JPH0127078Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0127078Y2 JPH0127078Y2 JP1980185788U JP18578880U JPH0127078Y2 JP H0127078 Y2 JPH0127078 Y2 JP H0127078Y2 JP 1980185788 U JP1980185788 U JP 1980185788U JP 18578880 U JP18578880 U JP 18578880U JP H0127078 Y2 JPH0127078 Y2 JP H0127078Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sludge
- light
- light source
- boundary surface
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は下水処理場において活性汚泥処理の制
御指標となる沈降汚泥容量（SV）を得るための
汚泥境界面を光学的に測定する汚泥沈でん計の改
良に関する。
御指標となる沈降汚泥容量（SV）を得るための
汚泥境界面を光学的に測定する汚泥沈でん計の改
良に関する。
従来、汚泥の沈でん率を光学的に測定する汚泥
沈でん計は第１図のように構成されている。即
ち、汚泥液の充填せる透明な測定管１の外側面に
複数個の光源２ａ，２ｂ…を上下方向に配列し、
一方、測定管１をはさんで前記光源２ａ，２ｂ…
と対向する外側面の上下方向に長尺の受光器３を
配置し、光源点灯回路４により下部から上部方向
へ順次光源２ａ，２ｂ…を駆動点灯して行き、何
番目の光源２ａ，２ｂ…からある一定値以上の光
が受光器３に到達したかを検出して汚泥沈でんの
境界面５の高さ位置を測定し、汚泥の沈でん率を
求めるものである。６は上澄液、７は沈でん汚
泥、８は測定管１と曝気槽（図示せず）などとの
間に配設した配管９に介挿してなる弁体、１０は
エア吸引口、１１は増幅器、１２は受光器３の基
準受光量のレベルを設定するレベル設定回路、１
３は制御回路、１４は信号変換回路である。
沈でん計は第１図のように構成されている。即
ち、汚泥液の充填せる透明な測定管１の外側面に
複数個の光源２ａ，２ｂ…を上下方向に配列し、
一方、測定管１をはさんで前記光源２ａ，２ｂ…
と対向する外側面の上下方向に長尺の受光器３を
配置し、光源点灯回路４により下部から上部方向
へ順次光源２ａ，２ｂ…を駆動点灯して行き、何
番目の光源２ａ，２ｂ…からある一定値以上の光
が受光器３に到達したかを検出して汚泥沈でんの
境界面５の高さ位置を測定し、汚泥の沈でん率を
求めるものである。６は上澄液、７は沈でん汚
泥、８は測定管１と曝気槽（図示せず）などとの
間に配設した配管９に介挿してなる弁体、１０は
エア吸引口、１１は増幅器、１２は受光器３の基
準受光量のレベルを設定するレベル設定回路、１
３は制御回路、１４は信号変換回路である。
次に以上のような汚泥沈でん計の汚泥沈でん率
測定動作を説明する。先ず弁体８を開いた後、ガ
ラスなどの透明体で成形した測定管１の上部に設
けたエア吸引口１０に接続せるエア吸引ポンプ
（図示せず）で測定管１内を減圧し、これにより
下水処理場曝気槽（図示せず）などから配管９を
介してサンプル汚泥液を測定管１内に規定量（例
えば１）採取する。汚泥液の採取後、弁体８を
閉止する。測定管１内に採取した汚泥液をそのま
ま静置しておくと、時間の経過とともに沈でん汚
泥７と上澄液６に分かれ、その境界面５が形成さ
れる。所定時間（例えば30分間）経過後、この境
界面５の位置は光学測定系を用いて測定し、適宜
な信号処理を行なつて汚泥沈でん率を求める。
測定動作を説明する。先ず弁体８を開いた後、ガ
ラスなどの透明体で成形した測定管１の上部に設
けたエア吸引口１０に接続せるエア吸引ポンプ
（図示せず）で測定管１内を減圧し、これにより
下水処理場曝気槽（図示せず）などから配管９を
介してサンプル汚泥液を測定管１内に規定量（例
えば１）採取する。汚泥液の採取後、弁体８を
閉止する。測定管１内に採取した汚泥液をそのま
ま静置しておくと、時間の経過とともに沈でん汚
泥７と上澄液６に分かれ、その境界面５が形成さ
れる。所定時間（例えば30分間）経過後、この境
界面５の位置は光学測定系を用いて測定し、適宜
な信号処理を行なつて汚泥沈でん率を求める。
光学測定系による測定原理を以下に説明する。
制御回路１３により光源点灯回路４を制御して測
定管１の外側面上下方向に配列する光源２ａ，２
ｂ…を下側から順次点灯していく。一方、光源２
ａ，２ｂ…からの光は測定管１をはさんで前記光
源２ａ，２ｂ…と対向する測定管１外側面に配置
する受光器３（例えば太陽電池など）により受光
され、その受光量を電気信号に変換する。この受
光器３の出力信号は増幅器１１を介してレベル設
定回路１２に入力され、ここで、光源２ａ，２ｂ
…からの光がある一定以上の受光量で有るか否か
を判断してその判断信号を制御回路１３に送る。
この結果、沈でん汚泥７の存在する高さまでの位
置にある光源例えば２ｋから発せられた光は沈で
ん汚泥７にさえぎられるので、受光器３に到達す
る光量はレベル設定回路１２の設定レベル以下と
なる。一方、沈でん境界面５より上側に位置する
光源例えば２ｋ＋１から発せられた光は上澄液６
を通して受光器３に達し、その光量はレベル設定
回路１２で予め定めた設定レベル以上となる。こ
のように何番目の光源２ａ，２ｂから発せられた
光がある一定値以上の光量として受光器３に到達
したかを検出することにより、沈でん汚泥の高さ
を測定し、信号変換回路１４により汚泥沈でん率
を求めるものである。しかし以上のような汚泥沈
でん計は、光学系による境界面測定方向が一方向
だけであるので、例えば第２図のａ，ｂ，ｃの例
に示す如く境界面５が非水平状態に形成されてい
る場合、沈でん汚泥７の最も高い部分を境界面５
の位置として検出するので測定値が大きくなる。
制御回路１３により光源点灯回路４を制御して測
定管１の外側面上下方向に配列する光源２ａ，２
ｂ…を下側から順次点灯していく。一方、光源２
ａ，２ｂ…からの光は測定管１をはさんで前記光
源２ａ，２ｂ…と対向する測定管１外側面に配置
する受光器３（例えば太陽電池など）により受光
され、その受光量を電気信号に変換する。この受
光器３の出力信号は増幅器１１を介してレベル設
定回路１２に入力され、ここで、光源２ａ，２ｂ
…からの光がある一定以上の受光量で有るか否か
を判断してその判断信号を制御回路１３に送る。
この結果、沈でん汚泥７の存在する高さまでの位
置にある光源例えば２ｋから発せられた光は沈で
ん汚泥７にさえぎられるので、受光器３に到達す
る光量はレベル設定回路１２の設定レベル以下と
なる。一方、沈でん境界面５より上側に位置する
光源例えば２ｋ＋１から発せられた光は上澄液６
を通して受光器３に達し、その光量はレベル設定
回路１２で予め定めた設定レベル以上となる。こ
のように何番目の光源２ａ，２ｂから発せられた
光がある一定値以上の光量として受光器３に到達
したかを検出することにより、沈でん汚泥の高さ
を測定し、信号変換回路１４により汚泥沈でん率
を求めるものである。しかし以上のような汚泥沈
でん計は、光学系による境界面測定方向が一方向
だけであるので、例えば第２図のａ，ｂ，ｃの例
に示す如く境界面５が非水平状態に形成されてい
る場合、沈でん汚泥７の最も高い部分を境界面５
の位置として検出するので測定値が大きくなる。
本考案は上記実情にかんがみてなされたもので
あつて、境界面が水平でない場合でもより高い測
精度で沈でん汚泥の高さ位置を求めうる汚泥沈で
ん計を提供するものである。
あつて、境界面が水平でない場合でもより高い測
精度で沈でん汚泥の高さ位置を求めうる汚泥沈で
ん計を提供するものである。
以下、本考案の一実施例について第３図を参照
して説明する。即ち、この汚泥沈でん計は、第１
図と同一符号を付する従来と同様の構成を採る第
１の光学測定系２０と、この光学測定系２０にお
ける光源２ａ，２ｂ…および受光器３よりなる光
路と例えば直交する光路を有し符号ダツシユを付
して第１の光学測定系２０と同一構成を採る第２
の光学測定系２０′とで構成し、両光学測定系２
０，２０′で得た信号を平均化回路２１で平均化
した後、信号変換回路１４により汚泥沈でん率を
求める構成である。
して説明する。即ち、この汚泥沈でん計は、第１
図と同一符号を付する従来と同様の構成を採る第
１の光学測定系２０と、この光学測定系２０にお
ける光源２ａ，２ｂ…および受光器３よりなる光
路と例えば直交する光路を有し符号ダツシユを付
して第１の光学測定系２０と同一構成を採る第２
の光学測定系２０′とで構成し、両光学測定系２
０，２０′で得た信号を平均化回路２１で平均化
した後、信号変換回路１４により汚泥沈でん率を
求める構成である。
次に、以上のように構成する汚泥沈でん計の作
用を説明する。第１および第２の光学測定系２
０，２０′にあつては、光源点灯回路４，４′によ
りそれぞれ独立して光源２ａ，２ｂ…の駆動制御
がなされる。従つて、前述したように下部から上
部へ光源２ａ，２ｂ…および２a′，２b′…が順次
点灯していく。そして、これらの光源２ａ，２ｂ
…および２a′，２b′…の光は対向する受光器３，
３′により受光し電気信号に変換する。このよう
にして受光器３，３′で信号変換した電気信号は
それぞれ増幅器１１，１１′を介してレベル設定
回路１２，１２′で設定レベルと比較し、受光器
３，３′の出力が設定レベル以上の時、その光源
点灯位置を沈でん汚泥の高さとして求める。その
後、この沈でん汚泥の高さの信号は平均化回路２
１で平均化され、後続の信号変換回路１４で信号
処理されて汚泥沈でん率を求める。
用を説明する。第１および第２の光学測定系２
０，２０′にあつては、光源点灯回路４，４′によ
りそれぞれ独立して光源２ａ，２ｂ…の駆動制御
がなされる。従つて、前述したように下部から上
部へ光源２ａ，２ｂ…および２a′，２b′…が順次
点灯していく。そして、これらの光源２ａ，２ｂ
…および２a′，２b′…の光は対向する受光器３，
３′により受光し電気信号に変換する。このよう
にして受光器３，３′で信号変換した電気信号は
それぞれ増幅器１１，１１′を介してレベル設定
回路１２，１２′で設定レベルと比較し、受光器
３，３′の出力が設定レベル以上の時、その光源
点灯位置を沈でん汚泥の高さとして求める。その
後、この沈でん汚泥の高さの信号は平均化回路２
１で平均化され、後続の信号変換回路１４で信号
処理されて汚泥沈でん率を求める。
従つて、以上のような構成によれば、測定管１
内の境界面５が傾斜している場合でも２つの光学
測定系２０，２０′の光路を直交するように形成
していれば、両光学測定系２０，２０′で得た信
号を平均化することにより水平な境界面５と同様
の沈でん汚泥の高さを求めることができる。
内の境界面５が傾斜している場合でも２つの光学
測定系２０，２０′の光路を直交するように形成
していれば、両光学測定系２０，２０′で得た信
号を平均化することにより水平な境界面５と同様
の沈でん汚泥の高さを求めることができる。
なお、本考案は上記実施例に限定されるもので
はない。例えば第４図のように増幅器１１の入力
部および制御回路１３の両出力部にそれぞれ連動
するスイツチ３１〜３３を設け、２系統の光路つ
まり光源２ａ，２ｂ…および受光器３、光源２
a′，２b′…および受光器３′とを交互に切換える
ことにより、増幅器１１′、レベル設定回路１
２′、制御回路１３′を不要にするものである。３
４は記憶回路である。
はない。例えば第４図のように増幅器１１の入力
部および制御回路１３の両出力部にそれぞれ連動
するスイツチ３１〜３３を設け、２系統の光路つ
まり光源２ａ，２ｂ…および受光器３、光源２
a′，２b′…および受光器３′とを交互に切換える
ことにより、増幅器１１′、レベル設定回路１
２′、制御回路１３′を不要にするものである。３
４は記憶回路である。
以下、具体的に述べると、連動動作するスイツ
チ３１〜３３を接点ａ側に閉成し光源２ａ，２ｂ
…と受光器３とから光路により境界面を測定した
後、この測定値を記憶回路３４に一時記憶する。
その後、所定時間経過後、スイツチ３１〜３３を
接点ｂ側に閉成して光源２a′，２b′…と受光器
３′とからなる光路により境界面を測定し、両境
界面に伴なう信号を平均化回路２１で平均化し、
これを後続の信号変換回路１４により汚泥沈でん
率を求めるものである。また、光学測定系は２つ
以上設けてもよいものである。
チ３１〜３３を接点ａ側に閉成し光源２ａ，２ｂ
…と受光器３とから光路により境界面を測定した
後、この測定値を記憶回路３４に一時記憶する。
その後、所定時間経過後、スイツチ３１〜３３を
接点ｂ側に閉成して光源２a′，２b′…と受光器
３′とからなる光路により境界面を測定し、両境
界面に伴なう信号を平均化回路２１で平均化し、
これを後続の信号変換回路１４により汚泥沈でん
率を求めるものである。また、光学測定系は２つ
以上設けてもよいものである。
また、上記実施例では、下部から上部に順次光
源２ａ，２ｂ…、２a′，２b′…を選択点灯するよ
うにしたが、上部から下部に順次光源を選択点灯
してもよいことは言うまでもない。その他、本考
案はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実
施できる。
源２ａ，２ｂ…、２a′，２b′…を選択点灯するよ
うにしたが、上部から下部に順次光源を選択点灯
してもよいことは言うまでもない。その他、本考
案はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実
施できる。
以上詳記したように本考案によれば、異なる複
数の光路を利用して得た境界面の位置の信号を平
均化した後、汚泥沈でん率を求めるようにしたの
で、境界面が非水平状態にあつても高積度に汚泥
沈でん率を測定しうる汚泥沈でん計を提供でき
る。
数の光路を利用して得た境界面の位置の信号を平
均化した後、汚泥沈でん率を求めるようにしたの
で、境界面が非水平状態にあつても高積度に汚泥
沈でん率を測定しうる汚泥沈でん計を提供でき
る。
第１図は従来の汚泥沈でん計の構成図、第２図
ａ〜ｃは境界面の非水平状態の態様を示す図、第
３図は本考案に係る汚泥沈でん計の一実施例を示
す構成図、第４図は本考案の他の例を示す図であ
る。 １…測定管、２ａ，２ｂ…、２a′，２b′…光
源、３，３′…受光器、４，４′…光源点灯回路、
５…境界面、６…上澄液、７…沈でん汚泥、１
２，１２′…レベル設定回路、１３，１３′…制御
回路、１４…信号変換回路、２０…第１の光学測
定系、２０′…第２の光学測定系、２１…平均化
回路、３１〜３３…連動スイツチ、３４…記憶回
路。
ａ〜ｃは境界面の非水平状態の態様を示す図、第
３図は本考案に係る汚泥沈でん計の一実施例を示
す構成図、第４図は本考案の他の例を示す図であ
る。 １…測定管、２ａ，２ｂ…、２a′，２b′…光
源、３，３′…受光器、４，４′…光源点灯回路、
５…境界面、６…上澄液、７…沈でん汚泥、１
２，１２′…レベル設定回路、１３，１３′…制御
回路、１４…信号変換回路、２０…第１の光学測
定系、２０′…第２の光学測定系、２１…平均化
回路、３１〜３３…連動スイツチ、３４…記憶回
路。
Claims (1)
- 測定管に沈でんする汚泥の境界面を光学的に検
出して汚泥沈でん率を求める汚泥沈でん計におい
て、前記測定管の管軸方向に平行に配列され、順
次点灯される複数個の光源で構成された光源列
を、前記測定管の外側面の異なる位置に２列以上
配置するとともに、これらの光源列に対して前記
測定管を介して該光源列の各光源からの光を受光
するように棒状の受光器を配置し、これら棒状の
受光器から出力された信号を平均化回路で平均化
して前記汚泥沈でん率を求めるようにしたことを
特徴とする汚泥沈でん計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980185788U JPH0127078Y2 (ja) | 1980-12-24 | 1980-12-24 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980185788U JPH0127078Y2 (ja) | 1980-12-24 | 1980-12-24 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57108141U JPS57108141U (ja) | 1982-07-03 |
| JPH0127078Y2 true JPH0127078Y2 (ja) | 1989-08-14 |
Family
ID=29987156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1980185788U Expired JPH0127078Y2 (ja) | 1980-12-24 | 1980-12-24 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0127078Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7420043B2 (ja) * | 2020-10-13 | 2024-01-23 | ソニーグループ株式会社 | 情報処理装置と情報処理方法およびプログラム |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53119962U (ja) * | 1977-03-02 | 1978-09-25 | ||
| JPS5824757Y2 (ja) * | 1978-12-13 | 1983-05-27 | 沖電気工業株式会社 | 超音波堆砂検知装置 |
-
1980
- 1980-12-24 JP JP1980185788U patent/JPH0127078Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57108141U (ja) | 1982-07-03 |
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