JPH01245577A - スイッチング素子 - Google Patents

スイッチング素子

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JPH01245577A
JPH01245577A JP63071762A JP7176288A JPH01245577A JP H01245577 A JPH01245577 A JP H01245577A JP 63071762 A JP63071762 A JP 63071762A JP 7176288 A JP7176288 A JP 7176288A JP H01245577 A JPH01245577 A JP H01245577A
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poly
organic
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JP63071762A
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English (en)
Inventor
Takeshi Eguchi
健 江口
Harunori Kawada
河田 春紀
Kunihiro Sakai
酒井 邦裕
Hiroshi Matsuda
宏 松田
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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  • Polyoxymethylene Polymers And Polymers With Carbon-To-Carbon Bonds (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Polymers With Sulfur, Phosphorus Or Metals In The Main Chain (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、電極間に有機絶縁層を有する81M構造のス
イッチング素子に関する。
[従来の技術] 最近、有機分子の機能性を電子デバイスなどに応用しよ
うとする分子エレクトロニクスに対する関心が高まって
おり、分子電子デバイスの構築技術の一つとみられるラ
ングミュア−プロジェット膜(LB膜)についての研究
が活発化してきている。
LB膜は、有機分子を規則正しく1分子層ずつ積層した
もので、膜厚の制御を分子長の単位で行なうことができ
、−様で均質な超薄膜を形成できることから、これを素
子の絶縁層として使う多くの試みが行なわれている。
上記LB膜を用いた素子としては、例えば、金属・絶縁
体・金属(MIN)構造のトンネル接合素子[ジー・エ
ル・ラーキンス他(G1几arkinset al)’
l rエレクトロニクス・レターズ」(Electro
nics Letters)の「スイン・ソリッド・フ
ィルムズJ (Thin 5olid Films)第
99巻(1983年)]、金属・絶縁体・半導体(MI
S)構造の発光素子[ジー・ジー・ロへ−ツ他(G、G
、Robertset al)著rエレクトロニクス・
レターズ」(Electronics Letters
)第20@、489頁(1984年)]、ススイッチン
グ素子エヌ・ジェー・トーマス他(N、J、Thoma
s at al)著「エレクトロニクス°レターズJ 
(Electronics Letters)第20巻
、838頁(1984年)]等がある。
ところで、LH膜の素子絶縁層への利用は、従来、取扱
いが比較的容易な脂肪酸のLB膜を中心に進められてい
る。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、−1−記従来の一連の研究によって素子
特性の検討がなされた結果、未だ、素子ごとの特性のバ
ラツキ、経時変化など、再現性と安定性の欠如が、未解
決の問題として残されている。
本発明は、問題点に鑑みてなされたもので、再現性と安
定性に優れたスイッチング素子とすることを目的とする
[課題を解決するための手段及び作用1ところで、最近
では、これまで劣るとされていた耐熱性、機械強度に対
してもこれを克服した有機材料が次々に生まれている。
本発明者等は、これらの材料を用いたLH膜を素子の絶
縁層として用い、再現性と安定性に優れたMIXスイッ
チング素子とすべく鋭意研究の結果、絶縁層を、有機絶
縁体の周期的な層構造を有するものとすると、再現性と
安定性に優れ、メモリー機能を有するスイッチング素子
が得られることを見出した。加えて、このスイッチング
素子の再現性と安定性には、絶縁層のみならず、電極も
大きな影響を与えることを見出、し、本発明を完成した
ものである。
即ち、前記課題を解決するために、本発明では、一対の
電極間に設けられた有機絶縁層を、有機絶縁体の周期的
な層構造を有するものとし、かつ電極の少なくとも一方
を、有機導電体で形成するという手段を講じているもの
である。
本発明における有機絶縁層としては、電気的ポテンシャ
ルの周期構造を有する有機絶縁体中において、周期方向
と平行な方向に電流を流すことにより、従来公知のXI
に素子とは異なる非線型電流電圧特性が発現することを
期待し、かつその実現を図るために、比較的大きいπ(
パイ)準位をもつ群とσ(シグマ)電子準位をもつ群と
を有する分子の周期的な層構造を有することが好ましい
一般に有機材料のほとんどは絶縁性若しくは半絶縁性を
示すことから、本発明に於いて適用可能なπ電子準位を
もつ群を有する有機材料は著しく多岐にわたる。
本発明に好適なπ電子系を有する色素の構造としては例
えば、フタロシアニン、テトラフェニルポルフィン等の
ポルフィリン骨格を有する色素、スクアリリウム基及び
クロコニックメチン基を結合鎖としてもつアズレン系色
素及びキノリン、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾー
ル等の2ケの含窒素複素環をスクアリリウム基及びクロ
コニックメチン基により結合したシアニン系類似の色素
、またほシアニン色素、アントラセン及びピレン等の縮
合多環芳香族、及び芳香環及び複素環化合物が重合した
鎖状化合物及びジアセチレン基の重合体、さらにはテト
ラキノジメタンまたほテトラチアフルバレンの誘導体お
よびその類縁体およびその電荷移動錯体また更にはフェ
ロセン、トリスビピリジンルテニウム錯体等の金属錯体
化合物が挙げられる。
有機絶縁層の形成に関しては、具体的には蒸着法やクラ
スターイオンビーム法等の適用も可能であるが、制御性
、容易性そして再現性から公知の従来技術の中ではLB
法が極めて好適である。
このLB法によれば、1分子中に疎水性部位と親木性部
位とを有する有機化合物の単分子膜またほその累積膜を
基板上に容易に形成することができ、分子オーダの厚み
を有し、かつ大面植にわたって均一、均質な有機超薄膜
を安定に供給することができる。
LB法は、分子内に親水性部位と疎水性部位とを有する
構造の分子において、両者のバランス(両親媒性のバラ
ンス)が適度に保たれている時、分子は水面上で親木性
基を下に向けて単分子の層になることを利用して単分子
膜またほその累積膜を作成する方法である。
疎水性部位を構成する基としては、一般に広く知られて
いる飽和及び不飽和炭化水素基や縮合多環芳香族基及び
鎖状多環フェニル基等の各種疎水基が挙げられる。これ
らは、各々単独又はその複数が組み合わされて疎水性部
分を構成する。−方、親水性部分の構成要素として最も
代表的なものは、例えばカルボキシル基、エステル基、
酸アミド基、イミド基、ヒドロキシル基、更にはアミノ
基(1,2,3級及び4級)等の親木性基等が挙げられ
る。これらも各々単独又はその複数が組み合わされて上
記分子の親水性部分を構成する。
これらの疎水性基と親水性基をバランス良く併有し、か
つ適度な大きさをもつπ電子系を有する色素分子であれ
ば、水面上で単分子膜を形成することが可能であり1本
発明に対して極めて好適な材料となる。
具体例としては、例えば下記の如き分子等が挙げられる
[I] クロコニックメチン色素 4)         。e 5)          oe 6)         oe ここでR1は前述のσ電子KG位をもつ群に相当するも
ので、しかも水面上で単分子膜を形成しやすくするため
に導入された長鎖アルキル基で、その炭素数nは5≦n
≦30が好適である。以上具体例として挙げた化合物は
基本構造のみであり、以下に挙げるような、これら化合
物の種々な置換体も本発明に於いて好適であることは言
うにおよばない。
[II ]スクアリリウム色素 [I]で挙げた化合物のクロコニックメチン基を下記の
構造をもつクスアリリウム基でおきかえた化合物。
[I[I]ポルフィリン系色素化合物 −0−C:R2−C−Gu3.−0(58目、 −CC
CHlh 。
Gu3 −CH2NHC:3 R7 M = R2、Gu、 Xi、 Aj!−CI!及び希
土類金属イオン R= OC:H(GOOH)CnH2n4+   5 
< n < 25M= R2、Gu、旧、 Zn、 A
P−C;I!及び 希土類金属イオン R=CnH2n−15< n <25 M = H2,Cu、Ni、Zn、PR−CI!及び 
希土類金属イオン Rは中分子膜を形成しやすくするために導入されたもの
で、ここで挙げた置換基にかぎるものではない。又、 
R1〜RA、Rは前述したσ電子準位をもつ群に相当し
ている。
[TV] li!合多環芳香族化合物 (CH2)2 OOH [V]ジアセチレン化合物 CH:+fCH2?C=C−C=CイCH2’ti X
O< n 、 m<20 但しn+m>10 Xは親木基で一般的には一〇〇〇〇が用いられるが−O
H,−GONH2等も使用できる。
[VI]その他 Quinquethienyl 尚、上記以外でもLB法に適している色素材料であれば
1本発明に好適なのは言うまでもない。例えば近年研究
が盛んになりつつある生体材料(例えばバクプリオロト
プシンやチトクロームC)や合成ポリペプチド(PBL
Gなと)等も適用が可能である。係る両親媒性の分子は
、水面上で親木基を下に向けて単分子の層を形成する。
このとき、水面上の単分子層は二次元系の特徴を有し、
分子がまばらに散開しているときは、一分子当り面積A
と表面圧πとの間に二次元理想気体の式、π A=kT が成り立ち、゛気体膜”となる。ここに、kはポルツマ
ン定数、Tは絶対温度である。Aを十分小さくすれば分
子間相互作用が強まり、二次元固体の“凝縮It!、!
 (またほ固体l1l)”になる。凝縮膜はガラスや樹
脂の如き種々の材質や形状を有する任意の物体の表面へ
一層ずつ移すことができる。この方法を用いて、単分子
膜またほその累積膜を形成し、これを本発明が示すスイ
ッチング素子用の周期的な層構造を有する絶縁層として
使用することができる。
具体的な製法としては、例えば以下に示す方法を挙げる
ことができる。
所望の有機化合物を、例えばクロロホルム、ベンゼン、
アセトニトリル等の溶剤にnmさせる。
次に添付図面の第1図に示す如き適当な装置を用いて、
係る溶液を水相l上に展開させて有機化合物を膜状に形
成させる。
次に、この展開層が水相上を自由に拡散して広がりすぎ
ないように、仕切板(またほ浮子)3を設け、展開面積
を制限して膜物質の集合状態を制御し、その集合状態に
比例した表面圧πを得る。
この仕切板3を動かし、展開面積を縮小して膜物質の集
合状態を制御し、表面圧を徐々にL昇させ、膜の製造に
適する表面圧πを設定することができるにの表面圧を維
持しながら、静かに清浄な基板2を垂直に−に昇又は下
降させることにより有機化合物の単分子膜4が基板2上
に移し取られる。このような単分子膜4は第2a図また
ほ第2b図に模式的に示す如く分子が秩序正しく配列し
た膜である。
単分子膜4は以上で製造されるが、前記の操作を繰り返
すことにより所望の累積数の累積膜5(第3a図〜第3
c図参照)が形成される。単分子膜4を基板上に移すに
は、上述した垂直浸漬法の他、水平付着法7回転円筒法
等の方法でも可能である。
水平付着法は、基板2を水面に水平に接触させて単分子
膜を移し取る方法であり、回転円筒法は円筒形の基板2
を水面上を回転させて単分子膜4を基板表面に移し取る
方法である。
前述した垂直浸漬法では、表面が親水性である基板2を
水面を横切る方向に水中から引き上げると有機化合物の
親木性基6が基板2側に向いた有機化合物の単分子膜4
が基板2上に形成される(第2b図)、前述のように基
板2を上下させると、各行程ごとに一枚ずつ単分子膜4
が積み重なって累積It! 5が形成される。成膜分子
の向きが引上行程と浸漬行程で逆になるので、この方法
によると単分子膜4の各層間は有機化合物の疎水性基7
と疎水性基7が向かいあうY型膜が形成される(第3a
図)。これに対し、水平付着法は有機化合物の疎水性基
7が基板2側に向いた単分子膜4が基板2上に形成され
る(第2a図)。この方法では、単分子nり4を累積し
ても、d!、Il@分子の向きの交代はなく全ての層に
おいて、疎水性基7が基板2側に向いたX型膜が形成さ
れる(第3b図)。反対に全ての層において親木性基6
が基板2側に向いた累積膜5はX型膜と呼ばれる(第3
cl’;?)。
単分子11々4を基板2」二に移す方法は、上記方法に
限定されるわけではなく、大面積基板を用いる時には、
ロールから水相l中に基板2を押し出していく方法など
も採り得る。また、前述した親木性基6および疎水性基
7の基板2への向きは原則であり、ノ、(板2の表面処
理等によって変えることもできる。
以」二の如くして有機化合物の単分子膜4またほその累
積lll5からなるポテンシャル障壁層が基板2上に形
成される。
本発明において、上記の如き有機材料が積層された薄膜
を支持するための基板2は、金属、ガラス、セラミック
ス、プラスチックス材料等いずれの材料でもよく、更に
耐熱性の著しく低い生体材料も使用できる。
上記の如き基板2は、任意の形状でよく平板状であるの
が好ましいが、平板に何ら限定されない。すなわち前記
LB法においては、基板2の表面がいかなる形状であっ
ても、その形状通りに膜を形成し得る利点を有するから
である。
またLB法によれば分子オーダーで絶縁層の層厚を自由
に制御できるが1本発明に於いては数A〜数1000A
の層厚のものにスイ・ンチング特性が発現されており、
スイッチング特性上好ましくは10A〜100OAの範
囲の層厚をもつものが良い。
一方、係るLB膜を挟持する電極の材料も高い伝導性を
有するものであれば良いが、素子特性の向上を図るべく
電極の材料に関して鋭意研究を重ねた結果、有機導電体
膜を用いると、得られる素子のスイッチング特性の再現
性と安定性がfll著に改善されることを見い出した。
本発明に係るMIXスイッチング素子の電極材料として
用いられる有機導電体としては、例えば、少なくとも4
つ以上の二重結合部が共役したπ電子共役構造を骨格に
含む重合体が挙げられ、具体的にはポリアセチレンおよ
びその誘導体、ポリジアセチレンおよびその誘導体、ポ
リパラフェニレン、ポリメタフェニレン、ポリパラフェ
ニレンビニレン、ポリパラフェニレンキシリデン、ポリ
ベンジル、ポリパラフェニレンサルファイド、ポリジメ
チルパラフェニレンサルファイド、ポリチェニレン、ポ
リフラン、ポリセレノフェン、ポリ−2=ビニルピリジ
ン、ポリ−1−ビニルナフタレン、ポリ−2−ビニルナ
フタレン、ポリ−ビニルフェロセン、ポリ−N−ビニル
カルバゾール フェニレンオギシドおよびその誘導体、ポリパラフェニ
レンセレニド、ポリ−1.6−へブタジイン、ポリベン
ゾチオフェン、ポリチオフェン、ポリピロールおよびそ
の誘導体、ポリアニリンおよびその誘導体、ポリナフチ
レンの少なくとも一種の骨格を含む重合体等を挙げるこ
とができる。
これらの高分子は、ハロゲンやルイス酸を添加すること
により、lO−3〜103/Ω・C11の導電率を示し
、しかもそのイオン化エネルギーが5〜6.5eVと大
きい値をもつことから、正孔注入電極材料として適して
いる.これらの電極材料は蒸着法,スパッタ法或いはプ
ラズマ重合法.電解重合法等を用いて電極として形成す
ることができる。
また、前記の如き単分子膜またほ単分子累積膜を形成す
ることのできる、特開昭60−246357に開示され
であるような電荷移動錯体等も好適に電極材ネ゛1とし
て用いることができる。
このような電荷移動錯体を具体的に示せば、導電性部位
として,例えばテトラシアノキシメタン(TGNQ)ま
たほその誘導体[例えばl’l,11,12.12−テ
トラシアノ−2,6−ナツタキノジメタン(TMAP)
] もしくはその類縁体、更にはテトラチアフルバレン
(TTF)またほその置換誘導体、更にはテトラチアテ
トラセン(TTT)またほその類縁体などを有するもの
が挙げられる。中でも絶縁性且つ疎水性部位としてアル
キル基、アリール基,アルキルアリール基等の疎水性炭
化水素基を有し、導電性且つ親木性部位として第四級ア
ンモニウム基とテトラシアノキシメタンとの錯体構造を
有する電荷移動錯体が好適なものとして挙げられる。
上記電荷移動錯体として好ましい化合物は下記一般式C
I)で表わされる。
れる。
[^] [TCNQ]nX@      ・( I )
例えば、下記の化合物が挙げられる。
RR RR (11)R−Nの(R1)3・ (TCNQ)n上記(
1)〜(11)におけるRは、絶縁性且つ疎水性部位で
あり、アルキル基、アリール基またほアルキルアリール
基であり、好ましいものは炭素数5〜30のアルキル基
であり、Iiつアルキル基はその鎖中に1個以上の二重
結合や三重結合等の重合性部位を含有してもよい、R1
は低級アルキル基であり、nは1,2.3またほ4.q
は0.1またほ2、mは0またほlであり、Xはハロゲ
ン等のアニオン基であり、Yは酸素原子またほ硫黄原子
である。
またTGNQは下記式で表わされる化合物である。
上記式中のa−bの位置にはアルキル基、アルケニル基
、ハロゲン原子、水素等の任意の置換基を有し得るもの
であり、a−dに位置する置換基は同一のちのでもよい
し、異なっていてもよい。
更には前記式(I)に挙げた化合物の他、式(I)の7
11;NQを下記式(TI)にて示される11.1+。
12.12−テトラシアノ−2,6−ナツタキノジメタ
ンとした化合物や、下記式(III)にて示される化合
物等も好適なものとして挙げられる。
上記式(III)におけるDは、下記に例示するような
デトラチアフルバレンまたほその誘導体もしくは類縁体
を表わし、nは12〜30である。
Dの例としては、以下のようなものを挙げることができ
る。
尚、前記以外でも、高い導電性を有する有機材料であれ
ば、本発明に好適なのは言うまでもない。例えば、フタ
ロシアニン金属錯体およびその誘導体を用いて作られる
導電性薄膜媒体等も適用が可能である。
[実施例] 以下実施例により詳細な説明を行なう。
実施例1 成膜分子は2種とし、その一方を絶縁性を有するヌクア
リリニウム−6−オクチルアズレン(SOAZ)として
、該分子の0.2o+g/mρ儂度のクロロホルム溶液
をまず調整した。これとは別に、もう一方の成膜分子と
して、導電性を有するオクタデシル・T(JQ−テトラ
メチルテトラチアフルバレン(0[ITC:NQ−TM
TTF)を用い、該分子のl mg/mA’ Ia度の
ベンゼン−アセトニトリル(1: l)溶液をA整した
これら分子を純水(水温20℃)」二に展開し、ストラ
イプパターンの配線を第4図に例示の方法に準じて次の
ように作成した。
最初に、5OAZ溶液を、スポイ)12で滴下して純水
の液面9に展開しく第4a図参照)、溶媒を蒸発除去後
、移動障壁8を移動させ、表面圧を表面圧センサーlO
で測定しながら20mN/sまで高めて5OAZの単分
子膜aを5層幅に形成した(第4b図参照)。
次いで、移動障壁8に隣接するように固定障壁11を配
した。そして、移動障壁8を初期位置まで移動させた後
、 ODTCNQ−TMTTFを上記5OAZの単分子
nりと移動障壁8の間の液面9に展開した(第4d図参
照)。溶媒を蒸発除去後、移動障壁8を移動させ1表面
圧を表面圧センサーlOで測定しながら20mN/mま
で高めて上記5OAZの単分子膜に隣接した状態で、O
DTCNQ−TMTTFの単分子膜すを1層幅に液面に
形成した(第4e図参照)。
以後間様な操作を繰り返し行ない、液面9上に第4f図
の如きストライプ状のパターンを得た。
次に、ヘキサメチルジシラザン(HMDS)の飽和蒸気
中に一昼夜放置して疎水処理した20X 21)amの
ガラス基板(コーニング社製117059)を速度5 
rats/secで液面9を横切るように5往復させて
該液面9上のパターンを移しとることにより、ODTC
NQ−TMTTFを導電層とするストライプ状の電極パ
ターンを基板上に得た。こうして得られた電極パターン
は、膜の損傷もなく、導電性にも優れたものであった。
5OAZを濃度0.2mg/a+jl!で溶かしたクロ
ロホルム溶液を、同じく水温20°Cの純水上に展開し
、水面上に単分子膜を形成した。溶媒の蒸発除去を待っ
て、係る単分子膜の表面圧を20mN/mまで高め、更
にこれを一定に保ちながら電極パターンを形成した前記
基板を水面を横切る方向に速度5■/分で静かに浸漬し
た後、続いて511Il/分で静かに引き上げ、2層の
Y型単分子膜の累積を行なった。係る操作を通出回数繰
り返することによって、前記基板上に2 、4 、8 
、12.20.30.40.80層の8種類の累積膜を
形成した。
次に、係る膜面上に、下地電極と直交するように、幅1
m厘のストライプ状のODTCNQ−TMTTF電極(
層数10層)を、前記したのと全く同様の方法を用いて
作成し、上部電極とした。
以上の様にして作成した試料の上下電極間に電圧を印加
したときの電流特性(v■特性)を測定した。その結果
、その他の試料ではこれまで知られていないメモリー性
のスイッチング特性を観測した(第5図)。加えて、第
6図に示すような安定なON状態(抵抗値数十Ω)とO
FF状態(抵抗値MΩ以上)をつくることができ、ON
→OFFへのスイッチングは一定のシキイ値電圧(1〜
2v程度720層)を示し、OFF→ONへのスイッチ
ングは一2〜5v程度でおこり、スイッチング速度はl
 μsec以下で0N10FF比(ON状態とOFF状
態の抵抗値の比)が5桁以上であった。また、スイッチ
ングの繰返し特性は、104回以上あり、スイッチング
特性の安定性および再現性が向上した6更に、この特性
は、1ケ月以上一定に保たれた。
スイッチングのシキイ値電圧は絶縁層の層数が増すと高
くなる傾向を示した。
その結果、2層試料ではスイッチング特性は不安定で、
また80層試料ではOFF→ONのスイッチングがおこ
りにくいが、なお5OAZ色素1層あたりの厚さは小角
X線回折法から求めた値は約15Aであった。
実施例2 実施例1同様にして作成した0DTCNQ−TにTTF
の1III1幅のストライプ電極を有する基板を相体と
して、LB法により、ルテチウム・シフタロジアニン[
LuH(Pc)2]の単分子膜の累積を行なった。
まず、LuH(Pc)2を濃度0.5mg/si!で溶
かした溶液(溶媒:クロロホルムとトリメチルベンゼン
とアセトンの1:l:2の混合液)を、水温20℃で、
前記基板をあらかじめ浸漬しである純水上に展開し、水
面上に単分子膜を形成した。溶媒の蒸発除去を待って係
る単分子膜の表面圧を20mN/mまで高め、更にこれ
を一定に保ちながら、前記基板を水面を横切る方向に速
度3 ram/分で静かに浸漬し、続いて同じ3 ta
ya1分の速度で静かに水面を横切るように引き上げ、
2層のY型膜を形成した。この操作を繰り返し行なう事
により、0DTGNI;l−TMTTF’i極上に10
層、20層、30層の累m膜を形成した。次に係る膜面
上に下部電極と直交する様に@1 amのストライプ状
の電極を実施例1と同様にして形成し、試料を作成した
以上の様に作成した試料について、実施例1と同様にし
てVI特性を測定した結果、作成したすべての試料にお
いてメモリー性のスイッチング特性を観測した。
ON状態の抵抗イ4は数十Ωで実施例1と同程度であり
、OFF状態の抵抗値は実施例1の場合と比べ1桁程度
小さいが、4桁程度の0N10FF比は得られている。
また、繰返し特性も104回以上あり、更に1ケ月以上
スイッチング特性が一定に保たれ、安定性および再現性
の向上が図られた。
OFF状態の抵抗値が小さくなるのは、LuH(Pc)
2が半導体的性質を有しているためと考えられる。
また、スイッチング速度は0.1psecであった。
また、使用する有機色素によりそのVl特性はわずかに
変化し、電極とのコンタクトに起因するものではなく絶
縁層の性質を反映している。
実施例3 HMDSの飽和蒸気中に一昼夜放置して疎水処理したガ
ラス基板を真空基若装置の基板ホルダに取付け、またこ
の装置のタングステン製ポートにポリパラフェニレンサ
ルファイド(以下pps)粉末としてライドンV−1(
フィリップス社製) 50+sgを入れた後、真空槽を
3 X 1O−6torrまで排気した。
次に、タングステンポートを通電加熱して180°Cに
保った。ポート温度が180°Cに達した後、5分経過
後、基板の直下に設置したシャッタを2分間開き、蒸着
を行った。この時、1mm幅のストライプ状のマスクを
用いることにより、1m+s幅の電極を形成した。膜厚
を触針法を用いて測定したところ、380人であった。
この膜を、0.1気圧のへSFs中で熱処理を行い、下
部電極とした。
上記電極上に、実施例1と同様な方法を用いて、5OA
212層およびODTCNQ−TMTTFのストライプ
状電極810層を順次積層し、スイッチング素子を作成
した。
実施例1と同様にしてVl特性を測定した結果、メモリ
ー性のスイッチング特性をinした。
0N10FF比は5桁あり、このスイッチング特性は1
ケ月以上一定に保たれ、安定性の向上が図られた。
実施例4 実施例3と同様にして、疎水処理をしたガラス基板上に
、下引き層としてCrを真空蒸着法により厚さ30A堆
積させ、更にAuを同法により蒸着(11!厚150 
A) L、幅1m曹のストライプ状の電極を形成した。
次に、アニリン3gをI N H2SO4溶液300s
j7に溶かし、1時間の間、N2ガスをバブルした電解
液に前記ガラス電極基板をひたし、ptを対陰極として
電解重合して、 Au電極上にポリアニリンの電解重合
膜を薄く形成して、下部電極とした。電解は100pA
の定電流で5分行った。
このようにして作成した下部電極上に、実施例1と同様
にして、5OA212層および0DTC:NQ−TMT
TFのストライブ電極膜を10層、順次積層して、スイ
ッチング素子を作成し、その電気特性を評価した。その
結果、同じくメモリー性を有するスイッチング特性が観
測され、 0N10FF比も同じく5桁あり、安定性も
同じように向上した。
実施例5 実施例2と同様にして、ガラス基板上に0DTCNQ・
TNTTFのストライプ状電極膜(10層)を形成し、
更に該電極上にLuH(Pc)2の12層のLB膜を実
施例2と同様にして積層した。
また、実施例3と同様にして、PPSの300Aの薄膜
を蒸着法を用いて上記基板上に積層した。
次に、PPS膜上に、S i02をEB蒸着装置を用い
て、1Ill1幅のラインとスペース状に、3000A
ノIl’!厚に蒸着した。
このように作成した基板を、0.1気圧のAgF2中で
熱処理して、1+s■幅のPPS上部電極を形成した。
Vl特性を測定した結果、実施例2と同様に、メモリー
性を有するスイッチング特性を観察できた。0N10F
F比は約4桁あり、この特性は1ケ月以」二も一定に保
たれ、安定で再現性のあるスイッチング特性を他の実施
例と同様に示した。
実施例6〜9 第1表に示した材料およびr&成膜法用いて、有機電極
を有するMIMスインチング素子を作成した。表中O印
で示した様に、すべての素子においてメモリー性を有す
るスイッチング特性が認められ、いずれも4桁以上の0
N10FF比を示し、良好なスイッチング特性を示した
。更に、その特性は1ケ月以−L安定に再現性よく保た
れ、素子性能の向上が認められた。
(以下余白) 以上述べてきた実施例中では、色素絶縁層の形成にLB
法を使用してきたが、極めて薄く均一な絶縁性の有機薄
膜が作成できる成膜法であればLB法に限らず使用可能
である。具体的には、真空蒸着法やクラスターイオンビ
ーム法、CVD法等が挙げられ、使用可f@な有機材料
の範囲が広がる。また、電極の形成に関しても同様であ
り、均一な薄膜を作成しうる成膜法であれば使用可能で
あり、基板材料やその形状も本発明は何ら限定するもの
ではない。
[発明の効果] ■有機導電材料を用いて電極を形成することにより、電
極と有機絶縁体との界面の整合性が良くなり、絶縁膜の
成膜性が向上し、再現性のある特性が得られるようにな
る。その結果、素子特性の再現性および安定性が向上す
る。
■上部金属電極の蒸着等に比べ、上部電極成膜時の有機
絶縁膜のダメージが少く、素子特性が向上する。
■界面でのハンド構造等の設計の自由度が向」−し、素
子特性の改良、向上の道がひらける。
■特に請求項第2項ないし第4項のスイッチング素子に
よれば、有機絶縁層自体も素子特性の再現性および安定
性に優れているので、これが有機導電材料の電極と相俟
って、素子特性の再現性および安定性を一層向上させる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の素子をLB法によって形成する方法を
図解的に示す説明図、第2a図及び第2b図は各々単分
子膜の模式図、第3a図、第3b図及び第3c図は各々
累積膜の模式図、第4a図乃至第4f図はそれぞれ本発
明の素子をLB法によって形成する場合の操作の手順の
説明図、第5図は本発明のスイッチング素子に於いて得
られた電気的特性(v■特性)を示す特性図、第6図は
係る素子に於いて確認されたON状態及びOFF状態の
電気的特性図である。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一対の電極間に設けられた有機絶縁層が、有機絶
    縁体の周期的な層構造を有し、かつ該電極の少なくとも
    一方が有機導電体で形成されていることを特徴とするス
    イッチング素子。
  2. (2)有機絶縁体が、π電子準位をもつ群とσ電子準位
    のみをもつ群とを有することを特徴とする請求項第1項
    記載のスイッチング素子。
  3. (3)有機導電体が、テトラシアノキノジメタン、テト
    ラシアノキノジメタンの誘導体もしくは類縁体、テトラ
    チアフルバレン、テトラチアフルバレンの置換誘導体、
    テトラチアテトラセンまたほテトラチアテトラセンの類
    縁体の少なくとも1つを含む電荷移動錯体であることを
    特徴とする請求項第1項記載のスイッチング素子。
  4. (4)前記有機導電体が少なくとも4つ以上の二重結合
    部が共役したπ電子共役構造を骨格に含む重合体である
    請求項1記載のスイッチング素子。
  5. (5)有機導電体が、ポリアセチレンおよびその誘導体
    、ポリジアセチレンおよびその誘導体、ポリパラフェニ
    レン、ポリメタフェニレン、ポリパラフェニレンビニレ
    ン、ポリパラフェニレンキシリデン、ポリベンジル、ポ
    リパラフェニレンサルファイド、ポリジメチルパラフェ
    ニレンサルファイド、ポリチエニレン、ポリフラン、ポ
    リセレノフェン、ポリ−2−ビニルピリジン、ポリ−1
    −ビニルナフタレン、ポリ−2−ビニルナフタレン、ポ
    リ−ビニルフェロセン、ポリ−N−ビニルカルバゾール
    、ポリ−パラフェニレンオキシドおよびその誘導体、ポ
    リパラフェニレンセレニド、ポリ−1.6−ヘプタジイ
    ン、ポリベンゾチオフェン、ポリチオフェン、ポリピロ
    ールおよびその誘導体、ポリアニリンおよびその誘導体
    、ポリナフチレンの少なくとも一種の骨格を含む重合体
    であることを特徴とする請求項第1項記載のスイッチン
    グ素子。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007531308A (ja) * 2004-04-02 2007-11-01 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド メモリエレメント配列を相互に接続するポリマー誘電体

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JP2007531308A (ja) * 2004-04-02 2007-11-01 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド メモリエレメント配列を相互に接続するポリマー誘電体

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