JPH01278730A - 半導体ウェーハの洗浄装置 - Google Patents

半導体ウェーハの洗浄装置

Info

Publication number
JPH01278730A
JPH01278730A JP10936288A JP10936288A JPH01278730A JP H01278730 A JPH01278730 A JP H01278730A JP 10936288 A JP10936288 A JP 10936288A JP 10936288 A JP10936288 A JP 10936288A JP H01278730 A JPH01278730 A JP H01278730A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
water supply
water
cleaning
drainage
supply plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10936288A
Other languages
English (en)
Inventor
Noboru Okamura
昇 岡村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP10936288A priority Critical patent/JPH01278730A/ja
Publication of JPH01278730A publication Critical patent/JPH01278730A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体ウェーハの洗浄装置に係り、特に水槽の
構造に関する。
従来の技術 従来の半導体ウェーハの洗浄装置は、第3図の斜視図お
よび第2図のA−A ’断面図で示されるように、水槽
1と、同水槽底部で、直径5Mの貫通孔を等ピッチで全
面に開けた平板の給水板2と。
から成り、常時一定流量の洗浄液を供給するオーバーフ
ロ一方式を採用していた。
発明が解決しようとする課題 半導体ウェー八表面の汚れや残留薬品は、水洗作業中に
、水との置換によって除去される。従来の構造では、半
導体ウェー八表面に沿って流れる水の流速が遅く、その
ために置換の効果が低かった。また、常時一定流量のオ
ーバ−70方式のために、半導体ウェーハおよびウェー
ハカセットが持ち込んだ汚れが、長時間水槽内に滞留す
るという問題点を有していた。
この発明は、上記の事情を鑑みてなされたもので、その
目的とするところは、半導体ウェーハ表面汚れの除去効
果を高めることにより、洗浄後の半導体ウェーハ表面の
清浄度レベルを向上させると共に、洗浄時間゛の短縮を
図るものである。
課題を解決するための手段 従来の問題点を解決するために、本発明は、洗浄装置の
給水板を、水圧保持可能な箱状にし、開孔部分をウェー
ハカセット位置に相当する面積に選択的に開けた直径2
M以下の複数給水孔に限定し、かつ、この給水板の周囲
に、同水槽側面の大口径排水口まで連続的に排水路を設
けた構造の半導体ウェーハの洗浄装置である。
作用 上記の構造を持つ半導体ウェーハの洗浄装置では、給水
孔を通過する洗浄水の流速が従来の5倍以上の2m毎秒
程度に高められる。また、急速給排水の繰り返しが可能
であり、洗浄水の水質(比抵抗)の回復時間が著しく短
縮できる。
実施例 以下、本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。第1図は本発明にかかる洗浄装置の斜視図で
あり、第2図はそのB−B断面図である。図中、1は水
槽、2は給水板、3は大口径排水口を表わす。給水板2
は水槽1の底部に箱状になっており、その周囲には連続
の排水路4が形成されている。洗浄水は下方から供給さ
れ、水槽が満水の状態から半導体ウェーハの洗浄が始ま
り、一定時間経過後、給水停止と共に、大口径排水口か
ら排水を開始する。排水は数秒間で完了し、それと同時
に次の給水を始める。
第3図に示すように、本発明による洗浄装置では、給水
板の孔径を2ffuT1以下にすると、洗浄水のトータ
ル流量が同じでも、流速は従来の5倍以上となる。その
結果として、第4図に示すように、半導体ウェーハ表面
に残存する0、3μ以上のパーティクル数は2桁近く低
減する。
発明の効果 本発明によれば、給水板の形状および水槽下部の排水口
設置により、洗浄水の流速の増加および換水が容易にな
り、半導体ウェーハの洗浄効果を大幅に向上させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による洗浄装置の斜視図、第2図は同
じく、B−B ’断面の断面図、第3図は給水板の孔径
と洗浄水流速との関係を表わす特性図、第4図は給水下
の孔径と洗浄後の半導体ウェーハ表面に残存するパーテ
ィクル数との関係を表わす特性図、第5図は従来洗浄装
置の斜視図、第6図は同じ<、A−A’断面の断面図で
ある。 1・・・・・・水槽、2・・・・・・給水板、3・・・
・・・大口径排水口、4・・・・・・排水路。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名1−  水
   槽 ?−′給氷級 第3図 蛤水扶孔径(戸mrn) 給水抜工径【洗浄水流速の関係

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  水槽内のウェーハカセットが位置する底部に直径2m
    m以上の貫通孔を複数個、選択的に設けた給水板と、同
    水槽本体の側面下部に排水口とを有し、前記給水板は前
    記水槽の底部で箱状に配設されて、同水槽の内壁と前記
    給水板との間に連続の排水路を形成した構造を特徴とす
    る半導体ウェーハの洗浄装置。
JP10936288A 1988-05-02 1988-05-02 半導体ウェーハの洗浄装置 Pending JPH01278730A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10936288A JPH01278730A (ja) 1988-05-02 1988-05-02 半導体ウェーハの洗浄装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10936288A JPH01278730A (ja) 1988-05-02 1988-05-02 半導体ウェーハの洗浄装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01278730A true JPH01278730A (ja) 1989-11-09

Family

ID=14508305

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10936288A Pending JPH01278730A (ja) 1988-05-02 1988-05-02 半導体ウェーハの洗浄装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01278730A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4092176A (en) Apparatus for washing semiconductor wafers
US4361163A (en) Apparatus for washing semiconductor materials
JP2920165B2 (ja) 枚葉洗浄用オーバーフロー槽
JP3538470B2 (ja) 下降整流式浸漬洗浄装置
JP4095478B2 (ja) 基板のエッチング装置及びエッチング方法
JP2968779B1 (ja) 板状体の洗浄装置
JPS5848423A (ja) 洗浄槽
JPH0437131A (ja) 半導体ウエハの純水水洗槽及び水洗方法
JPS5861632A (ja) 洗浄槽
JPH05102118A (ja) 半導体ウエハの水洗方法および水洗槽
JP3437535B2 (ja) ウェハ洗浄処理装置及びその方法
JPS5866333A (ja) 洗浄槽
JP3039494B2 (ja) Wet処理槽及びその給液方法
JPH05166787A (ja) 半導体ウエハ用洗浄リンス槽
JPS6159838A (ja) ウエ−ハ洗浄装置
JP3185387B2 (ja) 洗浄装置及びこれを用いた半導体ウエハなどの基板の洗浄方法
JPH09285767A (ja) 流水式洗浄装置
JPH0254528A (ja) 半導体装置の製造装置
JP3309596B2 (ja) 基板の洗浄装置と洗浄方法
JPH01138721A (ja) ウェットエッチング装置
JPH09321015A (ja) 半導体の洗浄装置
JPS6134946A (ja) 純水洗浄装置
JPS5871630A (ja) 処理液による処理方法および処理装置
JPH0244727A (ja) 半導体ウエハー洗浄装置
JPH0639355A (ja) 基板洗浄装置