は電子顕微鏡像の記録読取方法に関するものであ
り、特に詳細には電子顕微鏡像を高感度で記録し、また
各種画像処理可能に電気信号で読み取るようにし、そし
て電子顕微鏡像が高速で再生されるようにした記録読取
方法に関するものである。
り、特に詳細には電子顕微鏡像を高感度で記録し、また
各種画像処理可能に電気信号で読み取るようにし、そし
て電子顕微鏡像が高速で再生されるようにした記録読取
方法に関するものである。
(従来の技術)
従来より、試料を透過させた電子線を電界あるいは磁界
によって屈折させて、試料の拡大像を得る電子顕微鏡が
公知となっている。周知のようにこの電子顕微鏡におい
ては、試料を透過した電子線により対物レンズの後焦平
面に試料の回折パターンが形成され、その回折線が再び
干渉して試料の拡大像が形成されるようになっている。
によって屈折させて、試料の拡大像を得る電子顕微鏡が
公知となっている。周知のようにこの電子顕微鏡におい
ては、試料を透過した電子線により対物レンズの後焦平
面に試料の回折パターンが形成され、その回折線が再び
干渉して試料の拡大像が形成されるようになっている。
したがって投影レンズにより上記拡大像を投影すれば試
料の拡大像(散乱像)が観察され、また上記後焦平面を
投影すれば拡大された試料の回折パターンが観察される
。なお対物レンズと投影レンズとの間に中間レンズを配
置しておけば、この中間レンズの焦点距離調節により、
上述の拡大e!(散乱像)あるいは回折パターンが随意
に得られる。
料の拡大像(散乱像)が観察され、また上記後焦平面を
投影すれば拡大された試料の回折パターンが観察される
。なお対物レンズと投影レンズとの間に中間レンズを配
置しておけば、この中間レンズの焦点距離調節により、
上述の拡大e!(散乱像)あるいは回折パターンが随意
に得られる。
上述のようにして形成される拡大像あるいは回折パター
ン(以下、−括して透過電子線像と称する)を観察する
ため従来は一般に、投影レンズの結像面に写真フィルム
を配して透過電子線像を露光させたり、あるいはイメー
ジインテンシファイアを配して透過電子線像を増幅投影
するようにしていた。しかし写真フィルムは電子線に対
して感度が低い上場像処理が面倒であるという欠点を有
し、一方イメージインテンシファイアを用いる場合、画
像の鮮鋭度が低い上、画像に歪みが生じやすいという問
題がある。
ン(以下、−括して透過電子線像と称する)を観察する
ため従来は一般に、投影レンズの結像面に写真フィルム
を配して透過電子線像を露光させたり、あるいはイメー
ジインテンシファイアを配して透過電子線像を増幅投影
するようにしていた。しかし写真フィルムは電子線に対
して感度が低い上場像処理が面倒であるという欠点を有
し、一方イメージインテンシファイアを用いる場合、画
像の鮮鋭度が低い上、画像に歪みが生じやすいという問
題がある。
また上記のような透過電子線像に対しては、像を見易く
する等の目的で階調処理、周波数強調処理、濃度処理、
減算処理、加算処理等の画像処理や、フーリエ解析法に
よる3次元像の再構成、画像の2値化および粒子径測定
等のための画像解析、さらには回折パターンの処理(結
晶情報の解析、格子定数、転移、格子欠陥の解明等)等
の処理が施されることが多いが、このような場合従来は
、写真フィルムを現像して得た顕微鏡像をミクロフォト
メータで読み取って電気信号に変換し、この電気信号を
例えばA/D変換してからコンピュータにより処理する
という煩雑な作業を行なっていた。
する等の目的で階調処理、周波数強調処理、濃度処理、
減算処理、加算処理等の画像処理や、フーリエ解析法に
よる3次元像の再構成、画像の2値化および粒子径測定
等のための画像解析、さらには回折パターンの処理(結
晶情報の解析、格子定数、転移、格子欠陥の解明等)等
の処理が施されることが多いが、このような場合従来は
、写真フィルムを現像して得た顕微鏡像をミクロフォト
メータで読み取って電気信号に変換し、この電気信号を
例えばA/D変換してからコンピュータにより処理する
という煩雑な作業を行なっていた。
上記のような事情に鑑みて本出願人は、電子顕微鏡像を
高感度、高画質で記録再生可能で、しかも各種処理が容
易となるように、顕微鏡像を担持する電気信号が直接得
られる、新しい電子顕微鏡像記録再生方法を提案した(
特開昭61−51738号、同61−93539号等)
。この電子顕微鏡像記録再生方法は基本的に、電子線エ
ネルギーを蓄積する2次元センサに、試料を透過した電
子線を真空状態で蓄積記録し、次いで該2次元センサに
光照射あるいは加熱を行なって蓄積されたエネルギーを
光として放出させ、この放出光を光電的に検出して画像
信号を得、この画像信号を用いて試料の透過電子線像を
再生するものである。
高感度、高画質で記録再生可能で、しかも各種処理が容
易となるように、顕微鏡像を担持する電気信号が直接得
られる、新しい電子顕微鏡像記録再生方法を提案した(
特開昭61−51738号、同61−93539号等)
。この電子顕微鏡像記録再生方法は基本的に、電子線エ
ネルギーを蓄積する2次元センサに、試料を透過した電
子線を真空状態で蓄積記録し、次いで該2次元センサに
光照射あるいは加熱を行なって蓄積されたエネルギーを
光として放出させ、この放出光を光電的に検出して画像
信号を得、この画像信号を用いて試料の透過電子線像を
再生するものである。
上記の2次元センサとは、電子線露出を受けたときその
エネルギーの少なくとも一部を一時的に蓄積し、後に外
部から刺激を与えると蓄積しているエネルギーの少なく
とも一部を光、電気、音等の検出可能な形態で放出する
能力を持つ材料からなるものである。この2次元センサ
として具体的には、例えば特開昭55−12429号、
同55−116340号、同55−163472号、同
56−11395号、同56−104645号公報等に
示される蓄積性蛍光体シートが特に好適に用いられうる
。すなわち、ある種の蛍光体に電子線等の放射線を照射
するとこの放射線のエネルギーの一部がその蛍光体中に
蓄積され、その後その蛍光体に可視光等の励起光を照射
すると、蓄積されたエネルギーに応じて蛍光体が蛍光(
輝尽発光)を示す。このような性質を示す蛍光体を蓄積
性蛍光体と言い、蓄積性蛍光体シートとは、上記蓄積性
蛍光体からなるシート状の記録体のことであり、一般に
支持体とこの支持体上に積層された蓄積性蛍光体層とか
らなる。蓄積性蛍光体層は蓄積性蛍光体を適当な結合剤
中に分散させて形成したものであるが、この蓄積性蛍光
体層が自己支持性である場合、それ自体で蓄積性蛍光体
シートとなりつる。なお、この蓄積性蛍光体シートを形
成するための輝尽性蛍光体の例は、前記特開昭61−9
3539号公報に詳しく記載されている。
エネルギーの少なくとも一部を一時的に蓄積し、後に外
部から刺激を与えると蓄積しているエネルギーの少なく
とも一部を光、電気、音等の検出可能な形態で放出する
能力を持つ材料からなるものである。この2次元センサ
として具体的には、例えば特開昭55−12429号、
同55−116340号、同55−163472号、同
56−11395号、同56−104645号公報等に
示される蓄積性蛍光体シートが特に好適に用いられうる
。すなわち、ある種の蛍光体に電子線等の放射線を照射
するとこの放射線のエネルギーの一部がその蛍光体中に
蓄積され、その後その蛍光体に可視光等の励起光を照射
すると、蓄積されたエネルギーに応じて蛍光体が蛍光(
輝尽発光)を示す。このような性質を示す蛍光体を蓄積
性蛍光体と言い、蓄積性蛍光体シートとは、上記蓄積性
蛍光体からなるシート状の記録体のことであり、一般に
支持体とこの支持体上に積層された蓄積性蛍光体層とか
らなる。蓄積性蛍光体層は蓄積性蛍光体を適当な結合剤
中に分散させて形成したものであるが、この蓄積性蛍光
体層が自己支持性である場合、それ自体で蓄積性蛍光体
シートとなりつる。なお、この蓄積性蛍光体シートを形
成するための輝尽性蛍光体の例は、前記特開昭61−9
3539号公報に詳しく記載されている。
また、上述の2次元センサとして、例えば特公昭55−
47719号、同55−47720号公報等に記載され
ている熱蛍光体シートを用いることもできる。この熱蛍
光体シートは主として熱の作用によって蓄積している放
射線エネルギーを熱蛍光として放出する蛍光体(熱蛍光
体)からなるシート状の記録体である。
47719号、同55−47720号公報等に記載され
ている熱蛍光体シートを用いることもできる。この熱蛍
光体シートは主として熱の作用によって蓄積している放
射線エネルギーを熱蛍光として放出する蛍光体(熱蛍光
体)からなるシート状の記録体である。
ところで、上記のような記録再生方法によって71子顕
微鏡像を再生する場合、視野探し操作やビンI・合せ操
作を、従来から行なオ)れてきたように、電子顕微鏡の
結像面に蛍光スクリーンを配し、この蛍光スクリーンに
映し出された画像を見ながら行なうという手法をとると
、電子線露光量を上げなければならず、試料が損傷しや
すくなるという問題がある。また特に、高感度記録が可
能であるという長所を活用すべく電子線露光量を極めて
低くする場合は、蛍光スクリーンに照射される電子線型
が低いために該スクリーンに鮮明な画像が写し出され得
ない、という不具合も生じる。
微鏡像を再生する場合、視野探し操作やビンI・合せ操
作を、従来から行なオ)れてきたように、電子顕微鏡の
結像面に蛍光スクリーンを配し、この蛍光スクリーンに
映し出された画像を見ながら行なうという手法をとると
、電子線露光量を上げなければならず、試料が損傷しや
すくなるという問題がある。また特に、高感度記録が可
能であるという長所を活用すべく電子線露光量を極めて
低くする場合は、蛍光スクリーンに照射される電子線型
が低いために該スクリーンに鮮明な画像が写し出され得
ない、という不具合も生じる。
上記の事情に鑑みて本出願人は、試料を損傷させず、か
つ簡便、短時間に視野探しを行なうことのできる電子顕
微鏡像記録読取方法を提案した。
つ簡便、短時間に視野探しを行なうことのできる電子顕
微鏡像記録読取方法を提案した。
この方法は、上述のような蛍光スクリーンは使用せずに
、視野探しおよび/またはピント合せ用の電子顕微鏡像
(モニタ画像)を2次元センサに蓄積記録し、このモニ
タ画像を、試料観察用の電子顕微鏡像を読み取って再生
する場合と同様にして再生し、この再生されたモニタ画
像から視野範囲やフォーカス状態を判別する、というも
のである(例えば特開昭61−240546号等)。
、視野探しおよび/またはピント合せ用の電子顕微鏡像
(モニタ画像)を2次元センサに蓄積記録し、このモニ
タ画像を、試料観察用の電子顕微鏡像を読み取って再生
する場合と同様にして再生し、この再生されたモニタ画
像から視野範囲やフォーカス状態を判別する、というも
のである(例えば特開昭61−240546号等)。
上記の方法によれば、電子線露光量が低くても、鮮明な
モニタ画像が得られるから、このモニタ画像を観察する
ことにより、視野探しゃピント合せを能率良くかつ正し
く行なえるようになる。
モニタ画像が得られるから、このモニタ画像を観察する
ことにより、視野探しゃピント合せを能率良くかつ正し
く行なえるようになる。
(発明が解決しようとする課題)
しかし上記の方法においては、視野範囲やフォーカス状
態が適正なモニタ画像が得られるまで視野範囲やフォー
カス状態を少しずつ変えて何回もモニタ画像の記録およ
び読取再生を繰り返す必要がある。
態が適正なモニタ画像が得られるまで視野範囲やフォー
カス状態を少しずつ変えて何回もモニタ画像の記録およ
び読取再生を繰り返す必要がある。
そこで本発明は、モニタ画像の読取再生を本質的に1回
行なうだけで、視野探しゃピント合ぜを満足に実行する
ことができる電子顕微鏡像記録読取方法を提供すること
を目的とするものである。
行なうだけで、視野探しゃピント合ぜを満足に実行する
ことができる電子顕微鏡像記録読取方法を提供すること
を目的とするものである。
(課題を解決するための手段及び作用)本発明の電子顕
微鏡像記録読取方法は、前述したような2次元センサに
、試料を透過した電子線を真空状態で蓄積記録し、次い
で該2次元センサに光照射あるいは加熱を行なって蓄積
されたエネルギーを光として放出させ、この放出光を光
電的に検出して、上記電子線が担う電子顕微鏡像を可現
像として出力するための画像信号を得るようにした電子
顕微鏡像記録読取方法において、電子線の蓄積記録操作
に先立って予め、試料を透過した電子線を試料の視野範
囲および/またはフォーカス状態が相異なる状態で1枚
のモニタ用2次元センサの別々の箇所に照射することに
より、該センサに複数の電子顕微鏡像を蓄積記録し、こ
のときの視野範囲および/またはフォーカス状態を得る
電子顕微鏡の操作条件を各電子顕微鏡像と対応をとった
上で記憶手段に記憶しておき、上記モニタ用2次元セン
サに対して光照射あるいは加熱を行ない、そのときの放
出光を光電的に検出してモニタ用画像信号を得、 該モニタ用画像信号に基づいて、上記モニタ用2次元セ
ンサに蓄積記録された複数の電子顕微鏡像を再生し、 これらの再生された電子顕微鏡像を観察して所望の視野
範囲および/またはフォーカス状態の電子顕微鏡像を選
択し、 この選択された電子顕微鏡像と対応する前記操作条件を
前記記憶手段から読み出し、この条件を電子顕微鏡にお
いて設定した上で、最終的な可視像を出力するための2
次元センサに電子線を蓄積記録するようにしたことを特
徴とするものである。
微鏡像記録読取方法は、前述したような2次元センサに
、試料を透過した電子線を真空状態で蓄積記録し、次い
で該2次元センサに光照射あるいは加熱を行なって蓄積
されたエネルギーを光として放出させ、この放出光を光
電的に検出して、上記電子線が担う電子顕微鏡像を可現
像として出力するための画像信号を得るようにした電子
顕微鏡像記録読取方法において、電子線の蓄積記録操作
に先立って予め、試料を透過した電子線を試料の視野範
囲および/またはフォーカス状態が相異なる状態で1枚
のモニタ用2次元センサの別々の箇所に照射することに
より、該センサに複数の電子顕微鏡像を蓄積記録し、こ
のときの視野範囲および/またはフォーカス状態を得る
電子顕微鏡の操作条件を各電子顕微鏡像と対応をとった
上で記憶手段に記憶しておき、上記モニタ用2次元セン
サに対して光照射あるいは加熱を行ない、そのときの放
出光を光電的に検出してモニタ用画像信号を得、 該モニタ用画像信号に基づいて、上記モニタ用2次元セ
ンサに蓄積記録された複数の電子顕微鏡像を再生し、 これらの再生された電子顕微鏡像を観察して所望の視野
範囲および/またはフォーカス状態の電子顕微鏡像を選
択し、 この選択された電子顕微鏡像と対応する前記操作条件を
前記記憶手段から読み出し、この条件を電子顕微鏡にお
いて設定した上で、最終的な可視像を出力するための2
次元センサに電子線を蓄積記録するようにしたことを特
徴とするものである。
なお上記モニタ用2次元センサと、最終的な可視像を出
力するために用いる2次元センサは、互いに別個のもの
を使用してもよいし、あるいは共用することもできる。
力するために用いる2次元センサは、互いに別個のもの
を使用してもよいし、あるいは共用することもできる。
(実 施 例)
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第1図は本発明の方法を実施する電子顕微鏡像記録読取
装置の大略を示すものである。電子顕微鏡1の鏡体部1
aは、−様の速度の電子線2を射出する電子銃3と、電
子線2を試料面に絞り込む磁気レンズ、静電レンズ等か
らなる少なくとも1コの集束レンズ4と、試料台5と、
上記集束レンズ4と同様の対物レンズ6と、中間レンズ
7′ と、投影レンズ7とを有してなる。試料台5上に
載置された試料8を透過した電子線2は上記対物レンズ
6により屈折され、該試料8の拡大散乱像8aを形成す
る。この拡大散乱像8aは投影レンズ7により結像面9
に結像投影される(図中の8b)。
装置の大略を示すものである。電子顕微鏡1の鏡体部1
aは、−様の速度の電子線2を射出する電子銃3と、電
子線2を試料面に絞り込む磁気レンズ、静電レンズ等か
らなる少なくとも1コの集束レンズ4と、試料台5と、
上記集束レンズ4と同様の対物レンズ6と、中間レンズ
7′ と、投影レンズ7とを有してなる。試料台5上に
載置された試料8を透過した電子線2は上記対物レンズ
6により屈折され、該試料8の拡大散乱像8aを形成す
る。この拡大散乱像8aは投影レンズ7により結像面9
に結像投影される(図中の8b)。
上記鏡体部1aの下方には、電子顕微鏡像記録読取装置
IOが配置されている。この電子顕微鏡像記録読取装置
IOは、鏡体部la内の前記結像面9に固定された蓄積
性蛍光体からなる第1の2次元センサ(以下、蓄積性蛍
光体シート11という)と、励起光源12および光走査
系13からなる第1の励起手段と、前記鏡体部1aの周
壁に設けられた透光窓14を介して上記第1の蓄積性蛍
光体シート11に対向するように配された第1のフォト
マルチプライヤ−(光電子増倍管)15と、第1の消去
光源1BとをHしている。
IOが配置されている。この電子顕微鏡像記録読取装置
IOは、鏡体部la内の前記結像面9に固定された蓄積
性蛍光体からなる第1の2次元センサ(以下、蓄積性蛍
光体シート11という)と、励起光源12および光走査
系13からなる第1の励起手段と、前記鏡体部1aの周
壁に設けられた透光窓14を介して上記第1の蓄積性蛍
光体シート11に対向するように配された第1のフォト
マルチプライヤ−(光電子増倍管)15と、第1の消去
光源1BとをHしている。
上記蓄積性蛍光体シート11は前述したような蓄積性蛍
光体が透明支持体上に層成されてなるものである。また
励起光源12は一例としてHe−Neレーザ、半導体レ
ーザ等からなり、光走査系13は第1および第2の光偏
向器13a、13bと、固定ミラー13cとからなる。
光体が透明支持体上に層成されてなるものである。また
励起光源12は一例としてHe−Neレーザ、半導体レ
ーザ等からなり、光走査系13は第1および第2の光偏
向器13a、13bと、固定ミラー13cとからなる。
第1および第2の光偏向器13a、13bとしてはそれ
ぞれ、ガルバノメータミラー、ポリゴンミラー、ホログ
ラムスキャナ、AOD等の公知の光偏向器が使用されう
る。励起光源12から射出された励起光ビーム12aは
第1の光偏向器13aにより偏向されるとともに、第2
の光偏向器13bにより上記偏向の方向と直角な方向(
図の矢印A方向)に偏向され、例えば鉛ガラス等が嵌め
込まれた透光窓21を透過して鏡体部la内に入射し、
固定ミラー13cにおいて反射して前記蓄積性蛍光体シ
ートll上に入射する。このようにして蓄積性蛍光体シ
ートは光ビームによりX−7両方向に走査される。なお
図示はしないが、励起光11iX12から発せられた励
起光ビーム12aは、蓄積性蛍光体シーH1が発する輝
尽発光光(後に詳述する)の波長領域をカットするフィ
ルターを通過させ、ビームエキスパンダーによりビーム
径を調整した後、光偏向器13a、 13bで偏向され
、次いでfθレンズを通過させて均一なビーム径となさ
れ蓄積性蛍光体シートに入射されるのが好ましい。
ぞれ、ガルバノメータミラー、ポリゴンミラー、ホログ
ラムスキャナ、AOD等の公知の光偏向器が使用されう
る。励起光源12から射出された励起光ビーム12aは
第1の光偏向器13aにより偏向されるとともに、第2
の光偏向器13bにより上記偏向の方向と直角な方向(
図の矢印A方向)に偏向され、例えば鉛ガラス等が嵌め
込まれた透光窓21を透過して鏡体部la内に入射し、
固定ミラー13cにおいて反射して前記蓄積性蛍光体シ
ートll上に入射する。このようにして蓄積性蛍光体シ
ートは光ビームによりX−7両方向に走査される。なお
図示はしないが、励起光11iX12から発せられた励
起光ビーム12aは、蓄積性蛍光体シーH1が発する輝
尽発光光(後に詳述する)の波長領域をカットするフィ
ルターを通過させ、ビームエキスパンダーによりビーム
径を調整した後、光偏向器13a、 13bで偏向され
、次いでfθレンズを通過させて均一なビーム径となさ
れ蓄積性蛍光体シートに入射されるのが好ましい。
また前記消去光源1Gは蓄積性蛍光体シート11の励起
波長領域に含まれる光を発生するものである。
波長領域に含まれる光を発生するものである。
そして上記第2の光偏向器13bと固定ミラー13cと
の間において励起光ビーム12aの光路中に入る位置と
、該光路から外れた位置とをとりうるミラー17が配設
されている。消去光源16が発する消去光leaはレン
ズ18によって集光され、上記ミラー17が励起光ビー
ム12aの光路中に入る位置に設定されていれば、該ミ
ラー17および固定ミラー13cにおいて反射して、蓄
積性蛍光体シート11を全面的に照射する。また対物レ
ンズ7と蓄積性蛍光体シート11との間において鏡体部
1aには、電子線2を遮断しつるシャッター19が設け
られ、蓄積性蛍光体シーMlと第1のフォトマルチプラ
イヤ=15との間には光シヤツター24が設けられてい
る。
の間において励起光ビーム12aの光路中に入る位置と
、該光路から外れた位置とをとりうるミラー17が配設
されている。消去光源16が発する消去光leaはレン
ズ18によって集光され、上記ミラー17が励起光ビー
ム12aの光路中に入る位置に設定されていれば、該ミ
ラー17および固定ミラー13cにおいて反射して、蓄
積性蛍光体シート11を全面的に照射する。また対物レ
ンズ7と蓄積性蛍光体シート11との間において鏡体部
1aには、電子線2を遮断しつるシャッター19が設け
られ、蓄積性蛍光体シーMlと第1のフォトマルチプラ
イヤ=15との間には光シヤツター24が設けられてい
る。
そして前記透光窓14には、蓄積性蛍光体シート11が
発する輝尽発光光のみを透過させ、前記励起光ビーム1
2aを取り除く光学フィルターを備えたガラス20が嵌
芒されている。また鏡体部1aの内部は通常の電子顕微
鏡におけるのと同様に、上記蓄積性蛍光体シート11が
配置されている部分も含めて、電子顕微鏡稼動中は真空
ポンプ等の公知の手段により真空状態に維持される。
発する輝尽発光光のみを透過させ、前記励起光ビーム1
2aを取り除く光学フィルターを備えたガラス20が嵌
芒されている。また鏡体部1aの内部は通常の電子顕微
鏡におけるのと同様に、上記蓄積性蛍光体シート11が
配置されている部分も含めて、電子顕微鏡稼動中は真空
ポンプ等の公知の手段により真空状態に維持される。
電子顕微鏡像記録読取装置10はさらに、上記のように
真空状態に維持される部分内において、シート搬送テー
ブル30と、このシート搬送テーブル30に沿って配列
されたシート搬送ローラ31と、第2の消去光源32と
、集光体33と、この集光体33に光学的に接続された
第2のフォトマルチプライヤ−34と、上記シート搬送
テーブル30上に載置されたモニタ用蓄積性蛍光体シー
ト35とを有している。
真空状態に維持される部分内において、シート搬送テー
ブル30と、このシート搬送テーブル30に沿って配列
されたシート搬送ローラ31と、第2の消去光源32と
、集光体33と、この集光体33に光学的に接続された
第2のフォトマルチプライヤ−34と、上記シート搬送
テーブル30上に載置されたモニタ用蓄積性蛍光体シー
ト35とを有している。
上記モニタ用蓄積性蛍光体シート35はシート搬送ロー
ラ3[を正転、逆転させることにより、シート搬送テー
ブル30上を図中左右方向に搬送されるようになってい
る。そしてシート搬送テーブル30はテーブル駆動手段
29により、第1図の左右方向および紙面に垂直な方向
に2次元的に移動されるようになっている。また前記励
起光源12と同様の励起光1TIX3Gと、前記光偏向
器13aあるいは13bと同様の光偏向器37とからな
る第2の励起手段が設けられている。上記励起光源3G
から射出された励起光ビーム38aは、光偏向器37に
より偏向され、透光窓38を透過して、蓄積性蛍光体シ
ート35をその搬送方向と直角な方向に走査するように
なっている。またシート搬送テーブル30には、固定さ
れた前記第1の蓄積性蛍光体シートllに対向する部分
において開口30aが設けられ、第2の蓄積性蛍光体シ
ート35がこの開口30a上から図中左方に退出すれば
、蓄積性蛍光体シートllへ電子線2が照射されうるよ
うになっている。
ラ3[を正転、逆転させることにより、シート搬送テー
ブル30上を図中左右方向に搬送されるようになってい
る。そしてシート搬送テーブル30はテーブル駆動手段
29により、第1図の左右方向および紙面に垂直な方向
に2次元的に移動されるようになっている。また前記励
起光源12と同様の励起光1TIX3Gと、前記光偏向
器13aあるいは13bと同様の光偏向器37とからな
る第2の励起手段が設けられている。上記励起光源3G
から射出された励起光ビーム38aは、光偏向器37に
より偏向され、透光窓38を透過して、蓄積性蛍光体シ
ート35をその搬送方向と直角な方向に走査するように
なっている。またシート搬送テーブル30には、固定さ
れた前記第1の蓄積性蛍光体シートllに対向する部分
において開口30aが設けられ、第2の蓄積性蛍光体シ
ート35がこの開口30a上から図中左方に退出すれば
、蓄積性蛍光体シートllへ電子線2が照射されうるよ
うになっている。
次に上記構成の電子顕微鏡像記録読取装置10による電
子顕微鏡像の記録、読取りについて詳しく説明する。ま
ず視野探しおよびピント合せのためのモニタ画象を蓄積
記録するため、第2の蓄積性蛍光体シート35は開口3
0a上の位置に置かれる。
子顕微鏡像の記録、読取りについて詳しく説明する。ま
ず視野探しおよびピント合せのためのモニタ画象を蓄積
記録するため、第2の蓄積性蛍光体シート35は開口3
0a上の位置に置かれる。
そして前述のシャッター19を開くと、第2の蓄積性蛍
光体シート35に、試料8の拡大散乱像8bを担持する
電子線2のエネルギーが蓄積される。この際撮影条件コ
ントローラ50には、複数の所望のレンズ条件(焦点距
離を変更する条件)と複数の所望の試料ポジション(電
子線2に対する相対的な位置)が入力され、該コントロ
ーラ50はこのレンズ条件を示す信号SIOをレンズ条
件コントローラ51に、また試料ポジションを示す信号
Sllをポジションコントローラ52に送る。レンズ条
件コントローラ51は、信号SIOが示すレンズ条件を
レンズ6.7°、7において設定させる。なおこの場合
のレンズ条件は、第2図に示すように、電子線2がモニ
タ用蓄積性蛍光体シート35の一部分(本例ではほぼ各
1712の部分)に照射されるように設定される。一方
ポジションコントローラ52は、信号Sllが示す試料
ポジションが得られるように試料台5を移動させる。本
例では撮影条件コントローラ50に1回当り3種のレン
ズ条件と4種の試料ポジションが入力されるようになっ
ており、したがってレンズ条件と試料ポジションの組合
せ状態は12通り有る。そこで撮影条件コントローラ5
0は上記信号SIOと811を順次変えて、上記12通
りの組合せ状態を順次設定させる。そして撮影条件コン
トローラ50はこの組合せ状態を変える都度、シート移
動信号SL2をシート移動コントローラ53に送る。シ
ート移動コントローラ53はこの移動信号S12に基づ
いて前述のテーブル駆動手段29の駆動を制御して、モ
ニタ用蓄積性蛍光体シート35を電子線2に対して相対
的に移動させる。この際の移動量と移動方向は、予め定
められたプログラムに従って、シート35の前記各1/
12の部分に電子線2が順次照射されるように設定され
る。
光体シート35に、試料8の拡大散乱像8bを担持する
電子線2のエネルギーが蓄積される。この際撮影条件コ
ントローラ50には、複数の所望のレンズ条件(焦点距
離を変更する条件)と複数の所望の試料ポジション(電
子線2に対する相対的な位置)が入力され、該コントロ
ーラ50はこのレンズ条件を示す信号SIOをレンズ条
件コントローラ51に、また試料ポジションを示す信号
Sllをポジションコントローラ52に送る。レンズ条
件コントローラ51は、信号SIOが示すレンズ条件を
レンズ6.7°、7において設定させる。なおこの場合
のレンズ条件は、第2図に示すように、電子線2がモニ
タ用蓄積性蛍光体シート35の一部分(本例ではほぼ各
1712の部分)に照射されるように設定される。一方
ポジションコントローラ52は、信号Sllが示す試料
ポジションが得られるように試料台5を移動させる。本
例では撮影条件コントローラ50に1回当り3種のレン
ズ条件と4種の試料ポジションが入力されるようになっ
ており、したがってレンズ条件と試料ポジションの組合
せ状態は12通り有る。そこで撮影条件コントローラ5
0は上記信号SIOと811を順次変えて、上記12通
りの組合せ状態を順次設定させる。そして撮影条件コン
トローラ50はこの組合せ状態を変える都度、シート移
動信号SL2をシート移動コントローラ53に送る。シ
ート移動コントローラ53はこの移動信号S12に基づ
いて前述のテーブル駆動手段29の駆動を制御して、モ
ニタ用蓄積性蛍光体シート35を電子線2に対して相対
的に移動させる。この際の移動量と移動方向は、予め定
められたプログラムに従って、シート35の前記各1/
12の部分に電子線2が順次照射されるように設定され
る。
また撮影条件コントローラ50は、以上述べたようにし
てレンズ条件と試料ポジションの組合せを順次変更し、
またそれとともに蓄積性蛍光体シート35を移動させる
毎にシャッターコントローラ57に駆動信号S14を送
り、シャッター19を所定時間開かせる。シャッター1
9が開かれると、電子線2か蓄積性蛍光体シート35に
照射され、そこに試料8の電子顕微鏡像を担う電子線2
が照射される。
てレンズ条件と試料ポジションの組合せを順次変更し、
またそれとともに蓄積性蛍光体シート35を移動させる
毎にシャッターコントローラ57に駆動信号S14を送
り、シャッター19を所定時間開かせる。シャッター1
9が開かれると、電子線2か蓄積性蛍光体シート35に
照射され、そこに試料8の電子顕微鏡像を担う電子線2
が照射される。
以上の操作がなされることにより蓄積性蛍光体シート3
5には、それぞれ視野範囲とフォーカス状態の少なくと
も一方が異なる合計12の電子顕微鏡像(モニタ画像)
が蓄積記録される。なおこれら12のモニタ画像を蓄積
記録した際の各レンズ条件(レンズ条件コントローラ5
1の出力S15が示す)は、各画像の番号(例えばシー
ト35への記録順に従って1.2.3・・・・・・12
と定められる)と対応をとってレンズ条件メモリ54に
記憶される。同様に試料ポジションはポジションセンサ
55によって検出され、該センサ55の出力S1Gが示
す試料ポジションは、上記各画像の番号と対応をとった
上でポジションメモリ5Gに記憶される。
5には、それぞれ視野範囲とフォーカス状態の少なくと
も一方が異なる合計12の電子顕微鏡像(モニタ画像)
が蓄積記録される。なおこれら12のモニタ画像を蓄積
記録した際の各レンズ条件(レンズ条件コントローラ5
1の出力S15が示す)は、各画像の番号(例えばシー
ト35への記録順に従って1.2.3・・・・・・12
と定められる)と対応をとってレンズ条件メモリ54に
記憶される。同様に試料ポジションはポジションセンサ
55によって検出され、該センサ55の出力S1Gが示
す試料ポジションは、上記各画像の番号と対応をとった
上でポジションメモリ5Gに記憶される。
次いで上記モニタ画像の読取りが行なわれる。
モニタ用蓄積性蛍光体シート35はシート搬送ローラ3
1を回転駆動させることにより、第1図中左方に所定速
度で搬送される。このとき前述したようにして励起光ビ
ーム36aが蓄積性蛍光体シート35を走査しく主走査
)、また該シート35が移送されて副走査がなされるこ
とにより、このシート35は励起光ビーム36aにより
2次元的に走査される。
1を回転駆動させることにより、第1図中左方に所定速
度で搬送される。このとき前述したようにして励起光ビ
ーム36aが蓄積性蛍光体シート35を走査しく主走査
)、また該シート35が移送されて副走査がなされるこ
とにより、このシート35は励起光ビーム36aにより
2次元的に走査される。
それにより蓄積性蛍光体シート35は、12の拡大散乱
像8bを担持する輝尽発光光を放出する。この輝尽発光
光は、蓄積性蛍光体シート35の全幅に亘って延びる入
射端面を有する集光体33によって集光され、第2のフ
ォトマルチプライヤ−34により光電的に検出される。
像8bを担持する輝尽発光光を放出する。この輝尽発光
光は、蓄積性蛍光体シート35の全幅に亘って延びる入
射端面を有する集光体33によって集光され、第2のフ
ォトマルチプライヤ−34により光電的に検出される。
上記輝尽発光光を第2のフォトマルチプライヤ−34に
よって読み取って得られた電気信号(モニタ画像信号)
Smは、画像読取回路39に入力され必要な増幅、ディ
ジタル化、および画像処理が施された上で、モニタ画像
再生装置40に送られる。
よって読み取って得られた電気信号(モニタ画像信号)
Smは、画像読取回路39に入力され必要な増幅、ディ
ジタル化、および画像処理が施された上で、モニタ画像
再生装置40に送られる。
このモニタ画像再生装置40はCRT等のデイスプレィ
であってもよいし、また感光フィルムに光走査記録を行
なってハードコピーを得るような装置でもよい。しかし
、モニタ画像はさほど高精細である必要はないので、再
生処理速度を考慮してデイスプレィ装置を用いるのが好
ましい。このように輝尽発光光量に対応したモニタ画像
信号5I11を用いて画像を出力することにより、上記
輝尽発光光が担持する12の拡大散乱flbがモニタ画
像として再生される。
であってもよいし、また感光フィルムに光走査記録を行
なってハードコピーを得るような装置でもよい。しかし
、モニタ画像はさほど高精細である必要はないので、再
生処理速度を考慮してデイスプレィ装置を用いるのが好
ましい。このように輝尽発光光量に対応したモニタ画像
信号5I11を用いて画像を出力することにより、上記
輝尽発光光が担持する12の拡大散乱flbがモニタ画
像として再生される。
上記読取りが終了した後、蓄積性蛍光体シート35は第
2の消去光源32に対向する位置まで搬送され、そこで
該消去光源32から、消去光の照射を受け、再使用可能
な状態になる。この消去の仕組みは、後に詳述する蓄積
性蛍光体シートllに対する消去処理におけるのと同様
である。
2の消去光源32に対向する位置まで搬送され、そこで
該消去光源32から、消去光の照射を受け、再使用可能
な状態になる。この消去の仕組みは、後に詳述する蓄積
性蛍光体シートllに対する消去処理におけるのと同様
である。
電子顕微鏡オペレータは、上記のようにしてモニタ画像
再生装置40に再生された12の拡大散乱像8b(モニ
タ画像)の視野範囲とフォーカス状態を観察して、それ
らが最も好ましい状態になっている画像を選択する。そ
してこの選択されたモニタ画像の番号を撮影条件コント
ローラ50に入力すると、この画像番号に対応したレン
ズ条件と試料ポジションがそれぞれレンズ条件メモリ5
4、ポジションメモリ56から読み出され、これらの読
み出されたレンズ条件および試料ポジションが電子顕微
鏡1において設定される。なおこの際、対物レンズ6と
中間レンズ7° と投影レンズ7のレンズ条件を変えて
拡大率が大きくなるようにし、電子線2が蓄積性蛍光体
シート11にほぼ全面的に照射されるようにする。
再生装置40に再生された12の拡大散乱像8b(モニ
タ画像)の視野範囲とフォーカス状態を観察して、それ
らが最も好ましい状態になっている画像を選択する。そ
してこの選択されたモニタ画像の番号を撮影条件コント
ローラ50に入力すると、この画像番号に対応したレン
ズ条件と試料ポジションがそれぞれレンズ条件メモリ5
4、ポジションメモリ56から読み出され、これらの読
み出されたレンズ条件および試料ポジションが電子顕微
鏡1において設定される。なおこの際、対物レンズ6と
中間レンズ7° と投影レンズ7のレンズ条件を変えて
拡大率が大きくなるようにし、電子線2が蓄積性蛍光体
シート11にほぼ全面的に照射されるようにする。
次いで前述のシャッター19が開かれると、結像画9に
固定された第1の蓄積性蛍光体シート11に、試料8の
拡大散乱像8bを担持する電子線2のエネルギーが蓄積
記録される。この電子線露光の際には、光シヤツター2
4は閉じられていることが好ましい。次いでシャッター
19が閉じられ光シヤツター24は開かれて、続いて前
述のように励起光源12から射出され、X−Y両方向に
偏向された励起光ビーム12aがシート11上に入射せ
しめられる。
固定された第1の蓄積性蛍光体シート11に、試料8の
拡大散乱像8bを担持する電子線2のエネルギーが蓄積
記録される。この電子線露光の際には、光シヤツター2
4は閉じられていることが好ましい。次いでシャッター
19が閉じられ光シヤツター24は開かれて、続いて前
述のように励起光源12から射出され、X−Y両方向に
偏向された励起光ビーム12aがシート11上に入射せ
しめられる。
このように偏向された励起光ビーム12aにより蓄積性
蛍光体シート11は2次元的に走査され、該シート11
は上記電子線エネルギーのレベルに応じた強度の輝尽発
光光を放出する。この輝尽発光光はシート11の裏側か
ら、上記励起光ビーム12aを取り除く光学フィルター
を備えたガラス20を介して第1のフォトマルチプライ
ヤ−15によって受光され、輝尽発光光量が光電的に読
み取られる。
蛍光体シート11は2次元的に走査され、該シート11
は上記電子線エネルギーのレベルに応じた強度の輝尽発
光光を放出する。この輝尽発光光はシート11の裏側か
ら、上記励起光ビーム12aを取り除く光学フィルター
を備えたガラス20を介して第1のフォトマルチプライ
ヤ−15によって受光され、輝尽発光光量が光電的に読
み取られる。
上記輝尽発光光を第1のフォトマルチプライヤ−15に
よって読み取って得られた電気信号(画像信号)Stは
、画像読取回路22に伝えられ必要な増幅、ディジタル
化、および画像処理等が施された上で、画像再生装置2
3へ送られる。この画像再生装置23としては、前述し
たCRT等のデイスプレィ装置や光走査記録装置が用い
られる。このように前記輝尽発光光量に対応した画像信
号Stを用いて画像を出力することにより、上記輝尽発
光光が担持する1つの拡大散乱像8bが再生される。
よって読み取って得られた電気信号(画像信号)Stは
、画像読取回路22に伝えられ必要な増幅、ディジタル
化、および画像処理等が施された上で、画像再生装置2
3へ送られる。この画像再生装置23としては、前述し
たCRT等のデイスプレィ装置や光走査記録装置が用い
られる。このように前記輝尽発光光量に対応した画像信
号Stを用いて画像を出力することにより、上記輝尽発
光光が担持する1つの拡大散乱像8bが再生される。
こうして再生された電子顕微鏡像は、前述したように1
2のモニタ画像の中から視野範囲およびフォーカス状態
が最良のものを選択し、そのときのレンズ条件および試
料ポジションを設定して蓄積性蛍光体シート11に記録
されたものであるから、当然上記選択されたモニタ画像
と同様の視野範囲およびフォーカス状態のものとなる。
2のモニタ画像の中から視野範囲およびフォーカス状態
が最良のものを選択し、そのときのレンズ条件および試
料ポジションを設定して蓄積性蛍光体シート11に記録
されたものであるから、当然上記選択されたモニタ画像
と同様の視野範囲およびフォーカス状態のものとなる。
上述の画像読取りが終了した後、第1のフォトマルチプ
ライヤ−15と光学フィルターガラス20の間に設けら
れた光シヤツター24が閉じられ、ミラー17は励起光
ビーム12aの光路中に入る位置に立てられ、そして第
1の消去光源16が点灯される。
ライヤ−15と光学フィルターガラス20の間に設けら
れた光シヤツター24が閉じられ、ミラー17は励起光
ビーム12aの光路中に入る位置に立てられ、そして第
1の消去光源16が点灯される。
それによりシートllの表面には、該第1の消去光11
1ftが発する消去光18aが照射される。蓄積性蛍光
体シート11に前記のように励起光ビーム12aが照射
されても、該シート11に蓄積されていた電子線エネル
ギーがすべて放出される訳ではなく、残像が残る場合が
ある。しかしここで上記のように蓄積性蛍光体シート1
1に消去光を照射すれば、上記残像が消去され、蓄積性
蛍光体シート11が再使用可能となる。またこの消去光
照射により、シー1−11の蛍光体中に不純物として含
まれている23Raなどの放射性元素によるノイズ成分
も放出される。上記消去光源16としては、例えば特開
昭56−11392号に示されているようなタングステ
ンランプ、ハロゲンランプ、赤外線ランプ、キセノンフ
ラッシュランプあるいはレーザ光源等が任意に選択使用
され得る。また読取り用の励起光源12を消去用に兼用
してもよい。
1ftが発する消去光18aが照射される。蓄積性蛍光
体シート11に前記のように励起光ビーム12aが照射
されても、該シート11に蓄積されていた電子線エネル
ギーがすべて放出される訳ではなく、残像が残る場合が
ある。しかしここで上記のように蓄積性蛍光体シート1
1に消去光を照射すれば、上記残像が消去され、蓄積性
蛍光体シート11が再使用可能となる。またこの消去光
照射により、シー1−11の蛍光体中に不純物として含
まれている23Raなどの放射性元素によるノイズ成分
も放出される。上記消去光源16としては、例えば特開
昭56−11392号に示されているようなタングステ
ンランプ、ハロゲンランプ、赤外線ランプ、キセノンフ
ラッシュランプあるいはレーザ光源等が任意に選択使用
され得る。また読取り用の励起光源12を消去用に兼用
してもよい。
以上、モニタ画像の読取部と最終出力画像の読取部を別
々に設けた態様について説明したが、モニタ画像と最終
出力画像の読取りを一つの読取部で行なってもよい。ま
た、モニタ画像記録用と最終出力画像記録用の2次元セ
ンサを共用しても構わない。さらに上記実施例では、モ
ニタ画像を利用して電子顕微鏡像の視野範囲とフォーカ
ス状態を確認するようにしているが、これらの一方のみ
を確認して、最終出力画像記録時にその条件を設定する
ようにしてもよい。
々に設けた態様について説明したが、モニタ画像と最終
出力画像の読取りを一つの読取部で行なってもよい。ま
た、モニタ画像記録用と最終出力画像記録用の2次元セ
ンサを共用しても構わない。さらに上記実施例では、モ
ニタ画像を利用して電子顕微鏡像の視野範囲とフォーカ
ス状態を確認するようにしているが、これらの一方のみ
を確認して、最終出力画像記録時にその条件を設定する
ようにしてもよい。
さらに上記実施例では、モニタ用蓄積性蛍光体シート3
5への電子線照射位置(つまり画像記録位置)を変える
ためにこのシート35を移動させるようにしているが、
シート35は固定したまま、電子線2の偏向状態を変え
ることによって上記照射位置を変えることも可能である
。
5への電子線照射位置(つまり画像記録位置)を変える
ためにこのシート35を移動させるようにしているが、
シート35は固定したまま、電子線2の偏向状態を変え
ることによって上記照射位置を変えることも可能である
。
以上透過電子線による試料8の拡大散乱像を記録再生す
る実施態様について説明したが、本発明は、前述した試
料の回折パターンを記録再生するために適用することも
できる。第3図は試料8の回折パターン8Cを記録する
様子を示すものである。本実施態様において電子顕微鏡
80は、対物レンズ6と投影レンズ7との間に中間レン
ズ81を備えたものが使用さ゛れ、対物レンズ7の後焦
平面に形成された試料8の回折パターン8Cは、上記後
焦平面に焦点を合わせた中間レンズ71および投影レン
ズ7により、結像面9に拡大投影される。この場合にも
上記結像面9に2次元センサとしての蓄積性蛍光体シー
ト11あるいはモニタ用蓄積性蛍光体シート35を配置
すれば、該シート11あるいは35に透過電子線2によ
る上記回折パターン8cの拡大像が蓄積記録される。こ
の蓄積記録された回折パターン8Cは、前記第1図で説
明したのと全く同様にして読取り可能であり、その読取
り像はCRTに表示したり、あるいはハードコピーとし
て再生したりすることができる。
る実施態様について説明したが、本発明は、前述した試
料の回折パターンを記録再生するために適用することも
できる。第3図は試料8の回折パターン8Cを記録する
様子を示すものである。本実施態様において電子顕微鏡
80は、対物レンズ6と投影レンズ7との間に中間レン
ズ81を備えたものが使用さ゛れ、対物レンズ7の後焦
平面に形成された試料8の回折パターン8Cは、上記後
焦平面に焦点を合わせた中間レンズ71および投影レン
ズ7により、結像面9に拡大投影される。この場合にも
上記結像面9に2次元センサとしての蓄積性蛍光体シー
ト11あるいはモニタ用蓄積性蛍光体シート35を配置
すれば、該シート11あるいは35に透過電子線2によ
る上記回折パターン8cの拡大像が蓄積記録される。こ
の蓄積記録された回折パターン8Cは、前記第1図で説
明したのと全く同様にして読取り可能であり、その読取
り像はCRTに表示したり、あるいはハードコピーとし
て再生したりすることができる。
また、以上述べた蓄積性蛍光体シート11あるいは35
に代えて熱蛍光体シートを用いる場合、このシートから
蓄積エネルギーを加熱によって放出させるには、例えば
CO2レーザなどの熱線を放出する加熱源を用い、この
熱線で熱蛍光体シートを走査すればよく、そのためには
例えば特公昭55−47720号公報等の記述を参考に
すればよい。
に代えて熱蛍光体シートを用いる場合、このシートから
蓄積エネルギーを加熱によって放出させるには、例えば
CO2レーザなどの熱線を放出する加熱源を用い、この
熱線で熱蛍光体シートを走査すればよく、そのためには
例えば特公昭55−47720号公報等の記述を参考に
すればよい。
(発明の効果)
以上詳細に説明した通り本発明によれば、モニタ用2次
元センサに視野探しおよび/またはピント合せのための
モニタ用電子顕微鏡像を複数記録し、各モニタ用電子顕
微鏡像を記録した際の電子顕微鏡の操作条件を記憶して
おき、上記複数のモニタ用電子顕微鏡像を再生して最良
のものを選択し、この選択されたモニタ用電子顕微鏡像
を記録した際の電子顕微鏡操作条件を設定して最終出力
画像の記録を行なうようにしているから、モニタ画像の
読取りおよび再生は本質的に1回行なうだけで済むよう
になる。したがって本発明方法によれば、所望の視野範
囲および/またはフォーカス状態の電子顕微鏡像を短時
間のうちに再生できるようになる。
元センサに視野探しおよび/またはピント合せのための
モニタ用電子顕微鏡像を複数記録し、各モニタ用電子顕
微鏡像を記録した際の電子顕微鏡の操作条件を記憶して
おき、上記複数のモニタ用電子顕微鏡像を再生して最良
のものを選択し、この選択されたモニタ用電子顕微鏡像
を記録した際の電子顕微鏡操作条件を設定して最終出力
画像の記録を行なうようにしているから、モニタ画像の
読取りおよび再生は本質的に1回行なうだけで済むよう
になる。したがって本発明方法によれば、所望の視野範
囲および/またはフォーカス状態の電子顕微鏡像を短時
間のうちに再生できるようになる。
第1図は、本発明の方法により電子顕微鏡像の記録読取
りを行なう装置の一例を示す概略図、第2図は上記装置
におけるモニタ画像記録の様子を示す概略斜視図、 第3図は本発明方法が適用される電子顕微鏡の他の例を
示す概略図である。 1・・・電子顕微鏡 2・・・電子線8・・・試
料 9・・・電子顕微鏡の結像面10・・
・電子顕微鏡像記録読取装置 11・・・蓄積性蛍光体シート12.36・・・励起光
源12a、 38a・・・励起光ビーム 13・・・
光走査系13a、 13b、 37−・・光偏向器15
・・・第1のフォトマルチプライヤ−16・・・第1の
消去光源 23・・・最終出力画像再生装置 29・・・テーブル駆動手段 30・・・シート搬送テ
ーブル31・・・シート搬送ローラ 32・・・第2の
消去光源34・・・第2のフォトマルチプライヤ−35
・・・モニタ用蓄積性蛍光体シート40・・・モニタ画
像再生装置 50・・・撮影条件コントローラ 51・・・レンズ条件コントローラ 52・・・ポジションコントローラ 53・・・シート移動コントローラ 54・・・レンズ条件メモリ 55・・・ポジションセ
ンサ5G・・・ポジションメモリ 57・・・シャッターコントローラ ー面の浄書(内容に変更なし) 第1Vg1
りを行なう装置の一例を示す概略図、第2図は上記装置
におけるモニタ画像記録の様子を示す概略斜視図、 第3図は本発明方法が適用される電子顕微鏡の他の例を
示す概略図である。 1・・・電子顕微鏡 2・・・電子線8・・・試
料 9・・・電子顕微鏡の結像面10・・
・電子顕微鏡像記録読取装置 11・・・蓄積性蛍光体シート12.36・・・励起光
源12a、 38a・・・励起光ビーム 13・・・
光走査系13a、 13b、 37−・・光偏向器15
・・・第1のフォトマルチプライヤ−16・・・第1の
消去光源 23・・・最終出力画像再生装置 29・・・テーブル駆動手段 30・・・シート搬送テ
ーブル31・・・シート搬送ローラ 32・・・第2の
消去光源34・・・第2のフォトマルチプライヤ−35
・・・モニタ用蓄積性蛍光体シート40・・・モニタ画
像再生装置 50・・・撮影条件コントローラ 51・・・レンズ条件コントローラ 52・・・ポジションコントローラ 53・・・シート移動コントローラ 54・・・レンズ条件メモリ 55・・・ポジションセ
ンサ5G・・・ポジションメモリ 57・・・シャッターコントローラ ー面の浄書(内容に変更なし) 第1Vg1
Claims (3)
- (1)電子線エネルギーを蓄積する2次元センサに、試
料を透過した電子線を真空状態で蓄積記録し、次いで前
記2次元センサに光照射あるいは加熱を行なって蓄積さ
れたエネルギーを光として放出させ、この放出光を光電
的に検出して前記電子線が担う電子顕微鏡像を可視像と
して出力するための画像信号を得る電子顕微鏡像記録読
取方法において、 前記電子線の蓄積記録操作に先立って予め、前記試料を
透過した電子線を試料の視野範囲および/またはフォー
カス状態が相異なる状態で1枚のモニタ用2次元センサ
の別々の箇所に照射することにより、該センサに複数の
電子顕微鏡像を蓄積記録し、 このときの視野範囲および/またはフォーカス状態を得
る電子顕微鏡の操作条件を各電子顕微鏡像と対応をとっ
た上で記憶手段に記憶しておき、前記モニタ用2次元セ
ンサに対して光照射あるいは加熱を行ない、そのときの
放出光を光電的に検出してモニタ用画像信号を得、 該モニタ用画像信号に基づいて、前記モニタ用2次元セ
ンサに蓄積記録された複数の電子顕微鏡像を再生し、 これらの再生された電子顕微鏡像を観察して所望の視野
範囲および/またはフォーカス状態の電子顕微鏡像を選
択し、 この選択された電子顕微鏡像と対応する前記操作条件を
前記記憶手段から読み出し、この条件を電子顕微鏡にお
いて設定した上で前記2次元センサへの電子線の蓄積記
録操作を行なうことを特徴とする電子顕微鏡像記録読取
方法。 - (2)前記画像信号とモニタ用画像信号を得るための操
作を、前記2次元センサを真空状態に置いたままで行な
うことを特徴とする請求項1記載の電子顕微鏡像記録読
取方法。 - (3)前記2次元センサとして蓄積性蛍光体シートを用
い、この蓄積性蛍光体シートに試料を透過した電子線を
真空状態で蓄積記録し、次いで該蓄積性蛍光体シートを
励起光で走査して蛍光を放出させ、この放出された蛍光
を光電的に検出することを特徴とする請求項1または2
記載の電子顕微鏡像記録読取方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63066750A JPH01239743A (ja) | 1988-03-19 | 1988-03-19 | 電子顕微鏡像記録読取方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63066750A JPH01239743A (ja) | 1988-03-19 | 1988-03-19 | 電子顕微鏡像記録読取方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01239743A true JPH01239743A (ja) | 1989-09-25 |
Family
ID=13324869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63066750A Pending JPH01239743A (ja) | 1988-03-19 | 1988-03-19 | 電子顕微鏡像記録読取方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01239743A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6875983B2 (en) | 2001-05-25 | 2005-04-05 | Hitachi, Ltd. | Electron microscope and means to set observation conditions |
| JP2006029891A (ja) * | 2004-07-14 | 2006-02-02 | Toppan Printing Co Ltd | パターン画像計測方法及びその方法を用いたパターン画像計測装置 |
-
1988
- 1988-03-19 JP JP63066750A patent/JPH01239743A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6875983B2 (en) | 2001-05-25 | 2005-04-05 | Hitachi, Ltd. | Electron microscope and means to set observation conditions |
| US7041977B2 (en) | 2001-05-25 | 2006-05-09 | Hitachi, Ltd. | Electron microscope |
| JP2006029891A (ja) * | 2004-07-14 | 2006-02-02 | Toppan Printing Co Ltd | パターン画像計測方法及びその方法を用いたパターン画像計測装置 |
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