JPH01277792A - 放射線パルス計数装置 - Google Patents
放射線パルス計数装置Info
- Publication number
- JPH01277792A JPH01277792A JP10830288A JP10830288A JPH01277792A JP H01277792 A JPH01277792 A JP H01277792A JP 10830288 A JP10830288 A JP 10830288A JP 10830288 A JP10830288 A JP 10830288A JP H01277792 A JPH01277792 A JP H01277792A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- radiation
- count value
- output
- counting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、例えばＸｖＡ撮像装置用等の、一定エネルギ
の放射線、パルスを計数するための装置に関する。
の放射線、パルスを計数するための装置に関する。
〈従来の技術〉
放射線パルスを計数するための基本的な回路構成を第５
図に示す。放射線が検出器１に入射することによって生
じる信号パルスは、前置増幅器２により電圧パルスに変
換され、比例増幅器３によって増幅波形成形される。こ
の比例増幅器３の出力は、雑音パルスを除去したり、所
定の波高値以上のパルスのみを計数するために波高弁別
器４に導入され、ロジックパルスに変えられる。このパ
ルス幅は測定系が同じであっても放射線のエネルギが変
わると異なってくるが、ラジオアイソトープ等から放出
される一定のエネルギの放射線を計数する場合には一定
となる。そして、波高弁別器４の出力パルスはカウンタ
１０によって計数される。
図に示す。放射線が検出器１に入射することによって生
じる信号パルスは、前置増幅器２により電圧パルスに変
換され、比例増幅器３によって増幅波形成形される。こ
の比例増幅器３の出力は、雑音パルスを除去したり、所
定の波高値以上のパルスのみを計数するために波高弁別
器４に導入され、ロジックパルスに変えられる。このパ
ルス幅は測定系が同じであっても放射線のエネルギが変
わると異なってくるが、ラジオアイソトープ等から放出
される一定のエネルギの放射線を計数する場合には一定
となる。そして、波高弁別器４の出力パルスはカウンタ
１０によって計数される。
〈発明が解決しようとする課題〉
ところで、すべての検出装置には、検出器内で生じた２
つの事象が互いに分離して独立的に記録されるために必
要な最小の時間、つまり不感時間がある。この制限時間
は検出器内で信号発生に要する時間や、付属回路の信号
処理時間等により決まる。放射線のようにランダムに事
象が起こる場合には、時間的に近接した信号パルスを数
え落としてしまう。このことを以下に具体的に説明する
。
つの事象が互いに分離して独立的に記録されるために必
要な最小の時間、つまり不感時間がある。この制限時間
は検出器内で信号発生に要する時間や、付属回路の信号
処理時間等により決まる。放射線のようにランダムに事
象が起こる場合には、時間的に近接した信号パルスを数
え落としてしまう。このことを以下に具体的に説明する
。
例えば、単一の事象によって作られた波高弁別器４の出
力パルス幅かでの場合を考えてみる。この場合、τが不
感時間となる。今、６個の事象が起こったときの各部の
信号の様子を第６図に例示する。この例では、６個の事
象に対し、カウンタ１０は３個の計数しか行わない。こ
の数え落としは、検出器１内で起こる真の事象計数率（
単位時間当りの真の事象発生数、以下、真の計数率とい
う）が増加するに従って増えてゆ（。真の計数率をｎと
し、カウンタ１０による実際の計数率（以下、観測計数
率という）をｍとすると、ｍ””ｎｅ−’τ で表わされる。この関係を図示すると第７図に示す通り
となる。この図から明らかなように、真の計数率ｎが増
加すると数え落としが増えるばかりでなく、ｎが１／τ
のところで観測計数率ｍが最大（＝１／τｅ）になった
後、減少に転じる。このため、実際に観測された計数率
から真の計数率を誤って推定してしまう可能性がある。
力パルス幅かでの場合を考えてみる。この場合、τが不
感時間となる。今、６個の事象が起こったときの各部の
信号の様子を第６図に例示する。この例では、６個の事
象に対し、カウンタ１０は３個の計数しか行わない。こ
の数え落としは、検出器１内で起こる真の事象計数率（
単位時間当りの真の事象発生数、以下、真の計数率とい
う）が増加するに従って増えてゆ（。真の計数率をｎと
し、カウンタ１０による実際の計数率（以下、観測計数
率という）をｍとすると、ｍ””ｎｅ−’τ で表わされる。この関係を図示すると第７図に示す通り
となる。この図から明らかなように、真の計数率ｎが増
加すると数え落としが増えるばかりでなく、ｎが１／τ
のところで観測計数率ｍが最大（＝１／τｅ）になった
後、減少に転じる。このため、実際に観測された計数率
から真の計数率を誤って推定してしまう可能性がある。
本発明はこのような点に濡みてなされたもので、エネル
ギ一定の放射線を計数する装置において、数え落としが
少なく、しかも高計数率のところで観測計数率が減少す
ることのない放射線パルス計数装置の提供を目的として
いる。
ギ一定の放射線を計数する装置において、数え落としが
少なく、しかも高計数率のところで観測計数率が減少す
ることのない放射線パルス計数装置の提供を目的として
いる。
く課題を解決するための手段〉
上記の目的を達成するため、本発明では、波高弁別され
たパルス信号の時間幅の総和を測定する計時手段と、そ
の計時結果を、検出器およびその出力の増幅回路を含む
検出系の不感時間で除す除算手段を備え、その除算結果
を放射線パルス計数結果として出力するよう構成してい
る。
たパルス信号の時間幅の総和を測定する計時手段と、そ
の計時結果を、検出器およびその出力の増幅回路を含む
検出系の不感時間で除す除算手段を備え、その除算結果
を放射線パルス計数結果として出力するよう構成してい
る。
く作用〉
第６図に示した例から明らかなように、２個の事象が近
接して起きた場合、波高弁別器４の出力パルス幅は単一
事象の出力パルス幅よりも長くなり、３個の事象が近接
して起きた場合にはそのパルス幅は更に長くなる。つま
り、従来の計数法ではいずれも１個として計数されてい
たパルスであっても、２個、３個とパルスが重複して１
個のパルスを形成しているものについては、その分、パ
ルス幅に反映されることになる。従って、パルス幅の総
和を求めて、これを不感時間τ、すなわち単一事象の出
力パルス幅で除せば、その除算結果は従来の計数法に基
づく計数値に比してより真の計数値に近く、かつ、真５
計数率の高いところで観測計数率が減少することがない
。
接して起きた場合、波高弁別器４の出力パルス幅は単一
事象の出力パルス幅よりも長くなり、３個の事象が近接
して起きた場合にはそのパルス幅は更に長くなる。つま
り、従来の計数法ではいずれも１個として計数されてい
たパルスであっても、２個、３個とパルスが重複して１
個のパルスを形成しているものについては、その分、パ
ルス幅に反映されることになる。従って、パルス幅の総
和を求めて、これを不感時間τ、すなわち単一事象の出
力パルス幅で除せば、その除算結果は従来の計数法に基
づく計数値に比してより真の計数値に近く、かつ、真５
計数率の高いところで観測計数率が減少することがない
。
〈実施例〉
本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。第
１図は本発明実施例の回路構成図である。
１図は本発明実施例の回路構成図である。
半導体放射線検出器等の検出器１、前置増幅器２、比例
増幅器３および波高弁別器４は従来装置と同等であって
、検出器１に放射線が入射することによってこの検出器
１から出力されるパルス信号は、前置増幅器２と比例増
幅器３を経て増幅波形成形された後、波高弁別器４によ
って所定波高値以上のパルス信号のみが抽出される。
増幅器３および波高弁別器４は従来装置と同等であって
、検出器１に放射線が入射することによってこの検出器
１から出力されるパルス信号は、前置増幅器２と比例増
幅器３を経て増幅波形成形された後、波高弁別器４によ
って所定波高値以上のパルス信号のみが抽出される。
波高弁別器４によって弁別された有効パルスは、ＡＮＤ
ゲート５に入力されている。このＡＮＤゲート５には、
もう一方の入力として高周波パルス発生器６からのクロ
ックパルスが導入されており、そのＡＮＤ出力がカウン
タ７によって計数される。
ゲート５に入力されている。このＡＮＤゲート５には、
もう一方の入力として高周波パルス発生器６からのクロ
ックパルスが導入されており、そのＡＮＤ出力がカウン
タ７によって計数される。
ここで、高周波パルス発生器６からのクロックパルスの
周期は、波高弁別器４からの単一事象のパルス幅τに比
して充分小さくしておく。通常、半導体放射線検出器の
［ばμｓｅｃオーダのパルス幅を有しているので、クロ
ックパルスの周波数は１０ＭＨｚ〜ＧＨｚ程度を選定す
る。
周期は、波高弁別器４からの単一事象のパルス幅τに比
して充分小さくしておく。通常、半導体放射線検出器の
［ばμｓｅｃオーダのパルス幅を有しているので、クロ
ックパルスの周波数は１０ＭＨｚ〜ＧＨｚ程度を選定す
る。
カウンタ７は、例えばＭビットバイナリカウンタであっ
て、その計数結果は読み出し回路８によって読み出され
る。読み出し回路８は、カウンタ７の上位（Ｍ−Ｎ）ビ
ットを読み出すことにより、カウンタ７の計数値を２Ｎ
で除算した値を得るよう構成されている。この２Ｎは、
華−事象に対応する波高弁別器４の出力パルスの時間幅
τにおけるクロックパルスの発生数ｐに等しく設定され
ている。
て、その計数結果は読み出し回路８によって読み出され
る。読み出し回路８は、カウンタ７の上位（Ｍ−Ｎ）ビ
ットを読み出すことにより、カウンタ７の計数値を２Ｎ
で除算した値を得るよう構成されている。この２Ｎは、
華−事象に対応する波高弁別器４の出力パルスの時間幅
τにおけるクロックパルスの発生数ｐに等しく設定され
ている。
次に作用を述べる。第２図は各部の信号波形の例を示す
タイムチャートである。ＡＮＤゲート５は、波高弁別器
４の出力パルスがＯＮ状態のときに限って高周波パルス
発生器６からの出力パルスを通過ささせる。この、ＡＮ
Ｄゲート５の出力を計数するカウンタ７の計数値Ｐは、
従って、計測中における波高弁別器４の出力パルスの時
間幅の総和Ｔを表すことになる。このカウンタ７の計数
値の上位（Ｍ−Ｎ）ビットを読み出す読み出し回路８の
出力、つまりＰ ／ ｐは、故にＴ／τを表わすことに
なる。
タイムチャートである。ＡＮＤゲート５は、波高弁別器
４の出力パルスがＯＮ状態のときに限って高周波パルス
発生器６からの出力パルスを通過ささせる。この、ＡＮ
Ｄゲート５の出力を計数するカウンタ７の計数値Ｐは、
従って、計測中における波高弁別器４の出力パルスの時
間幅の総和Ｔを表すことになる。このカウンタ７の計数
値の上位（Ｍ−Ｎ）ビットを読み出す読み出し回路８の
出力、つまりＰ ／ ｐは、故にＴ／τを表わすことに
なる。
前述した第６図に示すように、２個以上の事象が近接し
て起こった場合の波高弁別器４の出力パルスの幅は、単
一の事象が起こった場合の出力パルス幅τよりも長くな
り、パルスの重複を反映したものとなる。従って、ある
計測期間中における波高弁別器４の出力パルスの幅の総
和をτで除した値は、従来の計数法で得られる計数値よ
り真の値に近くなり、数え落としが減少する。しかも、
計数率が極めて高くなっても、計数値Ｔ／τはある値に
飽和することはあっても、減少することはない。
て起こった場合の波高弁別器４の出力パルスの幅は、単
一の事象が起こった場合の出力パルス幅τよりも長くな
り、パルスの重複を反映したものとなる。従って、ある
計測期間中における波高弁別器４の出力パルスの幅の総
和をτで除した値は、従来の計数法で得られる計数値よ
り真の値に近くなり、数え落としが減少する。しかも、
計数率が極めて高くなっても、計数値Ｔ／τはある値に
飽和することはあっても、減少することはない。
第３図は不感時間τ＝１μｓｅｃのときの真の計数率と
観測計数率との関係を示すグラフで、実線が本発明実施
例を、破線が従来例を示している。
観測計数率との関係を示すグラフで、実線が本発明実施
例を、破線が従来例を示している。
従来の計数法では１０６カウント／ｓｅｃ以上で観測計
数率が減少するが、本発明実施例では増加している。
数率が減少するが、本発明実施例では増加している。
また、第４図は真の計数率に対する観測計数率の割合（
効率）を示すグラフで、同様に実線が本発明実施例を、
破線が従来例を示している。このグラフから明らかなよ
うに、本発明実施例では高計数率のところで計数効率が
改善されている。
効率）を示すグラフで、同様に実線が本発明実施例を、
破線が従来例を示している。このグラフから明らかなよ
うに、本発明実施例では高計数率のところで計数効率が
改善されている。
なお、以上の実施例では、波高弁別器４の出力パルスの
時間幅の総和を、高周波パルス発生器６とＡＮＤゲート
５およびカウンタ７によって計測したが、他の任意の計
時手段を採用し得ることは勿論である。
時間幅の総和を、高周波パルス発生器６とＡＮＤゲート
５およびカウンタ７によって計測したが、他の任意の計
時手段を採用し得ることは勿論である。
また、カウンタ７による高周波パルスの計数値を不感時
間τに相当する数値で除す手法として、カウンタ７の計
数値の上位（Ｍ −Ｎ）ビットを読み出すほか、通常の
デジタル演算による除算手段を採用し得ることは言うま
でもない。
間τに相当する数値で除す手法として、カウンタ７の計
数値の上位（Ｍ −Ｎ）ビットを読み出すほか、通常の
デジタル演算による除算手段を採用し得ることは言うま
でもない。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、波高弁別後のパ
ルスの時間幅の総和を検出系の不感時間で除して放射線
パルス計数値を得るから、従来の計数法に比して数え落
としの割合が減少する。このことは、この計数値を用い
て画像を作る場合、画質が向上することになる。また、
極めて高計数率になったときにも計数値が減少に転する
ことがないので、誤った濃度表示をすることがなく、信
頼性が向上する。
ルスの時間幅の総和を検出系の不感時間で除して放射線
パルス計数値を得るから、従来の計数法に比して数え落
としの割合が減少する。このことは、この計数値を用い
て画像を作る場合、画質が向上することになる。また、
極めて高計数率になったときにも計数値が減少に転する
ことがないので、誤った濃度表示をすることがなく、信
頼性が向上する。
第１図は本発明実施例の構成を示すブロック図、第２図
はその各部の信号波形の例を示すタイムチャート、 第３図は真の計数率に対する観測計数率の関係を本発明
実施例と従来例を対比して示すグラフ、第４図は真の計
数率に対する計数効率の関係を本発明実施例と従来例を
対比して示すグラフ、第５図は従来の放射線パルス計数
装置の構成を示すブロック図、 第６図は従来装置による数え落としの説明図、第７図は
従来装置による観測計数率の真の計数率に対する関係を
示すグラフである。 １・・・検出器 ２・・・前置増幅器 ３・・・比例増幅器 ４・・・波高弁別器 ５・・・ＡＮＤゲート ６・・・高周波パルス発生器 ７・・・カウンタ ８・・・読み出し回路
はその各部の信号波形の例を示すタイムチャート、 第３図は真の計数率に対する観測計数率の関係を本発明
実施例と従来例を対比して示すグラフ、第４図は真の計
数率に対する計数効率の関係を本発明実施例と従来例を
対比して示すグラフ、第５図は従来の放射線パルス計数
装置の構成を示すブロック図、 第６図は従来装置による数え落としの説明図、第７図は
従来装置による観測計数率の真の計数率に対する関係を
示すグラフである。 １・・・検出器 ２・・・前置増幅器 ３・・・比例増幅器 ４・・・波高弁別器 ５・・・ＡＮＤゲート ６・・・高周波パルス発生器 ７・・・カウンタ ８・・・読み出し回路
Claims (1)
- 放射線の入射によりパルス状の信号を出力する検出器
と、その検出器の出力を増幅する増幅回路と、その増幅
回路からのパルス出力を入力してあらかじめ設定された
波高値以上のパルス信号のみを抽出する波高弁別器を有
し、波高弁別後のパルス信号の計数値を上記検出器への
入射放射線線量の計測結果として出力する装置において
、計測中における上記波高弁別後のパルス信号の時間幅
の総和を測定する計時手段と、その計時結果を上記増幅
回路より前段部分の不感時間で除す除算手段を備え、そ
の除算結果を上記計測結果として出力するよう構成され
ていることを特徴とする、放射線パルス計数装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10830288A JPH01277792A (ja) | 1988-04-30 | 1988-04-30 | 放射線パルス計数装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10830288A JPH01277792A (ja) | 1988-04-30 | 1988-04-30 | 放射線パルス計数装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01277792A true JPH01277792A (ja) | 1989-11-08 |
Family
ID=14481248
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10830288A Pending JPH01277792A (ja) | 1988-04-30 | 1988-04-30 | 放射線パルス計数装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01277792A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100478632B1 (ko) * | 2002-01-12 | 2005-03-24 | 한국수력원자력 주식회사 | 방사선량 측정을 위한 고속 펄스 카운트 장치 |
| JP2014527162A (ja) * | 2011-07-20 | 2014-10-09 | デクトリス エルティーディー． | 即時リトリガ能力を備えた光子計数イメージング方法および装置 |
| JP2020201191A (ja) * | 2019-06-12 | 2020-12-17 | 株式会社東芝 | 放射線計測装置および放射線計測方法 |
-
1988
- 1988-04-30 JP JP10830288A patent/JPH01277792A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100478632B1 (ko) * | 2002-01-12 | 2005-03-24 | 한국수력원자력 주식회사 | 방사선량 측정을 위한 고속 펄스 카운트 장치 |
| JP2014527162A (ja) * | 2011-07-20 | 2014-10-09 | デクトリス エルティーディー． | 即時リトリガ能力を備えた光子計数イメージング方法および装置 |
| JP2020201191A (ja) * | 2019-06-12 | 2020-12-17 | 株式会社東芝 | 放射線計測装置および放射線計測方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0057569A1 (en) | Apparatus for measuring neutrons and gamma rays | |
| US4528450A (en) | Method and apparatus for measuring radioactive decay | |
| US4830020A (en) | Measurement signal interference elimination | |
| US3842278A (en) | Liquid scintillation unit with low background noise | |
| US7161153B2 (en) | Apparatus and method for detecting α-ray | |
| JPH01277792A (ja) | 放射線パルス計数装置 | |
| JPH0882681A (ja) | 放射線測定システム | |
| JP3103047B2 (ja) | 核分光システムにおけるパルス波形調整及び弁別方法 | |
| JPH05297146A (ja) | 粒子線測定方法および装置 | |
| US4870603A (en) | System of improving signal-to-noise ratio of detected random pulses | |
| US5404320A (en) | Autocorrelation processing method and apparatus | |
| US20070205372A1 (en) | Apparatus and method for reducing microphonic susceptibility in a radiation detector | |
| JPH0375833B2 (ja) | ||
| JP2624682B2 (ja) | 計数率補正装置 | |
| US4810959A (en) | Method of improving signal-to-noise ratio of detected random pulses | |
| JPH02157680A (ja) | 放射線測定装置 | |
| US3896296A (en) | Live time correction system | |
| JPH033198B2 (ja) | ||
| JP3008478B2 (ja) | 放射線計測回路 | |
| JPH03197893A (ja) | 放射線測定装置 | |
| JP2841493B2 (ja) | 放射線パイルアップ検出回路 | |
| JPH0519061A (ja) | 放射線検出信号弁別回路 | |
| JPH056674B2 (ja) | ||
| JPH04337491A (ja) | 放射線監視装置 | |
| SU752210A1 (ru) | Линейный спектрометрический усилитель |