JPH0126162B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0126162B2 JPH0126162B2 JP58198516A JP19851683A JPH0126162B2 JP H0126162 B2 JPH0126162 B2 JP H0126162B2 JP 58198516 A JP58198516 A JP 58198516A JP 19851683 A JP19851683 A JP 19851683A JP H0126162 B2 JPH0126162 B2 JP H0126162B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic circuit
- unit
- approximate
- serial number
- resistance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/01—Manufacture or treatment
Landscapes
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電子回路の特性を計測し、この電子回
路の特性を所定の値になるように抵抗を供給し電
子回路を完成させる電子回路作成装置に関するも
のである。
路の特性を所定の値になるように抵抗を供給し電
子回路を完成させる電子回路作成装置に関するも
のである。
従来例の構成とその問題点
従来の厚膜ハイブリツドICの機能トリミング
を行う電子回路作成装置は、第１図に示すように
電子回路の回路特性を測定する測定工程１と、こ
の測定工程１により判定された抵抗に近い抵抗２
を選択する近似抵抗選択工程３と、選択された近
似抵抗２を測定工程１により測定された抵抗値に
なるようにトリミングするトリミング工程４と、
トリミングされた抵抗２ａを電子回路に装着する
装着工程５とからなるが、測定工程１と、近似抵
抗選択工程３、トリミング工程４、装着工程５が
一対一で対応しているため、いずれかの工程で故
障が発生した場合、装着全体が停してしまうため
効率が悪く、生産性が低いという欠点を有してい
た。
を行う電子回路作成装置は、第１図に示すように
電子回路の回路特性を測定する測定工程１と、こ
の測定工程１により判定された抵抗に近い抵抗２
を選択する近似抵抗選択工程３と、選択された近
似抵抗２を測定工程１により測定された抵抗値に
なるようにトリミングするトリミング工程４と、
トリミングされた抵抗２ａを電子回路に装着する
装着工程５とからなるが、測定工程１と、近似抵
抗選択工程３、トリミング工程４、装着工程５が
一対一で対応しているため、いずれかの工程で故
障が発生した場合、装着全体が停してしまうため
効率が悪く、生産性が低いという欠点を有してい
た。
発明の目的
本発明は、上記従来の欠点を解消するものであ
り、歩留まりの向上、生産性の向上を図るもので
ある。
り、歩留まりの向上、生産性の向上を図るもので
ある。
発明の構成
本発明の電子回路作成装置は、電子回路の調整
箇所に用いる抵抗以外の部品を装着した電子回路
の回路特性を計測し、この電子回路を調整するた
めに最適な抵抗値を選択する電子回路測定ユニツ
トと、この電子回路のシリアルナンバーを印字す
る印字ユニツトと、電子回路を調整するために計
測した回路特性データを電子回路のシリアルナン
バーと一致させながら記憶しておくメインコンコ
ントローラーと、装置が故障した際に電子回路を
ストツクし、また装置全体の流れのバランスを保
つバツフアーストツカーと、電子回路に印字され
たシリアルナンバーを読取り、メインコントロー
ラーに記憶しておいた回路特性データと電子回路
とを一致させるシリアルナンバー読取装置と、予
め抵抗値の異なる抵抗を複数個用意し、前記抵抗
の配列の中から、上記電子回路測定ユニツトによ
つて選択された抵抗値に近い値の近似抵抗を選択
する近似抵抗選択ユニツトと、選択された近似抵
抗を上記電子回路測定ユニツトにて測定された抵
抗値になるように抵抗値調整を行うトリミングユ
ニツトと、トリミングされた近似抵抗を前記電子
回路に装着する装着ユニツトとからなり、トリミ
ング不良を起した場合でも新しく別の近似抵抗を
修正トリミングし、電子回路の調整箇所に装着す
ることにより、回路全体が不良とならず、歩留ま
りが高くなり、生産性の高い電子回路の作成を可
能とするものである。
箇所に用いる抵抗以外の部品を装着した電子回路
の回路特性を計測し、この電子回路を調整するた
めに最適な抵抗値を選択する電子回路測定ユニツ
トと、この電子回路のシリアルナンバーを印字す
る印字ユニツトと、電子回路を調整するために計
測した回路特性データを電子回路のシリアルナン
バーと一致させながら記憶しておくメインコンコ
ントローラーと、装置が故障した際に電子回路を
ストツクし、また装置全体の流れのバランスを保
つバツフアーストツカーと、電子回路に印字され
たシリアルナンバーを読取り、メインコントロー
ラーに記憶しておいた回路特性データと電子回路
とを一致させるシリアルナンバー読取装置と、予
め抵抗値の異なる抵抗を複数個用意し、前記抵抗
の配列の中から、上記電子回路測定ユニツトによ
つて選択された抵抗値に近い値の近似抵抗を選択
する近似抵抗選択ユニツトと、選択された近似抵
抗を上記電子回路測定ユニツトにて測定された抵
抗値になるように抵抗値調整を行うトリミングユ
ニツトと、トリミングされた近似抵抗を前記電子
回路に装着する装着ユニツトとからなり、トリミ
ング不良を起した場合でも新しく別の近似抵抗を
修正トリミングし、電子回路の調整箇所に装着す
ることにより、回路全体が不良とならず、歩留ま
りが高くなり、生産性の高い電子回路の作成を可
能とするものである。
また、装置全体のいずれかのユニツトが故障し
た際、例えば、測定ユニツトが故障した際に、バ
ツフアーストツカーにストツクされていた電子回
路を後工程に流すことにより装置全体の流れのバ
ランスを保つことが出来、バツフアーストツカー
から後工程のユニツトが故障した際には、測定ユ
ニツトは動作させておき、電子回路特性データは
メインコントラーに記憶させ、またシリアルナン
バーを印字後、バツフアーストツカーにストツク
させることにより、装置全体を効率よく稼動さ
せ、生産性の高い電子回路の作成を可能とする。
た際、例えば、測定ユニツトが故障した際に、バ
ツフアーストツカーにストツクされていた電子回
路を後工程に流すことにより装置全体の流れのバ
ランスを保つことが出来、バツフアーストツカー
から後工程のユニツトが故障した際には、測定ユ
ニツトは動作させておき、電子回路特性データは
メインコントラーに記憶させ、またシリアルナン
バーを印字後、バツフアーストツカーにストツク
させることにより、装置全体を効率よく稼動さ
せ、生産性の高い電子回路の作成を可能とする。
実施例の説明
以下に、本発明の実施例の第２図にもとづいて
説明する。図において、１１はメインコントロー
ラー、１２はシーケンスコントローラー、１３は
近似抵抗選択ユニツト、１４は近似抵抗選択ユニ
ツト１３により選択された近似抵抗１７を電子回
路測定ユニツト１９によつて測定された抵抗値に
なるようにレーザ光等によつて抵抗値調整を行う
公知のトリミングユニツト、１５は厚膜ハイブリ
ツドIC等の電子回路２６の調整箇所にトリミン
グユニツト１４によつてトリミングされた抵抗１
７ａを固着させるための固着剤を塗布する塗布ユ
ニツト、１６はトリミング済の抵抗１７ａを電子
回路２６へ装着する装着ユニツト、１８は電子回
路２６の位置決めを行うＸ−Ｙテーブル、２０は
測定ユニツト１９の測定ヘツドである電子回路２
６への測定用ピン（図示せず）を備えている。３
１は、電子回路２６をＸ−Ｙテーブル１８に搬送
する搬送コンベアー、２２は近似抵抗選択ユニツ
ト１３によつて選択された近似抵抗１７をトリミ
ングユニツト１４へ搬送するコンベアー、２３は
トリミングユニツト１４において、トリミングエ
ラーが発生した際、再度修正トリミングを行うた
め修正トリミングを行う近似抵抗２８をトリミン
グユニツト１４まで搬送する修正コンベアーであ
る。
説明する。図において、１１はメインコントロー
ラー、１２はシーケンスコントローラー、１３は
近似抵抗選択ユニツト、１４は近似抵抗選択ユニ
ツト１３により選択された近似抵抗１７を電子回
路測定ユニツト１９によつて測定された抵抗値に
なるようにレーザ光等によつて抵抗値調整を行う
公知のトリミングユニツト、１５は厚膜ハイブリ
ツドIC等の電子回路２６の調整箇所にトリミン
グユニツト１４によつてトリミングされた抵抗１
７ａを固着させるための固着剤を塗布する塗布ユ
ニツト、１６はトリミング済の抵抗１７ａを電子
回路２６へ装着する装着ユニツト、１８は電子回
路２６の位置決めを行うＸ−Ｙテーブル、２０は
測定ユニツト１９の測定ヘツドである電子回路２
６への測定用ピン（図示せず）を備えている。３
１は、電子回路２６をＸ−Ｙテーブル１８に搬送
する搬送コンベアー、２２は近似抵抗選択ユニツ
ト１３によつて選択された近似抵抗１７をトリミ
ングユニツト１４へ搬送するコンベアー、２３は
トリミングユニツト１４において、トリミングエ
ラーが発生した際、再度修正トリミングを行うた
め修正トリミングを行う近似抵抗２８をトリミン
グユニツト１４まで搬送する修正コンベアーであ
る。
２４は、トリミングユニツト１４においてトリ
ミングを行う近似抵抗１７の抵抗値測定を行う電
極、２５は、修正トリミングを行う近似抵抗２８
の抵抗値測定を行う修正電極、２７は、Ｘ−Ｙテ
ーブル１８の駆動制御を行う数値制御装置であ
る。
ミングを行う近似抵抗１７の抵抗値測定を行う電
極、２５は、修正トリミングを行う近似抵抗２８
の抵抗値測定を行う修正電極、２７は、Ｘ−Ｙテ
ーブル１８の駆動制御を行う数値制御装置であ
る。
３２は、電子回路測定ユニツト１９により測定
された電子回路２６に電子回路２６のシリアルナ
ンバーを印字する印字ユニツト、２９は、電子回
路２６をストツクするバツフアーストツカー、３
０は電子回路２６に印字されたシリアルナンバー
を読取り、メインコントローラー１１に記憶して
おいた回路特性データと電子回路２６と一致させ
るシリアルナンバー読取装置である。
された電子回路２６に電子回路２６のシリアルナ
ンバーを印字する印字ユニツト、２９は、電子回
路２６をストツクするバツフアーストツカー、３
０は電子回路２６に印字されたシリアルナンバー
を読取り、メインコントローラー１１に記憶して
おいた回路特性データと電子回路２６と一致させ
るシリアルナンバー読取装置である。
以上の構成において、電子回路２６は、測定ヘ
ツド２０によつて測定され、測定ユニツト１９に
よつて、電子回路２６の調整箇所に必要な抵抗値
の演算を行い、その演算結果は、メインコントロ
ーラー１１に転送される。次に測定が終了した電
子回路２６は、シリアルナンバー印字ユニツト３
２により、電子回路２６のシリアルナンバーが印
字される。シリアルナンバーが印字された電子回
路２６は、バツフアーストツカー２９より後工程
で、故障あるいは、電子回路２６がストツクされ
ている状態の場合、バツフアーストツカー２９に
ストツクされる。バツフアストツカー２９あるい
は、測定コンベアー２１から供給された電子回路
２６は、シリアルナンバー読取装置３０により、
電子回路のシリアルナンバーを読取り、メインコ
ントローラー１１に記憶しておいた回路特性デー
タと電子回路２６とを一致させ、その結果をもと
に、シーケンスコントローラー１２を介して、近
似抵抗選択ユニツト１３が動作し、近似抵抗１７
の選択が行われ、必要とする抵抗値に近い近似抵
抗１７がコンベアー２２へ移される。次に、近似
抵抗１７は、コンベアー２２により、トリミング
ユニツト１４まで搬送され、電極２４によつて、
抵抗値を測定しながら、調整箇所の抵抗値になる
まで、トリミングユニツト１４のレーザ光によつ
てトリミングされる。トリミングされた抵抗１７
ａはコンベアー２２により、装着ユニツト１６に
対応する位置まで搬送され、所定の位置に到着
後、装着ユニツト１６により、Ｘ−Ｙテーブル１
８にセツテイングされている電子回路２６上へ装
着される。この一連の流れの中で、トリミング不
良が発生した際には、トリミング不良を発生した
近似抵抗１７と同じ抵抗値の別の近似抵抗を再
度、近似抵抗選択ユニツト１３により選択し、選
択された修正用の近似抵抗２８は修正コンベアー
２３により、トリミングユニツト１４まで搬送さ
れ、修正電極２５により測定されつつ修正トリミ
ングされる。修正トリミングされた抵抗２８ａ
は、コンベアー２２と合流し、電子回路２６に装
着される。なお、トリミングエラーを発生した近
似抵抗は廃除される。
ツド２０によつて測定され、測定ユニツト１９に
よつて、電子回路２６の調整箇所に必要な抵抗値
の演算を行い、その演算結果は、メインコントロ
ーラー１１に転送される。次に測定が終了した電
子回路２６は、シリアルナンバー印字ユニツト３
２により、電子回路２６のシリアルナンバーが印
字される。シリアルナンバーが印字された電子回
路２６は、バツフアーストツカー２９より後工程
で、故障あるいは、電子回路２６がストツクされ
ている状態の場合、バツフアーストツカー２９に
ストツクされる。バツフアストツカー２９あるい
は、測定コンベアー２１から供給された電子回路
２６は、シリアルナンバー読取装置３０により、
電子回路のシリアルナンバーを読取り、メインコ
ントローラー１１に記憶しておいた回路特性デー
タと電子回路２６とを一致させ、その結果をもと
に、シーケンスコントローラー１２を介して、近
似抵抗選択ユニツト１３が動作し、近似抵抗１７
の選択が行われ、必要とする抵抗値に近い近似抵
抗１７がコンベアー２２へ移される。次に、近似
抵抗１７は、コンベアー２２により、トリミング
ユニツト１４まで搬送され、電極２４によつて、
抵抗値を測定しながら、調整箇所の抵抗値になる
まで、トリミングユニツト１４のレーザ光によつ
てトリミングされる。トリミングされた抵抗１７
ａはコンベアー２２により、装着ユニツト１６に
対応する位置まで搬送され、所定の位置に到着
後、装着ユニツト１６により、Ｘ−Ｙテーブル１
８にセツテイングされている電子回路２６上へ装
着される。この一連の流れの中で、トリミング不
良が発生した際には、トリミング不良を発生した
近似抵抗１７と同じ抵抗値の別の近似抵抗を再
度、近似抵抗選択ユニツト１３により選択し、選
択された修正用の近似抵抗２８は修正コンベアー
２３により、トリミングユニツト１４まで搬送さ
れ、修正電極２５により測定されつつ修正トリミ
ングされる。修正トリミングされた抵抗２８ａ
は、コンベアー２２と合流し、電子回路２６に装
着される。なお、トリミングエラーを発生した近
似抵抗は廃除される。
発明の効果
このように本発明によれば、トリミング不良を
発生した際にも、別の近似抵抗によつて再度トリ
ミングし電子回路に供給が可能であるため厚膜ハ
イブリツドICを直接トリミングする場合に比べ、
回路全体が不良となつてしまうこともなく、IC
の歩留まりが高くなり、生産性の高いシステムで
あるという効果が得られる。
発生した際にも、別の近似抵抗によつて再度トリ
ミングし電子回路に供給が可能であるため厚膜ハ
イブリツドICを直接トリミングする場合に比べ、
回路全体が不良となつてしまうこともなく、IC
の歩留まりが高くなり、生産性の高いシステムで
あるという効果が得られる。
また、装置全体のいずれかのユニツトが故障し
た際、例えば、測定ユニツトが故障した際に、バ
ツフアーストツカーにストツクされていた電子回
路を後工程に流すことにより、装置全体の流れの
バランスを保つことが出来、バツフアストツカー
から後工程のユニツトが故障した際には、測定ユ
ニツトは動作させておき、電子回路特性データは
メインコントローラーに記憶させ、またシリアル
ナンバーを印字後、バツフアーストツカーにスト
ツクさせることにより、装置全体を停止させるこ
となく、効率よく稼動させ、生産性の高い電子回
路の作成を可能とする。
た際、例えば、測定ユニツトが故障した際に、バ
ツフアーストツカーにストツクされていた電子回
路を後工程に流すことにより、装置全体の流れの
バランスを保つことが出来、バツフアストツカー
から後工程のユニツトが故障した際には、測定ユ
ニツトは動作させておき、電子回路特性データは
メインコントローラーに記憶させ、またシリアル
ナンバーを印字後、バツフアーストツカーにスト
ツクさせることにより、装置全体を停止させるこ
となく、効率よく稼動させ、生産性の高い電子回
路の作成を可能とする。
第１図は、従来例のシステム構成図、第２図は
本発明の一実施例のシステム構成図である。 １１…メインコントローラー、１２…シーケン
スコントローラー、１３…近似抵抗選択ユニツ
ト、１４…トリミングユニツト、１５…塗布ユニ
ツト、１６…装着ユニツト、１７…近似抵抗、１
７ａ…抵抗、１８…Ｘ−Ｙテーブル、１９…電子
回路測定ユニツト、２０…測定ヘツド、２１…測
定コンベアー、２２…コンベアー、２３…修正コ
ンベアー、２４…電極、２５…修正電極、２６…
電子回路、２７…数値制御装置、２８…近似抵
抗、２９…バツフアーストツカー、３０…シリア
ルナンバー読取装置、３１…搬送コンベアー、３
２…印字ユニツト。
本発明の一実施例のシステム構成図である。 １１…メインコントローラー、１２…シーケン
スコントローラー、１３…近似抵抗選択ユニツ
ト、１４…トリミングユニツト、１５…塗布ユニ
ツト、１６…装着ユニツト、１７…近似抵抗、１
７ａ…抵抗、１８…Ｘ−Ｙテーブル、１９…電子
回路測定ユニツト、２０…測定ヘツド、２１…測
定コンベアー、２２…コンベアー、２３…修正コ
ンベアー、２４…電極、２５…修正電極、２６…
電子回路、２７…数値制御装置、２８…近似抵
抗、２９…バツフアーストツカー、３０…シリア
ルナンバー読取装置、３１…搬送コンベアー、３
２…印字ユニツト。
Claims (1)
- １ 電子回路の回路特性を計測し、その電子回路
を調整するために必要な抵抗値を判定する電子回
路測定ユニツトと、この電子回路のシリアルナン
バーを印字する印字ユニツトと、電子回路を調整
するために計測した回路特性データを電子回路の
シリアルナンバーと一致させながら記憶しておく
メインコントローラーと、電子回路をストツク
し、装置全体の流れのバランスを保つバツフアー
ストツカーと、電子回路に印字されたシリアルナ
ンバーを読取り、メインコントローラーに記憶し
ておいた回路特性データと電子回路とを一致させ
るシリアルナンバー読取装置と、予め抵抗値の異
なる抵抗を複数個備え、この抵抗の中から、前記
電子回路測定ユニツトによつて判定された抵抗値
に近い値の近似抵抗を選択する近似抵抗選択ユニ
ツトと、選択された近似抵抗を前記電子回路測定
ユニツトにて測定された抵抗値になるようにトリ
ミングし抵抗値調整を行うトリミングユニツト
と、トリミングされた抵抗を前記電子回路に装着
する装着ユニツトとからなる電子回路作成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58198516A JPS6089954A (ja) | 1983-10-24 | 1983-10-24 | 電子回路作成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58198516A JPS6089954A (ja) | 1983-10-24 | 1983-10-24 | 電子回路作成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6089954A JPS6089954A (ja) | 1985-05-20 |
| JPH0126162B2 true JPH0126162B2 (ja) | 1989-05-22 |
Family
ID=16392434
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58198516A Granted JPS6089954A (ja) | 1983-10-24 | 1983-10-24 | 電子回路作成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6089954A (ja) |
-
1983
- 1983-10-24 JP JP58198516A patent/JPS6089954A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6089954A (ja) | 1985-05-20 |
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