JPH01254148A - Ｘ線ｃｔスキヤナ - Google Patents
Ｘ線ｃｔスキヤナInfo
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- JPH01254148A JPH01254148A JP63081665A JP8166588A JPH01254148A JP H01254148 A JPH01254148 A JP H01254148A JP 63081665 A JP63081665 A JP 63081665A JP 8166588 A JP8166588 A JP 8166588A JP H01254148 A JPH01254148 A JP H01254148A
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- JP
- Japan
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- ray
- subject
- slice
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、被検体（通常は患者）のＸ線投影データを収
集するＸ線スキャナに関する。
集するＸ線スキャナに関する。
（従来の技術）
Ｘ線ＣＴスキャナは、第６図に示すように、偏平な扇状
の拡がり角θを有するファンビームＸ線（以下「Ｘ線」
と称する）１を曝射するＸ線管２と、このＸ線１を検出
する放射線検出器（以下「検出器」と称する）３とを、
被検体Ｐを挟んで対向させ、かつこれらＸ線管２及び検
出器３を、前記被検体Ｐを中心に互いに同方向に同一角
速度で回転移動させて、被検体断面上の種々の方向につ
いてのＸ線投影データを収集し、十分なデータを収集し
た侵、このデータを解析し被検体断面の個々の位置に対
応するＸ線吸収率を算出して、その吸収率に応じた階調
度を与えて前記被検体断面における画像情報を再構成す
るようにしたものである。被検体Ｐは寝台天板４上に載
置されており、マルチスライスを行う場合には、寝台天
板４を被検体Ｐの体軸方向に移動する。すなわち、第７
図に示すように、寝台天板４を矢印５又は６方向に微少
量づつ間欠移動させ、移動停止期間中に１スライス分の
Ｘ線投影データを収集する。
の拡がり角θを有するファンビームＸ線（以下「Ｘ線」
と称する）１を曝射するＸ線管２と、このＸ線１を検出
する放射線検出器（以下「検出器」と称する）３とを、
被検体Ｐを挟んで対向させ、かつこれらＸ線管２及び検
出器３を、前記被検体Ｐを中心に互いに同方向に同一角
速度で回転移動させて、被検体断面上の種々の方向につ
いてのＸ線投影データを収集し、十分なデータを収集し
た侵、このデータを解析し被検体断面の個々の位置に対
応するＸ線吸収率を算出して、その吸収率に応じた階調
度を与えて前記被検体断面における画像情報を再構成す
るようにしたものである。被検体Ｐは寝台天板４上に載
置されており、マルチスライスを行う場合には、寝台天
板４を被検体Ｐの体軸方向に移動する。すなわち、第７
図に示すように、寝台天板４を矢印５又は６方向に微少
量づつ間欠移動させ、移動停止期間中に１スライス分の
Ｘ線投影データを収集する。
（発明が解決しようとする課題）
ところで、Ｘ線ＣＴスキャナにおいては、連続スキャン
を可能とするために、架台静止系と回転系との間の信号
伝達及び電力伝達をスリップリングにより行うようにし
ている。
を可能とするために、架台静止系と回転系との間の信号
伝達及び電力伝達をスリップリングにより行うようにし
ている。
しかしながら、従来のＸ線ＣＴスキャナにおいては、ス
ライス位置の変更毎に寝台天板４を微少醋づつ移動しな
ければならず、この移動に要する時間のために、複数ス
ライス分のＸ線投影データの収集に要する時間の短縮が
困難になっている。
ライス位置の変更毎に寝台天板４を微少醋づつ移動しな
ければならず、この移動に要する時間のために、複数ス
ライス分のＸ線投影データの収集に要する時間の短縮が
困難になっている。
そこで、本発明は上記の欠点を除去するもので、その目
的とするところは、複数スライス分のＸ線投影データの
収集に要する時間の短縮を図ったＸ線ＣＴスキャナを提
供することにある。
的とするところは、複数スライス分のＸ線投影データの
収集に要する時間の短縮を図ったＸ線ＣＴスキャナを提
供することにある。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
本発明は、被検体の複数スライス分のＸ線投影データを
得るＸ線ＣＴスキャナにおいて、スライス方向に所定の
間隔を有して複数のＸ線焦点を形成し、各Ｘ線焦点毎に
被検体に向けてＸ線を曝射し得るＸＩ！管を備えたもの
である。
得るＸ線ＣＴスキャナにおいて、スライス方向に所定の
間隔を有して複数のＸ線焦点を形成し、各Ｘ線焦点毎に
被検体に向けてＸ線を曝射し得るＸＩ！管を備えたもの
である。
（作 用）
前記Ｘ線管の各Ｘ線焦点より曝射されるＸ線は、スライ
方向に所定のずれを有する。このため、被検体を載置し
た寝台天板を移動しなくても、異なるスライスについて
のＸ線投影データを得ることができる。これにより、複
数スライス分のＸ線投影データの収集に要する時間の短
縮が可能になる。また、各Ｘ線焦点より曝射されるＸ線
毎にスライス方向のＸ線ビーム幅を決定するスリットを
設けることにより、スライス幅の適正化を図ることがで
きる。
方向に所定のずれを有する。このため、被検体を載置し
た寝台天板を移動しなくても、異なるスライスについて
のＸ線投影データを得ることができる。これにより、複
数スライス分のＸ線投影データの収集に要する時間の短
縮が可能になる。また、各Ｘ線焦点より曝射されるＸ線
毎にスライス方向のＸ線ビーム幅を決定するスリットを
設けることにより、スライス幅の適正化を図ることがで
きる。
（実施例）
以上、本発明を実施例により具体的に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示している。
８はＸ線管であり、このＸ線管８は、後に詳述するよう
に、スライス方向（被検体Ｐの体軸方向）に所定の間隔
を有して２つのＸ線焦点が形成され、各Ｘ線焦点より被
検体Ｐに向けてＸ線（ファンビームＸ線）が曝射される
ようになっている。このＸ線管８より曝射されたＸ線は
被検体Ｐを透過した債に検出器２０で検出される。Ｘ線
管８及び検出器２０は、架台のローテーションフレーム
（図示せず）上に配置されており、互いに同一回転方向
に同一角度速度で回転移動するようになっている。検出
器２０の後段にはデータ収集エレクトロニクス２１が配
置され、このデータ収集エレクトロニクス２１において
被検体ＰのＸ線投影データの収集が行われる。
に、スライス方向（被検体Ｐの体軸方向）に所定の間隔
を有して２つのＸ線焦点が形成され、各Ｘ線焦点より被
検体Ｐに向けてＸ線（ファンビームＸ線）が曝射される
ようになっている。このＸ線管８より曝射されたＸ線は
被検体Ｐを透過した債に検出器２０で検出される。Ｘ線
管８及び検出器２０は、架台のローテーションフレーム
（図示せず）上に配置されており、互いに同一回転方向
に同一角度速度で回転移動するようになっている。検出
器２０の後段にはデータ収集エレクトロニクス２１が配
置され、このデータ収集エレクトロニクス２１において
被検体ＰのＸ線投影データの収集が行われる。
データ収集エレクトロニクス２１は、架台のローテーシ
ョンフレーム上に載置され、検出器２０とともに回転移
動する。データ収集エレクトロニクス２１によるＸ線投
影データ収集結果はスリップリング（図示せず）を介し
てコンピュータシステム２２に伝達されるようになって
いる。しかしてこのコンピュータシステム２２において
、Ｘ線投影データに基づく画像再構成処理が行われ、こ
の処理によって形成されたスライス像が、後段に配置さ
れた画像表示装置２３において可視化されるようになっ
ている。
ョンフレーム上に載置され、検出器２０とともに回転移
動する。データ収集エレクトロニクス２１によるＸ線投
影データ収集結果はスリップリング（図示せず）を介し
てコンピュータシステム２２に伝達されるようになって
いる。しかしてこのコンピュータシステム２２において
、Ｘ線投影データに基づく画像再構成処理が行われ、こ
の処理によって形成されたスライス像が、後段に配置さ
れた画像表示装置２３において可視化されるようになっ
ている。
また、Ｘ線管８への高電圧印加及びフィラメント電流供
給はＸ線制御部１８によって行われる。
給はＸ線制御部１８によって行われる。
このＸ線制御部１８及び架台制御部（図示Ｕず）はシス
テム制御部１９の制御下にある。
テム制御部１９の制御下にある。
次に、Ｘ線管８の詳細な構成について説明する。
第２図は第１図におけるＸ線管８の拡大図、第３図は第
２図のターゲット部１２の平面図である。
２図のターゲット部１２の平面図である。
Ｘ線管８は、回転可能に支持された回転陽極子９と、こ
の回転陽極子９のターゲット部１２に対向するように配
置された第１．第２のフィラメント１０．１１とを有し
て成る。回転陽極子９は陽極軸１３を回転中心として回
転する。尚、回転駆動系は説明の便宜上省略している。
の回転陽極子９のターゲット部１２に対向するように配
置された第１．第２のフィラメント１０．１１とを有し
て成る。回転陽極子９は陽極軸１３を回転中心として回
転する。尚、回転駆動系は説明の便宜上省略している。
ターゲット部１２は段差部２６を有して傘状に形成され
ている。
ている。
第１図のＸ線制御部１８の制御下で第１．第２のフィラ
メントｉｏ、’＋ｉが加熱され、且つ、ターゲット部１
２と第１．第２のフィラメント１０゜１１との間に高電
圧（ターゲット部１２が正電位、第１．第２のフィラメ
ント１０．１１が負電位となる）が印加されると、第１
．第２のフィラメント１０．１１より放出された熱電子
がターゲット部１２に衝突し、この衝突位置よりＸ線が
発生する。この熱電子衝突位置がＸ線焦点となる。第１
゜第２のフィラメント１０．１１の配置位置が図面上で
上下方向にずれているため、第１のＸ線焦点１４と第２
のＸ線焦点１５とは、スライス方向に間隔１（Ｊｉ？５
ｍｍ＞だけずれている。Ｘ線暉射時に回転陽極子９が回
転するため、第１のＸ線焦点１４の軌道、及び第２のＸ
線焦点１５の軌道は第３図において２４及び２５で示す
ようにそれぞれ同心円状になる。
メントｉｏ、’＋ｉが加熱され、且つ、ターゲット部１
２と第１．第２のフィラメント１０゜１１との間に高電
圧（ターゲット部１２が正電位、第１．第２のフィラメ
ント１０．１１が負電位となる）が印加されると、第１
．第２のフィラメント１０．１１より放出された熱電子
がターゲット部１２に衝突し、この衝突位置よりＸ線が
発生する。この熱電子衝突位置がＸ線焦点となる。第１
゜第２のフィラメント１０．１１の配置位置が図面上で
上下方向にずれているため、第１のＸ線焦点１４と第２
のＸ線焦点１５とは、スライス方向に間隔１（Ｊｉ？５
ｍｍ＞だけずれている。Ｘ線暉射時に回転陽極子９が回
転するため、第１のＸ線焦点１４の軌道、及び第２のＸ
線焦点１５の軌道は第３図において２４及び２５で示す
ようにそれぞれ同心円状になる。
次に、上記構成の作用について説明する。
システム制御部１９の制罪下で、Ｘ線管８が駆動され、
被検体ＰのＸ線投影データ収集が行われる。
被検体ＰのＸ線投影データ収集が行われる。
本実施例においては、先ず、第１のフィラメント１０が
加熱され、これにより第１のＸ線焦点１４から曝射され
た第１のＸ線１６によって被検体ピの第１のスライス面
のＸ線投影データ収集が行われる。すなわち、Ｘ線管８
及び検出器２０の微小回転角度毎に第１のＸ線焦点１４
より第１のＸ線１６が被検体Ｐに向けて曝射され、曝射
されたＸ線１６の被検体透過成分が検出器２０によって
検出され、このＸ線検出出力に基づいてデータ収集エレ
クトロニクス２１によりＸ線投影データが収集される。
加熱され、これにより第１のＸ線焦点１４から曝射され
た第１のＸ線１６によって被検体ピの第１のスライス面
のＸ線投影データ収集が行われる。すなわち、Ｘ線管８
及び検出器２０の微小回転角度毎に第１のＸ線焦点１４
より第１のＸ線１６が被検体Ｐに向けて曝射され、曝射
されたＸ線１６の被検体透過成分が検出器２０によって
検出され、このＸ線検出出力に基づいてデータ収集エレ
クトロニクス２１によりＸ線投影データが収集される。
しかしてこのＸ線投影データに基づいてコンピュータシ
ステム２２により第１のスライス像が形成される。
ステム２２により第１のスライス像が形成される。
次に、第２のフィラメント１１が加熱され、これにより
第２のＸ線焦点１５から曝射された第２のＸ線１７によ
って被検体Ｐの第２のスライス面のＸ線投影データ収集
が行われる。第１．第２のＸ線焦点１４．１５がスライ
ス方向に１（λ→５ｍｍ）だけずれているため、第１．
第２のＸ線１６゜１７も同様にスライス方向に１だけず
れる。従って、第１．第２のフィラメント１０．１１の
加熱切換えにより、被検体Ｐを載置した寝台天板４を被
検体Ｐの体軸方向に移動させることなく第１゜第２のス
ライス面のＸ線投影データを連続して収集することがで
きる。
第２のＸ線焦点１５から曝射された第２のＸ線１７によ
って被検体Ｐの第２のスライス面のＸ線投影データ収集
が行われる。第１．第２のＸ線焦点１４．１５がスライ
ス方向に１（λ→５ｍｍ）だけずれているため、第１．
第２のＸ線１６゜１７も同様にスライス方向に１だけず
れる。従って、第１．第２のフィラメント１０．１１の
加熱切換えにより、被検体Ｐを載置した寝台天板４を被
検体Ｐの体軸方向に移動させることなく第１゜第２のス
ライス面のＸ線投影データを連続して収集することがで
きる。
このように本実施例においては、第１．第２のフィラメ
ント１０．１１の加熱切換えにより、寝台天板４を移動
さぜずに第１．第２のスライス面のＸ線投影データ収集
を連続して行うことができるので、Ｘ線投影データ収集
に要する時間が、従来のＸ線ＣＴスキャナの場合に比し
て短くなる。
ント１０．１１の加熱切換えにより、寝台天板４を移動
さぜずに第１．第２のスライス面のＸ線投影データ収集
を連続して行うことができるので、Ｘ線投影データ収集
に要する時間が、従来のＸ線ＣＴスキャナの場合に比し
て短くなる。
これによりスキャン時間の短縮が図れるため、互いに隣
接する２スライスを被検体の体動なしに撮影することが
できる。また、被検体に造影剤を注入してラピッドシー
ケンススキャンを行う場合でも、２スライス間の時間的
変化が少ないため、良好な造影像を得ることができる。
接する２スライスを被検体の体動なしに撮影することが
できる。また、被検体に造影剤を注入してラピッドシー
ケンススキャンを行う場合でも、２スライス間の時間的
変化が少ないため、良好な造影像を得ることができる。
寝台天板の移動を伴わずに連続スキャンが可能となるた
め、寝台天板移動に起因する体動を防止することができ
るし、スキャン時間の短縮により患者スループットの向
上も期待できる。
め、寝台天板移動に起因する体動を防止することができ
るし、スキャン時間の短縮により患者スループットの向
上も期待できる。
ざらに、Ｘ線管の能力は、短時間的には焦点軌道面の温
度上昇により制限されるが、本実施例におけるＸ線管８
では、焦点軌道が２種類となるため、温度上昇に起因す
る能力制限が緩和されるという利点がある。
度上昇により制限されるが、本実施例におけるＸ線管８
では、焦点軌道が２種類となるため、温度上昇に起因す
る能力制限が緩和されるという利点がある。
尚、本発明は上記実施例に限定されない。
例えば第４図に示すように、Ｘ線遮蔽部材（例えば鉛）
２８により第１．第２のスリット２９゜３０を形成し、
これをＸ線管８の後段に設けるとよい。第１のＸ線１６
のスライス方向のビーム幅は第１のスリット２９によっ
て決定され、第２のＸ線１７の、スライス方向のビーム
幅は第２のスリット３０によって決定される。このよう
に第１゜第２のスリット２９．３０を設けることにより
、スライス幅の適正化を図ることができる。尚、第１、
第２のスリット２９．３０のＸ線曝射方向の長ざｍは、
できる限り長い方が効果的である。
２８により第１．第２のスリット２９゜３０を形成し、
これをＸ線管８の後段に設けるとよい。第１のＸ線１６
のスライス方向のビーム幅は第１のスリット２９によっ
て決定され、第２のＸ線１７の、スライス方向のビーム
幅は第２のスリット３０によって決定される。このよう
に第１゜第２のスリット２９．３０を設けることにより
、スライス幅の適正化を図ることができる。尚、第１、
第２のスリット２９．３０のＸ線曝射方向の長ざｍは、
できる限り長い方が効果的である。
また、第５図に示すように、第１のＸ線１６を検出する
第１の検出器２０ａと、第２のＸ線１７を検出する第２
の検出器２０ｂとを隣接配置するようにしてもよい。こ
のようにすると、第１．第２のフィラメント１０．１１
を同時に加熱して第１、第２のＸ線１６．１７を同時に
曝射し、第１゜第２のスライス面のＸ線投影データを同
時に収集することが可能となる。この場合、第１．第２
の検出器２０ａ、２０ｂとしては、キセノン（Ｘｅ）ガ
スを充填して成るＸｅ検出器の如く割合に深い構造のも
の、あるいは、検出器のＸ線入射部にＸ線ビームのスラ
イス幅を決定するスリットを設けたものを適用するとよ
い。
第１の検出器２０ａと、第２のＸ線１７を検出する第２
の検出器２０ｂとを隣接配置するようにしてもよい。こ
のようにすると、第１．第２のフィラメント１０．１１
を同時に加熱して第１、第２のＸ線１６．１７を同時に
曝射し、第１゜第２のスライス面のＸ線投影データを同
時に収集することが可能となる。この場合、第１．第２
の検出器２０ａ、２０ｂとしては、キセノン（Ｘｅ）ガ
スを充填して成るＸｅ検出器の如く割合に深い構造のも
の、あるいは、検出器のＸ線入射部にＸ線ビームのスラ
イス幅を決定するスリットを設けたものを適用するとよ
い。
さらに、フィラメントを３個以上配置してＸ線焦点を３
箇所以上に形成し得るＸ線管を用いてもよい。このよう
にすると、より多くのスライス分のＸ線投影データを短
時間で収集することが可能となる。
箇所以上に形成し得るＸ線管を用いてもよい。このよう
にすると、より多くのスライス分のＸ線投影データを短
時間で収集することが可能となる。
尚、上記実施例におけるＸ線管８は、所謂回転陽極型の
ものであるが、陽極の固定されたＸ線管を用いる場合で
も本発明を適用することができる。
ものであるが、陽極の固定されたＸ線管を用いる場合で
も本発明を適用することができる。
［発明の効果コ
以上詳述したように本発明によれば、複数スライス分の
Ｘ線投影データの収集に要する時間の短縮を図ったＸ線
ＣＴスキャナを提供することができる。
Ｘ線投影データの収集に要する時間の短縮を図ったＸ線
ＣＴスキャナを提供することができる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
第１図におけるＸ線管の拡大図、第３図は第２図の主要
部の平面図、第４図及び第５図は他の実施例の説明図、
第６図及び第７図は従来例の説明図である。 ８・・・Ｘ線管、 １４．１５・・・Ｘ線焦点、
１６．１７・・・Ｘ線、 ２９．３０・・・スリット、
Ｐ・・・被検体。
第１図におけるＸ線管の拡大図、第３図は第２図の主要
部の平面図、第４図及び第５図は他の実施例の説明図、
第６図及び第７図は従来例の説明図である。 ８・・・Ｘ線管、 １４．１５・・・Ｘ線焦点、
１６．１７・・・Ｘ線、 ２９．３０・・・スリット、
Ｐ・・・被検体。
Claims (2)
- （１）被検体の複数スライス分のＸ線投影データを得る
Ｘ線ＣＴスキャナにおいて、スライス方向に所定の間隔
を有して複数のＸ線焦点を形成し、各Ｘ線焦点毎に被検
体に向けてＸ線を曝射し得るＸ線管を備えたことを特徴
とするＸ線ＣＴスキャナ。 - （２）前記各Ｘ線焦点より曝射されるＸ線毎にスライス
方向のＸ線ビーム幅を決定するスリットを設けた請求項
１記載のＸ線ＣＴスキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63081665A JPH01254148A (ja) | 1988-04-01 | 1988-04-01 | Ｘ線ｃｔスキヤナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63081665A JPH01254148A (ja) | 1988-04-01 | 1988-04-01 | Ｘ線ｃｔスキヤナ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01254148A true JPH01254148A (ja) | 1989-10-11 |
Family
ID=13752627
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63081665A Pending JPH01254148A (ja) | 1988-04-01 | 1988-04-01 | Ｘ線ｃｔスキヤナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01254148A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5091015A (en) * | 1990-05-22 | 1992-02-25 | Warner-Lambert Company | Polydextrose compositions |
| JPH0630926A (ja) * | 1992-07-16 | 1994-02-08 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2001054515A (ja) * | 1999-08-19 | 2001-02-27 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮像装置 |
| JP2013135966A (ja) * | 2013-04-08 | 2013-07-11 | Canon Inc | Ｘ線撮影装置 |
| US9245659B2 (en) | 2008-11-11 | 2016-01-26 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray imaging apparatus |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5514003A (en) * | 1978-07-14 | 1980-01-31 | Tokyo Shibaura Electric Co | Xxray tomography device |
| JPS60194938A (ja) * | 1984-03-16 | 1985-10-03 | 横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1988
- 1988-04-01 JP JP63081665A patent/JPH01254148A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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| JPS5514003A (en) * | 1978-07-14 | 1980-01-31 | Tokyo Shibaura Electric Co | Xxray tomography device |
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