JPH01261182A - エレベータの自動試験装置 - Google Patents
エレベータの自動試験装置Info
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- JPH01261182A JPH01261182A JP9062288A JP9062288A JPH01261182A JP H01261182 A JPH01261182 A JP H01261182A JP 9062288 A JP9062288 A JP 9062288A JP 9062288 A JP9062288 A JP 9062288A JP H01261182 A JPH01261182 A JP H01261182A
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- Japan
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- input
- signal
- elevator
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- Maintenance And Inspection Apparatuses For Elevators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、エレベータの制御装置に外部から指令を与
えて、エレベータの動作試験を自動的に行おうとするエ
レベータの自動試験装置に関するものである。
えて、エレベータの動作試験を自動的に行おうとするエ
レベータの自動試験装置に関するものである。
(従来の技術〕
近来のエレベータはマイクロコンピュータを用いて構成
されるようになっ、ており、通常読み込み専用のROM
(リードオンリーメモリ)に書き込まれたプログラ
ム手順に従い動作するようになっている。多数のエレベ
ータを生産するためプログラムも標準化されており、基
本動作を行う標準プログラム手順に対してビル毎に異な
るエレベータの動作仕様をビル毎に工場出荷時に設定さ
れ、この動作仕様に従い種々用意された動作の選択、速
度・停止数などへの適用がプログラムにて自動的に行わ
れる。
されるようになっ、ており、通常読み込み専用のROM
(リードオンリーメモリ)に書き込まれたプログラ
ム手順に従い動作するようになっている。多数のエレベ
ータを生産するためプログラムも標準化されており、基
本動作を行う標準プログラム手順に対してビル毎に異な
るエレベータの動作仕様をビル毎に工場出荷時に設定さ
れ、この動作仕様に従い種々用意された動作の選択、速
度・停止数などへの適用がプログラムにて自動的に行わ
れる。
ビル毎のエレベータの動作は上記のように標準プログラ
ムとビル毎の動作仕様の選択により決定される。そして
、このエレベータの動作の試験は工場にて基本的な動作
については全て試験が行われており、検査済みとなって
いる。
ムとビル毎の動作仕様の選択により決定される。そして
、このエレベータの動作の試験は工場にて基本的な動作
については全て試験が行われており、検査済みとなって
いる。
上記のような標準化されたエレベータにおいても、据え
付は現場や保守点検時においては確認や故障検出さらに
は機器の接続誤り検査のために、試験が実施されており
、試験のためにかなりの時間と人手を要していた。
付は現場や保守点検時においては確認や故障検出さらに
は機器の接続誤り検査のために、試験が実施されており
、試験のためにかなりの時間と人手を要していた。
このようなことから、特開昭5s−o4is号公報に示
されるように、マイクロコンピュータを用いたエレベー
タ制御装置に、外部から指令を与えてエレベータ自身に
試験運転信号を自動的に発生させる手段を設けたものや
、特開昭59−124662号公報に示されるように、
マイクロコンピュータを用いたエレベータ1ilJal
l装置が乗り場表示灯の調査指令信号を発生し、乗り場
表示灯を順次点灯させて保守を容易にさせるものなどが
提案されていた。
されるように、マイクロコンピュータを用いたエレベー
タ制御装置に、外部から指令を与えてエレベータ自身に
試験運転信号を自動的に発生させる手段を設けたものや
、特開昭59−124662号公報に示されるように、
マイクロコンピュータを用いたエレベータ1ilJal
l装置が乗り場表示灯の調査指令信号を発生し、乗り場
表示灯を順次点灯させて保守を容易にさせるものなどが
提案されていた。
しかしながら、上記のような従来の方法では外部との接
続インタフェイスを含めた試験まで完全に行うことは難
しかった0例えば、特開昭55−11418号公報にお
いては、プログラムの中のみで仮想的に運転指令を発生
させるために、仮想的な運転によるプログラムの誤りお
よび出力装置と外部機器との接続の誤りがないことの確
認はできても、入力装置の型名の手配誤りや入力装置と
外部機器との接続の誤りがないことの確認はできなかっ
た。特開昭59−124662号公報においても、乗り
場表示灯の調査指令信号を発生させることのみで、入力
装置の型名の手配誤りや入力装置と外部機器との接続の
誤りがないことの確認はやはりできなかった。
続インタフェイスを含めた試験まで完全に行うことは難
しかった0例えば、特開昭55−11418号公報にお
いては、プログラムの中のみで仮想的に運転指令を発生
させるために、仮想的な運転によるプログラムの誤りお
よび出力装置と外部機器との接続の誤りがないことの確
認はできても、入力装置の型名の手配誤りや入力装置と
外部機器との接続の誤りがないことの確認はできなかっ
た。特開昭59−124662号公報においても、乗り
場表示灯の調査指令信号を発生させることのみで、入力
装置の型名の手配誤りや入力装置と外部機器との接続の
誤りがないことの確認はやはりできなかった。
特に近年に至っては、エレベータにもマイクロコンピュ
ータが分散配置されるに至り、従来のような阜−のマイ
クロコンピュータ内の自動試験装置のみでは、マイクロ
コンピュータ間の情報伝達試験などを十分に行えるもの
とはなっていなかった。
ータが分散配置されるに至り、従来のような阜−のマイ
クロコンピュータ内の自動試験装置のみでは、マイクロ
コンピュータ間の情報伝達試験などを十分に行えるもの
とはなっていなかった。
(発明が解決しようとする課題)
従来のエレベータの自動試験装置は、以上のような入力
装置の型名の手配誤りや入力装置と外部機器との接続の
誤りあるいは情報伝達の誤りがないことの確認はで幹な
かった。
装置の型名の手配誤りや入力装置と外部機器との接続の
誤りあるいは情報伝達の誤りがないことの確認はで幹な
かった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、入力装置と外部機器との接続の誤りあるい
は情報伝達の誤りをも確認でき、十分に信頼度高く自動
試験を行わせることができるエレベータの自動試験装置
を提供するものである。
れたもので、入力装置と外部機器との接続の誤りあるい
は情報伝達の誤りをも確認でき、十分に信頼度高く自動
試験を行わせることができるエレベータの自動試験装置
を提供するものである。
(課題を解決するための手段)
この発明に係るエレベータの自動試験装置は、エレベー
タに動作を選択させるための呼び寄せおよび行き先呼び
ボタンなど外部機器からの情報を入力する入力装置と、
外部機器に情報または指令を出力する出力装置とを備え
たエレベータ制御手段に対し、上記入力装置を介して動
作指令情報を与えることにより試験動作を実行するエレ
ベータの自動試験装置において、上記動作指令情報に基
づき模擬試験信号の出力指令を与える模擬試験信号発生
指令手段と、上記模擬試験信号発生指令手段からの模擬
試験信号出力指令に従い上記入力装置に対して特定の入
力を出力させる模擬試験信号発生手段とを備え、上記模
擬試験信号発生手段によって上記入力装置を介して得ら
れる入力情報に基づきエレベータを動作試験するもので
ある。
タに動作を選択させるための呼び寄せおよび行き先呼び
ボタンなど外部機器からの情報を入力する入力装置と、
外部機器に情報または指令を出力する出力装置とを備え
たエレベータ制御手段に対し、上記入力装置を介して動
作指令情報を与えることにより試験動作を実行するエレ
ベータの自動試験装置において、上記動作指令情報に基
づき模擬試験信号の出力指令を与える模擬試験信号発生
指令手段と、上記模擬試験信号発生指令手段からの模擬
試験信号出力指令に従い上記入力装置に対して特定の入
力を出力させる模擬試験信号発生手段とを備え、上記模
擬試験信号発生手段によって上記入力装置を介して得ら
れる入力情報に基づきエレベータを動作試験するもので
ある。
この発明においては、外部機器への出力装置もしくは専
用に設けた出力装置に試験を実行させるための信号を与
える手段を介することによって、模擬的ではあるが、外
部機器さらには入力装置に対してあたかもエレベータが
実際に稼動している場合と同様の入力信号を与えるため
に、入力装置の型名の手配誤りや入力装置と外部機器と
の接続の誤りあるいは情報伝達の誤りをも確認できる。
用に設けた出力装置に試験を実行させるための信号を与
える手段を介することによって、模擬的ではあるが、外
部機器さらには入力装置に対してあたかもエレベータが
実際に稼動している場合と同様の入力信号を与えるため
に、入力装置の型名の手配誤りや入力装置と外部機器と
の接続の誤りあるいは情報伝達の誤りをも確認できる。
(実施例)
以下、この発明の一実施例を第1図〜第13図を用いて
説明する。第1図はこの発明の原理ブロック図である。
説明する。第1図はこの発明の原理ブロック図である。
同図において、(12)はエレベータ群管理制御盤ある
いはエレベータ制御盤内のエレベータ群管理制御装置、
(13)はエレベータ制御盤内のエレベータ制御装置、
(14)はエレベータ制御装置あるいはエレベータ群管
理制御装置に設けられる変換器などの信号入力機器およ
び伝送機器を含んだ入力装置、(16)はエレベータ制
御装置あるいはエレベータ群管理制御装置に設けられる
変換器などの信号出力機器および伝送機器を含んだ出力
装置、(21)は出力装置(16)と同様な機能を有す
るエレベータ制御装置あるいはエレベータ群管理制御装
置に設けられる変換器などの信号出力機器および伝送機
器を含んだ出力装置、(z4)はエレベータ制御装置あ
るいはエレベータ群管理制御装置と接続されて種々の指
令をエレベータに与える指令装置、(18)はエレベー
タ制御装置あるいはエレベータ群管理I制御装置の外に
設けられる外部機器あるいはエレベータの周辺装置に相
当する外部機器、(15)は入力装置から取り込まれた
外部入力信号をエレベータ制御装置あるいはエレベータ
群管理制御装置に与えて、エレベータの制御および群管
理制御を行わせるための外部信号入力手段(なお、本信
号は模擬試験実行手段にも外部入力信号を与える)、(
17)はエレベータ群管理制御装置またはエレベータ制
御装置からの制御信号を外部機器に送信する外部信号出
力手段、(19)は指令装置と交信、あるいは指令装置
から入力して模擬試験を認知するとともに、模擬試験実
行手段に模擬試験認知を伝える模擬試験検知手段、(2
5)は模擬試験検知手段からの模擬試験認知を受けて模
擬試験を実行するとともに、模擬試験結果を必要に応じ
て指令装置に出力あるいは送信する模擬試験実行手段で
、この模擬試験実行手段は、さらに、エレベータ群管理
制御あるいはエレベータ制御に対して模擬試験実行指令
を与える他、模擬試験信号発生指令手段に模擬試験内容
を伝える。
いはエレベータ制御盤内のエレベータ群管理制御装置、
(13)はエレベータ制御盤内のエレベータ制御装置、
(14)はエレベータ制御装置あるいはエレベータ群管
理制御装置に設けられる変換器などの信号入力機器およ
び伝送機器を含んだ入力装置、(16)はエレベータ制
御装置あるいはエレベータ群管理制御装置に設けられる
変換器などの信号出力機器および伝送機器を含んだ出力
装置、(21)は出力装置(16)と同様な機能を有す
るエレベータ制御装置あるいはエレベータ群管理制御装
置に設けられる変換器などの信号出力機器および伝送機
器を含んだ出力装置、(z4)はエレベータ制御装置あ
るいはエレベータ群管理制御装置と接続されて種々の指
令をエレベータに与える指令装置、(18)はエレベー
タ制御装置あるいはエレベータ群管理I制御装置の外に
設けられる外部機器あるいはエレベータの周辺装置に相
当する外部機器、(15)は入力装置から取り込まれた
外部入力信号をエレベータ制御装置あるいはエレベータ
群管理制御装置に与えて、エレベータの制御および群管
理制御を行わせるための外部信号入力手段(なお、本信
号は模擬試験実行手段にも外部入力信号を与える)、(
17)はエレベータ群管理制御装置またはエレベータ制
御装置からの制御信号を外部機器に送信する外部信号出
力手段、(19)は指令装置と交信、あるいは指令装置
から入力して模擬試験を認知するとともに、模擬試験実
行手段に模擬試験認知を伝える模擬試験検知手段、(2
5)は模擬試験検知手段からの模擬試験認知を受けて模
擬試験を実行するとともに、模擬試験結果を必要に応じ
て指令装置に出力あるいは送信する模擬試験実行手段で
、この模擬試験実行手段は、さらに、エレベータ群管理
制御あるいはエレベータ制御に対して模擬試験実行指令
を与える他、模擬試験信号発生指令手段に模擬試験内容
を伝える。
(20)は模擬試験実行手段からの模擬試験内容を受け
てエレベータ制御装置あるいはエレベータ群管理制御装
置に設けられる変換器などの信号入力機器を含む入力装
置に対して模擬試験用の信号を発生させる指令を出力す
る模擬試験信号発生指令手段で、処理手段を有する外部
機器に対しては、出力装置を介し$lfu試験用の信号
を発生させる指令を送信する。
てエレベータ制御装置あるいはエレベータ群管理制御装
置に設けられる変換器などの信号入力機器を含む入力装
置に対して模擬試験用の信号を発生させる指令を出力す
る模擬試験信号発生指令手段で、処理手段を有する外部
機器に対しては、出力装置を介し$lfu試験用の信号
を発生させる指令を送信する。
(23)はエレベータ制御装置あるいはエレベータ群管
理制御装置に設けられる変換器などの信号入力機器を含
む入力装置に対して正規に取り込まれるはずの入力信号
を無効として模擬試験用の入力信号を発生させる模擬試
験信号発生手段、(22)はCPuなどの処理手段を有
する外部機器における模擬試験信号発生手段(23)と
同様な模擬試験信号発生手段である。
理制御装置に設けられる変換器などの信号入力機器を含
む入力装置に対して正規に取り込まれるはずの入力信号
を無効として模擬試験用の入力信号を発生させる模擬試
験信号発生手段、(22)はCPuなどの処理手段を有
する外部機器における模擬試験信号発生手段(23)と
同様な模擬試験信号発生手段である。
上記構成においては、パソコン等の指令装置(24)か
らエレベータ制御装置03)あるいはエレベータ群管理
制御装置(12)に対して動作試験指令を与えると、エ
レベータ制御装置(13)あるいはエレベータ群管理制
御装置(12)に内蔵される自動試験機能にて動作試験
が実行される。
らエレベータ制御装置03)あるいはエレベータ群管理
制御装置(12)に対して動作試験指令を与えると、エ
レベータ制御装置(13)あるいはエレベータ群管理制
御装置(12)に内蔵される自動試験機能にて動作試験
が実行される。
エレベータ制御装置(13)あるいはエレベータ群管理
制御装置(12)は通常、乗り場呼びやかご呼びさらに
モータ、ドア、監視室機器等の外部機器(18)からの
信号入力を受取り、これに応じた制御処理を行りて再び
制御信号を外部機器(!8)に送信する。
制御装置(12)は通常、乗り場呼びやかご呼びさらに
モータ、ドア、監視室機器等の外部機器(18)からの
信号入力を受取り、これに応じた制御処理を行りて再び
制御信号を外部機器(!8)に送信する。
この発明では、指令装置(24)から動作試験指令を与
えると、エレベータ制御装置(13)あるいはエレベー
タ群管理制御装置(12)の動作試験手段にて動作試験
を実行し、ここでは、模擬試験実行手段(25)が種々
の動作項目に対して必要な試験実行手順を処理して動作
試験を実行する。動作試験中においては、プログラムで
入・力信号を′jxmするのではなく、八−ドウエアで
構成される入力装置(14)から得られる入力信号を、
実際に入力されたのと等しくなるように、模擬試験信号
発生手段(23)が入力装置(14)に対して模擬出力
するように制御する。
えると、エレベータ制御装置(13)あるいはエレベー
タ群管理制御装置(12)の動作試験手段にて動作試験
を実行し、ここでは、模擬試験実行手段(25)が種々
の動作項目に対して必要な試験実行手順を処理して動作
試験を実行する。動作試験中においては、プログラムで
入・力信号を′jxmするのではなく、八−ドウエアで
構成される入力装置(14)から得られる入力信号を、
実際に入力されたのと等しくなるように、模擬試験信号
発生手段(23)が入力装置(14)に対して模擬出力
するように制御する。
また、マイコンなどの制御機能を備えた外部機器(18
)に対しては、出力装置(21)を介して模擬試験信号
の発生を指令することで、外部機器(18)に設けられ
る模擬試験信号発生手段(22)にて外部機器(18)
の内蔵する入力装置に対して模擬出力するように制御さ
れる。
)に対しては、出力装置(21)を介して模擬試験信号
の発生を指令することで、外部機器(18)に設けられ
る模擬試験信号発生手段(22)にて外部機器(18)
の内蔵する入力装置に対して模擬出力するように制御さ
れる。
第2図は上記第1図に示す原理システムを実現するため
の具体的な構成図である。
の具体的な構成図である。
同図において、(1) はエレベータかと、(2)は釣
り合いおもり、(3) は巻き上げ電動機、(4)はエ
レベータの制御盤、(5) は駆動制御回路で、巻き上
げ電動機(3)を制御してエレベータかと(1)および
釣り合いおもり(2)を昇降制御する。(6)はエレベ
ータ制御盤(4)に組み込まれるマイクロコンピュータ
で構成された第1図の制御装置(13)に対応する制御
装置、(6a)は中央処理装置として働<CPU、(s
b)は読み込みのみ可能なROM (EFROM)と読
み書き可能なRAM (ランダムアクセスメモリ)で
構成された記憶装置(一部のRAMは電池にて停電時の
バックアップがなされている)、(8C)は第1図の群
管理装置(!2)に対応する群管理装置(9)と接続す
るための例えばインテル社製の8251などの素子で構
成されるシリアル伝送装置、(6d)は保守装置(11
)と接続するための同じくシリアル伝送装置、(6e)
は駆動制御回路(5) と接続して外部情報を入力しま
た巻き上げ電動機(3)を制御するための指令を出力す
るのを電圧変換などによりインタフェイスする変換装置
で、正規の入力信号を無効として模擬入力信号のみを有
効とする回路が組込まれ、この発明での模擬入力信号を
変換装置(6h)に出力されるための正規の入力信号と
模擬入力信号の両方を接続するコネクタ(6f)を介し
て乗場機器(7A)とも接続される。 (6g)は内部
パス、(6h)は変換装置である。また、(9) はエ
レベータ群管理盤(8)に組み込まれるマイクロコンピ
ュータで構成された群管理制御装置で、制御装置(6)
と同様に、CPU (9a)、記憶装置(9b)、伝送
装置(9C)、(9d)、変換装置(9e)、(9h)
、コネクタ(9f)及び内部バス(9g)を有する。さ
らに、(IOA)、(IOB)は第1図の指令装置(2
4)に対応する動作試験の指令等を与える保守装置で、
ここではラップトツブ型パソコンを用いるが、専用の機
器あるいは他のコンピュータでも良い、(IIA)、(
11B)は制御装置(6)と同様の構成を有するかご上
制御装置を示し、第1図の外部機器(18)に対応し、
また上記変換装置(6e)、(9e)とコネクタ(6f
)、(9f)は第1図の入力装置(14)と出力装置(
21)に対応し、さらに記憶装置(6b)、(9b)は
、第1図に示す上記模擬試験検知手段(19)、模擬試
験実行手段(25)、模擬試験信号発生指令手段(20
)、模擬試験信号発生手段(23)、外部信号入力手段
(15)及び外部信号出力手段(17)の内容を記憶し
ているものと対応している。
り合いおもり、(3) は巻き上げ電動機、(4)はエ
レベータの制御盤、(5) は駆動制御回路で、巻き上
げ電動機(3)を制御してエレベータかと(1)および
釣り合いおもり(2)を昇降制御する。(6)はエレベ
ータ制御盤(4)に組み込まれるマイクロコンピュータ
で構成された第1図の制御装置(13)に対応する制御
装置、(6a)は中央処理装置として働<CPU、(s
b)は読み込みのみ可能なROM (EFROM)と読
み書き可能なRAM (ランダムアクセスメモリ)で
構成された記憶装置(一部のRAMは電池にて停電時の
バックアップがなされている)、(8C)は第1図の群
管理装置(!2)に対応する群管理装置(9)と接続す
るための例えばインテル社製の8251などの素子で構
成されるシリアル伝送装置、(6d)は保守装置(11
)と接続するための同じくシリアル伝送装置、(6e)
は駆動制御回路(5) と接続して外部情報を入力しま
た巻き上げ電動機(3)を制御するための指令を出力す
るのを電圧変換などによりインタフェイスする変換装置
で、正規の入力信号を無効として模擬入力信号のみを有
効とする回路が組込まれ、この発明での模擬入力信号を
変換装置(6h)に出力されるための正規の入力信号と
模擬入力信号の両方を接続するコネクタ(6f)を介し
て乗場機器(7A)とも接続される。 (6g)は内部
パス、(6h)は変換装置である。また、(9) はエ
レベータ群管理盤(8)に組み込まれるマイクロコンピ
ュータで構成された群管理制御装置で、制御装置(6)
と同様に、CPU (9a)、記憶装置(9b)、伝送
装置(9C)、(9d)、変換装置(9e)、(9h)
、コネクタ(9f)及び内部バス(9g)を有する。さ
らに、(IOA)、(IOB)は第1図の指令装置(2
4)に対応する動作試験の指令等を与える保守装置で、
ここではラップトツブ型パソコンを用いるが、専用の機
器あるいは他のコンピュータでも良い、(IIA)、(
11B)は制御装置(6)と同様の構成を有するかご上
制御装置を示し、第1図の外部機器(18)に対応し、
また上記変換装置(6e)、(9e)とコネクタ(6f
)、(9f)は第1図の入力装置(14)と出力装置(
21)に対応し、さらに記憶装置(6b)、(9b)は
、第1図に示す上記模擬試験検知手段(19)、模擬試
験実行手段(25)、模擬試験信号発生指令手段(20
)、模擬試験信号発生手段(23)、外部信号入力手段
(15)及び外部信号出力手段(17)の内容を記憶し
ているものと対応している。
また、第3図は第2図における変換装置(6e)、(9
e)とコネクタ(6f)、(9f)に対応する詳細説明
図で、変換装置(6e)、(9e)における出力回路は
通常の装置で良く、特に入力を行う回路部分について示
しており、変換装置の内入力用インタフェイスのため複
数枚取り付けられるプリント基盤である。この図におい
て、IC等で回路構成されるプリント基盤(26)には
機器からの正規の信号をλカする入力接点信号接続コネ
クタ(27)、コネクタ(27)に対応する試験用の信
号を入力する試験用入力接点信号接続コネクタ(28)
、及びコネクタ(27)及び(28)と同様なコネクタ
(29)、(30)が設けられ、試験用入力接点信号接
続コネクタからは、入力接点信号接続コネクタからの正
規の信号入力を無効とする外部信号無効信号も入力され
る。
e)とコネクタ(6f)、(9f)に対応する詳細説明
図で、変換装置(6e)、(9e)における出力回路は
通常の装置で良く、特に入力を行う回路部分について示
しており、変換装置の内入力用インタフェイスのため複
数枚取り付けられるプリント基盤である。この図におい
て、IC等で回路構成されるプリント基盤(26)には
機器からの正規の信号をλカする入力接点信号接続コネ
クタ(27)、コネクタ(27)に対応する試験用の信
号を入力する試験用入力接点信号接続コネクタ(28)
、及びコネクタ(27)及び(28)と同様なコネクタ
(29)、(30)が設けられ、試験用入力接点信号接
続コネクタからは、入力接点信号接続コネクタからの正
規の信号入力を無効とする外部信号無効信号も入力され
る。
さらに、第4図は上記プリント基盤内部回路図を示し、
(26a+)〜(26an)、(26b、)〜(28b
n)はANI)ゲート、(26c、)〜(26c11)
はORゲート、(26d) はNOTゲート、(26
a++) 〜(2aann)、(26b++)〜(26
bnn)は外部入力信号とこの外部入力信号に対応して
出力用プリント基盤から出力される試験用入力信号、(
26C++)〜(26cnn)は内部に取込まれて使用
される入力信号、(26b、)は外部信号無効信号を示
し、これにより、入力用インタフェイスのプリント基盤
をも含めて誤手配、プリント基盤の故障の発見等の試験
ができ、さらに、正常動作時において異常となったとき
、異常点を捜す場合には、試験動作を実行しながら試験
用入力接点信号接続コネクタの1つづつを抜いて動作試
験を行わせていけば、どの入力接点信号接続コネクタに
接続される部分が悪いのかが直ちに判明する。すなわち
、誤接続、接続機器故障の発見ができる。
(26a+)〜(26an)、(26b、)〜(28b
n)はANI)ゲート、(26c、)〜(26c11)
はORゲート、(26d) はNOTゲート、(26
a++) 〜(2aann)、(26b++)〜(26
bnn)は外部入力信号とこの外部入力信号に対応して
出力用プリント基盤から出力される試験用入力信号、(
26C++)〜(26cnn)は内部に取込まれて使用
される入力信号、(26b、)は外部信号無効信号を示
し、これにより、入力用インタフェイスのプリント基盤
をも含めて誤手配、プリント基盤の故障の発見等の試験
ができ、さらに、正常動作時において異常となったとき
、異常点を捜す場合には、試験動作を実行しながら試験
用入力接点信号接続コネクタの1つづつを抜いて動作試
験を行わせていけば、どの入力接点信号接続コネクタに
接続される部分が悪いのかが直ちに判明する。すなわち
、誤接続、接続機器故障の発見ができる。
動作試験においては次のように実施することでさらに本
発明の効果を発揮する。最初に、全ての試験用入力接点
信号接続コネクタを有効として試験を行う、これにより
、型名のことなるプリント基盤を手配するなどの誤手配
の確認とプリント基盤の確認を行うことができる。
発明の効果を発揮する。最初に、全ての試験用入力接点
信号接続コネクタを有効として試験を行う、これにより
、型名のことなるプリント基盤を手配するなどの誤手配
の確認とプリント基盤の確認を行うことができる。
なお、プログラムに関しては工場にて既に試験されてい
るので、はとんどの場合、問題点は検出されないが、試
験もれや後からのプログラム修正に対してはこの時点で
試験される(通常はこの段階で試験を終了しても良い)
。
るので、はとんどの場合、問題点は検出されないが、試
験もれや後からのプログラム修正に対してはこの時点で
試験される(通常はこの段階で試験を終了しても良い)
。
次に試験用入力接点信号接続コネクタを全て外して正規
の状態で同様の動作試験を実施する。外部機器に異常が
なければ、正常に終了するはずであるが、接続誤りや外
部機器に異常がある場合は、次のようにして異常箇所を
早急に発見することができる。
の状態で同様の動作試験を実施する。外部機器に異常が
なければ、正常に終了するはずであるが、接続誤りや外
部機器に異常がある場合は、次のようにして異常箇所を
早急に発見することができる。
怪しそうな箇所から順次試験用入力接点信号接続コネク
タを取り付けて、異常が出た試験項目のみを実行する。
タを取り付けて、異常が出た試験項目のみを実行する。
もし、異常が出なければ今回試験用入力接点信号接続コ
ネクタを取り付けた入力接点信号接続コネクタに関する
ところのみが悪いとなる。これにより、異常箇所を間違
いなくしかも早急に見つけることができる。
ネクタを取り付けた入力接点信号接続コネクタに関する
ところのみが悪いとなる。これにより、異常箇所を間違
いなくしかも早急に見つけることができる。
ただし、外したコネクタに対する入力は、自動的に信号
が発生されないので、対する外部機器(例えばかと呼び
)を操作して手動による入力を行なう必要がある。しか
し、エレベータが動作することによって本来自動的に外
部機器が発生してくる信号入力(例えば、かご位置入力
信号などがある)に対しては手動による動作は不要とな
る。
が発生されないので、対する外部機器(例えばかと呼び
)を操作して手動による入力を行なう必要がある。しか
し、エレベータが動作することによって本来自動的に外
部機器が発生してくる信号入力(例えば、かご位置入力
信号などがある)に対しては手動による動作は不要とな
る。
なお、外部信号無効信号(26b、)がONとなったと
きに、外部入力信号(26a++)〜(2aann)は
全て無効となり、試験用入力信号(26b++)〜(2
6b、11)のみが有効となって入力信号(26ct+
)〜(Bc@n)として取り込まれて、制御等のために
内部で使用される0図中には電圧変換回路等が記載され
ていないが、外部入力信号(26aII) ”’(26
aan)は既に電圧変換等の処理が成されたものとして
いる。
きに、外部入力信号(26a++)〜(2aann)は
全て無効となり、試験用入力信号(26b++)〜(2
6b、11)のみが有効となって入力信号(26ct+
)〜(Bc@n)として取り込まれて、制御等のために
内部で使用される0図中には電圧変換回路等が記載され
ていないが、外部入力信号(26aII) ”’(26
aan)は既に電圧変換等の処理が成されたものとして
いる。
次に、第5図ないし第13図は、順次、第2図の保守装
置(IQB) (r)CPtl 、第2図ノCPu (
9a)、同じく第2図のCPU (9a)、第2図のC
PU (6a)、同じく第2図のCPU (6a)、同
じく第2図のCPU (6a)、同じく第2図のCPU
(6a)、第2図の保守装置(IIA)のCPII
、同じく第2図の保守装置(IIA)のCPLIの各処
理手順を示し、記憶装置(6b)、(9b)に記憶され
て実行される。
置(IQB) (r)CPtl 、第2図ノCPu (
9a)、同じく第2図のCPU (9a)、第2図のC
PU (6a)、同じく第2図のCPU (6a)、同
じく第2図のCPU (6a)、同じく第2図のCPU
(6a)、第2図の保守装置(IIA)のCPII
、同じく第2図の保守装置(IIA)のCPLIの各処
理手順を示し、記憶装置(6b)、(9b)に記憶され
て実行される。
先ず、第5図は保守装置(IOB)としてのラップトツ
ブ型パソコンから動作試験の実行命令制御を行う場合の
手順で(ラップトツブ型パソコン上のCPuで実行され
るプログラム)、ラップトツブ型パソコンは、第5図の
手順にて操作員のキーボード操作に呼応して試験開始指
令の入力、結果表示指令の入力、エレベータ制御装置あ
るい屯よエレベータ群管理制御装置への試験開始指令の
送信、結果表示指令の送信を行う。
ブ型パソコンから動作試験の実行命令制御を行う場合の
手順で(ラップトツブ型パソコン上のCPuで実行され
るプログラム)、ラップトツブ型パソコンは、第5図の
手順にて操作員のキーボード操作に呼応して試験開始指
令の入力、結果表示指令の入力、エレベータ制御装置あ
るい屯よエレベータ群管理制御装置への試験開始指令の
送信、結果表示指令の送信を行う。
試験項目は複数あり、指定されたものについて実行させ
、試験結果の表示については表示処理も行う(ラップト
ツブ型パソコンでの表示処理については図示しない)。
、試験結果の表示については表示処理も行う(ラップト
ツブ型パソコンでの表示処理については図示しない)。
すなわち、交信開始コマンドをシリアル伝送装置(9d
)へ出力してエレベータの制御CPIJ (9a)に伝
送しくSl、52) 、CRTに操作開始0にを表示し
くS3)、キーボードからの試験開始OKと試験項目番
号(項目番号をnで代表する)を入力処理(S4)後、
シリアル伝送装置へ出力してエレベータの制御CPuに
伝送(S5)する、しかして、エレベータの制@ cp
uから項目nの試験終了信号を受信(5B)後、項目n
の試験終了を表示(S7)するとともに、項目nの試験
結果を表示するか否かを入力(58) L/た後、エレ
ベータの制御CPuに項目nの試験結果データの送信指
令を伝送(59,510) L、試験結果をラップトツ
ブ型パソコンに表示する手続を項目番号nに対応して呼
び出す(本発明とは直接関係しないため図示しない)
(Sll) 、そ8してキーボードから試験項目を更新
するか否か、さらに新たな項目を試験するかを入力(5
12,513) L、、試験終了コマンドをエレベータ
の制御CPt1に伝送して終了(514)する。
)へ出力してエレベータの制御CPIJ (9a)に伝
送しくSl、52) 、CRTに操作開始0にを表示し
くS3)、キーボードからの試験開始OKと試験項目番
号(項目番号をnで代表する)を入力処理(S4)後、
シリアル伝送装置へ出力してエレベータの制御CPuに
伝送(S5)する、しかして、エレベータの制@ cp
uから項目nの試験終了信号を受信(5B)後、項目n
の試験終了を表示(S7)するとともに、項目nの試験
結果を表示するか否かを入力(58) L/た後、エレ
ベータの制御CPuに項目nの試験結果データの送信指
令を伝送(59,510) L、試験結果をラップトツ
ブ型パソコンに表示する手続を項目番号nに対応して呼
び出す(本発明とは直接関係しないため図示しない)
(Sll) 、そ8してキーボードから試験項目を更新
するか否か、さらに新たな項目を試験するかを入力(5
12,513) L、、試験終了コマンドをエレベータ
の制御CPt1に伝送して終了(514)する。
また、第6図はラップトツブ型パソコンのプログラムと
呼応したエレベータの制御用CPu側の模擬試験認知と
模擬試験実行、模擬試験信号発生指令、模擬試験信号発
生の各処理を含んだプログラムの全体構成で、ここでは
、ラップトツブ型パソコンからの入力指令を受信して試
験項目番号に対応した項目の動作試験を実行する。
呼応したエレベータの制御用CPu側の模擬試験認知と
模擬試験実行、模擬試験信号発生指令、模擬試験信号発
生の各処理を含んだプログラムの全体構成で、ここでは
、ラップトツブ型パソコンからの入力指令を受信して試
験項目番号に対応した項目の動作試験を実行する。
本実施例では群管理制御装置に接続されて動作試験が行
われる場合を示す、よって本図は群管理制御装置のCP
Uにて実行されるプログラムであ、る。
われる場合を示す、よって本図は群管理制御装置のCP
Uにて実行されるプログラムであ、る。
先ず、パソコンから交信開始を受信(51)L/新たな
受信に備える。パソコンから試験開始を受信することに
より(S2)動作試験処理を開始し、試験項目に対応す
る模擬試験実行タスクを起動する(53)、起動された
タスクはこのプログラムと並列に実行される。そして模
擬試験実行タスクからの実行終了受信を待つ(54)、
パソコンに試験終了を送信(Sb)後、次の指示を待つ
、指示に従い次の処理を行う(S6〜S9)。
受信に備える。パソコンから試験開始を受信することに
より(S2)動作試験処理を開始し、試験項目に対応す
る模擬試験実行タスクを起動する(53)、起動された
タスクはこのプログラムと並列に実行される。そして模
擬試験実行タスクからの実行終了受信を待つ(54)、
パソコンに試験終了を送信(Sb)後、次の指示を待つ
、指示に従い次の処理を行う(S6〜S9)。
■項目nの試験結果データ(判定記録テーブル)の送信
[相]受信した新たな試験項目の実行
[相]aim試験の終了
また、第7図は第6図中の模擬試験実行タスクの手順で
、動作試験の例として全階かと呼び応答試験の場合を示
している。以下の説明は全階かと呼び応答試験を前提と
したものである。なお、他の動作試験については示して
いないが本発明の範囲では同様にして試験できるもので
ある。第7図(a)は各号機(各かご)の制御装置に動
作試験実行指令、項目番号、サービス可能階へのかご呼
びを登録指令を送信して各号機に対しても必要な動作試
験を行わせるもので、各かごの動作を群管理制御装置の
Ceuにて監視して動きを判定する。それの詳細は、第
7図(b)の動作記録タスク、第7図(C)の動作判定
ルーチンに示される。
、動作試験の例として全階かと呼び応答試験の場合を示
している。以下の説明は全階かと呼び応答試験を前提と
したものである。なお、他の動作試験については示して
いないが本発明の範囲では同様にして試験できるもので
ある。第7図(a)は各号機(各かご)の制御装置に動
作試験実行指令、項目番号、サービス可能階へのかご呼
びを登録指令を送信して各号機に対しても必要な動作試
験を行わせるもので、各かごの動作を群管理制御装置の
Ceuにて監視して動きを判定する。それの詳細は、第
7図(b)の動作記録タスク、第7図(C)の動作判定
ルーチンに示される。
すなわち、先ず、同図(a)において、各号機の制御装
置に動作試験実行指令、項目番号、サービス可能階への
かご呼びの登録指令を送信する(Sat) 、起動され
ると以後、各号機毎のタスクは1秒程度の間隔で、タス
クを閉じるまで繰り返して呼び出される。ここで、各号
機の動作チエツクが行われて記録される(Si2) 。
置に動作試験実行指令、項目番号、サービス可能階への
かご呼びの登録指令を送信する(Sat) 、起動され
ると以後、各号機毎のタスクは1秒程度の間隔で、タス
クを閉じるまで繰り返して呼び出される。ここで、各号
機の動作チエツクが行われて記録される(Si2) 。
全号機の動作記録タスクが閉じたかを判定しく5a3)
、動作記録タスクにて記録された各号機の動作記録テー
ブルから各号機の応答動作を階床毎に全て判定して判定
テーブルに格納する(Si2) 。
、動作記録タスクにて記録された各号機の動作記録テー
ブルから各号機の応答動作を階床毎に全て判定して判定
テーブルに格納する(Si2) 。
また、同図(b)は走査された号機番号をnとして処理
手順を示す動作記録タスクで、かご呼びとして応答する
場合の停止信号を受信したかを判定しく5bt) 、か
ご呼び停止を停止階に対応したテーブル位置に記憶する
(Sb2) 、そして停止して戸開したかを受信した戸
信号から判定しくSb’3) 、戸開を停止階に対応し
たテーブル位置に記憶する(Sb4) 、さらに登録さ
れたかご呼びがなくなった場合にタスクを閉じる(Sb
5.5b6) 。
手順を示す動作記録タスクで、かご呼びとして応答する
場合の停止信号を受信したかを判定しく5bt) 、か
ご呼び停止を停止階に対応したテーブル位置に記憶する
(Sb2) 、そして停止して戸開したかを受信した戸
信号から判定しくSb’3) 、戸開を停止階に対応し
たテーブル位置に記憶する(Sb4) 、さらに登録さ
れたかご呼びがなくなった場合にタスクを閉じる(Sb
5.5b6) 。
さらに、同図(C)は走査された号機番号をnとして処
理手順を示す動作判定ルーチンで、最下階から階床番号
を順次更新して(Scl)以下の処理を全階に渡り行う
、m床mが号機nのサービス階になっているか゛を仕様
テーブルにて判定しく5c2)、号機nの階床mの動作
記録テーブルの内容を取り出した(Sc’3)後、動作
記録テーブルに階床mにてかと呼び停止して、かつ戸開
したかを判定し、OKあるいはエラーを判定記録テーブ
ルの階床mの位置に記録する(Sc4〜5c8) 、そ
して、全ての階床について走査する(Sc7) 。
理手順を示す動作判定ルーチンで、最下階から階床番号
を順次更新して(Scl)以下の処理を全階に渡り行う
、m床mが号機nのサービス階になっているか゛を仕様
テーブルにて判定しく5c2)、号機nの階床mの動作
記録テーブルの内容を取り出した(Sc’3)後、動作
記録テーブルに階床mにてかと呼び停止して、かつ戸開
したかを判定し、OKあるいはエラーを判定記録テーブ
ルの階床mの位置に記録する(Sc4〜5c8) 、そ
して、全ての階床について走査する(Sc7) 。
次に、第8図(a)、(b)は模擬試験信号発生指令手
段ならびに模擬試験信号発生手段が含まれる各号機の制
御装置のCPuでのプログラムで、第6図、第7図にて
送信される動作試験実行指令、項目番号、サービス可能
階へのかご呼びを登録指令に基づいて各号機が実行する
動作試験手順である。 同図(a) において、“先ず
動作試験実行指令を受信しているかを判定しく5at)
、NOの場合は実行指令を受信していないとして終了す
る。そして、YESの時に外部信号無効信号を出力する
(Si2)ことで、全ての試験用入力接点信号接続コネ
クタの外部信号無効信号用アドレスに外部信号無効信号
を出力する。これにより、変換装置を介して試験用入力
接点信号接続コネクタが接続されている外部入力は全て
無効となる。その後項目番号nに対応する動作試験実行
ルーチンを呼び出す(Si3) 、そして次に全階かと
呼び応答試験としての項目番号nの動作試験実行ルーチ
ンである同図(b)において、全階かと呼び登録指令を
受信したかを判定しく5bl)、YESの時全階のかと
呼び信号入力対応アドレスにONを出力する(Sb2)
ことで、かご呼び入力用試験用入力接点信号接続コネク
タから模擬試験のかと呼び入力信号が全ての階に対応し
て出力される。正規のかと呼び入力信号は無効となって
いても、この手段によって、かご呼びが登録される。そ
の後、項目nの状態設定タスクを起動する(Sb3)
、起動されると0.1秒程度の間隔で、タスクを閉じる
まで繰り返して呼び出される。ここで、かごの状態に応
じた試験用入力信号が生成され、各種の試験用入力接点
信号接続コネクタから模擬試験入力信号が変換装置を介
して入力される。
段ならびに模擬試験信号発生手段が含まれる各号機の制
御装置のCPuでのプログラムで、第6図、第7図にて
送信される動作試験実行指令、項目番号、サービス可能
階へのかご呼びを登録指令に基づいて各号機が実行する
動作試験手順である。 同図(a) において、“先ず
動作試験実行指令を受信しているかを判定しく5at)
、NOの場合は実行指令を受信していないとして終了す
る。そして、YESの時に外部信号無効信号を出力する
(Si2)ことで、全ての試験用入力接点信号接続コネ
クタの外部信号無効信号用アドレスに外部信号無効信号
を出力する。これにより、変換装置を介して試験用入力
接点信号接続コネクタが接続されている外部入力は全て
無効となる。その後項目番号nに対応する動作試験実行
ルーチンを呼び出す(Si3) 、そして次に全階かと
呼び応答試験としての項目番号nの動作試験実行ルーチ
ンである同図(b)において、全階かと呼び登録指令を
受信したかを判定しく5bl)、YESの時全階のかと
呼び信号入力対応アドレスにONを出力する(Sb2)
ことで、かご呼び入力用試験用入力接点信号接続コネク
タから模擬試験のかと呼び入力信号が全ての階に対応し
て出力される。正規のかと呼び入力信号は無効となって
いても、この手段によって、かご呼びが登録される。そ
の後、項目nの状態設定タスクを起動する(Sb3)
、起動されると0.1秒程度の間隔で、タスクを閉じる
まで繰り返して呼び出される。ここで、かごの状態に応
じた試験用入力信号が生成され、各種の試験用入力接点
信号接続コネクタから模擬試験入力信号が変換装置を介
して入力される。
また、第9図は第8図中の状態設定タスク(項目n・・
・全階かご呼び応答試験)の手順を示しており、かごの
状態モードに応じて必要な模擬入力信号を出力するもの
であって、試験用入力接点信号接続コネクタの外部信号
に対応した入力信号用アドレスに模擬外部信号を出力す
る。(なお、図では各モードでのPA擬外部信号の出力
処理の詳細は示していない、第1θ図に例を示す、)先
ず、ステップS1にて停止時のモードかを判定し、YE
Sの時に停止時のブレーキの模擬入力信号を出力する(
52)、その後、ステップS3にて戸開時のモードかを
判定し、YESの時に戸開きによるドア位置の模擬入力
信号を出力する(S4)、また、ステップS5にて戸閉
時のモードかを判定し、YESの時に戸閉めによるドア
位置の模擬入力信号を出力する(Sa)。
・全階かご呼び応答試験)の手順を示しており、かごの
状態モードに応じて必要な模擬入力信号を出力するもの
であって、試験用入力接点信号接続コネクタの外部信号
に対応した入力信号用アドレスに模擬外部信号を出力す
る。(なお、図では各モードでのPA擬外部信号の出力
処理の詳細は示していない、第1θ図に例を示す、)先
ず、ステップS1にて停止時のモードかを判定し、YE
Sの時に停止時のブレーキの模擬入力信号を出力する(
52)、その後、ステップS3にて戸開時のモードかを
判定し、YESの時に戸開きによるドア位置の模擬入力
信号を出力する(S4)、また、ステップS5にて戸閉
時のモードかを判定し、YESの時に戸閉めによるドア
位置の模擬入力信号を出力する(Sa)。
その後、ステップS7にて起動時のモードかを判定し、
YESの時に起動時のモータ状態の模擬入力信号を出力
する(Sa)、また、ステップS9にて加速時のモード
かを判定し、YESの時に加速時のかご位置パルスの模
擬入力信号を出力する(510) 、その後ステップS
llにて全速走行時のモードかを判定し、YESの時に
全速時のかご位置パルスの模擬入力信号を出力する(S
12) 、その後ステップ513にて減速時のモードか
を判定しYESの時に減速時のかご位置パルスの模擬入
力信号を出力する(S14)ことにより終了する。
YESの時に起動時のモータ状態の模擬入力信号を出力
する(Sa)、また、ステップS9にて加速時のモード
かを判定し、YESの時に加速時のかご位置パルスの模
擬入力信号を出力する(510) 、その後ステップS
llにて全速走行時のモードかを判定し、YESの時に
全速時のかご位置パルスの模擬入力信号を出力する(S
12) 、その後ステップ513にて減速時のモードか
を判定しYESの時に減速時のかご位置パルスの模擬入
力信号を出力する(S14)ことにより終了する。
第10図は第9図中の模擬入力信号出力処理の詳細の例
として、戸開時のモードで模擬入力信号の出力手順を示
しく戸(ドア)の開き位置スイッチを模擬入力している
)、以下の手順に従って動作する。
として、戸開時のモードで模擬入力信号の出力手順を示
しく戸(ドア)の開き位置スイッチを模擬入力している
)、以下の手順に従って動作する。
試験用入力あるいは実機器入力の施錠スイッチ信号入力
がOFF(戸の錠が外れた)かを判定しく51)、OF
Fならば施錠スイッチ信号入力アドレスにONを出力す
る(S2)、施錠スイッチの場合と同じく、第一位置ス
イ、ツチ信号入力がONかを判定しくS3)、ONなら
ば第二位置スイッチ信号入力の入力模擬に移り、(lF
4ならば施錠スイッチONから戸開完了位置スイッチO
Nまでの模擬時間判定用の時間カウントに入る0時間が
第1の所定値以上になると第一位置スイッチ信号入力ア
ドレスにONを出力して終わる(53〜S7)、第一位
置スイッチ信号入力に続いて、さらに、第2の所定値以
上になると、第二位置スイッチ信号入力アドレスにON
を出力して終わる(88〜5IG)、第二位置スイッチ
信号入力に続いて、さらに、第3の所定値以上になると
、戸開完了位置スイッチ信号入力アドレスにONを出力
し、戸開時のモードを取り止めて戸閉時のモードを設定
する(S11〜513)。
がOFF(戸の錠が外れた)かを判定しく51)、OF
Fならば施錠スイッチ信号入力アドレスにONを出力す
る(S2)、施錠スイッチの場合と同じく、第一位置ス
イ、ツチ信号入力がONかを判定しくS3)、ONなら
ば第二位置スイッチ信号入力の入力模擬に移り、(lF
4ならば施錠スイッチONから戸開完了位置スイッチO
Nまでの模擬時間判定用の時間カウントに入る0時間が
第1の所定値以上になると第一位置スイッチ信号入力ア
ドレスにONを出力して終わる(53〜S7)、第一位
置スイッチ信号入力に続いて、さらに、第2の所定値以
上になると、第二位置スイッチ信号入力アドレスにON
を出力して終わる(88〜5IG)、第二位置スイッチ
信号入力に続いて、さらに、第3の所定値以上になると
、戸開完了位置スイッチ信号入力アドレスにONを出力
し、戸開時のモードを取り止めて戸閉時のモードを設定
する(S11〜513)。
また、第11図〜第13図は、戸の制御をかご上制御装
置で行う場合における第10図に変わる手順を示したも
のであり(第1図〜第9図は同様に用いる)、かご上制
御装置はエレベータ制御装置と同様の構成であるので、
第10図で示したほとんどの部分がかご上制御装置に8
行する形態となる。また、第12図のように、かご上制
御装置には第8図中の模擬試験信号発生手段に相当する
処理が必要となる。すなわち、第11図は項目番号nの
動作試験実行ルーチンにおける状態設定タスクのr戸開
時のモード」での詳細手続例で、各号機の制御装置のC
PUでの第10図相当プログラム鎗本図のようになり、
他の部分はかご上制御装置のCPuにおけるプログラム
にて実行される。実体的動作としては、ステップS1、
S2、にてかご上の制御装置上のCPuに模擬試験実行
中と合わせて戸開時モードの試験指令を送信し、ステッ
プS3、S4にてかご上制御装置上のcpuから戸開完
了位置スイッチ信号を受信すると、戸開時のモードを取
り止めて戸閉時のモードを設定する。
置で行う場合における第10図に変わる手順を示したも
のであり(第1図〜第9図は同様に用いる)、かご上制
御装置はエレベータ制御装置と同様の構成であるので、
第10図で示したほとんどの部分がかご上制御装置に8
行する形態となる。また、第12図のように、かご上制
御装置には第8図中の模擬試験信号発生手段に相当する
処理が必要となる。すなわち、第11図は項目番号nの
動作試験実行ルーチンにおける状態設定タスクのr戸開
時のモード」での詳細手続例で、各号機の制御装置のC
PUでの第10図相当プログラム鎗本図のようになり、
他の部分はかご上制御装置のCPuにおけるプログラム
にて実行される。実体的動作としては、ステップS1、
S2、にてかご上の制御装置上のCPuに模擬試験実行
中と合わせて戸開時モードの試験指令を送信し、ステッ
プS3、S4にてかご上制御装置上のcpuから戸開完
了位置スイッチ信号を受信すると、戸開時のモードを取
り止めて戸閉時のモードを設定する。
次に、第12図は模擬試験信号発生手段が含まれるかご
上の制御装置のCPUでのプログラムで、各号機制御装
置cpuでの第8図の一部に相当するプログラム例であ
る。
上の制御装置のCPUでのプログラムで、各号機制御装
置cpuでの第8図の一部に相当するプログラム例であ
る。
ステップS1にて動作試験実行指令を受信しているかを
判定し、外部信号無効信号を出力する(Sl)ことで、
全ての試験用入力接点信号接続コネクタの外部信号無効
信号用アドレスに外部信号無効信号を出力する。これに
より、変換装置を介して試験用入力接点信号接続コネク
タが接続されている外部入力は全て無効となる。そして
、ステップS3にて受信したモードに対応する動作試験
実行タスクを呼び出すことで、起動されると0.1秒程
度の間隔でタスクを閉じるまで繰り返して呼び出され、
ここで、かごの状態に応じた試験用入力信号が生成され
、各種の入力用試験用入力接点信号接続コネクタから模
擬試験入力信号が変換装置な介して入力される。さらに
、ステップS4にて入力信号を各号機制御装置cpuに
送信することで、変換装置を介して取り込まれたかご回
り機器からの入力信号を各号機制御装置cpuに送信す
る。
判定し、外部信号無効信号を出力する(Sl)ことで、
全ての試験用入力接点信号接続コネクタの外部信号無効
信号用アドレスに外部信号無効信号を出力する。これに
より、変換装置を介して試験用入力接点信号接続コネク
タが接続されている外部入力は全て無効となる。そして
、ステップS3にて受信したモードに対応する動作試験
実行タスクを呼び出すことで、起動されると0.1秒程
度の間隔でタスクを閉じるまで繰り返して呼び出され、
ここで、かごの状態に応じた試験用入力信号が生成され
、各種の入力用試験用入力接点信号接続コネクタから模
擬試験入力信号が変換装置な介して入力される。さらに
、ステップS4にて入力信号を各号機制御装置cpuに
送信することで、変換装置を介して取り込まれたかご回
り機器からの入力信号を各号機制御装置cpuに送信す
る。
さらに、第13図は動作試験実行タスク例としてr戸開
時のモード」を受信した場合に起動するタスクの手続で
、各号機制御装置cpuでの第10図相当プログラム例
を示し、次のように動作する。試験用入力あるい実機器
入力の施錠スイッチ信号入力がOFF (戸の錠が外れ
た)かを判定し、OFFならば施錠スイッチ信号入力ア
ドレスにONを出力する(Sl、 52)、そして、施
錠スイッチの場合と同じく第一位置スイッチ信号入力が
ONかを判定し、ONならば第二位置スイッチ信号入力
の入力模擬に穆り、OFFならば施錠スイッチONから
戸開完了位置スイッチONまでの模擬時間判定用の時間
カウントに入る0時間が第1の所定値以上になると第一
位置スイッチ信号入力アドレスにONを出力して終わる
(53〜57)。第一位置スイッチ信号入力に続いて、
さらに、第2の所定値以上になると、第二位置スイッチ
信号入力アドレスにONを出力して終わる(Sa〜51
0)、第二位置スイツ信号入力に続いて、さらに、第3
の所定値以上になると、戸開完了位置スイッヂ信号入力
アドレスにONを出力する(Sll、 512)。
時のモード」を受信した場合に起動するタスクの手続で
、各号機制御装置cpuでの第10図相当プログラム例
を示し、次のように動作する。試験用入力あるい実機器
入力の施錠スイッチ信号入力がOFF (戸の錠が外れ
た)かを判定し、OFFならば施錠スイッチ信号入力ア
ドレスにONを出力する(Sl、 52)、そして、施
錠スイッチの場合と同じく第一位置スイッチ信号入力が
ONかを判定し、ONならば第二位置スイッチ信号入力
の入力模擬に穆り、OFFならば施錠スイッチONから
戸開完了位置スイッチONまでの模擬時間判定用の時間
カウントに入る0時間が第1の所定値以上になると第一
位置スイッチ信号入力アドレスにONを出力して終わる
(53〜57)。第一位置スイッチ信号入力に続いて、
さらに、第2の所定値以上になると、第二位置スイッチ
信号入力アドレスにONを出力して終わる(Sa〜51
0)、第二位置スイツ信号入力に続いて、さらに、第3
の所定値以上になると、戸開完了位置スイッヂ信号入力
アドレスにONを出力する(Sll、 512)。
(発明の効果)
以上述べたようにこの発明によれば、エレベータを自動
試験させる場合において、試験を実行させるための指令
に基づいて入力装置に対してあたかもエレベータが実際
に稼動している場合と同様の入力信号を出力させるよう
にしたので、入力装置の型名の手配誤りや入力装置と外
部機器との接続の誤りあるいは情報伝達の誤りをも確認
できる。
試験させる場合において、試験を実行させるための指令
に基づいて入力装置に対してあたかもエレベータが実際
に稼動している場合と同様の入力信号を出力させるよう
にしたので、入力装置の型名の手配誤りや入力装置と外
部機器との接続の誤りあるいは情報伝達の誤りをも確認
できる。
第1図はこの発明の原理ブロック構成図、第2図はこの
発明を実現する具体的構成図、′s3図は第2図におけ
る変換装置(Be) 、(91) 5とコネクタ(8f
、) 、 (9f)の詳細説明図、第4図は第3図の内
部回路図、第5図ないし第13図は順次、第2図の保守
装置(IOB) (DCPtl 、第2図(7)CPL
I (9a)、同じく第2図のCPIJ (9a)、第
2図のCPLI (6a)、同じく第2図のCPLI
(6a)、同じく第2図のCPU (6a)、同じく第
2図のCPU (6a)、第2図の保守装置(IIA)
のcpu 、同じく第2図の保守装置(11^)のcp
uの各処理手順を示すフローチャートである。 図中、(12)はエレベータ群管理制御装置、(13)
はエレベータ制御装置、(14)は入力装置、(18)
は外部機器、(16)、(21)は出力装置、(22)
、(23)は模擬試験信号発生手段、(24)は指令装
置、(25)は模擬試験実行手段。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
発明を実現する具体的構成図、′s3図は第2図におけ
る変換装置(Be) 、(91) 5とコネクタ(8f
、) 、 (9f)の詳細説明図、第4図は第3図の内
部回路図、第5図ないし第13図は順次、第2図の保守
装置(IOB) (DCPtl 、第2図(7)CPL
I (9a)、同じく第2図のCPIJ (9a)、第
2図のCPLI (6a)、同じく第2図のCPLI
(6a)、同じく第2図のCPU (6a)、同じく第
2図のCPU (6a)、第2図の保守装置(IIA)
のcpu 、同じく第2図の保守装置(11^)のcp
uの各処理手順を示すフローチャートである。 図中、(12)はエレベータ群管理制御装置、(13)
はエレベータ制御装置、(14)は入力装置、(18)
は外部機器、(16)、(21)は出力装置、(22)
、(23)は模擬試験信号発生手段、(24)は指令装
置、(25)は模擬試験実行手段。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- エレベータに動作を選択させるための呼び寄せおよび行
き先呼びボタンなど外部機器からの情報を入力する入力
装置と、外部機器に情報または指令を出力する出力装置
とを備えたエレベータ制御手段に対し、上記入力装置を
介して動作指令情報を与えることにより試験動作を実行
するエレベータの自動試験装置において、上記動作指令
情報に基づき模擬試験信号の出力指令を与える模擬試験
信号発生指令手段と、上記模擬試験信号発生指令手段か
らの模擬試験信号出力指令に従い上記入力装置に対して
特定の入力を出力させる模擬試験信号発生手段とを備え
、上記模擬試験信号発生手段によって上記入力装置を介
して得られる入力情報に基づきエレベータを動作試験す
ることを特徴とするエレベータの自動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9062288A JPH01261182A (ja) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | エレベータの自動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9062288A JPH01261182A (ja) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | エレベータの自動試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01261182A true JPH01261182A (ja) | 1989-10-18 |
Family
ID=14003586
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9062288A Pending JPH01261182A (ja) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | エレベータの自動試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01261182A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021160923A (ja) * | 2020-04-03 | 2021-10-11 | 三菱電機株式会社 | エレベーターの制御盤の試験装置およびエレベーターの制御盤の試験方法 |
| JP2022181106A (ja) * | 2021-05-25 | 2022-12-07 | 三菱電機株式会社 | 制御盤試験システム |
-
1988
- 1988-04-13 JP JP9062288A patent/JPH01261182A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021160923A (ja) * | 2020-04-03 | 2021-10-11 | 三菱電機株式会社 | エレベーターの制御盤の試験装置およびエレベーターの制御盤の試験方法 |
| JP2022181106A (ja) * | 2021-05-25 | 2022-12-07 | 三菱電機株式会社 | 制御盤試験システム |
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