JPH0127120Y2

JPH0127120Y2 -

Info

Publication number: JPH0127120Y2
Application number: JP1979106366U
Authority: JP
Priority date: 1979-07-31
Filing date: 1979-07-31
Publication date: 1989-08-14
Also published as: JPS5623446U

Description

【考案の詳細な説明】本考案は分解組立が容易にできるようにした放
射性物質分析装置に関し、特に電子顕微鏡、Ｘ線
分光分析装置その他種々な粒子線を利用した分光
装置等真空容器を含む分析装置に適したものであ
る。

上述したような種々な分析装置を放射性物質試
料の分析に用いると分析装置内が放射能により汚
染され、分析装置の安易な分解は外部環境を放射
能汚染する危険があるため分解修理、部品の交換
等はきわめて困難であり、結局分析装置の一部の
故障に対しても修理することなく分析装置全体を
廃棄すると云つた処置が採られることになり甚だ
不経済であつた。

本考案は上述したような現況に鑑み、外部環境
の汚染の心配なしに容易に分解修理、部品の交換
等の行える分析装置を提供するためになされたも
ので、分析装置を本体部分とそれに分解可能に結
合される部分、及び更にその結合される部分に結
合される部分とによつて一つの内部空間を形成す
るように構成し、相互に結合される二部分におい
て、本体部分或は本体に近い側の部分の結合部を
筒状に突出した形状に形成し、この結合部の外周
に凹凸条を形成して、ビニールバツグの口縁をそ
の凹凸条に係合させてビニールバツグが分析装置
に取付けられるようにしたことを内容とする。以
上の構成により、或る部分を分析装置から取外す
場合、その部分にビニールバツグをかぶせ、ビニ
ールバツグの口縁をその部分が取付けられている
分析装置側の結合部の外周の凹凸条に係合させて
固定し、同バツグの外側からその部分を取外す操
作を行う。このようにして分析装置全体を隔離室
に入れてその室外から分解操作をするのと同様の
結果が得られることになり、隔離室のような大規
模な設備なしに容易に分析装置の分解修理等の保
守作業が行えるようになる。即ち本考案は分析装
置の相互結合される二部分のうち装置本体或は本
体に近い側の結合部を筒状に突出させて、その外
周に溝を周設し、結合部をビニールバツグの取付
け用ポートとしたものである。以下実施例によつ
て本考案を説明する。

第１図は本考案の一実施例装置の全体を示す。
１は分析装置の本体で排気装置２が結合してあ
る。３は本体１に取付けられた電子レンズ鏡筒、
４は鏡筒３の上に取付けられた電子銃である。電
子銃４より発射された電子線は鏡筒３内の電子レ
ンズにより本体１内に設置された試料面上に収束
せしめられ、電子衝撃により試料から発せられた
Ｘ線が本体１の側面に取付けられたＸ線分光器５
において分光される。６は本体１に取付けられて
いる試料ステージで、予め装入されている試料が
外部操作により順次本体１内の電子線束の焦点位
置に送り出される。以上の構成において、分析装
置本体１、鏡筒３、電子銃４、Ｘ線分光器５、試
料ステージ６等の機能部分は夫々が独立したユニ
ツトになつており相互に結合分離できるようにし
てある。各ユニツトの結合部において、本体或は
本体に近い側のユニツト外周にビニールバツグの
口縁を固着するポート７が形成してあり、各ポー
トには夫々複数の溝７′が刻設されて、この溝に
ビニールバツグの口縁が嵌着される。

電子銃４を取外す場合の操作について述べる。
この場合ビニールバツグ８を電子銃４にかぶせ、
同バツグの口縁をＯリング９によつて鏡筒３上の
溝７′に固定する。溝７′は一つの結合部に複数設
けてあり、最初のビニールバツグは取外すべきユ
ニツトに一番近い溝に固定する。ビニールバツグ
８には外からの作業がやり易いようにバツグ内に
向けて突出した手袋１０が形成してあり、排気ポ
ンプ（図外）に連通させる口１１が設けてあつて
バツグ８内は負圧にされる。従つて作業中もリー
クは外気からバツグ８内に向つて生じ放射性物質
の大気中への散逸が防がれる。排気ポンプの排気
口には勿論フイルタ或は排気溜が取付けてある。
電子銃４はビニールバツグ８の外からの操作で同
バツグ内に取外される。電子銃４が取外されると
鏡筒３の上面が開口し、鏡筒３内の電子レンズを
交換することができる。電子レンズ交換の場合は
バツグ８内に予め別の電子レンズを入れておく。
電子銃を外した後、バツグ８をかぶせたまゝ交換
すべき電子レンズを鏡筒３から引出し予めバツグ
８内に入れておいた別の電子レンズを鏡筒３内に
収容し、電子銃４を鏡筒３上に固定する。以上の
操作は全部ビニールバツグ８内で行われている。
以上の作業で電子銃４の外面は放射性物質で汚染
されている可能性がある。そこでビニールバツグ
８を鏡筒３のポートに取付けたまゝその外側に第
２のビニールバツグをかぶせてその口縁を鏡筒３
のポートに固着し、先のビニールバツグ８を外し
その中に旧の電子レンズを入れたまゝその口を閉
じ、２番目のバツグ内に予め入れておいた清掃具
と清掃剤によつて電子銃４表面及びポート部７を
清掃し、要すれば更にその上に第３のビニールバ
ツグをかぶせて第２のビニールバツグを外し、電
子銃表面等を再度清掃し、以下同様の操作を必要
回数繰返し、電子銃表面の放射能レベルが充分低
下した所でそれまでに使つたビニールバツグを最
後のビニールバツグ内に包み込んだ形で全部のビ
ニールバツグを外して作業を終る。

第２図は電子銃４の部分の詳細を示し、フイラ
メント部Ｆ及び環状部Ｃの２段積の形になつてい
る。ねじＳをゆるめると環状部Ｃを鏡筒３からず
らせることができ、鏡筒内の電子レンズが交換で
きることは上述した通りである。更に鏡筒のポー
ト７にビニールバツグを取付け、上述したのと同
じ手順でフイラメント部Ｆを環状部Ｃから離して
フイラメントの交換ができる。

第３図は２次電子検出部の一部断面を示す。こ
の部分は第１図では本体部１に図の紙面に垂直に
向う側に突出して設けられている。１２は本体１
から突出した筒状のポートで口部のフランジ外周
に溝７′が周設してある。検出部の外筒１３がポ
ート１２の内側に挿入固定されている。ポート１
２の溝７′にビニールバツグの口縁を固定し外筒
１３を外せば中のシンチレータ１４或は光電子増
倍管１５を取出すことができ、交換作業の要領は
上述した電子レンズの交換等と同じである。

第４図はＸ線分光器における分光結晶或はＸ線
検出器の交換ポートを示す。第１図において１６
が分光結晶交換ポート、１６′がＸ線検出器交換
ポートでこれらは同じ構造である。即ちＸ線分光
器ハウジング５に穿たれた部品交換口Ｗの外周に
環状のポート１６或は１６′が設けてあり、同ポ
ートの外周面に溝７′が切つてある。１７は口Ｗ
を閉塞する蓋でビニールバツグ８を溝７′で固定
し、ねじ１８をゆるめて蓋１７を外し口Ｗを開い
て分光結晶或はＸ線検出器を取出し、予めバツグ
８内に入れておいた別の結晶或はＸ線検出器と交
換する。以後の操作手順は電子レンズ交換の場合
と同じである。

本考案分析装置は上述したような構成で分析装
置各部の相互結合部にビニールバツグの口縁を固
定するポートを設けてあるので、部品の取外し、
交換等が外界と遮断されたビニールバツグの中で
行えるため大規模な遮蔽室のような設備なしに簡
単に放射性物質を扱う分析装置の分解修理等がで
きる。

【図面の簡単な説明】

図面は本考案の一実施例装置を示し、第１図は
全体の側面図、第２図は電子銃の部分の分解斜視
図、第３図は２次電子検出部の一部切欠側面図、
第４図はＸ線分光器における分光結晶及びＸ線検
出器交換部の縦断側面図である。１……分析装置本体、２……排気装置、３……
電子レンズ鏡筒、４……電子銃、５……Ｘ線分光
器、６……試料ステージ、７……ビニールバツグ
口縁を固着するポート、７′……前記ポートに設
けられた溝、８……ビニールバツグ、９……Ｏリ
ング、１０……手袋、１１……排気ポンプにつな
ぐ口、１２，１６，１６′……部分交換口部のポ
ート、１４……シンチレータ、１５……光電子増
倍管。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

分析装置を、互いに分解可能に結合される本体
部分および上記本体部分に直接に結合され或は中
間の部分を介在させて結合される他の部分によつ
て全体として一つの内部空間を形成するように構
成し、上記各部分間の結合構造を、本体部分に結
合される部分に関しては本体部分から突出された
筒状の結合部内に相手部分の結合部を嵌合接続す
る構造とし、中間の部分を介して結合される部分
に関してはその中間の部分から突出された筒状の
結合部内に相手側の結合部を嵌合接続する構造と
し、上記各筒状結合部の外周に、ビニールバツグ
の口縁を装着する凹凸条を周設した放射性物質分
析装置。