JPH01261626A - Photographing device - Google Patents
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- JPH01261626A JPH01261626A JP9057888A JP9057888A JPH01261626A JP H01261626 A JPH01261626 A JP H01261626A JP 9057888 A JP9057888 A JP 9057888A JP 9057888 A JP9057888 A JP 9057888A JP H01261626 A JPH01261626 A JP H01261626A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分軒)
本発明は、X線撮影又はTV撮影等に最適な撮影装置に
関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application) The present invention relates to a photographing device most suitable for X-ray photography, TV photography, etc.
(従来の技術)
この種の撮影装置として、工業製品等を非破壊検査する
Xm撮影装置を挙げることができる。(Prior Art) An example of this type of imaging device is an Xm imaging device for nondestructively inspecting industrial products and the like.
このX線撮影装置は、X線発生源とX線検出器との間に
被写体を配置し、被写体に向けて曝射され、被写体を透
過したX線を検出し、これを光学像に変換し、さらに光
強度に応じた電気信号に変換し、これをTV信号処理し
て被写体を画像化するものである。なお、−旦ディジタ
ル信号とする場合には、上記信号レベルに応じて例えば
256段階、512段階等に2値化して階調化し、この
ディジタル値の段階で画像処理を行った後に′r■信号
を作成しても同様に被写体を画像化することができる。This X-ray imaging device places a subject between an X-ray source and an X-ray detector, detects the X-rays that are emitted toward the subject, passes through the subject, and converts them into an optical image. , and further converts it into an electrical signal according to the light intensity, which is then subjected to TV signal processing to create an image of the subject. In addition, when converting it into a digital signal, it is binarized and gradated into 256 steps, 512 steps, etc. according to the above signal level, and image processing is performed at this digital value step, and then the 'r■ signal is converted into a digital signal. Even if you create a , you can image the subject in the same way.
そして、近年は、この種のX線撮影装置を半導体等の電
子部品、電子部品の実装用基板等を被写体とするものに
も実用化されている。In recent years, this type of X-ray imaging apparatus has also been put into practical use for photographing electronic components such as semiconductors, substrates for mounting electronic components, and the like.
(発明が解決しようとする問題点)
輝度レベルあるいは階調レベルは、デイスプレーに表示
される黒しベル〜白レベルに対応するもので、ディジタ
ルpl調の場合には撮影信号レベルを2値化した値が対
応し、信号レベルそのものが反映するものである。(Problem to be Solved by the Invention) The brightness level or gradation level corresponds to the black level to white level displayed on the display, and in the case of digital PL scale, the photographing signal level is binarized. The corresponding value corresponds to the signal level itself.
したがって、信号レベルが低いものばかりで構成される
画像は、全体的に黒レベルに近い階調の画像となってし
ままう。Therefore, an image composed of only low signal levels ends up being an image with a gradation close to the black level as a whole.
ここで、特に非破壊検査の場合には、xios射東件あ
るいは信号増幅器のゲインを一定とした場合には、検査
に値しない画像しか撮影できないという問題があった。Particularly in the case of non-destructive testing, there is a problem in that if the gain of the xios camera or signal amplifier is kept constant, only images that are not worthy of testing can be taken.
すなわち、X線を透過しにくい材質より構成される被写
体を!!影した場合には、検出されるX線強度が全体的
に低くなり、光学像を経て電気信号に変換した場合の信
号レベルも低くなっている。In other words, subjects made of materials that are difficult for X-rays to pass through! ! In the case of a shadow, the overall detected X-ray intensity is low, and the signal level when converted into an electrical signal via an optical image is also low.
従って、これを表示した場合には、輝度レベルが低いの
で全体的に暗い画像となり、またディジタル画像の場合
には階調差が少ない非常に見にくい画像となっていた。Therefore, when this is displayed, the brightness level is low, resulting in an overall dark image, and in the case of a digital image, the image is very difficult to see with little gradation difference.
このような現型は、必ずしもX線撮影装置だけでなく、
TV撮影の場合にも周囲の明るさ等によって決定される
ある東件下で撮影し、この撮影信号に基づきそのまま画
像化することにより、期待外れの画像しか得られないと
いう問題があった。These current models are not necessarily limited to X-ray imaging devices;
In the case of TV photography as well, there is a problem in that images are taken under certain conditions determined by the surrounding brightness, etc., and images are converted as they are based on the photographic signals, resulting in disappointing images.
そこで・、本発明の目的とするところは上述した従来の
問題点を解決し、被写体構造、撮影東件の相違等があっ
ても1!な画像化を行えることができる撮影装置を提供
することにある。Therefore, the purpose of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems, and to solve the above-mentioned problems even if there are differences in subject structure, shooting conditions, etc. An object of the present invention is to provide a photographing device that can perform accurate imaging.
し発明の構成1
(問題点を解決するための手段)
本発明は、イメージセンサより出力される被写体像デー
タに基づき、被写体像を画像化する撮影装置において、
信号レベルの基準値を設定する基準器と、被写体を撮影
した際の信号レベルと前記基準値とを比較する比較器と
、
この比較器の比較誤差が少なくなるように、撮影条件及
び、/または信号処理条件を変更制御する制御手段とを
設けた構成と12でいろ。Arrangement 1 of the Invention (Means for Solving Problems) The present invention provides a standard for setting a reference value of a signal level in a photographing device that images a subject image based on subject image data output from an image sensor. a comparator that compares the signal level when the subject is photographed with the reference value; and a control means that changes and controls the photographing conditions and/or the signal processing conditions so that the comparison error of the comparator is reduced. It's 12 and has a configuration with .
ここで、信号レベルの基準値としては、輝度レベル(デ
ィジタル画像の場合には階調レベル)が最も高い値(自
レベル)に設定しておくものが好ましく、また、撮影位
置に設定可能であって、かつ、適正撮影時には前記基準
値と同一の輝度レベルとして画像化される基準被写体を
設け、この基準被写体の撮影信号と前記基準値とを比較
する構成とすることもできる。Here, it is preferable that the reference value of the signal level is set to the value (self level) with the highest brightness level (gradation level in the case of digital images), and it is also possible to set it at the shooting position. In addition, a reference object that is imaged at the same brightness level as the reference value during proper imaging may be provided, and the imaging signal of this reference object may be compared with the reference value.
(作用)
被写体の構造あるいは撮影条件の相違(X線曝射量、カ
メラ撮影の場合には周囲の明るさ等)によって、所定の
画像品質が得られない恐れがある。(Function) Due to differences in the structure of the subject or the imaging conditions (the amount of X-ray exposure, ambient brightness in the case of camera imaging, etc.), there is a possibility that a predetermined image quality may not be obtained.
そこで、本発明では信号レベルの基準値を持ち、実際の
被写体あるいは予め輝度レベルが既知の基準被写体を撮
影した場合の撮影信号レベルと前記基準値とを比較し、
この比較誤差が少なくなるように制御して、最適な撮影
画像を得るようにしている。Therefore, the present invention has a signal level reference value, and compares the photographed signal level when photographing an actual subject or a reference subject whose brightness level is known in advance with the reference value,
Control is performed to reduce this comparison error to obtain an optimal photographed image.
たとえば、前記信号レベルの基準値(ディジタルの場合
には階調レベルに相当する)を輝度の最大レベル(自レ
ベル)に設定した場合には、実際に被写体を撮影した場
合の信号レベルの最大値と前記基準値とを比較する。そ
して、信号レベルが低い場合には撮影条件(例えば、光
源強度、X線曝射量を上げるようにする)を変更制御し
、あるいは、増幅器のゲインを上げ、いずれも結果的に
信号レベルを上げるように制御することになる。For example, if the signal level reference value (corresponding to the gradation level in the case of digital) is set to the maximum brightness level (self level), the maximum signal level when the subject is actually photographed is and the reference value. If the signal level is low, the imaging conditions (for example, increasing the light source intensity or X-ray exposure amount) are changed or the amplifier gain is increased, both of which result in an increase in the signal level. It will be controlled as follows.
このような制御により、コントラストのよい適正な撮影
画像を得ることができる。Through such control, an appropriate photographed image with good contrast can be obtained.
一方、信号レベルが基準値よりも大きい場合には、−E
記とは逆の制御により被写体の信号レベルを下げるよう
にして最適な画像を得る。特に、撮影信号レベルが大き
い場合には、サチレーシシンを起こしている場合もある
ので、このような制御は有効である。On the other hand, if the signal level is greater than the reference value, -E
The optimum image is obtained by lowering the signal level of the subject using the control opposite to that described above. Particularly when the imaging signal level is high, saturation may occur, so such control is effective.
また、上述したような制御は、必ずしも実際の被写体を
撮影して行うものに限らず、実際の被写体撮影前に、適
正撮影時での輝度レベルか既知の基準被写体を撮影し、
この信号レベルと前記基準値とを比較して制御を行うよ
うにしてもよい、この基準被写体は、適正撮影時では前
記基準値とほぼ同一レベルとなる画像であるので、この
被写体を撮影し、これを基準器出力と比較した誤差出力
が少ないものほど、適正な画像を撮影できる条件にある
といえる。Furthermore, the above-mentioned control is not necessarily performed by photographing an actual subject, but can also be performed by photographing a reference subject whose brightness level is known at the time of proper photographing, before photographing the actual subject.
Control may be performed by comparing this signal level with the reference value. Since this reference subject is an image that has approximately the same level as the reference value when properly photographed, this subject is photographed, It can be said that the smaller the error output when comparing this with the reference device output, the more suitable the conditions are for photographing an image.
(実施例)
以下、本発明を電子部品等の非破壊検査に用いられるX
ll検査装置に適用した一実施例について、図面を参照
して具体的に説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described.
An embodiment applied to a ll inspection device will be specifically described with reference to the drawings.
このX線検査装置は、XI!発生装置10のX!1管1
管上14!撮影を行うイメージセンサ40との間に被写
体20を配置してX線撮影を実行するものである。This X-ray inspection device is XI! X of generator 10! 1 tube 1
14 on the tube! X-ray photography is performed by placing a subject 20 between an image sensor 40 that performs photography.
前記X線発生部10は、X線を発生する前記X線管11
と、このX線管11に高電圧を印加する高電圧発生部1
2とから構成されている。X線管11は、その内部の真
空中に陰極フィラメントと、その対向極である陽極とを
具備し、フィラメントを加熱することで飛び出す熱電子
を直流高電圧によって加速し、これを陽極に衝突させ、
このときの熱電子の運動エネルギーをX線として得るも
のである。なお、このX線の曝射量は、X線管11の管
電圧またはフィラメント電流を可変することで、変化さ
せることが可能である。The X-ray generating section 10 includes the X-ray tube 11 that generates X-rays.
and a high voltage generator 1 that applies a high voltage to this X-ray tube 11.
It is composed of 2. The X-ray tube 11 is equipped with a cathode filament and an anode opposite to the cathode filament in its internal vacuum.Thermionic electrons ejected by heating the filament are accelerated by a high DC voltage and collided with the anode. ,
The kinetic energy of the thermoelectrons at this time is obtained as X-rays. Note that this X-ray exposure amount can be changed by varying the tube voltage or filament current of the X-ray tube 11.
また、上記X線管11として、いわゆる微小焦点X線源
を採用している9本実施例ではその焦点の大きさを10
0ミクロン以下好ましくは15ミクロン以下の微小焦点
X線源を採用している。このような微小焦点とするため
には、熱電子のターゲットである陽極上の微小領域に熱
電子を衝突させればよく、ターゲット領域を集束電極な
どによって絞ることで実現できる。In addition, in the nine embodiments in which a so-called minute focus X-ray source is adopted as the X-ray tube 11, the size of the focal point is 10.
A microfocus X-ray source of 0 microns or less, preferably 15 microns or less is used. In order to obtain such a minute focus, it is sufficient to cause the thermoelectrons to collide with a minute region on the anode, which is the target of the thermoelectrons, and this can be achieved by focusing the target region using a focusing electrode or the like.
前記被写体20は、本実施例の場合IC等の電子部品、
電子部品搭載用の実装基板あるいは多層基板であり、例
えばX−Yテーブル21上に載置することで、X線曝射
領域に設定可能となっている。In this embodiment, the subject 20 is an electronic component such as an IC,
It is a mounting board or a multilayer board for mounting electronic components, and can be set as an X-ray irradiation area by placing it on the X-Y table 21, for example.
なお、前記X−Yテーブル21上には、基準被写体22
も載置されており、常時はX線唱射領域外に設定され、
必要に応じて撮影条件の設定時にテーブル移動によって
xtiq射領域に配置可能となっている。なお、この基
準被写体22の詳細については後述する。Note that a reference object 22 is placed on the X-Y table 21.
is also installed, and is always set outside the X-ray emitting area.
If necessary, it can be placed in the xtiq radiation area by moving the table when setting imaging conditions. Note that details of this reference subject 22 will be described later.
上記X線像を画像化するために、被写体20を介してX
Ilを入力する前記イメージセンサ40が設けられてい
る。ここで、本実施例ではこのイメージセンサ40とし
てビジコンを採用しているが、このビジコンはX線入力
面である光導電面がXIlにも感応するもので、X線強
度に応じた電気信号が出力される。In order to convert the above-mentioned X-ray image into an image,
The image sensor 40 that inputs Il is provided. In this embodiment, a vidicon is used as the image sensor 40, but the photoconductive surface of this vidicon, which is an X-ray input surface, is also sensitive to XIl, and an electrical signal corresponding to the X-ray intensity is generated. Output.
さらに、このイメージセンサ40の後段には例えば利得
可変型の増幅器50が設けられ、後述するようにして扶
定されるゲインによって前記電気信号を増幅して出力す
るようになっている。Further, a variable gain amplifier 50, for example, is provided downstream of the image sensor 40, and is configured to amplify and output the electric signal using a gain determined as described later.
また、前記増幅器50の出力を入力する画像処理部60
が設けられ、この画像処理部60では前記電気信号を予
め定められた一定のレベル範囲毎に256段階又は51
2段階に2値化し、この2値化された階調信号に対して
輪郭強調等の画像処理を施して出力する。Further, an image processing section 60 receives the output of the amplifier 50.
The image processing unit 60 divides the electric signal into 256 levels or 51 levels for each predetermined level range.
The signal is binarized in two stages, and the binarized gradation signal is subjected to image processing such as edge enhancement and output.
さらに、画像処理部60の後段には1゛v信号処理部7
0が設けられ、画像処理部60の出力であるディジタル
信号をアナログ信号に変換し、さらに同期信号の重畳等
の処理を施して′r■信号とし、後段のデイスプレー8
0にて影像表示可能としている。Furthermore, a 1゛v signal processing section 7 is provided after the image processing section 60.
0 is provided, and the digital signal output from the image processing section 60 is converted into an analog signal, and further processed such as superimposing a synchronization signal to become the 'r■ signal, which is then sent to the display 8 at the subsequent stage.
0 enables image display.
次に、本実施例装置の特徴的構成について説明する。Next, the characteristic configuration of the device of this embodiment will be explained.
この装置では、輝度レベルの少なくとも一レベル例えば
最大レベル(白レベル)に対応する信号レベル基準値を
設定する基準器90と、被写体20または基準被写体2
2を撮影した際の信号レベルと前記基準値とを比較する
比較器100と、この比較器100の比較誤差が少なく
なるように、撮影条件及び/または信号処理条件を変更
間開する制御手段としてのCPUll0とを設けている
。This device includes a reference device 90 for setting a signal level reference value corresponding to at least one brightness level, for example, a maximum level (white level), and a reference device 90 for setting a signal level reference value corresponding to at least one luminance level, for example, a maximum level (white level), and a subject 20 or a reference subject 2.
a comparator 100 that compares the signal level when photographing 2 with the reference value; and a control means for changing the photographing conditions and/or signal processing conditions so as to reduce the comparison error of the comparator 100. CPUll0 is provided.
なお、本実施例ではW2増幅器50から比較器100に
入力される信号経路途中にスイッチSWを配置し、この
スイッチSWがONの場合にのみ上述した制御を可能と
している。また、増幅器50の出力の内で姓大レベルの
信号が前記比較器100の入力となるように、スイッチ
SWの後段にはピークホールド回路等の最大レベル抽出
回路120が配置されている。In this embodiment, a switch SW is placed in the middle of the signal path input from the W2 amplifier 50 to the comparator 100, and the above-mentioned control is enabled only when this switch SW is ON. Further, a maximum level extraction circuit 120 such as a peak hold circuit is disposed at the subsequent stage of the switch SW so that a high level signal among the outputs of the amplifier 50 is input to the comparator 100.
また、前記CP U 11.0は、前記xi発生部10
の高電圧発生部12を制御して管電圧を可変すると共に
、前記増幅器50のゲインを可変制御するようになって
いる。Further, the CPU 11.0 includes the xi generation unit 10.
The tube voltage is varied by controlling the high voltage generating section 12 of the amplifier 50, and the gain of the amplifier 50 is also variably controlled.
次に、作用について説明する。Next, the effect will be explained.
X線管11でのxsiq射量及び増幅器50のゲインは
、通常一定の設定値にセットされているが、この設定値
では適正な画像を表示できない場合がある。Although the amount of xsiq radiation in the X-ray tube 11 and the gain of the amplifier 50 are usually set to constant set values, it may not be possible to display an appropriate image with these set values.
そこで、このような場合にはスイッチSWをONとし、
撮影東件及び増幅器50のゲインの自動調整モードを選
択することになる。Therefore, in such a case, turn on the switch SW,
The automatic adjustment mode of the imaging condition and the gain of the amplifier 50 will be selected.
ここで、上記モードに設定した後に、X線管11より被
写体20に向けてX線を曝射する。なお、本実施例では
、微小焦点xm源を採用しているので、X線密度を高め
るために大電力を要することもない。Here, after setting the above mode, X-rays are emitted from the X-ray tube 11 toward the subject 20. In addition, in this embodiment, since a fine focal point xm source is employed, a large amount of power is not required to increase the x-ray density.
そうすると、被写体20を透過したXIlはイメージセ
ンサ40に入力され、ここでX線透過像のX線強度に応
じた電気信号に変換されることになる。この際、本実施
例では微小焦点のXIl源であるX&i管11を採用し
ているので、ボヤヶのない鮮明なX線像をイメージセン
サ40の光導電面に投影することができる。Then, XIl transmitted through the subject 20 is input to the image sensor 40, where it is converted into an electrical signal corresponding to the X-ray intensity of the X-ray transmitted image. At this time, since this embodiment employs the X&I tube 11, which is a fine focus XIl source, a clear X-ray image without blur can be projected onto the photoconductive surface of the image sensor 40.
すなわち、第4図(b)示すように、微小焦点でない場
合には、本来の被写体透過像A1の他に、大焦点である
が故に発生ずる像のボヤケA2が発生するが、第4図(
a)示すように、微小焦点の場合には被写体20のX線
透過像のみがイメージセンサ40に入射することになる
ので、像のボヤヶのない鮮明な画像を得ることができる
。That is, as shown in FIG. 4(b), if the focal point is not minute, in addition to the original transmitted image A1 of the object, a blurred image A2, which occurs due to the large focal point, will occur.
As shown in a), in the case of a minute focus, only the transmitted X-ray image of the subject 20 will be incident on the image sensor 40, so a clear image without image blurring can be obtained.
このイメージセンサ40の出力である電気信号は、初期
設定されたゲインに従って増幅器50で増幅され、画像
処理部60に入力される。この画像処理部60では、ま
ずアナログ信号をディジタル値に変換して1Wj111
処理し、このディジタル信号に対して所定の画像処理を
施して出力することになる。なお、一般にX線像に基づ
く信号は、XIlを良好に透過する最大レベルと、Xl
lを透過しにくい最少レベルとの間のゾーンが広く、こ
れをこのまま表示すると、検査したい部分が集中するグ
レーゾーンの画像が、異なる材質であるにも拘らず同じ
ような階調レベルとなり、はっきりした画像が得られな
くなる。そこで、輪郭強調等の各種画像処理をディジタ
ル信号の段階で実行する必要があり、このために上記構
成のようにディジタル値に変換して各種処理を実行して
いる。The electrical signal output from the image sensor 40 is amplified by the amplifier 50 according to the initially set gain and input to the image processing section 60. This image processing unit 60 first converts the analog signal into a digital value and converts it to 1Wj111.
This digital signal is then subjected to predetermined image processing and output. Generally, the signal based on an X-ray image has a maximum level that transmits well through XIl, and a signal based on XIl.
There is a wide zone between the lowest level and the minimum level where it is difficult to transmit light, and if this is displayed as is, the image in the gray zone where the area to be inspected will be concentrated, will have the same gradation level even though they are made of different materials, and will be clearly visible. image cannot be obtained. Therefore, it is necessary to perform various types of image processing such as edge enhancement at the digital signal stage, and for this purpose, as in the above configuration, the digital signals are converted to digital values and various types of processing are performed.
画像処理が施されたディジタル信号は、TV信号処理部
においてでアナログ信号に変換された後にTV信号処理
され、このTV信号に従ってデイスプレー80上にX線
透過像を表示することができる。The image-processed digital signal is converted into an analog signal in the TV signal processing unit and then subjected to TV signal processing, and an X-ray transmission image can be displayed on the display 80 in accordance with the TV signal.
一方、前記スイッチSWがONされている調整モードで
は、最大レベル抽出回路120を介することで、前記増
幅器50の出力のうちの最大レベルの信号が比較器10
0の一方の入力端子に入力されることになる。前記比較
器100の他方の入力としては、基準器90の基準信号
レベルが入力されているので、この比較器100では上
記211の信号レベルを比較することになる。On the other hand, in the adjustment mode in which the switch SW is turned on, the maximum level signal of the output of the amplifier 50 is transmitted to the comparator 10 through the maximum level extraction circuit 120.
It will be input to one input terminal of 0. Since the reference signal level of the reference device 90 is input as the other input of the comparator 100, this comparator 100 compares the signal level of the signal 211 mentioned above.
ここで、前記基準器90の設定値としては、デイスプレ
ー80での最大レベル(白レベル)に対応する信号レベ
ル基準値が設定されているので、撮影信号中の最大レベ
ルとこの白レベルとが比較されることになる。Here, as the setting value of the reference device 90, a signal level reference value corresponding to the maximum level (white level) on the display 80 is set, so that the maximum level in the photographing signal and this white level are different. will be compared.
前記比較器100からは、両信号の誤差レベルが出力さ
れ、これがCPUll0に入力されることになる。そし
て、CPUll0は、前記撮影信号のレベルが低い場合
には、Xl1発生部10を制御してのxmoi射量の増
大制御と、前記増幅器50のゲインを上げる制御とのい
ずれか一方又は双方の制御を実行することになる。すな
わち、誤差が少ない場合には増幅器50のゲイン制御だ
けで足りる場合もあり、xsi、ts射量は人体への影
響及びサチレーションの関係上制限があり、このような
場合には増幅器50のゲインrAWも併せて実行する必
要等があるからである。The comparator 100 outputs the error level of both signals, which is input to the CPUll0. When the level of the imaging signal is low, the CPUll0 controls either or both of controlling the Xl1 generating unit 10 to increase the xmoi radiation amount and increasing the gain of the amplifier 50. will be executed. That is, if the error is small, it may be sufficient to just control the gain of the amplifier 50, and the xsi and ts radiation amounts are limited due to the influence on the human body and saturation, and in such cases, the gain rAW of the amplifier 50 may be sufficient. This is because there is a need to execute the above at the same time.
一方、撮影信号の最大レベルの方が大きい場合には、逆
にX&lO1射利川を少なくし、あるいは増幅器50の
ゲインを下げるようにするいずれか一方又は双方の制御
を実行することになる。On the other hand, if the maximum level of the photographing signal is higher, one or both of the following controls is performed: conversely, the X&lO1 ratio is decreased, or the gain of the amplifier 50 is lowered.
このような制御による結果として、第2図に示すように
、もし撮影信号の最大レベルが同図(B)のように低い
場合には、X線透過像の1@調化は黒レベルに近い側の
み使用したものとなるが、上記のようにしてXll[l
耐量又は増幅器50ゲインを上げる制御により、同図(
A)に示すように最大レベルはデイスプレー80の白し
ベlしに一致することになり、適正なX線透過像を表示
することが可能となる。また、このようにすれば、グレ
ーゾーンの領域での階調差も大きく取れるので、似通っ
たX線透過特性を持つ材質も、階調差のある画像として
表示可能となる。As a result of such control, as shown in Figure 2, if the maximum level of the imaging signal is low as shown in Figure 2 (B), the 1@tonation of the X-ray transmission image is close to the black level. Although only the side is used, Xll[l
By controlling the withstand capacity or increasing the amplifier 50 gain, the figure (
As shown in A), the maximum level corresponds to the white margin of the display 80, making it possible to display an appropriate X-ray transmission image. Further, in this way, a large difference in gradation can be achieved in the gray zone region, so even materials having similar X-ray transmission characteristics can be displayed as images with differences in gradation.
上記実施例は、被写体構造等によって適正画像が得られ
ない場合にも有効であるが、単にX線曝射量の一般的な
適正値及び増幅器50の適正ゲインを設定したい場合で
あれば、実際の被写体20の代わりに基準被写体22を
撮影領域に設定することで対処できる。The above embodiment is effective even when an appropriate image cannot be obtained due to the structure of the subject, etc., but if you simply want to set the general appropriate value of the X-ray exposure amount and the appropriate gain of the amplifier 50, it is actually This can be dealt with by setting the reference subject 22 as the photographing area instead of the subject 20 of .
この基準被写体22としては、例えば第3図に示す特性
のように、デイスプレー80の黒レベル0と自レベル2
55とに対応するように、X線を透過しにくい材質22
aとX線を良好に透過する材質22bとを有して構成す
る。そして、この撮影信号に基づき上記制御を同様に行
うことで、もしX線曝射量が少ないのであれば、撮影信
号の籠大レベルが基準レベルより低くなり、逆にX#l
1qI射量が少ないのであれば基準値より大きくなるの
で、これを是正するように制御することができる。As this reference object 22, for example, as shown in FIG.
55, material 22 that is difficult to transmit X-rays
a and a material 22b that satisfactorily transmits X-rays. Then, by performing the above control in the same way based on this imaging signal, if the amount of X-ray exposure is small, the cage level of the imaging signal will be lower than the reference level, and conversely, the X#l
If the 1qI radiation amount is small, it will be larger than the reference value, so control can be performed to correct this.
このことは、増幅器50のゲイン調整にも同様に有効で
ある。This is similarly effective for gain adjustment of the amplifier 50.
ここで、本実施例では、撮影倍率の変更を可能としてい
る。すなわち、デイスプレー80上に表示される画像の
撮影倍率は、第1図に示すようにX線管11より被写体
20の中心までの距離を!1とし、被写体20の中心よ
りイメージセンサ40の入力面までの距離を!2とした
時、デイスプレー80上に表示される被写体像の拡大率
は、11 +12 >711となる。そして、本実施例
装置ではイメージセンサ40の2方向位置を可変として
いるので、上記距離<11 +12 )を所望に変化さ
せることができ、この結果、デイスプレー80上に表示
されるX線像の撮影倍率を可変することができる。Here, in this embodiment, it is possible to change the imaging magnification. That is, the imaging magnification of the image displayed on the display 80 is determined by the distance from the X-ray tube 11 to the center of the subject 20, as shown in FIG. 1, and the distance from the center of the subject 20 to the input surface of the image sensor 40! 2, the magnification ratio of the subject image displayed on the display 80 is 11 +12 >711. In the present embodiment, since the position of the image sensor 40 in two directions is variable, the above-mentioned distance <11 +12 ) can be changed as desired, and as a result, the X-ray image displayed on the display 80 can be changed as desired. Shooting magnification can be varied.
なお、従来の第4図(b)に示すように大焦点のXll
源とした場合には、この大焦点より平行なX線が曝射さ
れるので、X線螢光増倍管等の入力面積が大きなものを
使用しなければX線撮影が不可能であったが、本実施例
では微小焦点のX線管11を使用しているので、入力面
の口径が数インチと小さいビジコン等をイメージセンサ
40として採用できる。また、このように口径の小さい
入力面であっても、被写体20のX、Y位置を移動して
スキャニングすることで、あるいは上述したようにX線
像の撮影倍率を拡大することで、電子部品の全体又はそ
の一部を所望に撮影することが可能となる。さらに、X
線螢光増倍管はビジコンに比べれば極めて高価であり、
本実施例の場合装置を安価にできる点でも優れている。In addition, as shown in the conventional figure 4(b),
When used as a source, parallel X-rays are emitted from this large focal point, so it was impossible to take X-rays without using something with a large input area, such as an X-ray fluorescence multiplier tube. However, in this embodiment, since the X-ray tube 11 with a minute focus is used, a vidicon or the like whose input surface has a small diameter of several inches can be used as the image sensor 40. In addition, even with such a small-diameter input surface, it is possible to scan electronic components by moving the X and Y positions of the subject 20 or by increasing the imaging magnification of the X-ray image as described above. It becomes possible to photograph the whole or part of it as desired. Furthermore, X
Linear photomultiplier tubes are extremely expensive compared to vidicons;
This embodiment is also advantageous in that the device can be made inexpensive.
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。Note that the present invention is not limited to the above embodiments,
Various modifications are possible within the scope of the invention.
例えば、上記実施例は撮影装置としてX線撮影装置を例
に挙げて説明したが、これに限らず他の放射線撮影の他
′rv撮影の場合にも同様に適用可能である。この場合
には、X線曝射量の制御の代わりに、その撮影粂件を決
定する撮影時の光源強度を制御すればよく、増幅器のゲ
イン調整に関しては同様に適用可能である。また、Tv
wa影の場合にはディジタル信号に変換を要さない場合
が多いので、この場合には輝度信号に関して基準値を設
定ずればよい。For example, although the above embodiment has been described using an X-ray imaging device as an example of the imaging device, the present invention is not limited to this, and can be similarly applied to other types of radiography as well as RV imaging. In this case, instead of controlling the X-ray exposure amount, it is sufficient to control the light source intensity at the time of imaging, which determines the imaging condition, and the same can be applied to the gain adjustment of the amplifier. Also, Tv
In the case of a wa shadow, conversion to a digital signal is often not required, so in this case, the reference value may be set for the luminance signal.
また、基準値としては必ずしも最大レベルに設定する必
要はなく、比較基準となる少なくとも一つのレベルであ
ればよい、基準被写体を使用する場合にあっても、例え
ばディジタル階調する堝きにあっては、その全ての階調
レベルに対応した多数の基準レベルを有するフィルター
あるいはマスクとして構成することができる。Also, the reference value does not necessarily need to be set to the maximum level, and it is sufficient to set at least one level as a comparison standard. can be configured as a filter or mask having multiple reference levels corresponding to all its tonal levels.
[発明の効果]
以F説明したように、本発明によれば撮影画像の輝度レ
ベル(ディジタル階調する場合には階調レベル)を基準
値と比較して、撮影条件又は信号処理条件を適正に制御
できるので、この補正された粂件下ではコントラストの
よい見やすい画像を得ることができ、とくに工業製品の
非破壊検査に用いた場合には、その検査を確実に実行で
きるという効果がある。[Effects of the Invention] As described in F below, according to the present invention, the brightness level (gradation level in the case of digital gradation) of a captured image is compared with a reference value to determine the appropriate shooting conditions or signal processing conditions. Therefore, under this corrected condition, an easy-to-see image with good contrast can be obtained, and especially when used for non-destructive inspection of industrial products, the inspection can be carried out reliably.
第1図は、本発明を電子部品等の非破壊検査装置である
X線撮影装置に適用した一実施例を説明するための概略
ブロック図、
第2図(A)は調整モードによって撮影条件を適正化し
た後のil[処理を示す特性図、同図(B)は撮影条件
等が適正でない場合の階調処理を示す特性図、
第3図(A)は基準被写体の概略説明図、同図(B)は
その撮影信号レベルを示す特性図、第4図(a)、(b
)は、微小焦点とそうでない場合のX線透過像を説明す
るたy)の概略説明図である。
11・・・微小焦点X線源、
20・・・被写体、
22・・・基準被写体、
40・・・イメージセンサ、
50・・・増幅器、
60・・・画像処理部、
70・・・TV信号処理部、
80・・・デイスプレー、
90・・・基準器、
100・・・比較器、
110・・・制御手段。
代理人 弁理士 井 上 −(他1名)第4図
(0)(b)FIG. 1 is a schematic block diagram for explaining an embodiment in which the present invention is applied to an X-ray imaging device that is a non-destructive inspection device for electronic components, etc. FIG. Figure 3 (B) is a characteristic diagram showing the gradation processing when the shooting conditions etc. are not appropriate. Figure 3 (A) is a schematic explanatory diagram of the reference subject. Figure (B) is a characteristic diagram showing the photographing signal level, and Figures 4 (a) and (b).
) is a schematic explanatory diagram of y) illustrating an X-ray transmission image in the case of a minute focus and in a case where it is not. DESCRIPTION OF SYMBOLS 11... Microfocus X-ray source, 20... Subject, 22... Reference subject, 40... Image sensor, 50... Amplifier, 60... Image processing unit, 70... TV signal Processing unit, 80...Display, 90...Reference device, 100...Comparator, 110...Control means. Agent Patent attorney Inoue - (1 other person) Figure 4 (0) (b)
Claims (1)
づき、被写体像を画像化する撮影装置において、 信号レベルの基準値を設定する基準器と、 被写体を撮影した際の信号レベルと前記基準値とを比較
する比較器と、 この比較器の比較誤差が少なくなるように、撮影条件及
び/または信号処理条件を変更制御する制御手段とを設
けたことを特徴とする撮影装置。[Claims] A photographing device that images a subject based on photographic data of the subject output from an image sensor, comprising: a reference device for setting a reference value of a signal level; and a signal level and a signal level when photographing the subject. A photographing apparatus comprising: a comparator for comparing the reference value with the reference value; and a control means for changing and controlling photographing conditions and/or signal processing conditions so as to reduce a comparison error of the comparator.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9057888A JPH01261626A (en) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | Photographing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9057888A JPH01261626A (en) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | Photographing device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01261626A true JPH01261626A (en) | 1989-10-18 |
Family
ID=14002316
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9057888A Pending JPH01261626A (en) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | Photographing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01261626A (en) |
Citations (8)
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1988
- 1988-04-13 JP JP9057888A patent/JPH01261626A/en active Pending
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