JPH01284722A - 巻線温度測定装置 - Google Patents
巻線温度測定装置Info
- Publication number
- JPH01284722A JPH01284722A JP11376188A JP11376188A JPH01284722A JP H01284722 A JPH01284722 A JP H01284722A JP 11376188 A JP11376188 A JP 11376188A JP 11376188 A JP11376188 A JP 11376188A JP H01284722 A JPH01284722 A JP H01284722A
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- temperature sensor
- spacer
- optical
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は巻線温度測定装置に関し、詳しくは電力用変
圧器の制御や異常検知を高精度に、かつ時間遅れなく行
うために巻線温度を直接測定する巻線温度測定装置に関
する。
圧器の制御や異常検知を高精度に、かつ時間遅れなく行
うために巻線温度を直接測定する巻線温度測定装置に関
する。
［従来の技術］
第３図に従来の巻線温度測定装置を示す０図に示すよう
に、第１の絶縁筒（３ａ）には縦スペーサ（４ａ）を介
して巻線Ｍ（１）が巻回されている。各巻線層（１）の
間には！ｅ！縁スペーサ（２）が設けられている。
に、第１の絶縁筒（３ａ）には縦スペーサ（４ａ）を介
して巻線Ｍ（１）が巻回されている。各巻線層（１）の
間には！ｅ！縁スペーサ（２）が設けられている。
巻線層（１）の外側には縦スペーサ（４ｂ）及び絶ａ筒
（３ｂ）が設けられており、巻線ＭＪ（１）及び絶縁ス
ペーサ（２）は縦スペーサ（４ａ） （４ｂ）により保
持されている。そしてセンサ用スペーサ（７）により形
成されたスペース（８）には光ファイバ（６）が接続さ
れた光温度センサ（５）が挿入されている。
（３ｂ）が設けられており、巻線ＭＪ（１）及び絶縁ス
ペーサ（２）は縦スペーサ（４ａ） （４ｂ）により保
持されている。そしてセンサ用スペーサ（７）により形
成されたスペース（８）には光ファイバ（６）が接続さ
れた光温度センサ（５）が挿入されている。
次に従来の巻線温度測定装置の組込み方法と動作につい
て説明する。まず絶縁筒（３ａ）に縦スペーサ（４ａ）
を接着する。その後巻線を内側から順次巻回し、一つの
巻線層の中間部にセンサ用スペーサ（７）と光温度セン
サ（５）とを挿入し、さらに巻線を最外層迄巻回して一
層の巻線層（１）を形成する。
て説明する。まず絶縁筒（３ａ）に縦スペーサ（４ａ）
を接着する。その後巻線を内側から順次巻回し、一つの
巻線層の中間部にセンサ用スペーサ（７）と光温度セン
サ（５）とを挿入し、さらに巻線を最外層迄巻回して一
層の巻線層（１）を形成する。
次に絶縁スペーサ（２）を縦スペーサ（４ａ）に取り付
け、次の層の巻線を巻回す、この間、光ファイバ（６）
は円形に巻いて巻線（１）に固定しておく０巻線層を形
成した後、縦スペーサ（４ｂ）、絶縁筒（３ｂ）を取付
け、光ファイバ（６）を巻線（１）と絶縁筒（３ｂ）の
間を通して外部に引出す、光温度センサ（５）は巻線（
１）の間に挿入されているため、巻ｗａ層（１）と直接
接触しており、巻線の温度を測定できる。
け、次の層の巻線を巻回す、この間、光ファイバ（６）
は円形に巻いて巻線（１）に固定しておく０巻線層を形
成した後、縦スペーサ（４ｂ）、絶縁筒（３ｂ）を取付
け、光ファイバ（６）を巻線（１）と絶縁筒（３ｂ）の
間を通して外部に引出す、光温度センサ（５）は巻線（
１）の間に挿入されているため、巻ｗａ層（１）と直接
接触しており、巻線の温度を測定できる。
光温度センサは、例えばＧａＡｓ、ＣｄＴｅ等の半導体
の光吸収端波長が、温度上昇とともに長波長側に移行す
る現象を利用するものであり、ＬＥＤ等の広い発光スペ
クトラムをもつ光源の光を上記半導体に入射すると温度
上昇と共に透過光量が低下することに着目し、この透過
光量を検出することによって温度を測定するものである
。光温度センサは光ファイバのみで変圧器外部の発光部
、受光部（図示せず）が接続されるため、高電圧の巻線
の温度を直接測定できる。また光を使用する測定方法で
あるため、変圧器中の高電界や高磁界の影響を受けず高
精度の温度測定が可能である。また、通常変圧器の巻線
温度は鉱油、ＳＦＯガス等の冷却媒体の温度を変圧器タ
ンクに取付けた温度計で測定した値に、負有電流を考慮
した補正を加えて類推しているが、巻線温度を直接測定
することにより、測定精度を高め時間遅れをなくすこと
が可能となる。
の光吸収端波長が、温度上昇とともに長波長側に移行す
る現象を利用するものであり、ＬＥＤ等の広い発光スペ
クトラムをもつ光源の光を上記半導体に入射すると温度
上昇と共に透過光量が低下することに着目し、この透過
光量を検出することによって温度を測定するものである
。光温度センサは光ファイバのみで変圧器外部の発光部
、受光部（図示せず）が接続されるため、高電圧の巻線
の温度を直接測定できる。また光を使用する測定方法で
あるため、変圧器中の高電界や高磁界の影響を受けず高
精度の温度測定が可能である。また、通常変圧器の巻線
温度は鉱油、ＳＦＯガス等の冷却媒体の温度を変圧器タ
ンクに取付けた温度計で測定した値に、負有電流を考慮
した補正を加えて類推しているが、巻線温度を直接測定
することにより、測定精度を高め時間遅れをなくすこと
が可能となる。
［発明が解決しようとする課題］
従来の巻線温度測定装置は、光温度センサを巻線間に挿
入するため巻線作業途中に光温度センサを組込む必要が
あり、大型の電力用変圧器の場合、変圧器タンクの外部
まで引出すために、５〜１０ｍの光ファイバが必要とな
る。細径の光ファイバは折れやすく、そのため引出され
た光ファイバが巻線作業の能率を低下させるという問題
点があった。
入するため巻線作業途中に光温度センサを組込む必要が
あり、大型の電力用変圧器の場合、変圧器タンクの外部
まで引出すために、５〜１０ｍの光ファイバが必要とな
る。細径の光ファイバは折れやすく、そのため引出され
た光ファイバが巻線作業の能率を低下させるという問題
点があった。
また、光温度センサの巻線（１）に接していない部分は
鉱油、ＳＦａガス等の巻線の冷却媒体にさらされるため
、実際の巻線温度より測定値が低くなるという問題点が
あった。この発明は上記のような問題点を解消するため
になされたもので、巻線作業の能率を低下させることな
く、巻線温度を高精度に測定できる巻線温度測定装置を
得ることを目的とする。
鉱油、ＳＦａガス等の巻線の冷却媒体にさらされるため
、実際の巻線温度より測定値が低くなるという問題点が
あった。この発明は上記のような問題点を解消するため
になされたもので、巻線作業の能率を低下させることな
く、巻線温度を高精度に測定できる巻線温度測定装置を
得ることを目的とする。
［課題を解決するための手段］
この発明の巻線温度測定装置は、巻線層間に挿入された
絶縁スペーサの上記巻線層と対向する面の一方に形成さ
れた凹部に光温度センサを挿入し、その露出面を上記巻
１１層と密着させるようにしている。
絶縁スペーサの上記巻線層と対向する面の一方に形成さ
れた凹部に光温度センサを挿入し、その露出面を上記巻
１１層と密着させるようにしている。
［作用］
この発明の巻線温度測定装置においては、光温度センサ
の露出面が測定対象である巻線層に密着するので温度を
正確に検出するとともに、巻線を巻回した後に光温度セ
ンサを絶縁スペーサの凹部に挿入することを可能にする
。
の露出面が測定対象である巻線層に密着するので温度を
正確に検出するとともに、巻線を巻回した後に光温度セ
ンサを絶縁スペーサの凹部に挿入することを可能にする
。
［実施５４１
以下この発明の実施例を図について説明する。
第１図はこの発明の一実施例を示す平面図、第２図はそ
の正面断面図である０図に示すように、第１の絶縁筒（
３ａ）には縦スペーサ（４ａ）を介して複数の巻線層（
１）が巻回されており、各巻線層、（１）の間には絶縁
スペーサ（２）が設けられている０巻線層（１）の外周
には縦スペーサ（４ｂ）及び絶縁筒（３ｂ）が設けられ
ており、巻線層（１）及び絶縁スペーサ（２）は縦スペ
ーサ（４ａ） （４ｂ）により保持されている。絶縁ス
ペーサの片面には光温度センサ（５）を埋め込むための
、光温度センサの形状に対応する凹部（２ａ）が形成さ
れている。この実施例におい・Ｃは凹部（２ａ）は光温
度センサ（５）の挿入が容易なように絶縁［（３ｂ）の
直径方向に対し斜めに形成されている。
の正面断面図である０図に示すように、第１の絶縁筒（
３ａ）には縦スペーサ（４ａ）を介して複数の巻線層（
１）が巻回されており、各巻線層、（１）の間には絶縁
スペーサ（２）が設けられている０巻線層（１）の外周
には縦スペーサ（４ｂ）及び絶縁筒（３ｂ）が設けられ
ており、巻線層（１）及び絶縁スペーサ（２）は縦スペ
ーサ（４ａ） （４ｂ）により保持されている。絶縁ス
ペーサの片面には光温度センサ（５）を埋め込むための
、光温度センサの形状に対応する凹部（２ａ）が形成さ
れている。この実施例におい・Ｃは凹部（２ａ）は光温
度センサ（５）の挿入が容易なように絶縁［（３ｂ）の
直径方向に対し斜めに形成されている。
また、凹部（２ａ）は巻線の最高温部の温度を検出する
ため、光温度センサ（５）の感温部である先端部が巻線
ｆｆ （１）の中央部に位置するように形成されている
。さらに、光温度センサ（５）が凹部（２ａ）に挿入さ
れたとき、光温度センサ（５）の露出面が、絶縁スペー
サ（２）の凹部（２ａ）が形成された面とほぼ同一面上
に位置するように形成されている。
ため、光温度センサ（５）の感温部である先端部が巻線
ｆｆ （１）の中央部に位置するように形成されている
。さらに、光温度センサ（５）が凹部（２ａ）に挿入さ
れたとき、光温度センサ（５）の露出面が、絶縁スペー
サ（２）の凹部（２ａ）が形成された面とほぼ同一面上
に位置するように形成されている。
次に本発明の巻線温度測定装置の組込み方法について説
明する。絶縁筒（３ａ）は縦スペーサ（４ａ）を接着し
た後、巻線を巻回して、一部分の巻線ＴＩ（１）を形成
する０次に絶縁スペーサ（２）を縦スペーサ（４ａ）に
取付け、次の層の巻線を巻回す０巻線の巻回し工程が終
了後、光温度センサ（５）を絶縁スペーサ（２）に設け
た凹部（２ａ）に挿入する０次に縦スペーサ（４ｂ）、
絶縁！ （３ｂ）を取付け、光ファイバ（６）を巻線（
１）と絶縁筒（３ｂ）の間を通して外部に引出す０組み
上がった巻線組体は、軸方向に強い圧力で締めつけられ
る。その結果、絶縁スペーサ（２）に埋め込まれた光温
度センサ（５）は巻線層（１）に密着固定される。光温
度センサ（５）は圧力のみで固定されるが絶縁スペーサ
（２）に挿入する際に接着しても良い。
明する。絶縁筒（３ａ）は縦スペーサ（４ａ）を接着し
た後、巻線を巻回して、一部分の巻線ＴＩ（１）を形成
する０次に絶縁スペーサ（２）を縦スペーサ（４ａ）に
取付け、次の層の巻線を巻回す０巻線の巻回し工程が終
了後、光温度センサ（５）を絶縁スペーサ（２）に設け
た凹部（２ａ）に挿入する０次に縦スペーサ（４ｂ）、
絶縁！ （３ｂ）を取付け、光ファイバ（６）を巻線（
１）と絶縁筒（３ｂ）の間を通して外部に引出す０組み
上がった巻線組体は、軸方向に強い圧力で締めつけられ
る。その結果、絶縁スペーサ（２）に埋め込まれた光温
度センサ（５）は巻線層（１）に密着固定される。光温
度センサ（５）は圧力のみで固定されるが絶縁スペーサ
（２）に挿入する際に接着しても良い。
以上のように、本発明の巻線温度測定装置においては、
光温度センサ（５）を巻線作業中に組込む必要がなく、
巻線完了後に組込むことができる。
光温度センサ（５）を巻線作業中に組込む必要がなく、
巻線完了後に組込むことができる。
したがって巻線作業の能率を低下させることがなく、ま
た、巻線作業中に光ファイバが折れる恐れがない。
た、巻線作業中に光ファイバが折れる恐れがない。
以上のように構成された巻線温度測定装置にあっては、
光温度センサが絶縁スペーサ（２）の凹部（２ａ）に埋
め込まれ、さらに露出面が巻線Ｎ（１）に密着している
ので、光温度センサ（５）が鉱油やＳＦ６ガス等の巻ｕ
Ａ冷却媒体に直接接触せず巻線温度を精度よく、かつ、
時間遅れなく測定できる。
光温度センサが絶縁スペーサ（２）の凹部（２ａ）に埋
め込まれ、さらに露出面が巻線Ｎ（１）に密着している
ので、光温度センサ（５）が鉱油やＳＦ６ガス等の巻ｕ
Ａ冷却媒体に直接接触せず巻線温度を精度よく、かつ、
時間遅れなく測定できる。
また上記実施例においては、光温度センサ（５）の感温
部（先端）が巻線層の巻厚方向の中央部に密着している
ため巻線の高温部の温度を精度よく高感度に測定するこ
とができる。
部（先端）が巻線層の巻厚方向の中央部に密着している
ため巻線の高温部の温度を精度よく高感度に測定するこ
とができる。
なお温度センサはセラミック等からなる保護容器に収容
したものを用いてもよい。
したものを用いてもよい。
温度センサの露出面は、それが密着する巻線層の面の形
状に対応する形状であればよく、平面のみではなく曲面
であってもよい場合がある。
状に対応する形状であればよく、平面のみではなく曲面
であってもよい場合がある。
さらに、上記実施例では光温度センサとしては、光吸収
端波長の温度特性を利用する方式のセンサを用いたがこ
れに限られるものではなく他の方式のセンサを用いても
よい。
端波長の温度特性を利用する方式のセンサを用いたがこ
れに限られるものではなく他の方式のセンサを用いても
よい。
［発明の効果］
以上のように、本発明によれば、光温度センサを絶縁ス
ペーサに埋め込んで巻線層に密着させるように構成した
ので、冷却媒体の影響を受けずに高精度に巻線の温度が
測定でき、また、巻線作業完了後に光温度センサを組込
むことができるため巻線作業の能率を低下させることの
ない巻線温度測定装置が得られる効果がある。
ペーサに埋め込んで巻線層に密着させるように構成した
ので、冷却媒体の影響を受けずに高精度に巻線の温度が
測定でき、また、巻線作業完了後に光温度センサを組込
むことができるため巻線作業の能率を低下させることの
ない巻線温度測定装置が得られる効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示す平面図、第２図はその
正面断面図、第３図は従来の巻線温度測定装置を示す平
面図である。 （１）は巻線層、（２）は絶縁スペーサ、（５）は光温
度センサである。 なお、同一符号は同−又は相当部分を示す。
正面断面図、第３図は従来の巻線温度測定装置を示す平
面図である。 （１）は巻線層、（２）は絶縁スペーサ、（５）は光温
度センサである。 なお、同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- （１）巻線層間に挿入された、上記巻線層と対向する面
の一方に凹部を有する絶縁スペーサ、上記絶縁スペーサ
の凹部に埋め込まれ、その露出面が上記巻線層と密着す
る光温度センサ を備えた巻線温度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11376188A JPH0656336B2 (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 | 巻線温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11376188A JPH0656336B2 (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 | 巻線温度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01284722A true JPH01284722A (ja) | 1989-11-16 |
| JPH0656336B2 JPH0656336B2 (ja) | 1994-07-27 |
Family
ID=14620475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11376188A Expired - Lifetime JPH0656336B2 (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 | 巻線温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0656336B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012119429A1 (zh) * | 2011-03-08 | 2012-09-13 | 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 | 将光纤光栅传感器预埋于电磁线的制作方法及成套系统 |
| JP2012243913A (ja) * | 2011-05-18 | 2012-12-10 | Sumitomo Electric Ind Ltd | リアクトル |
| US12375837B2 (en) | 2020-05-18 | 2025-07-29 | Hitachi Energy Ltd | Wireless data transmission system for a power utility and data transmission method |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9514878B2 (en) | 2013-11-22 | 2016-12-06 | Tamura Corporation | Coil and manufacturing method for same, and reactor |
| US12493085B2 (en) * | 2022-08-31 | 2025-12-09 | Ubicquia, Inc. | Apparatus, system, and method for detecting optical events associated with distribution transformers |
-
1988
- 1988-05-11 JP JP11376188A patent/JPH0656336B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012119429A1 (zh) * | 2011-03-08 | 2012-09-13 | 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 | 将光纤光栅传感器预埋于电磁线的制作方法及成套系统 |
| JP2012243913A (ja) * | 2011-05-18 | 2012-12-10 | Sumitomo Electric Ind Ltd | リアクトル |
| US12375837B2 (en) | 2020-05-18 | 2025-07-29 | Hitachi Energy Ltd | Wireless data transmission system for a power utility and data transmission method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0656336B2 (ja) | 1994-07-27 |
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