JPH01266776A - Dc bias control circuit of semiconductor laser - Google Patents
Dc bias control circuit of semiconductor laserInfo
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- JPH01266776A JPH01266776A JP9479588A JP9479588A JPH01266776A JP H01266776 A JPH01266776 A JP H01266776A JP 9479588 A JP9479588 A JP 9479588A JP 9479588 A JP9479588 A JP 9479588A JP H01266776 A JPH01266776 A JP H01266776A
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- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
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Abstract
Description
(産業上の利用分野]
本発明は、半導体レーザに対する直流バイアス電流を、
半導体レーザの閾1a電流が外囲温度依存性を有してい
ても、半導体レーザの閾値電流と半導体レーザに対する
直流バイアス電流との比がほぼ一定である関係を保たせ
るように制御する半導体レーザの直流バイアス制御回路
に関する。(Industrial Application Field) The present invention provides a direct current bias current for a semiconductor laser.
Even if the threshold 1a current of the semiconductor laser has an ambient temperature dependence, the ratio of the threshold current of the semiconductor laser to the DC bias current for the semiconductor laser is controlled to maintain a substantially constant relationship. Related to DC bias control circuit.
従来、半導体レーザに変調信号N流を直流バイアス電流
にm畳して供給することによって、半導体レーザから変
調信号電流に応じた発光出りを得る半導体レーザ駆動回
路において、′半導体レーザからの出力光の強度が外囲
温度依存性を有することを利用して、半導体レーザから
の出力光の強度を光電変換素子によって検出し、その検
出出力によって、半導体レーザに対する直流バイアス電
流を制御し、よって、半導体レーザの閾値電流が外囲温
度依存性を有することから、半導体レーザの閾値電流と
半導体レーザに対づる直流バイアス電流との比が外囲湿
度によって変化するのを補償せんとする半導体レーザの
直流バイアス制御回路が提案されている。Conventionally, in a semiconductor laser drive circuit that obtains light emission from the semiconductor laser according to the modulation signal current by supplying N currents of modulation signals to the semiconductor laser at a DC bias current of m, the output light from the semiconductor laser is The intensity of the output light from the semiconductor laser is detected by a photoelectric conversion element, and the detection output controls the DC bias current for the semiconductor laser. Since the threshold current of the laser has a dependency on the ambient temperature, the DC bias of the semiconductor laser is designed to compensate for the change in the ratio of the threshold current of the semiconductor laser and the DC bias current for the semiconductor laser due to the ambient humidity. A control circuit is proposed.
【発明が解決しようとする課題1
しかしながら、上述した従来の半導体レーザの直流バイ
アス制御回路の場合、半導体レーザの閾値電流の外囲温
度依存性が、外囲温度が高くなるのに応じて指数函数的
に上昇するというわのであるにも拘らず、半導体レーザ
からの出力光の強度の外部温度依存性が、外囲温度が高
くなるのに応じて指数函数的に上昇するというものでな
いため、半導体レーザのtJ l+ff電流と半導体レ
ーザに対する直流バイアス電流との比が変化するのがあ
る程度補償されるとしても、半導体レーザの閾値電流と
半導体レーデに対する直流バイアス電流との比をほぼ一
定に保たじることができない、という欠点を有していた
。
よって、本発明は、上述した欠点のない、新規な半導体
レーザの直流バイアス制御回路を提案ぜんとするもので
ある。
【課題を解決するための手段】
本発明による半導体レーザの直流バイアス制御回路は、
外囲温度依存性を有しない出力電圧を基準信号として出
力する基準信号発生回路と、温度感応性半導体素子を右
し、且つ外囲温度が上昇するのに応じて低下する出力電
圧を外囲温度検出信号として出力する外囲温度検出回路
と、その外囲温度検出回路からの外囲温度検出信号を入
力とし、且つ上記外囲温度検出信号の電圧が低下するの
に応じて指数函数的に上昇する出力電圧をバイアス制御
用信号として出力する逆対数増幅回路と、上記基準信号
発生回路からの基準信号と、上記逆対数増幅回路からの
バイアス制御用信号とを入力とし、且つ″”13体レー
ザを直流負荷としている差動増幅回路とを有する。Problem to be Solved by the Invention 1 However, in the case of the conventional DC bias control circuit for a semiconductor laser described above, the dependence of the threshold current of the semiconductor laser on the ambient temperature becomes an exponential function as the ambient temperature increases. However, the external temperature dependence of the intensity of the output light from a semiconductor laser does not increase exponentially as the ambient temperature increases. Even if the change in the ratio between the tJ l+ff current of the laser and the DC bias current for the semiconductor laser is compensated to some extent, the ratio between the threshold current of the semiconductor laser and the DC bias current for the semiconductor laser remains approximately constant. It had the disadvantage that it could not be done. Therefore, the present invention aims to propose a novel DC bias control circuit for a semiconductor laser, which does not have the above-mentioned drawbacks. [Means for Solving the Problems] A DC bias control circuit for a semiconductor laser according to the present invention has the following features:
A reference signal generation circuit that outputs an output voltage that has no dependence on ambient temperature as a reference signal, and a temperature-sensitive semiconductor element that outputs an output voltage that is independent of ambient temperature as a reference signal, and an output voltage that decreases as the ambient temperature increases. An ambient temperature detection circuit outputs as a detection signal, and an ambient temperature detection signal from the ambient temperature detection circuit is input, and increases exponentially as the voltage of the ambient temperature detection signal decreases. an antilogarithmic amplifier circuit that outputs an output voltage as a bias control signal, a reference signal from the reference signal generation circuit, and a bias control signal from the antilogarithmic amplifier circuit; It has a differential amplifier circuit which uses as a DC load.
本発明による半導体レーザの直流バイアス制御回路によ
れば、差動増幅回路の一方の入力である基準信号発生回
路からの基準信号が、外囲温度依存性を有しない出力電
圧である。
また、差動増幅回路の他方の入力である逆対数増幅回路
からのバイアス制御用信号が、外囲温度検出回路からの
外囲温度検出信号の電圧が低下するのに応じて指数函数
的に上昇する出力電圧であり、一方、外囲温度検出回路
からの外囲温度検出信号が、外囲湿度が上4するのに応
じて低下する出力電圧であるので、差動増幅回路の他方
の入力であるバイアス制御用信号が、外囲温度が上昇す
るのに応じて指数函数的に上昇する出力電圧である。
このため、半導体レーザの閾1+fi TFi流が、外
囲温度が高くなるのに応じて指数函数的に上昇するとき
、半導体レーザに対する直流バイアス電流が、外囲温度
が高くなるのに応じて指数函数的に上昇し、よって、半
導体レーザの閾値電流と半導体レーザに対する直流バイ
アス電流との比をほぼ一定に保たせることができる。According to the DC bias control circuit for a semiconductor laser according to the present invention, the reference signal from the reference signal generation circuit, which is one input of the differential amplifier circuit, is an output voltage having no dependence on the ambient temperature. In addition, the bias control signal from the antilogarithmic amplifier circuit, which is the other input of the differential amplifier circuit, increases exponentially as the voltage of the ambient temperature detection signal from the ambient temperature detection circuit decreases. On the other hand, since the ambient temperature detection signal from the ambient temperature detection circuit is an output voltage that decreases as the ambient humidity increases, the other input of the differential amplifier circuit One bias control signal is an output voltage that increases exponentially as the ambient temperature increases. Therefore, when the threshold 1+fi TFi current of the semiconductor laser increases exponentially as the ambient temperature increases, the DC bias current for the semiconductor laser increases exponentially as the ambient temperature increases. Therefore, the ratio between the threshold current of the semiconductor laser and the DC bias current for the semiconductor laser can be kept approximately constant.
次に、第1図を伴って本発明による半導体し一ヂの直流
バイアス制御回路の実施例を述べよう。
第1図に示す本発明による半導体レーザの直流バイアス
制御回路は、次に述べる構成を右する。
すなわち、基準信号発生回路1を右する。
この基準信号発生回路1は、電源線11とそれと対にな
る接地に接続している電源線12との間に、例えば、コ
レクタ及びベースを互に接続しているnpn型のトラン
ジスタ14を用いたpn接合素子13が、定電流回路1
5と抵抗16とをそれらの順に通じて接続され、また、
抵抗16とpn接合素子13との直列回路と並列に、抵
抗17と、ベースを抵抗16及びpn接合素子13の接
続中点に接続しているnpn型のトランジスタ18と、
抵抗19とがそれらの順に直列に接続されている直列回
路が、抵抗19を電源線12側として接続されていると
ともに、ベースを抵抗17及びトランジスタ18のコレ
クタの接続中点に接続している他のnpn型のトランジ
スタ20が、エミッタを電源線12側として接tf1さ
れ、そして、トランジスタ20のコレクタから出力線2
1が導出されている、というそれ自体は公知の構成を有
する。
また、外囲温度検出回路3を有する。
この外(Ill渇度検出回路3は、上述している電源線
11及び12間に、ベース及びコレクタを互に接続して
いる複数のnpn型のトランジスタ31を用いた複数の
pn接合素子32の直列回路が、抵抗33を通じて接続
されているとともに、ベースを抵抗33と複数のpn接
合索子32の直列回路との接続中点に接続しているnp
n型のI・ランジスタ34が、そのエミッタに抵抗35
を直列に接続した関係で接続され、そして、トランジス
タ34のエミッタと抵抗35との接続中点から出力線3
6が導出されている、というそれ自体は公知の構成を右
する。
さらに、逆対数増幅回路4を有する。
この逆対数増幅回路4は、一方の入力端41a(負極性
)を抵抗42を通じて一端を接地に接続している参照電
圧源43の他端(正極性)に接続し、他方の入力端41
b(正極性)を接地に接続し、出力端41cを容量素子
44を通じて入力端41aに接続しているとともに、抵
抗45と、ベースを抵抗47を通じて接地に接続してい
るnpn型のトランジスタ46との直列回路を通じて入
力< 41 aに接続している演算増幅器41と、一方
の入力端51a(負極性)をベースを接地に接続してい
るnpn型のトランジスタ53を通じて演剪増幅器41
の出力端41cに接続し、他方の入力端51b(正極性
)を接地に接続し、出力端51cを容量素子54と抵抗
55との並列回路を通じて入力端51aに接続している
演算増幅器51とを有し、そして、演算増幅器41の出
力端41c及び入力端41a間に抵抗45を通じて接続
しているトランジスタ44のベースと抵抗47との接続
中点から、抵抗48を通じて、上述した外囲温度検出回
路3の出力線36に接続している入力線49が導出され
、また、演算増幅器51の出力端5Cから、出力線56
が導出されている、というそれ自体は公知の構成を有す
る。
また、差動増幅回路6を右する。
この差動増幅回路6は、コレクタを直流負荷としての半
導体レーザ61を通じて上述した電源F1111に接続
し、エミッタを抵抗62と定電流回路63とをそれらの
順に通じて、上述した電源線12に接続しているnpn
型のトランジスタ64と、コレクタを抵抗71を通じて
上述した電源線11に接続し、エミッタを抵抗72と上
述した定電流回路63とをそれらの順に通じて上述した
電源線12に接続しているnpn型のトランジスタ74
とを有し、そして、トランジスタ64のベースから上述
した逆対数増幅回路4の出力線56に接続している入力
線65が導出され、また、トランジスタ74のベースか
ら上述した基準信号発生回路1の出力線21に接続して
いる入力線75が導出されている、というそれ自体は公
知の構成を有する。
以上が、本発明による半導体レーザの直流バイアス制御
回路の実施例の構成である。
このような構成を有する半導体レーザの直流バイアス制
御回路の基準信号発生回路1によれば、それ自体公知で
あるので詳細説明は省!3するが、pn接合素子13に
トランジスタ18のベース及びエミッタ間のpn接合に
流れるよりも十分大きな電流が流れるように抵抗16.
17及び19の値を適当に選んでJ3けば、出力線21
と接地との間に、外囲温度(差動増幅回路6における半
導体レーザ61の外囲温度と同様の)の依存性を有しな
い出力電圧を、基準信号SOとして出力する。
また、上述した構成を右する外囲温度検出回路3によれ
ば、それ自体公知であるので詳細説明は省略するが、複
数のpn接合素子32が、外囲温度(差動増幅回路6に
おける半導体レーザ61の外囲温度と同様の)が上昇す
るのに応じて等価抵抗が低下する温度感応性半導素子と
して作用するので、出力線36と接地との間に、外囲温
度が上昇するのに応じて低下する出力電圧を、外囲温度
依存性¥331として出力する。
さらに、上述した構成を有する逆対数増幅回路4によれ
ば、それ自体公知であるので詳a説明は省略するが、v
4樟増幅器41及び51がトランジスタ53を介して縦
続接続され、そして、演算増幅器41の出力端41c及
び入力端41a問に抵抗45を通じて接続されているト
ランジスタ44が、外囲温度検出回路3から出力される
外囲温度検出信号S1によって制御されるので、出力?
156と接地との間に、外囲温度検出回路3からの外囲
温度検出信号S1の電圧が低下するのに応じて指数函数
的に上昇する出力電圧、従って、外囲温度が(差動増幅
回路6における半導体レーザ61の)上昇するのに応じ
て指数函数的に上昇づる出力電圧を、バイアス制御用信
号S2として出力する。
また、上述した構成を有する差動増幅回路6によれば、
それ自体公知であるので詳1説明は省略するが、一方の
入力線75に、基準信号発生回路1から外囲温度依存性
を有しない出力電圧を右する基準信号SOが供給され、
他方の入力1fj65に、逆対数増幅回路4からの外囲
温度が上昇ザるのに応じて指数函数的に上昇する出力電
圧を有するバイアス制御用信号82が供給されるので、
半導体レーザ61に、外囲温度が高くなるのに応じて指
数函数的に上昇する直流バイアス電流を供給する。
従って、第1図に示す本発明による半導体レーザの直流
バイアス制御回路によれば、半導体レーザ61の@賄電
流が、外囲温度が高くなるのに応じて指数函数的に上シ
フするとき、半導体レーザ61に対する直流バイアス電
流が、外囲温度が高くなるのに応じて指数函数的に上背
し、このため、半導体レーザ61の閾値電流と半導体レ
ーザ61に対する直流バイアス電流との比をほぼ一定に
保たせることができる。
なお、この場合、半導体レーザ61は、士)!1(した
直流バイアスff直流に重畳して、図示詳細rJ’c明
は省略するが、変調信号電流が供給されることによって
、変調信号電流に応じた発光出)〕を出出力るものであ
る。
また、第1図に示す本発明による半導体レーザの直流バ
イアス制御回路によれば、詳細説明は省略するが、外囲
温度に対する?1′導体レー1161に流れる直流バイ
アス電流の関係が、基準信号発生回路における定電流回
路15に流す電流と逆対数増幅回路4における抵抗4B
の抵抗値とをパラメータとして、第2図の線A、[3及
びCで示すように得られ、また、定電流回路15に流す
電流のみをパラメータとして、第2図の線C及びDで示
すように得られることから、基準信号発生回路1におけ
る定電流回路15を可変型として、それに流れる電流を
調整するとul!lL、辿餌政朋Lt [fl藷4[基
げ名1[EJ7CJII11壓可女型とし、その抵抗値
を調整することによって、半導体レーデ61の特性温度
T。を調整することができ、また、逆対数増幅回路4に
おける抵抗48の抵抗値を一定にした状態で、基準信号
発生回路1における定電流回路15に流れる電流を調整
することによって、半導体レーザ61の特性温度T。を
一定とした状jぶで、半:り体レーザ61の閾1j’T
電流に関する温度特性の係数値を調整することができ、
よって、半導体レーザ61が、その閾1ifIffi流
に関する温度特性の係数及び半導体レーザ61の特性温
度T。にばらつきを有していても、その半導体レーザ6
1に対し、直流バイアス電流を、半府体し−If61の
閾値電流との比しかほぼ一定になるように、供給させる
ことができる。
なお、第2図の線A、B及びCは、定電流回路15の電
流をそれぞれ15mA、7mA及び2.7mAとじ■つ
抵抗48の抵抗値をそれぞれ17.5にΩ、15にΩ及
び13にΩとした羽口の側愛結渠もふし、肇り、■90
出粗8及びDは、抵抗48の抵抗1直をともに13にΩ
とした状態において、定電流回路15の′Ki流をそれ
ぞれ2.7mA及び6mAとした場合の測定粘宋を示し
ている。
さらに、第1図に示す本発明によれば、詳細説明は省略
するが、差動増幅回路6におけるトランジスタロ4及び
74の−Iミッタに接続している抵抗62及び72を可
変型とし、それらの抵抗値を調整することによっても、
また、外囲温度検出回路3における抵抗33及び35を
可変型とし、それらの抵抗値を調整することによっても
、さらには、外囲温度検出回路3における複数のpn接
合素子32の数を予め選定することによっても、外囲温
度の広い温度範囲に亘って、上述した優れた作用効果を
得ることができる。
なお、上述においては、本発明による半導体レーザの直
流バイアス制御回路の1つの実施例を示したに過ぎず、
基準信号発生回路1、外囲温度検出回路3、逆対数増幅
回路4及び差動増幅回路6のそれぞれを、上述した構成
に代え、それ自体は公知の種々の構成に変更することも
でき、その他、本発明の精神を脱することなしに、種々
の変型、変更をなし得るであろう。Next, an embodiment of a semiconductor DC bias control circuit according to the present invention will be described with reference to FIG. The DC bias control circuit for a semiconductor laser according to the present invention shown in FIG. 1 has the configuration described below. That is, the reference signal generation circuit 1 is changed to the right. This reference signal generation circuit 1 uses, for example, an npn type transistor 14 whose collector and base are connected to each other between a power supply line 11 and a power supply line 12 that is connected to the ground. The pn junction element 13 is the constant current circuit 1
5 and a resistor 16 in that order, and
In parallel with the series circuit of the resistor 16 and the pn junction element 13, a resistor 17 and an npn type transistor 18 whose base is connected to the midpoint of the connection between the resistor 16 and the pn junction element 13;
A series circuit in which the resistor 19 and the resistor 19 are connected in series in that order is connected with the resistor 19 on the power supply line 12 side, and the base is connected to the midpoint between the resistor 17 and the collector of the transistor 18. An npn type transistor 20 is connected tf1 with its emitter facing the power supply line 12, and the collector of the transistor 20 is connected to the output line 2.
1 is derived, which itself has a known configuration. It also has an ambient temperature detection circuit 3. In addition to this, the thirst detection circuit 3 includes a plurality of pn junction elements 32 using a plurality of npn type transistors 31 whose bases and collectors are connected to each other between the power supply lines 11 and 12 described above. A series circuit is connected through the resistor 33, and the base is connected to the midpoint of the connection between the resistor 33 and the series circuit of the plurality of pn junction cables 32.
An n-type I transistor 34 has a resistor 35 at its emitter.
are connected in series, and the output line 3 is connected from the midpoint of the connection between the emitter of the transistor 34 and the resistor 35.
6 has been derived, which itself is a known configuration. Furthermore, it has an anti-logarithm amplifier circuit 4. This anti-logarithm amplifier circuit 4 has one input terminal 41a (negative polarity) connected through a resistor 42 to the other end (positive polarity) of a reference voltage source 43 whose one end is connected to ground, and the other input terminal 41a (negative polarity).
b (positive polarity) is connected to the ground, the output end 41c is connected to the input end 41a through the capacitive element 44, a resistor 45, and an npn type transistor 46 whose base is connected to the ground through the resistor 47. The operational amplifier 41 is connected to the input < 41a through a series circuit of
An operational amplifier 51 is connected to the output terminal 41c of the circuit, the other input terminal 51b (positive polarity) is connected to ground, and the output terminal 51c is connected to the input terminal 51a through a parallel circuit of a capacitive element 54 and a resistor 55. The above-described ambient temperature is detected from the midpoint between the base of the transistor 44 and the resistor 47, which is connected between the output end 41c and the input end 41a of the operational amplifier 41 through the resistor 45, through the resistor 48. An input line 49 connected to the output line 36 of the circuit 3 is led out, and an output line 56 is led out from the output terminal 5C of the operational amplifier 51.
It has a structure that is known per se. Further, the differential amplifier circuit 6 is shown on the right. This differential amplifier circuit 6 has a collector connected to the above-mentioned power supply F1111 through a semiconductor laser 61 as a DC load, and an emitter connected to the above-mentioned power supply line 12 through a resistor 62 and a constant current circuit 63 in that order. npn
An npn type transistor 64 whose collector is connected to the above-mentioned power supply line 11 through a resistor 71 and whose emitter is connected to the above-mentioned power supply line 12 through a resistor 72 and the above-mentioned constant current circuit 63 in that order. transistor 74
An input line 65 connected to the output line 56 of the anti-logarithmic amplifier circuit 4 described above is led out from the base of the transistor 64, and an input line 65 connected to the output line 56 of the above-mentioned anti-logarithmic amplifier circuit 4 is led out from the base of the transistor 74. The input line 75 connected to the output line 21 is led out, which has a configuration known per se. The above is the configuration of the embodiment of the DC bias control circuit for a semiconductor laser according to the present invention. The reference signal generation circuit 1 of the DC bias control circuit for a semiconductor laser having such a configuration is well known in itself, so a detailed explanation will be omitted! However, the resistor 16.
If you select the values of 17 and 19 appropriately and add J3, the output line 21
and ground, an output voltage that does not have dependence on the ambient temperature (similar to the ambient temperature of the semiconductor laser 61 in the differential amplifier circuit 6) is output as the reference signal SO. Further, according to the ambient temperature detection circuit 3 having the above-mentioned configuration, which is known per se and will not be described in detail, the plurality of pn junction elements 32 detect the ambient temperature (semiconductor Since it acts as a temperature-sensitive semiconductor device whose equivalent resistance decreases as the ambient temperature (similar to the ambient temperature of the laser 61) increases, there is a connection between the output line 36 and ground as the ambient temperature increases. The output voltage that decreases according to the temperature is outputted as an ambient temperature dependence of ¥331. Furthermore, according to the inverse logarithm amplifier circuit 4 having the above-mentioned configuration, since it is known per se, a detailed explanation will be omitted, but v
Four camphor amplifiers 41 and 51 are connected in cascade via a transistor 53, and a transistor 44 connected to an output terminal 41c and an input terminal 41a of the operational amplifier 41 via a resistor 45 outputs an output from the ambient temperature detection circuit 3. Since it is controlled by the ambient temperature detection signal S1, the output ?
156 and ground, an output voltage that increases exponentially as the voltage of the ambient temperature detection signal S1 from the ambient temperature detection circuit 3 decreases, and therefore the ambient temperature (differential amplification) The output voltage that increases exponentially as the output voltage of the semiconductor laser 61 in the circuit 6 increases is outputted as the bias control signal S2. Further, according to the differential amplifier circuit 6 having the above-described configuration,
Although the detailed explanation will be omitted since it is well known per se, one input line 75 is supplied with a reference signal SO which indicates an output voltage having no dependence on ambient temperature from the reference signal generation circuit 1.
Since the other input 1fj65 is supplied with the bias control signal 82 from the antilogarithmic amplifier circuit 4, which has an output voltage that increases exponentially as the ambient temperature rises,
A DC bias current that increases exponentially as the ambient temperature increases is supplied to the semiconductor laser 61. Therefore, according to the DC bias control circuit for a semiconductor laser according to the present invention shown in FIG. The DC bias current to the laser 61 rises exponentially as the ambient temperature increases, and therefore the ratio between the threshold current of the semiconductor laser 61 and the DC bias current to the semiconductor laser 61 is kept almost constant. can be kept. Note that in this case, the semiconductor laser 61 is 1 (superimposed on the DC bias ff DC, detailed illustration rJ'c is omitted, but by supplying the modulation signal current, light emission corresponding to the modulation signal current)] is output. . Furthermore, according to the DC bias control circuit for a semiconductor laser according to the present invention shown in FIG. The relationship between the DC bias current flowing through the 1' conductor relay 1161 and the current flowing through the constant current circuit 15 in the reference signal generation circuit and the resistor 4B in the anti-logarithm amplifier circuit 4 is as follows.
By using the resistance value as a parameter, the resistance value is obtained as shown by lines A, [3, and C in FIG. Therefore, if the constant current circuit 15 in the reference signal generation circuit 1 is made variable and the current flowing therein is adjusted, ul! The characteristic temperature T of the semiconductor radar 61 can be determined by adjusting the resistance value of the EJ7CJII11 female type. In addition, by adjusting the current flowing through the constant current circuit 15 in the reference signal generation circuit 1 while keeping the resistance value of the resistor 48 in the anti-logarithm amplifier circuit 4 constant, the output of the semiconductor laser 61 can be adjusted. Characteristic temperature T. With constant j, the threshold 1j'T of the half-solid laser 61 is
The coefficient value of temperature characteristics related to current can be adjusted,
Therefore, the coefficient of the temperature characteristic of the semiconductor laser 61 regarding the threshold 1ifIfi current and the characteristic temperature T of the semiconductor laser 61. Even if there are variations in the semiconductor laser 6
1, the DC bias current can be supplied so that the ratio between the threshold current and the -If61 threshold current is approximately constant. Note that lines A, B, and C in FIG. 2 indicate that the current of the constant current circuit 15 is 15 mA, 7 mA, and 2.7 mA, respectively, and the resistance value of the resistor 48 is 17.5 Ω, 15 Ω, and 13 Ω, respectively. The side love conduit of the tuyere which was set to Ω is also mofushi, haori, ■90
Output roughness 8 and D are both resistor 1 of resistor 48 to 13 Ω.
In this state, the measured viscosity is shown when the 'Ki current of the constant current circuit 15 is set to 2.7 mA and 6 mA, respectively. Furthermore, according to the present invention shown in FIG. 1, although detailed explanation is omitted, the resistors 62 and 72 connected to the -I emitters of the transistors 4 and 74 in the differential amplifier circuit 6 are of variable type. By adjusting the resistance value of
Furthermore, by making the resistors 33 and 35 in the ambient temperature detection circuit 3 variable and adjusting their resistance values, the number of the plurality of pn junction elements 32 in the ambient temperature detection circuit 3 can be selected in advance. By doing so, the excellent effects described above can be obtained over a wide temperature range of the ambient temperature. Note that the above description merely shows one embodiment of the DC bias control circuit for a semiconductor laser according to the present invention.
Each of the reference signal generation circuit 1, ambient temperature detection circuit 3, anti-logarithmic amplifier circuit 4, and differential amplifier circuit 6 may be replaced with the above-mentioned configurations, and may be changed to various configurations that are known per se. , various modifications and changes may be made without departing from the spirit of the invention.
第1図は、本発明による半導体レーザの直流バイアス制
御回路の実施例を示す路線的接続図である。
第2図は、その説明に供する外囲温度に対する半導体レ
ーザに流れる直流バイアスM流の関係を示す図である。
1・・・・・・・・・基準信号発生回路3・・・・・・
・・・外囲温度検出回路4・・・・・・・・・逆対数増
幅回路
6・・・・・・・・・差動増幅回路
11.12
・・・・・・・・・電源線
13・・・・・・・・・pn接合素子
14.18.20,31.34.46.53.64.7
4
・・・・・・・・・npn型のトランジスタ15.63
・・・・・・・・・定電流回路
16.17.19.33.35.42.45.47.4
8.55.62.71.72
・・・・・・・・・抵抗
21.36.56
・・・・・・・・・出ノ〕線
41.51
・・・・・・・・・演算増幅器
43・・・・・・・・・参照電圧源
44、54
・・・・・・・・・容岱素子
49.65.75
・・・・・・・・・入力線
61・・・・・・・・・半導体レーザ
出願人 日本電信電話株式会社
一@−に一叶べ・−づ3FIG. 1 is a line connection diagram showing an embodiment of a DC bias control circuit for a semiconductor laser according to the present invention. FIG. 2 is a diagram illustrating the relationship between the DC bias M current flowing through the semiconductor laser and the ambient temperature for purposes of explanation. 1...Reference signal generation circuit 3...
... Ambient temperature detection circuit 4 ...... Anti-logarithmic amplifier circuit 6 ...... Differential amplifier circuit 11.12 ...... Power line 13...... pn junction element 14.18.20, 31.34.46.53.64.7
4......npn type transistor 15.63......constant current circuit 16.17.19.33.35.42.45.47.4
8.55.62.71.72 ......Resistance 21.36.56 ......Output line 41.51 ......Calculation Amplifier 43...Reference voltage sources 44, 54...Capacitive element 49,65,75...Input line 61... ... Semiconductor laser applicant Nippon Telegraph and Telephone Corporation 1@-NiichiKabe-zu3
Claims (1)
力する基準信号発生回路と、 温度感応性半導体素子を有し、且つ外囲温度が上昇する
のに応じて低下する出力電圧を外囲温度検出信号として
出力する外囲温度検出回路と、 上記外囲温度検出回路からの外囲温度検出信号を入力と
し、且つ上記外囲温度検出信号の電圧が低下するのに応
じて指数函数的に上昇する出力電圧をバイアス制御用信
号として出力する逆対数増幅回路と、 上記基準信号発生回路からの基準信号と、上記逆対数増
幅回路からのバイアス制御用信号とを入力とし、且つ半
導体レーザを直流負荷としている差動増幅回路とを有す
る半導体レーザの直流バイアス回路。[Claims] A reference signal generation circuit that outputs an output voltage that has no dependence on ambient temperature as a reference signal, and a temperature-sensitive semiconductor element that decreases as the ambient temperature rises. an ambient temperature detection circuit that outputs an output voltage as an ambient temperature detection signal; an ambient temperature detection signal from the ambient temperature detection circuit is input; an antilogarithmic amplifier circuit that outputs an output voltage that increases exponentially as a bias control signal; a reference signal from the reference signal generation circuit and a bias control signal from the antilogarithmic amplifier circuit; A DC bias circuit for a semiconductor laser, further comprising a differential amplifier circuit using the semiconductor laser as a DC load.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9479588A JPH01266776A (en) | 1988-04-18 | 1988-04-18 | Dc bias control circuit of semiconductor laser |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9479588A JPH01266776A (en) | 1988-04-18 | 1988-04-18 | Dc bias control circuit of semiconductor laser |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01266776A true JPH01266776A (en) | 1989-10-24 |
Family
ID=14120008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9479588A Pending JPH01266776A (en) | 1988-04-18 | 1988-04-18 | Dc bias control circuit of semiconductor laser |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01266776A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0744800A3 (en) * | 1995-05-22 | 1996-12-04 | Nec Corporation | Laser-diode driving circuit |
-
1988
- 1988-04-18 JP JP9479588A patent/JPH01266776A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0744800A3 (en) * | 1995-05-22 | 1996-12-04 | Nec Corporation | Laser-diode driving circuit |
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