JPH01242958A - イオン濃度測定装置 - Google Patents
イオン濃度測定装置Info
- Publication number
- JPH01242958A JPH01242958A JP63071665A JP7166588A JPH01242958A JP H01242958 A JPH01242958 A JP H01242958A JP 63071665 A JP63071665 A JP 63071665A JP 7166588 A JP7166588 A JP 7166588A JP H01242958 A JPH01242958 A JP H01242958A
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- JP
- Japan
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- electrode
- circuit
- potential difference
- detection circuit
- difference detection
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は、ガラスイオン電極を使用したイオン濃度測定
装置、より詳しくはガラスイオン電極のクラックや電極
コネクタ部の！ｌ！締不良不良出する技術に関する。
装置、より詳しくはガラスイオン電極のクラックや電極
コネクタ部の！ｌ！締不良不良出する技術に関する。
（従来技術）
ガラスイオン電極を使用したイオン濃度測定装置は、ガ
ラスイオン電極自体の内部インピーダンスか５０Ｍ乃至
１０００Ｍオームと極めで高いため、電極間電位差を検
出する電極間電位差検出回路の入力インど−ダシスが高
く設定されている。
ラスイオン電極自体の内部インピーダンスか５０Ｍ乃至
１０００Ｍオームと極めで高いため、電極間電位差を検
出する電極間電位差検出回路の入力インど−ダシスが高
く設定されている。
このため、ガラスイオン電極にクラックが生じたり、ガ
ラスイオン電極を接続するコネクタに汚染が生しると、
電極間電位差検出回路に印加されるガラスイオン電極の
電位が低下して測定結果に大きな誤差を生じるという問
題がある。
ラスイオン電極を接続するコネクタに汚染が生しると、
電極間電位差検出回路に印加されるガラスイオン電極の
電位が低下して測定結果に大きな誤差を生じるという問
題がある。
すなわち、例えば血液中の水素イオン濃度を測定する場
合にあっては、通常測定レンジは、ＰＨ７，３５〜７．
４５という極めて狭いものであるため、電極自体にクラ
・ンクが発生したり、コネクタ部に汚染があると測定結
果に大きく影Ｗを与えることになる。
合にあっては、通常測定レンジは、ＰＨ７，３５〜７．
４５という極めて狭いものであるため、電極自体にクラ
・ンクが発生したり、コネクタ部に汚染があると測定結
果に大きく影Ｗを与えることになる。
このため、従来は、ガラス電極や、これのコネクタ部を
定期的、に点検することが行なわれていたか、クラ・ン
クや結締不良は突発的発生する間係上、必ずしも十分な
方策とはいえながった。
定期的、に点検することが行なわれていたか、クラ・ン
クや結締不良は突発的発生する間係上、必ずしも十分な
方策とはいえながった。
（目的）
本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであって
、その目的とするところは測定装置がらガラス電極を取
外すことなく雷時モニタすることができる新規なイオン
Ｉ７ａ度測定装置１３供することにある。
、その目的とするところは測定装置がらガラス電極を取
外すことなく雷時モニタすることができる新規なイオン
Ｉ７ａ度測定装置１３供することにある。
（発明の概要）
すなわち、本発明がｖＰ徴とするところは、参照電極と
ガラスイオン電極との間に交番信号をを印加し、これの
レベル変動を検出するようにした点にある。
ガラスイオン電極との間に交番信号をを印加し、これの
レベル変動を検出するようにした点にある。
（実施例）
そこで以下に本発明の詳細を図示した実施例に基づいて
説明する。
説明する。
第１図は本発明の一実施例を示したものであって、図中
符号１は、ガラスイオン感応電極２と参照電極３との起
電力差を検出する電極間電位差検出回路で、これの出力
側には直流増幅器４を介して指示計５を接続してイオン
Ｊ度測定回路が構成されている。
符号１は、ガラスイオン感応電極２と参照電極３との起
電力差を検出する電極間電位差検出回路で、これの出力
側には直流増幅器４を介して指示計５を接続してイオン
Ｊ度測定回路が構成されている。
６は、交番信号発生回路で、接続トランス７、及びコン
デンサ８を介して電極間電位差検出回路１の入力端子に
接続されている。
デンサ８を介して電極間電位差検出回路１の入力端子に
接続されている。
９は、電極間電位差検出回路１の出力側に接続された判
定回路で、交番増幅器１０からの信号を直流に変換する
整流回路］］と、整流回路］］からの信号を基準レベル
電位設定器１２と比較する比較回路１３かうなり、整流
回路１］からの信号か基準レベルを下回った時点で信号
を出力してブザー等の警報器１４を作動させるように構
成されている。
定回路で、交番増幅器１０からの信号を直流に変換する
整流回路］］と、整流回路］］からの信号を基準レベル
電位設定器１２と比較する比較回路１３かうなり、整流
回路１］からの信号か基準レベルを下回った時点で信号
を出力してブザー等の警報器１４を作動させるように構
成されている。
この実施例において、ガラスイオン電極２と参照電極３
をサンプルに浸漬すると、サンプルのイオン濃度１こ比
例した電極電位がガラスイオン電極２から発生する。こ
の信号は、電極間電位差検出回路］により参照電極３の
基準電位との差分を検出されてイオン濃度として指示計
５に出力される。言うまでもなく、各電極２．３は、コ
ンデンサ８を介して交番信号発生回路６に接続されてい
るので、各電極２．３１こ発生した電位は、コンデンサ
８によりトランス７に流れ込むことを逼＠され、したが
ってレベル低下を起すことなく、各電極電位をそのまま
電極間電位差検出回路１に印加することができ、また各
電極２．３には交番電圧が作用するので電気化学的な影
響が相殺されるため、イオン濃度測定の動作に影Ｗｔ受
けることはない。
をサンプルに浸漬すると、サンプルのイオン濃度１こ比
例した電極電位がガラスイオン電極２から発生する。こ
の信号は、電極間電位差検出回路］により参照電極３の
基準電位との差分を検出されてイオン濃度として指示計
５に出力される。言うまでもなく、各電極２．３は、コ
ンデンサ８を介して交番信号発生回路６に接続されてい
るので、各電極２．３１こ発生した電位は、コンデンサ
８によりトランス７に流れ込むことを逼＠され、したが
ってレベル低下を起すことなく、各電極電位をそのまま
電極間電位差検出回路１に印加することができ、また各
電極２．３には交番電圧が作用するので電気化学的な影
響が相殺されるため、イオン濃度測定の動作に影Ｗｔ受
けることはない。
一方、交番信号発生回路６からの交番信号は、トランス
７、及びコンデンサ８を介して電極間電位差検出回路１
の入力端子、及びガラスイオン電極２と参照電極３に印
加され、電極間電位差検出回路１の入力インピーダンス
Ｒ］と画電極２．３の端子間インピーダンスＲ２との合
成インピーダンス日３と、交番信号発生回路６の出力イ
ンピーダンスＲ４との分圧比、つまり、 により定まる大きさ交番信号か電極間電位差検出回路１
から出力される。電極間電位差検出回路１から出た交番
信号は、交番増幅器１ｏにより増幅されたのち、整流回
路１１により直流に変換され、比較回路１３（こより基
準レベルと比較される。
７、及びコンデンサ８を介して電極間電位差検出回路１
の入力端子、及びガラスイオン電極２と参照電極３に印
加され、電極間電位差検出回路１の入力インピーダンス
Ｒ］と画電極２．３の端子間インピーダンスＲ２との合
成インピーダンス日３と、交番信号発生回路６の出力イ
ンピーダンスＲ４との分圧比、つまり、 により定まる大きさ交番信号か電極間電位差検出回路１
から出力される。電極間電位差検出回路１から出た交番
信号は、交番増幅器１ｏにより増幅されたのち、整流回
路１１により直流に変換され、比較回路１３（こより基
準レベルと比較される。
ところで、ガラスイオン電極２やこれと測定回路を接続
しでいるコネクタが正常な場合には、ガラスイオン電極
２と参照電極３間のインピ−ダンスＲ１か極めで高い待
め、交番信号発生回路６からの交番信号は、Ｂ２／（日
２＋８４）の分圧ｌＬにより電極間電位差検出回路］に
印加されるから、整流回路１１から高レベル信号が出力
して基準レベルＶｓを越えることになり（第２図工）、
警報器１４を不作動状態に維持する。
しでいるコネクタが正常な場合には、ガラスイオン電極
２と参照電極３間のインピ−ダンスＲ１か極めで高い待
め、交番信号発生回路６からの交番信号は、Ｂ２／（日
２＋８４）の分圧ｌＬにより電極間電位差検出回路］に
印加されるから、整流回路１１から高レベル信号が出力
して基準レベルＶｓを越えることになり（第２図工）、
警報器１４を不作動状態に維持する。
一方、ガラスイオン電極２にクラ・ンクか生しると、こ
のクラックからサンプル等が侵入してガラスイオン電極
２のインど−ダシスが低下し、結果とじで画電極２．３
間のインピーダンスも低下するから、交番信号発生回路
６からの信号は、９照電極−ガラスイオン電極間のイン
ピーダンスと電極間電位差検出回路の入力インピーダン
スの合成インピーダンスにより分圧され、結果として電
極間電位差検出回路１の入力端子に印加される交番信号
のレベルか低下する。このため、整流回路］１からの信
号が基準レベルＶｓを下回ることになって（第２図ＩＩ
） 、 ’ｆｆ報器１ヰか作動してオペレータに点検
を促すことになる。
のクラックからサンプル等が侵入してガラスイオン電極
２のインど−ダシスが低下し、結果とじで画電極２．３
間のインピーダンスも低下するから、交番信号発生回路
６からの信号は、９照電極−ガラスイオン電極間のイン
ピーダンスと電極間電位差検出回路の入力インピーダン
スの合成インピーダンスにより分圧され、結果として電
極間電位差検出回路１の入力端子に印加される交番信号
のレベルか低下する。このため、整流回路］１からの信
号が基準レベルＶｓを下回ることになって（第２図ＩＩ
） 、 ’ｆｆ報器１ヰか作動してオペレータに点検
を促すことになる。
ガラスイオン電極２のコネクタ部がサンプル等により汚
染して絶縁インピーダンスが低下すると、前述のクラッ
クの場合と同様に電極間電位差検出回路１の入力インピ
ーダンスか低下することになるから、やはり警報を発す
ることになる。
染して絶縁インピーダンスが低下すると、前述のクラッ
クの場合と同様に電極間電位差検出回路１の入力インピ
ーダンスか低下することになるから、やはり警報を発す
ることになる。
第３図は、本発明の第２寅施例を示すもので、図中符号
２０は、判定回路で、直流カット用のコンデンサ１５を
介して電極間電位差検出回路１の入力端子に接続された
整流回路］］と、基準レベル設定器］２からの信号を比
較する比較回路１３から構成されている。
２０は、判定回路で、直流カット用のコンデンサ１５を
介して電極間電位差検出回路１の入力端子に接続された
整流回路］］と、基準レベル設定器］２からの信号を比
較する比較回路１３から構成されている。
この実施例にあいで、サンプルのイオン濃度に起因して
発生した信号は、コンデンサ８．１５により閉止される
から、交番信号発生回路６、及び判定回路９に流れ込む
ようなことにはならす、イオン濃度が指示計に表示され
ることになる。
発生した信号は、コンデンサ８．１５により閉止される
から、交番信号発生回路６、及び判定回路９に流れ込む
ようなことにはならす、イオン濃度が指示計に表示され
ることになる。
一方、ガラスイオン電極２にクラツウか発生したり、コ
ネクタ部に汚染か発生すると、ガラスイオン電極２と参
照電極３との間のインピーダンスか低下するから、交番
信号発生回路からの信号は、分圧されることになって、
判定回路９に入力する交番信号のレベルか低下する。こ
れにより、基準レベルＶｓ’を下回ることになって、警
報が発せられる。
ネクタ部に汚染か発生すると、ガラスイオン電極２と参
照電極３との間のインピーダンスか低下するから、交番
信号発生回路からの信号は、分圧されることになって、
判定回路９に入力する交番信号のレベルか低下する。こ
れにより、基準レベルＶｓ’を下回ることになって、警
報が発せられる。
なあ、上述の実施例においでは、交番信号を直流に変換
してレベルの判定を行なっているが、ピーク値を検出す
るようにしても同様の作用を奏することは明らかである
。
してレベルの判定を行なっているが、ピーク値を検出す
るようにしても同様の作用を奏することは明らかである
。
（９ｊＪ果）
以上、説明したように本発明によれば、参照電極とガラ
スイオン電極との間に交番信号を印加し、これのレベル
を検出するようにしたので、イオンＪ度の測定動作に影
響を与えることなく、ガラスイオン電極自体の状態やコ
ネクタ部の絶縁抵抗を常時モニタして異常を迅速に発見
することができて、測定結果の信頼性を向上させること
ができる。
スイオン電極との間に交番信号を印加し、これのレベル
を検出するようにしたので、イオンＪ度の測定動作に影
響を与えることなく、ガラスイオン電極自体の状態やコ
ネクタ部の絶縁抵抗を常時モニタして異常を迅速に発見
することができて、測定結果の信頼性を向上させること
ができる。
第１図は本発明の一実施例を示す装置の構成図、第２図
は同上装置の動作を示す説明図、及び第３図は本発明の
他の実施例を示す構成図である。 １・・・・電極間電位差検出回路 ２ ・・・・ガラスイオン電極
は同上装置の動作を示す説明図、及び第３図は本発明の
他の実施例を示す構成図である。 １・・・・電極間電位差検出回路 ２ ・・・・ガラスイオン電極
Claims (1)
- 参照電極とガラスイオン電極からの信号を受ける電極間
電位差検出回路の入力端子側に、直流カット用コンデン
サを介して交番信号発生手段を接続するとともに、前記
電極間電位差検出回路に印加される交番信号レベルを検
出するようにしてなるイオン濃度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63071665A JPH01242958A (ja) | 1988-03-24 | 1988-03-24 | イオン濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63071665A JPH01242958A (ja) | 1988-03-24 | 1988-03-24 | イオン濃度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01242958A true JPH01242958A (ja) | 1989-09-27 |
Family
ID=13467124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63071665A Pending JPH01242958A (ja) | 1988-03-24 | 1988-03-24 | イオン濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01242958A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6123818A (en) * | 1996-10-29 | 2000-09-26 | Zellweger Analytics Ltd. | Gas detecting apparatus having condition monitoring means |
| JP2009092414A (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-30 | Japan Organo Co Ltd | イオン濃度測定装置 |
-
1988
- 1988-03-24 JP JP63071665A patent/JPH01242958A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6123818A (en) * | 1996-10-29 | 2000-09-26 | Zellweger Analytics Ltd. | Gas detecting apparatus having condition monitoring means |
| US6251243B1 (en) * | 1996-10-29 | 2001-06-26 | Zellweger Analytics Ltd. | Gas detecting apparatus having condition monitoring means |
| JP2009092414A (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-30 | Japan Organo Co Ltd | イオン濃度測定装置 |
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