JPH0126016B2 - - Google Patents
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- JPH0126016B2 JPH0126016B2 JP2587883A JP2587883A JPH0126016B2 JP H0126016 B2 JPH0126016 B2 JP H0126016B2 JP 2587883 A JP2587883 A JP 2587883A JP 2587883 A JP2587883 A JP 2587883A JP H0126016 B2 JPH0126016 B2 JP H0126016B2
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- JP
- Japan
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- dust
- nozzle
- sample gas
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- Expired
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- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 25
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
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- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
- G01N1/2205—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling with filters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
- G01N2001/222—Other features
- G01N2001/2223—Other features aerosol sampling devices
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Biomedical Technology (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ダスト粒径分布用試料採取装置に関
するものであつて、特に捕集試料を一定時間ごと
に連続的に採取して、これを化学分析に供するこ
とにより粒径別の元素組成の時間別の変化が求め
られるようにしたものである。
するものであつて、特に捕集試料を一定時間ごと
に連続的に採取して、これを化学分析に供するこ
とにより粒径別の元素組成の時間別の変化が求め
られるようにしたものである。
従来、ダストの粒径分布測定器として、いわゆ
るカスケードインパクターが最も普通に知られて
いる。このものは第１図に示すように多数の套管
イ……を蝶ネジで締付けて順次接続し、上端の套
管に試料ガス導入口ロ、下端の套管に吸引口ハを
有するカバーニを連結し、各套管に固定されたノ
ズルホ……の噴出口に浅容器状のダスト捕集器ヘ
……を、各ノズル噴出口の内径及び噴出口とダス
ト捕集器との間隔を下方に向うものほど小さく形
成して対向配設した構造となつている。
るカスケードインパクターが最も普通に知られて
いる。このものは第１図に示すように多数の套管
イ……を蝶ネジで締付けて順次接続し、上端の套
管に試料ガス導入口ロ、下端の套管に吸引口ハを
有するカバーニを連結し、各套管に固定されたノ
ズルホ……の噴出口に浅容器状のダスト捕集器ヘ
……を、各ノズル噴出口の内径及び噴出口とダス
ト捕集器との間隔を下方に向うものほど小さく形
成して対向配設した構造となつている。
この装置は、吸引口ハを真空ポンプに接続して
導入口ロから入つた試料ガスを順次ノズルから噴
出させ、これを各ダスト捕集器の上面に吹きつけ
た後、蝶ネジをゆるめて各套管ごとに分解し、各
ダスト捕集器ヘ……の上面に堆積したダストを秤
量して、その粒径分布を測定するものであるが、
この装置で単位時間ごとに捕集試料を得るにはそ
の都度、全体の分解、組立を繰り返す必要があり
実用的に不便である。
導入口ロから入つた試料ガスを順次ノズルから噴
出させ、これを各ダスト捕集器の上面に吹きつけ
た後、蝶ネジをゆるめて各套管ごとに分解し、各
ダスト捕集器ヘ……の上面に堆積したダストを秤
量して、その粒径分布を測定するものであるが、
この装置で単位時間ごとに捕集試料を得るにはそ
の都度、全体の分解、組立を繰り返す必要があり
実用的に不便である。
これに対し、本発明は各ノズルに対応するダス
ト捕集器をそれぞれ数個一組の集成体に形成して
単位時間ごとのダスト捕集が連続的に行われるよ
うに構成したものであつて、本発明の実施例を図
面について説明すると、第２図Ａに示すように、
制御箱１の上面に浅容器状の套体２……を順次積
み重ねて上下仕切３……で数段に区画された筒室
４を形成し、さらに筒室４の内部を縦に仕切り各
段に透孔を設けて、これに漏斗状のノズル５を各
取付すると共に、上下仕切３……間には１本の縦
軸６に串通して数個の回転円板７……を、それぞ
れ周縁の一部を縦仕切８に設けたスリツトに挿入
してノズル５……下方に入り込ませて取付し、縦
軸６を制御箱１内に設けた駆動装置を介して低速
で連続あるいは間欠回転するようになつている。
ト捕集器をそれぞれ数個一組の集成体に形成して
単位時間ごとのダスト捕集が連続的に行われるよ
うに構成したものであつて、本発明の実施例を図
面について説明すると、第２図Ａに示すように、
制御箱１の上面に浅容器状の套体２……を順次積
み重ねて上下仕切３……で数段に区画された筒室
４を形成し、さらに筒室４の内部を縦に仕切り各
段に透孔を設けて、これに漏斗状のノズル５を各
取付すると共に、上下仕切３……間には１本の縦
軸６に串通して数個の回転円板７……を、それぞ
れ周縁の一部を縦仕切８に設けたスリツトに挿入
してノズル５……下方に入り込ませて取付し、縦
軸６を制御箱１内に設けた駆動装置を介して低速
で連続あるいは間欠回転するようになつている。
回転円板７……は、第２図Ｂのように円輪状と
して連続回転、間欠回転のいずれにも使用できる
もの、あるいは第２図Ｃのように縁枠に多数の小
円板７′……を配設し、この小円板相互の間隔を
一きざみとして間欠回転するもののいずれであつ
てもよい。
して連続回転、間欠回転のいずれにも使用できる
もの、あるいは第２図Ｃのように縁枠に多数の小
円板７′……を配設し、この小円板相互の間隔を
一きざみとして間欠回転するもののいずれであつ
てもよい。
またノズル５は、第２図Ｄのように漏斗状底部
に当る部分５′を単孔あるいは同第２図Ｅのよう
にはち巣状多数孔のいずれに形成してもよい。
に当る部分５′を単孔あるいは同第２図Ｅのよう
にはち巣状多数孔のいずれに形成してもよい。
上記第２図Ａにおいて、測定すべき所要の試料
ガスは、筒室上端に設けた密閉カバー９の外周面
に配設された各試料ガス導入口１０に供給され、
順次ノズル５……を通過した後、制御箱の真空ポ
ンプに接続されている下端のフイルターホルダー
１１に吸引され、含有ダストが各ノズル５……の
下方に位置する回転円板７……である各ダスト捕
集器の上面に堆積されるのであり、前記したよう
に回転円板７……を連続あるいは間欠回転して回
転円板７上面に一定時間ごとのダスト堆積層を形
成させた後、各套体２……を順次取りはずして回
転円板７……を縦軸６から抜きとり、各堆積ダス
トの時間別粒径分布を測定することができる。
ガスは、筒室上端に設けた密閉カバー９の外周面
に配設された各試料ガス導入口１０に供給され、
順次ノズル５……を通過した後、制御箱の真空ポ
ンプに接続されている下端のフイルターホルダー
１１に吸引され、含有ダストが各ノズル５……の
下方に位置する回転円板７……である各ダスト捕
集器の上面に堆積されるのであり、前記したよう
に回転円板７……を連続あるいは間欠回転して回
転円板７上面に一定時間ごとのダスト堆積層を形
成させた後、各套体２……を順次取りはずして回
転円板７……を縦軸６から抜きとり、各堆積ダス
トの時間別粒径分布を測定することができる。
第３図は、第２図の装置の変形例を示し、各部
は第２図と同じ符号で現わされている。第３図Ａ
において回転円板７……は、それぞれ内部に縦軸
６に嵌挿固定した主歯車１２と、この主歯車１２
を囲む数個の副歯車１３……を収容した円板状の
ギヤケースとして形成され、副歯車１３……の軸
に接続して回転円板７……上面には数個の小円板
７′が配設されている。この場合、ノズル５は小
円板７′の回転により円板上にダストが均一に捕
集できるように多数の穴を配したものである。こ
れら小円板７′……の中心線はノズル５の中心直
下に位置しており、従つてノズル５……からの噴
射は小円板７′……の上面全体に行われる。
は第２図と同じ符号で現わされている。第３図Ａ
において回転円板７……は、それぞれ内部に縦軸
６に嵌挿固定した主歯車１２と、この主歯車１２
を囲む数個の副歯車１３……を収容した円板状の
ギヤケースとして形成され、副歯車１３……の軸
に接続して回転円板７……上面には数個の小円板
７′が配設されている。この場合、ノズル５は小
円板７′の回転により円板上にダストが均一に捕
集できるように多数の穴を配したものである。こ
れら小円板７′……の中心線はノズル５の中心直
下に位置しており、従つてノズル５……からの噴
射は小円板７′……の上面全体に行われる。
回転円板７……の内部には第３図Ｂ，Ｃに明ら
かなように縦軸６に嵌着して回転される主歯車１
２を囲んで数個の副歯車１３……が係合収容さ
れ、さらにバネにより一方に押しつけられ、主歯
車、副歯車の回転を一方に限定する規制爪１４が
付設されている。このため、第３図Ｂのように縦
軸６を図示の反時計方向に回転した際は、大歯車
１２と係合する副歯車１３……もそろつて回転
し、小円板７′……が各個に回転するが、回転円
板７自身は回転しない。また、縦軸６を図示の時
計方向に回転した際は、第３図Ｃのように規制爪
１４の係合により回転円板７自体が回転し、副歯
車１３……、つまり小円板７′……は回転しない。
かなように縦軸６に嵌着して回転される主歯車１
２を囲んで数個の副歯車１３……が係合収容さ
れ、さらにバネにより一方に押しつけられ、主歯
車、副歯車の回転を一方に限定する規制爪１４が
付設されている。このため、第３図Ｂのように縦
軸６を図示の反時計方向に回転した際は、大歯車
１２と係合する副歯車１３……もそろつて回転
し、小円板７′……が各個に回転するが、回転円
板７自身は回転しない。また、縦軸６を図示の時
計方向に回転した際は、第３図Ｃのように規制爪
１４の係合により回転円板７自体が回転し、副歯
車１３……、つまり小円板７′……は回転しない。
この構造により、上記第３図に示す装置におい
ては、試料ガス導入口１０……を介して供給され
た試料ガスは、順次ノズル５……を通過しながら
ノズル下方の回転円板７′……に衝突してダスト
が捕集されるに当り、制御箱の操作盤を予めセツ
トしておくことにより、回転板７……を先ず第３
図Ｂの方向に回転し、小円板７′……を一回転さ
せると、ノズル５……の中心とその下方にある小
円板７′の中心と一致しているため、ノズル５…
…下方に当る各段の小円板７′……上には所定時
間、例えば一回転に一時間の経過によりダストが
円板上に均一に集積される。次いで操作盤を介し
て回転円板７……を逆方向、つまり第３図Ｃの方
向に回転し、ノズル５からのダストを次の小円板
７′に受支させる。これを繰り返すことにより、
各小円板７′……ごとに時間別のダストが得られ、
長期間の連続測定に有利である。
ては、試料ガス導入口１０……を介して供給され
た試料ガスは、順次ノズル５……を通過しながら
ノズル下方の回転円板７′……に衝突してダスト
が捕集されるに当り、制御箱の操作盤を予めセツ
トしておくことにより、回転板７……を先ず第３
図Ｂの方向に回転し、小円板７′……を一回転さ
せると、ノズル５……の中心とその下方にある小
円板７′の中心と一致しているため、ノズル５…
…下方に当る各段の小円板７′……上には所定時
間、例えば一回転に一時間の経過によりダストが
円板上に均一に集積される。次いで操作盤を介し
て回転円板７……を逆方向、つまり第３図Ｃの方
向に回転し、ノズル５からのダストを次の小円板
７′に受支させる。これを繰り返すことにより、
各小円板７′……ごとに時間別のダストが得られ、
長期間の連続測定に有利である。
本発明は以上説明したように、従来の装置にお
けるダスト捕集器が単一固定面であつたのを特に
回転板に形成してそのダスト捕集が多数面に分割
捕集されるようにしたから、ダストの粒径分布を
さらにそれぞれ時間別に細分することができ、か
つ捕集面上にダストを均一に集積できるようにし
て化学分析に供することができ、極めて能率的で
ある。
けるダスト捕集器が単一固定面であつたのを特に
回転板に形成してそのダスト捕集が多数面に分割
捕集されるようにしたから、ダストの粒径分布を
さらにそれぞれ時間別に細分することができ、か
つ捕集面上にダストを均一に集積できるようにし
て化学分析に供することができ、極めて能率的で
ある。
第１図は従来の装置の断面正面図、第２図Ａは
本発明の装置の断面正面図、第２図Ｂ，Ｃはそれ
ぞれ第２図Ａにおける回転円板の一例を示す平面
図、第２図Ｄ，Ｅはそれぞれ同じくノズルの一例
を示す一部断面正面図、第３図Ａは第２図Ａの他
の一例を示す断面正面図、第３図Ｂ，Ｃはそれぞ
れ第３図Ａにおける回転円板の内部を示す平面図
である。 １……制御箱、２……套体、３……上下仕切、
４……筒室、５……ノズル、６……縦軸、７……
回転円板、７′……小円板、１０……試料ガス導
入口、１１……フイルターホルダー、１２……主
歯車、１３……副歯車、１４……規制爪。
本発明の装置の断面正面図、第２図Ｂ，Ｃはそれ
ぞれ第２図Ａにおける回転円板の一例を示す平面
図、第２図Ｄ，Ｅはそれぞれ同じくノズルの一例
を示す一部断面正面図、第３図Ａは第２図Ａの他
の一例を示す断面正面図、第３図Ｂ，Ｃはそれぞ
れ第３図Ａにおける回転円板の内部を示す平面図
である。 １……制御箱、２……套体、３……上下仕切、
４……筒室、５……ノズル、６……縦軸、７……
回転円板、７′……小円板、１０……試料ガス導
入口、１１……フイルターホルダー、１２……主
歯車、１３……副歯車、１４……規制爪。
Claims (1)
- １ 各個に分離可能の套体からなり、内部を上下
数段に区画すると共に、上端に試料ガス導入口、
底部に試料ガス吸引口を有する筒室の内部に、制
御機構に連なる縦軸に串通した数個の回転円板
を、それぞれ円板の一部を上記各段に画成された
上下数段のノズルの下方に臨ませて介設し、これ
ら回転円板の上面をダスト捕集面に形成してなる
試料ガス用ダスト粒径分布用試料採取装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2587883A JPS59151036A (ja) | 1983-02-18 | 1983-02-18 | ダスト粒径分布用試料採取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2587883A JPS59151036A (ja) | 1983-02-18 | 1983-02-18 | ダスト粒径分布用試料採取装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59151036A JPS59151036A (ja) | 1984-08-29 |
| JPH0126016B2 true JPH0126016B2 (ja) | 1989-05-22 |
Family
ID=12178038
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2587883A Granted JPS59151036A (ja) | 1983-02-18 | 1983-02-18 | ダスト粒径分布用試料採取装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59151036A (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6154256U (ja) * | 1984-09-13 | 1986-04-11 | ||
| US4590792A (en) * | 1984-11-05 | 1986-05-27 | Chiang William W | Microanalysis particle sampler |
| JPH0658315B2 (ja) * | 1990-07-04 | 1994-08-03 | 工業技術院長 | 排ガス中のダスト又はミストの粒径分布及び濃度の連続測定装置 |
| US7082811B2 (en) * | 2003-08-06 | 2006-08-01 | Msp Corporation | Cascade impactor with individually driven impactor plates |
| JP4771184B2 (ja) * | 2010-01-19 | 2011-09-14 | 株式会社日立プラントテクノロジー | 浮遊菌捕集装置、浮遊菌計測方法及び浮遊菌計測システム |
| WO2015029673A1 (ja) * | 2013-08-30 | 2015-03-05 | シャープ株式会社 | 捕集装置および検出装置 |
| JP6252831B2 (ja) * | 2013-09-18 | 2017-12-27 | 清水建設株式会社 | 粒度分布測定器 |
| JP6313995B2 (ja) * | 2014-02-27 | 2018-04-18 | ヤマト科学株式会社 | 捕集体保持具 |
-
1983
- 1983-02-18 JP JP2587883A patent/JPS59151036A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59151036A (ja) | 1984-08-29 |
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