JPH0126561B2 - - Google Patents

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JPH0126561B2
JPH0126561B2 JP58233131A JP23313183A JPH0126561B2 JP H0126561 B2 JPH0126561 B2 JP H0126561B2 JP 58233131 A JP58233131 A JP 58233131A JP 23313183 A JP23313183 A JP 23313183A JP H0126561 B2 JPH0126561 B2 JP H0126561B2
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JP
Japan
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transistor
column
input
units
bonding
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JP58233131A
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JPS60124954A (en
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Kyoichi Ishii
Hiromoto Yamawaki
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication of JPH0126561B2 publication Critical patent/JPH0126561B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野 本発明は高周波高出力トランジスタのパター
ン、特に高周波特性およびワイヤボンデイングの
方式を改善した2列配置トランジスタユニツトの
パターンと、高周波高出力トランジスタのチツプ
上のボンデイングパツド(電極)の配置に関す
る。
[Detailed Description of the Invention] (1) Technical Field of the Invention The present invention relates to a pattern of a high-frequency, high-power transistor, particularly a pattern of a two-row transistor unit with improved high-frequency characteristics and a wire bonding method, and a chip of a high-frequency, high-power transistor. Regarding the arrangement of the bonding pads (electrodes) above.

(2) 技術の背景 第1図に示される高周波高出力トランジスタが
知られており、同図において、1はトランジスタ
チツプ、2はチツプ1内に形成されたトランジス
タユニツト、3は内部整合用MOS−C、4は入
力端子(ベース電極に接続のものとする)、5は
出力端子(コレクタ電極に接続)、6はシヨート
ブリツジ(これの下にコレクタ電極への配線が配
置される)、7は接地兼放熱用フランジ(図示の
トランジスタはエミツタ接地とする)、8は接地
用ワイヤ、9は入力用ワイヤを示す。
(2) Background of the Technology A high-frequency, high-output transistor shown in Fig. 1 is known. In the figure, 1 is a transistor chip, 2 is a transistor unit formed in the chip 1, and 3 is an internal matching MOS transistor. C, 4 is the input terminal (connected to the base electrode), 5 is the output terminal (connected to the collector electrode), 6 is the short bridge (the wiring to the collector electrode is placed below this), and 7 is the ground The flange also serves as a heat dissipation flange (the emitter of the illustrated transistor is grounded), 8 is a grounding wire, and 9 is an input wire.

(3) 従来技術と問題点 高周波高出力トランジスタにはいくつかの問題
がある。高周波高出力トランジスタという特別の
トランジスタがあるのではなくて、高周波小信号
のトランジスタ(これはトランジスタユニツトと
呼ばれる)を多数集め、並列に配置し動作させて
高周波高出力を得るものである。問題の一つは、
かかるユニツトからいかにして1+1=2、2+
2=4………という具合に出力を得るかである。
かかる高周波小信号トランジスタは数多くのもの
が動作するのであるが、それを作るときのウエハ
内のバラツキ、組立のときのバラツキがあり、す
べてが均一に動作しない。それらをいかにして均
一に働かせるかがいかに優れた高周波高出力トラ
ンジスタを得るかに重要な意義をもつ。それの解
決の一つが接地端子のパターンである。すなわ
ち、高周波高出力トランジスタにおいては、高出
力化のために長大なエミツタ周囲長、従つてそれ
を収容配置するための大面積のコレクタ、ひいて
は大面積の半導体チツプを使用することとなる。
一方、高周波で大面積に配置されたエミツタまた
は適切なエミツタ周囲長をもつたトランジスタユ
ニツト群を均一に動作させるため、そして外部リ
ードへの接続極細線(ボンデイングワイヤ)のイ
ンダクタンスを減少させるため、多数本のボンデ
イングワイヤを均一に取り付ける必要がある。
(3) Prior art and problems There are several problems with high frequency, high power transistors. There is no special transistor called a high-frequency, high-output transistor, but instead a large number of high-frequency, small-signal transistors (called a transistor unit) are collected, arranged in parallel, and operated to obtain high-frequency, high-output transistors. One of the problems is
From such a unit, how can 1+1=2, 2+
The question is whether to obtain the output as follows: 2=4...
Although many such high frequency small signal transistors operate, they do not all operate uniformly due to variations within the wafer when they are manufactured and variations during assembly. How to make them work uniformly has an important meaning in obtaining excellent high-frequency, high-output transistors. One solution to this problem is the pattern of the ground terminal. That is, in a high-frequency, high-output transistor, in order to achieve high output, a long emitter circumference, a large-area collector for accommodating the emitter, and a large-area semiconductor chip are used.
On the other hand, in order to uniformly operate emitters arranged over a large area at high frequencies or groups of transistor units with appropriate emitter circumferences, and to reduce the inductance of ultra-thin wires (bonding wires) connected to external leads, It is necessary to install the book bonding wires evenly.

従来の第1図に示す高周波高出力トランジスタ
は、図に示すようなトランジスタユニツトのパタ
ーンに対して、図示の如きワイヤボンデイングが
なされてきた。同図から理解される如く、下側に
入力用端子4、上側に出力用端子5が反対側に相
対して配置され、その間にトランジスタチツプ1
が載置されワイヤボンデイングにより外部リード
と接続されている。なお、MOS−Cは入力イン
ピーダンスを高め外部回路とインピーダンス整合
をとりやすくするためにパツケージ内に取り付け
られた内部整合回路の一素子で、半導体基板上に
形成されたMOS型キヤパシタである。なお第2
図は第1図の装置の側断面図であり、第1図およ
び第2図において、,,,はボンデイン
グワイヤを示す。
In the conventional high-frequency, high-output transistor shown in FIG. 1, wire bonding as shown in the figure has been performed for the pattern of the transistor unit as shown in the figure. As can be understood from the figure, an input terminal 4 is placed on the lower side, an output terminal 5 is placed on the upper side, and a transistor chip 1 is placed between them.
is mounted and connected to external leads by wire bonding. Note that MOS-C is an element of an internal matching circuit installed in a package to increase input impedance and facilitate impedance matching with an external circuit, and is a MOS capacitor formed on a semiconductor substrate. Furthermore, the second
The figure is a side sectional view of the apparatus of FIG. 1, and in FIGS. 1 and 2, ,,,, indicate bonding wires.

第1図にも示したように、高周波高出力特性を
良好にするために接地用ワイヤはチツプの両側に
張つている。これは以下の要請からきている。
As shown in FIG. 1, grounding wires are stretched on both sides of the chip to improve high frequency and high output characteristics. This comes from the following requirements.

A 入力側と出力側の接地点を最短距離で接続し
てできるだけ高周波的にも同電位にしたい。
A: I want to connect the ground points on the input side and output side with the shortest possible distance so that they have the same potential at high frequencies as much as possible.

B 多数本のワイヤを用いて、合成自己接地イン
ダクタンスを減らすともに、180゜反対方向に張
つて相互インダクタンスも減らしたい。
B I want to reduce the composite self-grounding inductance by using multiple wires, and also reduce the mutual inductance by stretching them 180 degrees in opposite directions.

更に、高出力化を図るためには、前に述べたよ
うに更にエミツタ周囲長を大きくしなければなら
ない。そのために第1図のトランジスタチツプの
トランジスタユニツト数を増して横方向に追加す
る設計をとると、トランジスタチツプが横方向に
長くなりすぎて限界がある。すなわち、トランジ
スタを収容する容器の問題、チツプが大きくなり
熱膨張の関係でチツプが割れる問題がある。
Furthermore, in order to achieve high output, it is necessary to further increase the circumference of the emitter as described above. For this reason, if a design is adopted in which the number of transistor units of the transistor chip shown in FIG. 1 is increased and added in the horizontal direction, the transistor chip becomes too long in the horizontal direction, and there is a limit. That is, there are problems with the container that houses the transistor, and problems with the chip becoming larger and cracking due to thermal expansion.

一方、1つのトランジスタユニツトを大きくし
て、エミツタ周囲長を大きくすることも、トラン
ジスタユニツト内での高周波電流の均一性やワイ
ヤの電流容量の制限や自己インダクタンス増加の
ために、これにも限界がある。
On the other hand, there are limits to increasing the emitter circumference by increasing the size of one transistor unit, due to the uniformity of high-frequency current within the transistor unit, limitations on the current capacity of the wire, and increased self-inductance. be.

よつて、大出力化のためにトランジスタユニツ
トをチツプ内に横2列に配置することにならざる
を得ないが、2列にすると以下に示す2つの問題
が生じてくる。
Therefore, in order to increase the output, it is necessary to arrange the transistor units in two horizontal rows within the chip, but if the transistor units are arranged in two rows, the following two problems arise.

2列配置にすると、接地および入力のワイヤ
の長さを揃えるのが難しい。またワイヤ同士が
接触する問題があり、ワイヤボンデイングで接
着できないことがある。
With a two-row arrangement, it is difficult to match the lengths of the ground and input wires. There is also the problem that the wires come into contact with each other, making it impossible to bond them with wire bonding.

2列に配置されたトランジスタユニツトは列
間の幾何学的距離のため、その高周波的接地が
同電位になりにくい。
Because of the geometric distance between the two rows of transistor units, it is difficult for their high-frequency grounds to be at the same potential.

(4) 発明の目的 本発明は上記従来の問題点の、を改善し、
しかもA、Bの要請にも答える2列にパターン配
置された高周波高出力トランジスタのボンデイン
グパツドの配置、およびかかるボンデイングパツ
ドへのワイヤボンデイングを提供することを目的
とする。
(4) Purpose of the invention The present invention improves the above conventional problems,
Furthermore, it is an object of the present invention to provide an arrangement of bonding pads for high-frequency, high-output transistors arranged in two rows in a pattern that also meets the requirements A and B, and wire bonding to such bonding pads.

(5) 発明の構成 そしてこの目的は本発明によれば、対向するよ
うに配置した入力用端子及び出力用端子と、該入
力用端子及び出力用端子の間に配設された内部整
合用コンデンサと、前記出力用端子と前記内部整
合用コンデンサの間に設けられ、かつ長辺が前記
入力用端子及び前記出力用端子に平行に設けられ
た矩形状のトランジスタチツプと、該チツプ上に
共に前記長辺と平行に配設され、各々複数のトラ
ンジスタユニツトからなる第1列及び第2列のト
ランジスタユニツト群からなるトランジスタにお
いて、前記第1列のトランジスタユニツト群と第
2列のトランジスタユニツト群の間に、一端は第
1列のトランジスタユニツト群を構成する第1の
トランジスタユニツトに接続され、他端は前記第
1のトランジスタに最近接している第2列のトラ
ンジスタユニツト群を構成する第2のトランジス
タユニツトに接続された帯状の接地用ボンデイン
グパツドと、前記各トランジスタユニツトの前記
ボンデイングパツドが接続されていない面に接続
された入力用パツドを有し、前記第1のトランジ
スタユニツトの各々は、前記第2のトランジスタ
ユニツト相互間を隔てる間〓の中央位置に対応し
て配置されていることを特徴とするトランジスタ
を提供することによつて達成される。
(5) Structure of the Invention According to the present invention, this object is to provide an input terminal and an output terminal arranged to face each other, and an internal matching capacitor disposed between the input terminal and the output terminal. a rectangular transistor chip provided between the output terminal and the internal matching capacitor, the long sides of which are parallel to the input terminal and the output terminal; In a transistor arranged parallel to the long side and consisting of a first column and a second column of transistor unit groups each consisting of a plurality of transistor units, between the first column of transistor unit groups and the second column of transistor unit groups. One end is connected to a first transistor unit constituting a first column transistor unit group, and the other end is connected to a second transistor constituting a second column transistor unit group closest to the first transistor. Each of the first transistor units has a strip-shaped grounding bonding pad connected to the unit, and an input pad connected to a surface of each of the transistor units to which the bonding pad is not connected, and each of the first transistor units includes: This is achieved by providing a transistor characterized in that it is disposed corresponding to a central position between the second transistor units.

(6) 発明の実施例 以下本発明実施例を図面によつて詳説する。(6) Examples of the invention Embodiments of the present invention will be explained in detail below with reference to the drawings.

本発明は上記に述べた、の問題点をできる
だけ改善し、しかもA、Bの要請にも答えたトラ
ンジスタユニツトが2列にパターン配置された高
周波高出力トランジスタのボンデイングパツドの
配置、ならびにそれへのワイヤボンデイングにつ
いてなされたものである。
The present invention solves the above-mentioned problems as much as possible, and also satisfies requests A and B. The present invention provides an arrangement of bonding pads for high-frequency, high-output transistors in which transistor units are arranged in two rows in a pattern, and a bonding pad arrangement for bonding pads for high-frequency, high-power transistors in which transistor units are arranged in two rows. This was done regarding wire bonding.

第3図、第4図にトランジスタユニツトとボン
デイングパツドの配置を示す。すなわち、入力、
出力外部端子の方向(縦方向)にチツプ11の短
辺、それと直角の方向(横方向)にチツプの長辺
を置き、その横方向に2列のトランジスタユニツ
ト12を配する。なお第3図、第4図において、
13は入力用パツド、14は接地用ボンデイング
パツドを示す。
3 and 4 show the arrangement of the transistor unit and bonding pads. That is, input,
The short side of the chip 11 is placed in the direction of the output external terminal (vertical direction), the long side of the chip is placed in the direction perpendicular thereto (horizontal direction), and two rows of transistor units 12 are placed in the horizontal direction. In addition, in Figures 3 and 4,
Reference numeral 13 indicates an input pad, and 14 indicates a grounding bonding pad.

または、第5図に示すような個々に分割しない
帯状のベース形状からなる1個ないし2個のパタ
ーンからなるトランジスタであつてもかまわな
い。要は接地用ボンデイングパツドの配置配列方
法である。なお第5図において、21はチツプ、
22はトランジスタ能動部、23は入力用パツ
ド、24は接地用ボンデイングパツドを示す。
Alternatively, the transistor may have one or two patterns each having a band-like base shape that is not divided into individual parts as shown in FIG. The key is how to arrange the grounding bonding pads. In addition, in FIG. 5, 21 is a chip,
22 is a transistor active part, 23 is an input pad, and 24 is a ground bonding pad.

第4図に戻ると、チツプの中央部の横方向列に
接地用ボンデイングパツド14を配列する。しか
も、少なくとも最近接の上、下2つのトランジス
タユニツトの接地用ボンデイングパツドは帯状の
低抵抗、低インダクタンスの金属パターンで形成
されている。そして、その接地用パツド列の上
側、下側の横方向2列に入力用パツド13を配列
する。しかもその横方向の位置は上、下列で互い
に真中にくるように置く。
Returning to FIG. 4, ground bonding pads 14 are arranged in horizontal rows in the center of the chip. Moreover, the grounding bonding pads of at least the two closest transistor units, upper and lower, are formed of band-shaped metal patterns with low resistance and low inductance. Input pads 13 are arranged in two horizontal rows above and below the grounding pad rows. Furthermore, the horizontal positions of the top and bottom rows are placed in the middle of each other.

第6図と第7図に本発明のワイヤボンデイング
パツド配置とチツプに対するワイヤボンデイング
列を示す上面図、側面図を、第3図と同じ部分は
同じ符号を付して表示し、15は入力端子、16
は出力端子、17は接地兼放熱用フランジを示
す。
6 and 7 are a top view and a side view showing the wire bonding pad arrangement and wire bonding rows for the chip according to the present invention, and the same parts as in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals. terminal, 16
17 indicates an output terminal, and 17 indicates a grounding/heat dissipation flange.

第6図において、チツプ11は1.5mm×4.5mmの
寸法に、入力用パツドの図示の幅w(第3図)は
70μm、長さl(第3図)は100μmに設定し、ワ
イヤは25μm〜50μm直径の金線をボンデイング
マシンを用いて接着した。ボンデイングワイヤは
アルミニウム(Al)であつてもよい。図にボン
デイングワイヤは,,,の符号を付して
示した。
In Fig. 6, the chip 11 has dimensions of 1.5 mm x 4.5 mm, and the width w (Fig. 3) of the input pad is
The wire was set to 70 μm and the length l (FIG. 3) was 100 μm, and a gold wire with a diameter of 25 μm to 50 μm was bonded using a bonding machine. The bonding wire may be aluminum (Al). In the figure, bonding wires are indicated with the symbols , , .

以上に説明したように、接地用ワイヤ8の長さ
を揃えるために、上、下2つのトランジスタユニ
ツト12の間に共通の1個の接地用ボンデイング
パツド14を配置したので、接地用ワイヤ8の長
さは上、下2列のトランジスタユニツトに対して
等しくなる。
As explained above, in order to make the lengths of the grounding wires 8 the same, one common grounding bonding pad 14 is arranged between the upper and lower two transistor units 12. The lengths of the transistor units in the upper and lower two rows are equal.

他方、入力用ワイヤ9の長さを揃えるために
は、第6図と第7図に示すように、入力の内部整
合用MOS−C3へのワイヤボンデイング位置で
調整し、対応するようにし、図示の例では、
MOS−C3から入力端子13へのワイヤボンデ
イングは、各トランジスタユニツト12の中間位
置から行つた。
On the other hand, in order to equalize the lengths of the input wires 9, as shown in FIGS. 6 and 7, adjust the wire bonding positions to the input internal matching MOS-C3 so that they correspond to the In the example,
Wire bonding from the MOS-C 3 to the input terminal 13 was performed from the middle position of each transistor unit 12.

さらに第6図を参照すると、例えば下の列の最
も右のトランジスタユニツト12の入力用ボンデ
イングパツド13とMOS−C3とを結ぶ入力用
ワイヤ9と、上の列の右から2番目のトランジス
タユニツト12の入力用ボンデイングパツド13
とMOS−C3とを結ぶ入力用ワイヤ9とを対比
すると、後の入力用ワイヤ9はMOS−C3にお
いて、最初の入力用ワイヤ9よりはより上方の位
置でボンデイングされ、それによつて最初と後の
入力用ワイヤ9の長さが等しくなるようになつて
いる。
Further referring to FIG. 6, for example, the input wire 9 connecting the input bonding pad 13 of the rightmost transistor unit 12 in the lower row and the MOS-C3 and the second transistor unit from the right in the upper row are connected. 12 input bonding pads 13
Comparing the input wire 9 that connects the input wire 9 and the MOS-C3, the latter input wire 9 is bonded at a position higher than the first input wire 9 in the MOS-C3, thereby making it possible to connect the first and second input wires 9. The lengths of the input wires 9 are made equal.

(7) 発明の効果 以上詳細に説明した如く本発明によれば、前記
した問題が解決され、ゲインの高いそして高出力
の高周波トランジスタが得られた。
(7) Effects of the Invention As explained in detail above, according to the present invention, the above-mentioned problems are solved and a high-frequency transistor with high gain and high output is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図と第2図は従来の高周波高出力トランジ
スタの平面図と断面図、第3図と第4図は本発明
実施例の模式的平面図とボンデイングパツド配置
を示す図、第5図は他の実施例の模式的平面図、
第6図と第7図は第3図の実施例のワイヤボンデ
イングを示す平面図と側面図である。 11……ナツプ、12……ユニツト、13……
入力用ボンデイングパツド、14……接地用ボン
デイングパツド、15……入力端子、16……出
力端子、17……接地兼放熱用フランジ、,
,,……ボンデイングワイヤ。
1 and 2 are a plan view and a sectional view of a conventional high-frequency high-output transistor, FIGS. 3 and 4 are a schematic plan view and a diagram showing the bonding pad arrangement of an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a schematic plan view of another embodiment,
6 and 7 are a plan view and a side view showing the wire bonding of the embodiment of FIG. 3. FIG. 11...Natsupu, 12...Unit, 13...
Bonding pad for input, 14... Bonding pad for grounding, 15... Input terminal, 16... Output terminal, 17... Flange for grounding and heat radiation,
,,...bonding wire.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 対向するように配置した入力用端子及び出力
用端子と、 該入力用端子及び出力用端子の間に配設された
内部整合用コンデンサと、 前記出力用端子と前記内部整合用コンデンサの
間に設けられ、かつ長辺が前記入力用端子及び前
記出力用端子に平行に設けられた矩形状のトラン
ジスタチツプと、 該チツプ上に共に前記長辺と平行に配設され、
各々複数のトランジスタユニツトからなる第1列
及び第2列のトランジスタユニツト群からなるト
ランジスタにおいて、 前記第1列のトランジスタユニツト群と第2列
のトランジスタユニツト群の間に、一端は第1列
のトランジスタユニツト群を構成する第1のトラ
ンジスタユニツトに接続され、他端は前記第1の
トランジスタに最近接している第2列のトランジ
スタユニツト群を構成する第2のトランジスタユ
ニツトに接続された帯状の接地用ボンデイングパ
ツドと、 前記各トランジスタユニツトの前記ボンデイン
グパツドが接続されていない面に接続された入力
用パツドを有し、 前記第1のトランジスタユニツトの各々は、前
記第2のトランジスタユニツト相互間を隔てる間
〓の中央位置に対応して配置されていることを特
徴とするトランジスタ。
[Claims] 1. An input terminal and an output terminal arranged to face each other, an internal matching capacitor disposed between the input terminal and the output terminal, and the output terminal and the internal matching capacitor. a rectangular transistor chip provided between matching capacitors and having long sides parallel to the input terminal and the output terminal; and a rectangular transistor chip provided on the chip parallel to the long sides;
In a transistor consisting of a first column and a second column of transistor unit groups each consisting of a plurality of transistor units, one end is connected to the transistor of the first column between the first column of transistor unit groups and the second column of transistor unit groups. A band-shaped grounding transistor unit connected to a first transistor unit constituting a unit group, and the other end connected to a second transistor unit constituting a second column transistor unit group closest to the first transistor. a bonding pad; and an input pad connected to a surface of each of the transistor units to which the bonding pad is not connected, and each of the first transistor units has a connection between the second transistor units. A transistor characterized in that it is arranged corresponding to the center position of the space separating it.
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JP58233131A JPS60124954A (en) 1983-12-09 1983-12-09 Transistor

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JP58233131A JPS60124954A (en) 1983-12-09 1983-12-09 Transistor

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