JPH01242907A - 光切断法における断面形状測定方法 - Google Patents

光切断法における断面形状測定方法

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JPH01242907A
JPH01242907A JP6829888A JP6829888A JPH01242907A JP H01242907 A JPH01242907 A JP H01242907A JP 6829888 A JP6829888 A JP 6829888A JP 6829888 A JP6829888 A JP 6829888A JP H01242907 A JPH01242907 A JP H01242907A
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JP
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JP6829888A
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Yoichi Naganuma
永沼 洋一
Masaki Motomura
元村 雅記
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、光切断法における物体形状の測定方法に関す
る。
[従来の技術] 物体の断面形状を測定する手段として、例えば特開昭5
8−1432f)4に記載されている光切断法かある。
この方法は周知のごとく、線状光源を被測定物体の表面
に照射し、これを線状光源と異なった角度に設置された
撮像装置で観測すると、その撮像像は被測定物体上に照
射された部分の表面形状の凹凸と対応することになり、
よってこの撮像装置の出力信号を処理することにより、
被測定物体の形状測定を可能とすることができるもので
ある。
[発明が解決しようとする課題] 周知の光切断法による物体表面形状測定の場合、線状光
源が照射された部分または、この線状光源を被測定物体
上で走査した範囲のみか測定可能範囲であり、この光が
当たらない裏側部分あるいは、線状光源と撮像装置と平
行する面等は単一の線状光源と撮像装置のみでは測定不
可能である。
そこで、これを解決する手段として、線状光源と撮像装
置から成る光切断測定装置を測定対象部分表裏面に適用
し、各々の撮像装置から得られた座標値を合成すること
で、全体の形状を測定する方法が容易に考えられるとこ
ろであるが、しかし、この方法の場合、被測定物体が測
定中に移動した場合、あるいは振動した場合は、各々の
撮像装置の測定時刻か必ずしも一致していないため、各
々の撮像装置から得られた座標値を合成することは非常
に困難である。仮にこれをなし得たとしても、各々撮像
した結果は、同期がとれていないために測定点の時間的
ズレを生じ、従って、測定誤差か犬となることはさけら
れない。
また、測定対象物が大きい場合、あるいはその形状が複
雑な場合は、前記線状光源を得る装置の照射範囲に限り
があるので、全ての必要測定部分に対し、それぞれ前記
線状光源と撮像装置を多く必要とし、従って、信号処理
装置か複雑となり、このため、非常に高価となるばかり
でなく多くの信号処理時間を必要とする。
このため、従来は光切断法を用いて物体全体の断面を精
度良く測定することはできなかった。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するために、第1の発明は、光切断法に
おける断面形状測定方法において、同一の同期信号に同
期する複数の撮像装置により前記光切断線を撮像し、各
撮像装置で撮像した各光切断線像の座標系を共通の座標
系にそれぞれ変換することを特徴としている。
また、第2の発明は、同一の同期信号に同期する複数の
撮像装置により首記光切断線を撮像し、各撮像装置から
の撮像信号を重畳し、各撮像装置で撮像した各光切断線
像の座標系を共通の座標系にそれぞれ変換することを特
徴としている。
[作用] 光切断線を複数の撮像装置で撮像し、各光切断線像の座
標系を一つの共通座標系に変換することにより、これら
光切断像を合成して断面形状を表わすことができる。ま
た、複数の撮像装置は同一の同期信号に同期しているの
で、被測定物の移動あるいは振動に関係なく被測定物の
断面形状が得られる。
[実施例] 以下、図面を参照しながら、実施例により本発明の特徴
を具体的に説明する。
レーザ光源2から発せられたビーム光は、柱状レンズ4
にて線状化され被測定物体1の被測定部に投影される。
その投影光は、テレビカメラ6で撮像され撮像像を得る
。このとき、投影光とテレビカメラ6との位置関係はコ
ンピュータなどに予め記憶させておく。ところで、テレ
ビカメラ6は、レーザ光線2のビーム光に対しある角度
をもって設置すると、テレビカメラ6の撮像像は被測定
物体1の被測定部の表面形状に対応し、表面形状を測定
し得る。また、前記と同様にして、レーザ光源3、柱状
レンズ5、テレビカメラ7をもって、このテレビカメラ
7により被測定物体1の別の部分に対応した撮像像を得
ることで、この部分の表面形状を測定し得る。以上の方
法は、光切断法と呼ばれる公知の技術であり、以下に述
べる方法が本発明の意図するとことである。
同期信号発生器8より発せられた同期信号によって同期
したテレビカメラ6ならびに7夫々の撮像信号は、夫々
アナログディジタル変換器9ならびに10でディジタル
信号に変換され、その信号はフレームメモリー11なら
びに12に一画面分のデータとして記録される。記録さ
れた夫々各々の一画面分のデータは、ある明るさ以上の
光切断線の撮像像のみを抽出するために、2値化装置1
3ならびに14で、あるしきい値をもって2値化される
。この2値化データは、夫々の座標変換装置15ならび
に16で、公知の三角測量法による手法で、夫々各点毎
に測定点の座標値に変換され、さらに、後述のごとく夫
々各々新しい同−X、Y直交座標系の各点の座標値に変
換される。ついて、二つの光帯間において互いに向きあ
って対応する点の座標値の差分を距離算出装置17によ
りとることで夫々各点間の距離を求め、以って被測定物
体の断面形状を測定するものである。
さて、座標変換装置15ならびに16で行なわれる新し
い同−X、Y直交座標系への変換は、以下のようにして
行なわれる。すなわち、 前記夫々の座標系の座標値Xli、 yzならびにX 
2i+ y 21は、  (1) 〜(4)式ニヨリ新
シイ共通ノ座標系の座標値X′1+ + y’++なら
びにx′2、。
y′2.に変換される。ここで、iは各座標点の番号、
XIOならびにX20は、夫々旧座標系の原点を新座標
系で表わしたものであり、θならびにθ′は、夫々旧座
標系と新座標系とが成す角である。
x’+i ”Xli CO5θ+y+1Slnθ+XI
O・・・ (1ン ’/’++ =  Xz Sinθ+y1、cosθ+
Y+。
・−(2) x’ 2 i = X 2 i COSθ ”yztS
Inθ’+x2゜・・・(3) ’1” 2i =  X 2+ Slnθ′+y2Ic
osθ’+3/20・・・(4) 上記角度θおよびθ′は、次のようにして求められる。
まず、被測定物の面の一部あるいは被測定物を・l装置
している面を基準面とし、この基準面にX、Y座標系 
(すなわち旧座標系)を設定する。そして、旧座標形の
x1釉と撮像素子の水平方向 (これを新座標系のX軸
とする)との傾き角をθおよびθ′とする。
このようにして、別々に撮像された被測定物体光切断線
上の撮像像は、同一座標系の座標値として置換されるた
め、この座標系において各座標点相互間の距離を求める
ことができ、被測定物体の断面形状を測定し得るもので
ある。
測定結果は、例えばCRTナイスプレイに表示し、磁気
ディスクに記録し、あるいはプロッタに出力する。
以上、被測定物体の表裏面の被測定範囲に対して光切断
法と本発明の方法を適用し、物体の断面形状が測定でき
ることを説明したが、−数的には前記のごとく、光切断
法においては、光切断線の照射範囲が限られているので
、発明者等は、前記物体断面形状測定装置を必要系統数
設けておき、前記と同様にして、同一同期信号で各撮像
装置の撮像信号の全てを同期させて撮像し、得られた各
座標点の相互の距離を求めることによって、広範囲にわ
たる物体の断面形状測定を可能とした。
ところで、本発明の光切断法における断面形状測定装置
は、一系統の断面形状測定に対して、アナログディジタ
ル変換器、フレームメモリー、2値化装置、座標変換装
置を夫々2個必要とするが、前記のごとく一般的にはこ
れをn個の複数系統数必要とするので、2Xn個の前記
信号処理装置を必要とし、非常に高価となる。そこで発
明者等は、これらを簡略化1−るために、以下の発明を
行なった。
第2図において、その説明を行なう。
@記と同様にして、レーザ光源+9.20、柱状レンズ
21.22で得られた被測定物体18の光切断線上の表
面形状に対応したテレビカメラ23ならびに24の同期
信号発生器25によって同期した夫々の撮像信号は、加
算器26て加算され、重畳した撮像信号として出力すれ
る。この出力は、アナログディジタル変換器27でディ
ジタル信号に変換され、その信号はフレームメモリー2
8に一画面分として記録される。記録された前記夫々の
撮像信号が重畳した撮像信号は、2値化装置により、あ
るしきい値をもって2値化される。この2値化データは
前記夫々の撮像信号か重畳したものとなっているため、
座標変換装置29において夫々の信号を以下に述べる方
法で分離した後、夫々各点座標値に変換する。
2値化された信号を分離する方法として数種類の方法か
考えられるが、例えば、発明者等は次の方法で夫々の座
標値に変換する手法を採った。すなわち、 前記重畳した撮像信号は、第2図のフレームメモリー2
8に記録され2値化されるか、この時の典型的な一例を
第3図に示す。第3図中、実線AおよびBは、夫々の前
記テレビカメラ23ならびに24の撮像信号を2値化装
置で1または0とした点群である。その夫々の各々を座
標点として認識するために、垂直方向は上から順に、か
つ水平方向は。
左から順に2値化さ九た信号の1またはOの状態を調べ
て行く。この時、例えば水平線Hの位置では水平方向の
調べる範囲を、テレビカメラ23の撮像信号に相当する
Aの魚群に対しては破線aの範囲a1〜a2のみに限定
しておき、また、テレビカメラ24の撮像信号に相当す
るBの魚群に対しては破線すの範囲b1〜b2のみに限
定するようにしておくことで、一つのフレーム中に重畳
したAとBの魚群を分離し、夫々の各々の座標点として
認識するようにした。
このようにして分離したAとBの魚群について夫々座標
変換する。座標変換したあとの撮像像を第4図に示す。
そして、変換された夫々各点の座標値は、距離算出装置
30により夫々各点間の距離を求める。例えば、第4図
において点 (X′、+y′l)と点 (X ’21 
y′+)との差を求めることにより、その位置の厚みt
が得られる。以って、被測定物その断面形状を測定する
なお、前記テレビカメラ23ならびに24の撮像信号に
相当する魚群が前記破線の範囲を逸脱しないような線状
光源およびテレビカメラの配置または、破線の範囲を事
0イに設定しておく必要があることはいうまでもない。
ところで、場合によっては、第3図に示すような画面構
成でなく、もっと複雑な画面構成となり得ることも十分
考えられるところであるが、このような場合は、各々の
画面に応じて分離、認識の方法が考えられるべきであり
、この認識方法そのものについては、本発明の意図する
ものではない。
[発明の効果] 本発明によれば、従来不可能とされた光切断法による物
体全体の正確な断面形状の測定を可能とならしめ、非接
触測定法であるが故に、通常の物体のみならず柔らかな
物体の断面を、その物体に触れることなく正確な測定を
可能とし、さらに、このために、いたずらに信号処理装
置を増やすことなく、最小限の信号処理装置をもって、
より安価な装置で前記と同様な効果を得ることができる
更に、請求項2の方法によれば、測定装置を一層簡略化
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の構成を示す概略図、第2図は
第1図の構成を簡略化するために信号処理装置を簡略化
した本発明の構成を示す概略図、第3図は本発明の方法
で2つのテレビカメラがらの撮像信号を重畳し2値化し
た場合の典型的な一例を説明するための図面、および第
4図は座標変換したのちの撮像像を示す図面である。 1.18・・・被測定物、2.3.19.20・・・レ
ーザ光源、4. 5.21.22・・・柱状レンズ、6
.7.23゜24・・・テレビカメラ、8.25・・・
同期信号発生器、9、10.27・・・アナログデジタ
ル変換器、11.12゜28・・・フレームメモリー、
13.14・・・2値化装置、+5.16.29・・・
座標変換装置、17.30・・・距離算出装置。 出願人代理人 弁理士 矢葺知之(ほか1名)m、・

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、線状光源を被測定物の表面に照射し、被測定物表面
    に形成された光切断線を撮像装置により撮像して被測定
    物の断面形状を測定する方法において、同一の同期信号
    に同期する複数の撮像装置により前記光切断線を撮像し
    、各撮像装置で撮像した各光切断線像の座標系を共通の
    座標系にそれぞれ変換することを特徴とする光切断法に
    おける断面形状測定方法。 2、線状光源を被測定物の表面に照射し、被測定物表面
    に形成された光切断線を撮像装置により撮像して被測定
    物の断面形状を測定する方法において、同一の同期信号
    に同期する複数の撮像装置により前記光切断線を撮像し
    、各撮像装置からの撮像信号を重畳し、各撮像装置で撮
    像した各光切断線像の座標系を共通の座標系にそれぞれ
    変換することを特徴とする光切断法における断面形状測
    定方法。
JP6829888A 1988-03-24 1988-03-24 光切断法における断面形状測定方法 Pending JPH01242907A (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57144404A (en) * 1981-03-02 1982-09-07 Sumitomo Metal Ind Ltd Method and device for measurement of size and shape of shape steel
JPS61122509A (ja) * 1984-11-20 1986-06-10 Omron Tateisi Electronics Co 複合視覚装置

Patent Citations (2)

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