JPH01280235A - 分岐光線路特性評価装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、分岐部を含んだ光線路網を評価する際に用い
られる分岐光線路特性評価装置に関する。

「従来の技術」 加入者系線路網への光ファイバ導入の検討が精力的にす
すめられており、０ＡＴＶに代表される放送型分配シス
テムが魅力的なシステムとして有望視されている。

ところで、中継光線路に代表されるエンド・トウ・エン
ドの光線路の保守にあたっては、いわゆるＯ　Ｔ　Ｄ　
Ｒ（ｏｐｔｉｃａｌ　ｔｉｍｅ　ｄｏｍａｉｎ　ｒｅＮ
ｅｃｔｍｅｔｅｒ）法とよばれる後方散乱光測定法が用
いられてきた。

これは光ファイバ１端から先パルスを入射したとき、光
ファイバ内で発生するレーリ散乱光、および光ファイバ
の他端で反射するフレネル反射光を光入射端で検出し、
前者から光損失を、後者から破断点の位置検出を行うも
のである。

しかしながら、放送型分配システムのように分岐部を含
む光線路においては、複数の分岐光ファイバで発生する
すべてのレーリ散乱光とフレネル反射光が混合して光入
射端に返ってくるため、特定の分岐光ファイバの特性を
分離して評価することができない。そこで、従来は、第
６図に示すように、分岐素子の下流側、すなわち加入者
側に、各分岐光ファイバ毎に特性評価用のアクセスポイ
ント（光人出射部）が設けられ、各分岐光ファイバの特
性評価が行われていた。第６図において、１はサービス
信号源、２は上流側光ファイバ、３は分岐素子、４−１
．４−２．〜，４−ｉｔ〜４−Ｎは下流側光ファイバ、
５−１．５−２．〜，５−１＋〜。

５−Ｎはアクセスポイント素子、６はアクセスポイント
選択スイッチ、７は０ＴＤＲ装置である。

上記構成において、各分岐光ファイバの特性評価は以下
のように行われる。まず、下流側光ファイバの内の１つ
、例えば４−ｉを評価するには、アクセスポイント素子
５−１をアクセス可能な状態とする。ここで、アクセス
ポイント素子５−ｉが１ｘ２型光スイツチの場合はこれ
をＯＮにすることにより実現できる。また、アクセスポ
イント素子５−４が２×２合分波素子である場合は特段
の動作は必要ないが、０ＴＤＲ装置７の光源波長を通常
の放送波長と異なる波長に選び、アクセスポイント素子
５−ｉに波長選択性をもたせるなどの工夫を要する。次
に、アクセスポイント選択スイッチ６において、０ＴＤ
Ｒ装置７をアクセスポイント５−ｉと結合する。このス
イッチ６はｌＸＮ型（Ｎは下流側光ファイバ本数）のス
イッチ機能が必要である。このような手順を経た上で、
着目する下流側ファイバ４−ｉの特性評価が行われる。

「発明が解決しようとする課題」 しかしながら、上述の分岐光線路特性評価装置では、各
々の下流側光ファイバ毎にアクセスポイントを１つずつ
設置する必要があるため、放送型サービスを提供するシ
ステムの信頼性を低下させる原因となること、ならびに
経済性の点できわめて不利となること、さらに一般的に
は分岐素子３の直近にアクセスポイント素子５’−１−
５−Ｎ。

アクセスポイント選択スイッチ６および０ＴＤＲ装置７
を設置することが必要となるため、評価装置の設置条件
の点でも制限を生ずるという問題があった。

本発明は上述のような事情に鑑みてなされたものであり
、下流側光ファイバ毎に独立にアクセスポイントを設置
することなく、各下流側光ファイバの特性を個別に評価
する事ができる分岐光線路特性評価装置を提供する事を
目的とする。

「課題を解決するための手段」 本発明は、１本または複数本の上流側光ファイバを介し
て伝送された光信号を光分岐素子を介して複数の下流側
光ファイバに分配する分岐光線路の保守に用いられ、前
記複数の下流側光ファイバの損失および破断点を検出す
る分岐光線路特性評価装置において、 前記複数の下流側光ファイバ中ならびにその終端におい
て、後方レーリ散乱光ならびにフレネル反射光を発生さ
せるための繰り返しパルス光を送出する周波数ｆｓの信
号光源と、 前記複数の下流側光ファイバ中の任意の１本をブリルア
ン増幅状態と゛するためのＣＷ光を送出する周波数ｆｐ
のポンプ光源と、 前記信号光源および前記ポンプ光源の各々から出た光を
前記光分岐素子よりら上流側から入射して前記複数の下
流側光ファイバのすべてに入射するための光学手段と、 前記複数の下流側光ファイバ中ならびにその終端におい
て発生した後方レーリ散乱光ならびにフレネル反射光、
およびこれらが前記ポンプ光と相互作用してブリルアン
光増幅されたレーリ散乱光ならびにフレネル反射光の時
間波形を受光検出する光検出手段と、 前記信号光源周波数ｆｓと前記ポンプ光源周波数ｆｐの
差周波数Δｒ＝ｆｐ−ｆｓを、前記複数の下流側光ファ
イバの内、評価しようとする光ファイバにおいてブリル
アン増幅の生じる周波数シフト量ｒＡｉ（ｉは光ファイ
バ番号）に合致させるための周波数制御手段と、 前記ポンプ光と前記信号光の両者が同時に前記複数の下
流側光ファイバに入射した場合のブリルアン増幅効果を
含んだ後方散乱光およびフレネル反射光の時間波形と、
前記信号光のみが前記複数の下流側光ファイバに入射し
た場合の後方散乱光およびフレネル反射光の時間波形の
両方を記録し、その波形差を算出することにより前記複
数の下流側光ファイバの任意の１本におけるレーリ散乱
光およびフレネル反射光のみを分離して表示する波形処
理装置と を具備することを特徴としている。

「作用」 上記構成によれば、信号光源から周波数ｆｓの繰り返し
パルス光が発せられ、これが光学手段を介してすべての
下流側光ファイバに送られ、各光ファイバ内ならびに端
部で、後方レーリ散乱光ならびにフレネル反射光が発生
される。そして、これらの−光が下流側光ファイバから
信号光源に向って逆進し、この光の時間波形が光検出部
によって検出されると共に波形処理装置に記録される。

次に、ポンプ光源から、周波数ｆｐのＣＷ光が発せられ
、これが信号光と同様に、光学手段を介してすべての下
流側光ファイバに逼られる。この時、ポンプ光源周波数
ｆｐは、信号光源周波数ｆｓとの周波数差△ｒ＝ｆ’ｐ
−ｆｓが、複数の下流側光ファイバの中の特定の１本の
光ファイバの音響波周波数ｆＡｉ（ｉは光ファイバ番号
）と合致するように周波数制御される。この結果、特定
の１本の光ファイバのみがブリルアン増幅状態となる。

そして、各下流側光ファイバから後方レーリ散乱光およ
びフレネル反射光が信号光源に向って逆進し、この時の
光の時間波形が光検出部によって検出されると共に波形
処理装置に記録される。そして、波形処理装置によって
、信号光源およびポンプ光源を使用した場合に光検出部
で得られた光の時間波形と、信号光源のみを使用した場
に光検出部で得られた光の時間波形との波形差が求めら
れる。この波形差によりて、特定の下流側光ファイバの
特性評価が行われる。

「実施例」 以下、図面を参照して、本発明の詳細な説明する。

第１図は本発明の第一の実施例による分岐光線路特性評
価装置の構成図である。第１図において、ｌ　ａ、　ｌ
　ｂはサービス信号源、２は上流側光ファイバ、３は分
岐素子、４−１．４−２．〜，４−ｉ、〜。

４−Ｎは下流側光ファイバ、５はアクセスポイント素子
、８は信号光源、９はポンプ光源、１ｏはポンプ光入射
用方向性結合器、ｔｉは散乱・反射光受光用方向性結合
器、１２は光検出器、１３は周波数制御装置、１４は波
形処理装置である。

次に、この分岐光線路特性評価装置の各部の動作を説明
する。まず、信号光源８は周波数の安定した狭スペクト
ルレーザであって、例えばＤＦＢ（分岐帰還型）レーザ
により実現される。この光源は図示していない変調装置
をあわせて用いることにより、パルス光信号を発生する
。そして、信号光源８を出た光はサービス信号源１　ａ
、　１　ｂと分岐素子３を結ぶ上流側光ファイバ２の途
中に設置されたアクセスポイント素子５を介して、上流
側光ファイバ２に入射され、分岐素子３に導かれる。

ここで、アクセスポイント素子５は光スィッチ、あるい
はファイバ溶融を合分波器、あるいは導波路型合分波器
などのいずれか任意のものを用いることができる。合分
波器を用いる場合には必要に応じて波長特性をもたせる
ことができ、例えばサービス信号源１　ａ、　ｌ　ｂの
光を無損失で通過させ、かつ、信号光源８からきた光を
も無損失で上流側光ファイバ２へ入射することもできる
。

さて、分岐素子３に導かれた信号光は下流側ファイバ４
−１〜４−Ｈのそれぞれに分配され、各々の光ファイバ
内でレーリ散乱光を発生する。また、各々の下流側光フ
ァイバの終端においてフレネル反射光を発生する。これ
らの光は下流側光ファイバ内を逆進し、分岐素子３で合
流して再び上流側光ファイバ２を伝搬し、アクセスポイ
ント素子５を介して信号光源８側へ逆流する。ここで、
散乱・反射光受光用方向性結合器１１によって、この逆
流光の１部または全部が光検出器１２に導かれる。

なお、この散乱・反射光受光用方向性結合器１１は、ア
クセスポイント素子と同様の合分波器、あるいは音響光
学偏向素子等により実現される。

このようにして光検出器１２には、第２図に示すような
時間波形（これを０ＴＤＲ波形とよぶ）が得られる？第
２図において横軸は時間をあられし、これは光入射点、
すなわちアクセスポイント索子５から下流に向って測っ
たファイバ長に換算することができる。縦軸は受光量で
ある。同図中、Ａ点は分岐素子３の位置を示し、分岐点
における過剰損失、および各下流側ファイバからの散乱
光の分岐素子通過損失が大きな段差となって０ＴＤＲ波
形にあられれている。８点の段差は下流側ファイバ４−
１〜４−Ｎのいずれかの接続点における顕著な接続損失
をあられしており、このデータからはいずれかのファイ
バにおける接続点の影響かを知ることはできない。０点
、Ｄ点、Ｅ点は下流側光ファイバ４−１〜４−Ｈの内、
短尺のものから順にその終端におけるフレネル反射があ
られれたもので、各ファイバ長が既知であれば識別可能
であるが、これらのうち２つ以上が断線した場合は相互
に識別がつかなくなる。

さて、本発明による分岐光線路特性評価装置では、ポン
プ光源９から出た光をポンプ先入射用方向性結合器１１
．アクセスポイント素子５および分岐素子３を介して下
流側光ファイバ４−１〜４−Ｎのすべてに入射する。

一般に、発振スペクトル線幅が狭いポンプ光が光ファイ
バに入射されると、この光源は光ファイバ内の熱励起フ
ォノン（音響波）と相互作用し、ブリルアン散乱とよば
れる増幅状態が作り出される。

すなわち、この増幅状態において、ポンプ光の周波数ｆ
ｐと音響波の周波数ｆＡできまる周波数ｒ＝ｆｐ−ｆＡ
の信号光がポンプ光と逆方向に進むと、この信号光が増
幅される。この増幅現象はポンプ光電力が数−Ｗ程度で
観測されている。例えば、光源波長λ＝１．３μ転コア
径５．８μｍ１損失０，５２　ｄＢ／ｋｍ、ファイバ長
３ｋＩ１１に対し、１．０５ｄＢ／ｍＷ程度の増幅を得
ている。音響波の周波数ｆＡは光ファイバの材料、構造
等に依存して大きく変化する。すなわち、純粋石英をコ
アとし、クラッド部にフッ素を添加したファイバでは波
長１．３μｍ帯においてｆＡ＝１３．５ＧＨｚ程度であ
るのに対し、純粋石英をクラッドとし、コア部にＧｅＯ
＊を添加したファイバではｆＡ＝１２．６　Ｇ　Ｈｚと
なる。また更に詳細に調べると、Ｇ　ｅ　Ｏｔの添加量
と音響周波数の間にはおよそ比例関係があり、Ｇｅｏｔ
ｌモル％あたり約１００ＭＨｚ程度ｆＡが変化すること
がわかっている。すなわち、光ファイバはその中を伝搬
する音響波の周波数に着目すると１本１本個性がある。

一方、ポンプ光、ならびに信号光の周波数スペクトル幅
はｌＯＭＨｚ程度以下とすることが可能であるので、信
号光の周波数ｒに対してポンプ光の周波数ｆｐを変化さ
せて、ブリルアン散乱による増幅が発生する条件を求め
る事により、各光ファイバ毎の個性すなわち音響波周波
数ｆＡを求めることが可能である。

以下、この分岐光線路特性評価装置による下流側光ファ
イバの特性評価の具体的手順を説明する。

まず、下流側光ファイバ４−１〜４−Ｎは、−般にそれ
ぞれ異なった音響周波数ｆＡｌ〜ＦＡＮを有するので、
これを予め別途測定しておく。そして、信号光源８の周
波数ｆｓとポンプ光源９の周波数ｆｐの差Δｆ＝ｆｐ−
ｆｓを周疲数制御装置１３で制御して、周波数差△ｒを
、評価しようとする下流側光ファイバ４−ｉの音響波周
波数ｆＡｉに合致させる。

この結果、ポンプ光は下流側光ファイバ４−ｉの中での
みブリルアン散乱増幅を行い、他の光ファイバにおいて
は何ら作用をなさない（厳密には、すべての光ファイバ
内で周波数ｆｐのレーリ散乱光およびフレネル反射光を
発生するが、ポンプ光源９はＣＷ動作をしているため、
０ＴＤＲ波形に一定値のオフセットが加わるだけで波形
そのものは変化しない）。そして、このとき光検出器１
２では第２図に示すような波形が観測される。すなわち
、下流側光ファイバ４−ｉに対応する波形だけが選択的
に非線形に増幅され、これが他の光ファイバに対応する
波形と重なって観測される。

次に、波形処理装置１４によって、第３図の波形とポン
プ光源９を使わなかった時に得られた第２図の波形との
引き算が行われ、第４図の波形が得られる。この波形は
、ｆｐ＝　ｆｓ＋　ｒＡｉの周波数をもつポンプ光の影
響によって発生した着目する下流側ファイバ４−ｉの特
性のみを表す０ＴＤＲ波形である。第４図において、下
流側光ファイバ４−１の始点がＡ点、終端がＤ点である
ことが明確となり、またＢ点はこのファイバ内の欠陥、
または接続点を表す。以上のようにして、下流側光ファ
イバ４−１〜４−Ｎの内、特定の光ファイバ４−ｉのみ
の特性評価が行われる。

全く同様にして、ポンプ光源９の周波数と信号光源８の
周波数差△ｒを、予め測定しておいた各下流側ファイバ
個有の音響周波数ｒＡｌ、ｆＡ２．・・・等に変えて０
ＴＤＲ波形を測定し、ポンプ光のない場合の波形（第２
図）との差をとることにより、各光ファイバ毎に個別に
０ＴＤＲ波形を得ることができる。

第４図に示す波形は通常の０ＴＤＲ波形と異なり、非線
形増幅を受けているため、接続点位置、破断点位置は明
確に知れるが、損失値を直読することはできない。しか
しながら、例えば特願昭６１−２７５４４２に開示され
ているように、ポンプ光源９の出力光強度の条件を２通
りの値Ｐ　ｐｕｍｐｌ、Ｐ　ｐｕｍｐ、に設定して’、
０ＴＤＲ波形を測定し、０ＴＤＲ波形の極大点位置の間
隔を測定することにより損失値を算出することができる
。すなわち、ポンプ光源９の出力光強度がＰｐＬｌｌｐ
＋の時の極大点位置をＺ１１出力光強度がＰ　ＰＬＩＩ
ＩＩり！の時の極大点位置をＺ、とすると、損失係数α
は ａ　＝　（１／　（Ｚ　ｌ−Ｚ　ｔ））１２ｎ（Ｐ　ｐ
ｕｉｐ＋／　Ｐ　ｐｕｍｐｔ）・・・・・・（１） で表される。

なお、信号光源８およびポンプ光源９は図示していない
光アイソレータを内蔵しており、下流側光ファイバ４−
１〜４−Ｎなどで発生してかえってきたレーリ散乱光、
フレネル反射光が信号光源８およびポンプ光源９の発光
部に逆流しないようになっている。

第５図は本発明の第２の実施例を示したものである。

この第２の実施例は、局部発振器１８の光と後方散乱光
を混合してヘテロゲイン検波をしている点と、ポンプ先
入射用光ファイバＩ５ならびに散乱光の受光用光ファイ
バ１６をそれぞれ独立に設けて、これらを分岐素子３に
直結している点が第１の実施例と異なる。

以下、本実施例の動作について説明する。

一般の目的かられかるように入力側端子は使われずに残
されていることが多い。本実施例はこれを有効に利用す
ることにより効率のよい散乱光測定を行うものである。

すなわち、信号光源８の光を信号光入射用光ファイバ１
７を介して分岐素子３の上流側端子に接続し、ポンプ光
源９の光をポンプ光入射用光ファイバ１５を介して分岐
素子３の上流側端子に接続する。同様に、分岐素子３の
上流側端子の１つからとり出した散乱光を受光用光ファ
イバ１６を介して光検出器Ｉ２へ導く。このような構成
をとることにより第１図に示したアクセスポイント５、
方向性結合ＷＩＯ，１１を挿入しないですむため、低損
失で効率のよい測定系が得られる。

第２の実施例のもう１つの特色はへテロダイン検波をと
り入れている点である。すなわち、分岐素子３より下流
側の光シアイバ４−１〜４−Ｎで発生したレーリ散乱光
、フレネル反射光は分岐素子３において上流側のすべて
の端子に分配される。

これらのうち受光用光ファイバ１６を通った光を光検出
器１２で受光する。このとき、局部発振器１８から出た
光をヘテロダイン検波用方向性結合５１９で混合して、
光検出器１２に入射する。この結果、信号光８の周波数
を「Ｓ、ポンプ光９の周波数をｆｐ１局部発振器光１Ｂ
の周波数をｒＱとすると、光検出器１２ではｌ　ｒＱ−
ｆｓｌ　、１　ｒＱ−ｆｐｌ　、１ｆｓ−ｆｐｌの３種
類のビートが観測される。ここで、１ｆｓ−ｆｐｌは１
００ＧＨｚ程度の高周波となる。

そして、周波数制御装置１３ａにより１ｒ１２−ｆｓｌ
＝△ｒｏ＝一定となるように制御し、かつ△ｔｏを数Ｍ
　Ｈｚ程度の十分低周波とすれば、中間周波数フィルタ
２０において１ｆｓ−ｆｐ１の周波数をもつ信号成分の
みをとりだすことができる（ｌ　ｆｐ−Ｎ！ｌ　、１ｆ
ｐ　−ｆｓ　ｌはいずれも１０ＧＨｚ程度の高周波信号
となるので、取り除くことができる）。

このようにして、ポンプ光により発生する周波数ｆｐの
散乱光、反射光を除去して周波数ｆｓの信号光に対応す
る散乱光および反射光のみをとりだすことができる。

また、局部発振器１８の光出力を増加させることにより
、ヘテロダイン倹波信号を増幅することができ、高感度
測定が可能となる。中間周波数フィルタ透過後の信号波
形の処理については第１の実施例と全く同じであるため
、説明を省略する。

「発明の効果」 以上説明したように、本発明によれば、１本または複数
本の上流側光ファイバを介して伝送された光信号を光分
岐素子を介して複数の下流側光ファイバに分配する分岐
光線路の保守に用いられ、前記複数の下流側光ファイバ
の損失および破断点を検出する分岐光線路特性評価装置
において、前記複数の下流側光ファイバ中ならびにその
終端において、後方レーリ散乱光ならびにフレネル反射
光を発生させるための繰り返しパルス光を送出する周波
数１８の信号光源と、 前記複数の下流側光ファイバ中の任意の１本をブリルア
ン増幅状態と量るためのＣＷ光を送出する周波数ｆｐの
ポンプ光源と、 前記信号光源および前記ポンプ光源の各々から出た光を
前記光分岐素子よりも上流側から入射して前記複数の下
流側光ファイバのすべてに入射するための光学手段と、 前記複数の下流側光ファイバ中ならびにその終端におい
て発生した後方レーリ散乱光ならびにフレネル反射光、
およびこれらが前記ポンプ光と相互作用してブリルアン
光増幅されたレーリ散乱光ならびにフレネル反射光の時
間波形を受光検出する光検出手段と、 前記信号光源周波数ｆｓと前記ポンプ光源周波数ｆｐの
差周波数Δｆ＝ｆｐ−ｆｓを、前記複数の下流側光ファ
イバの内、評価しようとする光ファイバにおいてブリル
アン増幅の生じる周波数シフトｌ１ｒＡｉ（ｉは光ファ
イバ番号）に合致させるための周波数制御手段と、 前記ポンプ光と前記信号光の両者が同時に前記複数の下
流側光ファイバに入射した場合のブリルアン増幅効果を
含んだ後方散乱光およびフレネル反射光の時間波形と、
前記信号光のみが前記複数の下流側光ファイバに入射し
た場合の後方散乱光およびフレネル反射光の時間波形の
両方を記録し、その波形差を算出することにより前記複
数の下流側光ファイバの任意の１本におけるレーリ散乱
光およびフレネル反射光のみを分離して表示する波形処
理装置と を設けたので、複数の下流側光ファイバの各々にアクセ
スポイントをもうける必要がなく、分岐光線路網の信頼
性を損なう事なく、かつ、経済的な分岐光線路特性評価
装置を実現できる効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例による分岐光線路特性評
価装置の構成図、第２図は同実施例においてポンプ光を
入射しない場合の信号光のみによる０ＴＤＲ波形の波形
図、第３図は同実施例において特定の下流側光ファイバ
をブリルアン増幅状態としたときの０ＴＤＲ波形の波形
図、第４図は第３図の波形と第２図あ波形の差を示す波
形図、第５図は本発明の第２の実施例による分岐光線路
特性評価装置の構成図、第６図は従来の分岐光線路特性
評価装置の構成図である。 ２．２ａ、２ｂ・・・・・・上流側光ファイバ、３・・
・・・・分岐素子、４−１〜４−Ｎ・・・・・・下流側
光ファイバ、５・・・・・・アクセスポイント素子、８
・・・・・・信号光源、９・・・・・・ポンプ光源、ｌ
Ｏ・・・・・・ポンプ先入射用方向性結合器、Ｉｆ・・
・・・・散乱・反射光受光用方向性結合器、１２・・・
・・・光検出器、！３，１３ａ・・・・・・周波数制御
装置、１４・・・・・・波形処理装置、１５・・・・・
・ポンプ先入射用光ファイバ、１６・・・・・・受光用
光ファイバ、１７・・・・・・信号光入射用光ファイバ
、１８・・・・・・局部発振器、１９・・・・・・ヘテ
ロゲイン検波用方向性結合器、２０・・・・・・中間周
波数フィルタ。 出願人　　日本電信電話株式会社 第１図 第５図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １本または複数本の上流側光ファイバを介して伝送され
   た光信号を光分岐素子を介して複数の下流側光ファイバ
   に分配する分岐光線路の保守に用いられ、前記複数の下
   流側光ファイバの損失および破断点を検出する分岐光線
   路特性評価装置において、 前記複数の下流側光ファイバ中ならびにその終端におい
   て、後方レーリ散乱光ならびにフレネル反射光を発生さ
   せるための繰り返しパルス光を送出する周波数ｆｓの信
   号光源と、 前記複数の下流側光ファイバ中の任意の１本をブリルア
   ン増幅状態とするためのＣＷ光を送出する周波数ｆｐの
   ポンプ光源と、 前記信号光源および前記ポンプ光源の各々から出た光を
   前記光分岐素子よりも上流側から入射して前記複数の下
   流側光ファイバのすべてに入射するための光学手段と、 前記複数の下流側光ファイバ中ならびにその終端におい
   て発生した後方レーリ散乱光ならびにフレネル反射光、
   およびこれらが前記ポンプ光と相互作用してブリルアン
   光増幅されたレーリ散乱光ならびにフレネル反射光の時
   間波形を受光検出する光検出手段と、 前記信号光源周波数ｆｓと前記ポンプ光源周波数ｆｐの
   差周波数Δｆ＝ｆｐ−ｆｓを、前記複数の下流側光ファ
   イバの内、評価しようとする光ファイバにおいてブリル
   アン増幅の生じる周波数シフト量ｆＡｉ（ｉは光ファイ
   バ番号）に合致させるための周波数制御手段と、 前記ポンプ光と前記信号光の両者が同時に前記複数の下
   流側光ファイバに入射した場合のブリルアン増幅効果を
   含んだ後方散乱光およびフレネル反射光の時間波形と、
   前記信号光のみが前記複数の下流側光ファイバに入射し
   た場合の後方散乱光およびフレネル反射光の時間波形の
   両方を記録し、その波形差を算出することにより前記複
   数の下流側光ファイバの任意の１本におけるレーリ散乱
   光およびフレネル反射光のみを分離して表示する波形処
   理装置と を具備することを特徴とする分岐光線路特性評価装置。