JPH01287830A - 光記録再生装置 - Google Patents
光記録再生装置Info
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- JPH01287830A JPH01287830A JP63117322A JP11732288A JPH01287830A JP H01287830 A JPH01287830 A JP H01287830A JP 63117322 A JP63117322 A JP 63117322A JP 11732288 A JP11732288 A JP 11732288A JP H01287830 A JPH01287830 A JP H01287830A
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- Japan
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- optical disk
- semiconductor laser
- beam shaping
- optical
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は磁性薄膜を記録媒体とし、レーザ光などの光ビ
ームを記録媒体に照射することにより情報の記録、再生
、消去をおこなう光記録再生装置に関するものである。
ームを記録媒体に照射することにより情報の記録、再生
、消去をおこなう光記録再生装置に関するものである。
従来の技術
従来の光記録再生装置の概略構成の一例を第２図に示す
。
。
第２図おいて、１は半導体レーザ、２はコリメートレン
ズ、３はビーム整形手段であるビーム整形プリズム、４
は光束分離手段であるハーフミラ−１５は対物レンズで
あって光集光部を形成する。６は記録媒体である光ディ
スク、７は１／２波長板、８は偏光ビームスプリッタ、
９，１０は凸レンズ、１１はフォーカス誤差検出器、１
２．１３は光検出器である。この構成では、凸レンズ９
．フォーカス誤差検出器１１．光検出器１２とでフォー
カス誤差検出手段を、凸レンズ１０．光検出器１３とで
トラッキング誤差検出手段を形成している。
ズ、３はビーム整形手段であるビーム整形プリズム、４
は光束分離手段であるハーフミラ−１５は対物レンズで
あって光集光部を形成する。６は記録媒体である光ディ
スク、７は１／２波長板、８は偏光ビームスプリッタ、
９，１０は凸レンズ、１１はフォーカス誤差検出器、１
２．１３は光検出器である。この構成では、凸レンズ９
．フォーカス誤差検出器１１．光検出器１２とでフォー
カス誤差検出手段を、凸レンズ１０．光検出器１３とで
トラッキング誤差検出手段を形成している。
なお本従来例は、光記録再生装置のうちいわゆる光磁気
記録再生装置を示すものである。
記録再生装置を示すものである。
また、ビーム整形プリズム３は最も一般的な工学ガラス
である（Ｂ Ｋ ７ ）を硝材として形成されている。
である（Ｂ Ｋ ７ ）を硝材として形成されている。
以下、図面を参照しながら従来の光記録再生装置の動作
について説明する。
について説明する。
半導体レーザ１からの発散光は、コリメートレンズ２を
経て平行光となり、ビーム整形プリズム３を経て断面が
略円形のビームと成る。このビームはハーフミラ−４を
透過し、対物レンズ５を経て光デイスク６上に光スポッ
トを形成する。
経て平行光となり、ビーム整形プリズム３を経て断面が
略円形のビームと成る。このビームはハーフミラ−４を
透過し、対物レンズ５を経て光デイスク６上に光スポッ
トを形成する。
光ディスク６からの反射光は対物レンズ５を経てハーフ
ミラ−４で反射および透過する。反射した光は１／２波
長板７を経て検光子である偏光ビームスプリッタ８で分
割され、それぞれレンズ９゜ＩＯで集光されて光検出器
１２．１３に入射する。
ミラ−４で反射および透過する。反射した光は１／２波
長板７を経て検光子である偏光ビームスプリッタ８で分
割され、それぞれレンズ９゜ＩＯで集光されて光検出器
１２．１３に入射する。
情報検出については、光ディスク６に照射された直線偏
光の半導体レーザ光の反射光はその偏波面が磁化の向き
に応じてカー効果により回転することから、上記構成の
光検出器１２．１３の出力が磁化の向きにより変化する
。さらに記録媒体雑音などキャンセルするため２個の検
出器１２゜１３で差動検出構成を取り、情報を再生して
いる。
光の半導体レーザ光の反射光はその偏波面が磁化の向き
に応じてカー効果により回転することから、上記構成の
光検出器１２．１３の出力が磁化の向きにより変化する
。さらに記録媒体雑音などキャンセルするため２個の検
出器１２゜１３で差動検出構成を取り、情報を再生して
いる。
さらに誤差信号検出については、凸レンズ９で集光され
、フォーカス誤差検出器１１を経て光検出器１２に入射
する光ビームによってフォーカス誤差信号が検出される
。またトラッキング誤差信号は、凸レンズＩＯで集光さ
れ光検出器１３に入射する光ビームによって検出される
。すなわち、光検出器１３は２分割光検出器であり、入
射する光ビームの光量を２等分する位置に設定すれば、
いわゆるプッシュプル検出によってトラッキング誤差信
号を検出できる。
、フォーカス誤差検出器１１を経て光検出器１２に入射
する光ビームによってフォーカス誤差信号が検出される
。またトラッキング誤差信号は、凸レンズＩＯで集光さ
れ光検出器１３に入射する光ビームによって検出される
。すなわち、光検出器１３は２分割光検出器であり、入
射する光ビームの光量を２等分する位置に設定すれば、
いわゆるプッシュプル検出によってトラッキング誤差信
号を検出できる。
第３図は半導体レーザと半導体レーザからの発散光の遠
視野像をしめず斜視図である。第３図においてｌは半導
体レーザである。
視野像をしめず斜視図である。第３図においてｌは半導
体レーザである。
半導体レーザ１は半導体レーザチップ接合面に平行な方
向と垂直な方向では光の発散の仕方が異なる。すなわち
、半導体レーザ１からでる遠視野像は楕円形状となって
いる。
向と垂直な方向では光の発散の仕方が異なる。すなわち
、半導体レーザ１からでる遠視野像は楕円形状となって
いる。
したがって第２図において、コリメートレンズ２を経た
平行光の断面形状は楕円（断面Ａ−Ａ）である、この平
行光はビーム整形プリズム３に入射するが、ビーム整形
プリズム３は三角柱状をしており、平行光のうち半導体
レーザチップ接合面平行側のみを屈折させることによっ
て拡大し、断面が略円形のビーム（断面Ｂ−Ｂ）に変換
している。
平行光の断面形状は楕円（断面Ａ−Ａ）である、この平
行光はビーム整形プリズム３に入射するが、ビーム整形
プリズム３は三角柱状をしており、平行光のうち半導体
レーザチップ接合面平行側のみを屈折させることによっ
て拡大し、断面が略円形のビーム（断面Ｂ−Ｂ）に変換
している。
発明が解決しようとする課題
上述した従来の光記録再生装置では、ビーム整形プリズ
ム３が最も一般的な光学ガラスである（ＢＫ７）を硝材
として形成されているため、硝材（ＢＫ７）の屈折率変
動＝「波長変化に対する屈折率変化」が無視できない。
ム３が最も一般的な光学ガラスである（ＢＫ７）を硝材
として形成されているため、硝材（ＢＫ７）の屈折率変
動＝「波長変化に対する屈折率変化」が無視できない。
すなわち、半導体レーザｌの出力が変化して、発散光の
波長が変化した場合の平行光束の光路は、初期設計時の
光路から変化してしまう。
波長が変化した場合の平行光束の光路は、初期設計時の
光路から変化してしまう。
この光路変化について詳しく述べる。硝材（ＢＫ７）は
、波長８３０ｎｍに対して屈折率；ｎ ＝１．５０９７
４．屈折率変動：ｍ＃−１，８ＸＩＯ′５／ｎｍである
。この屈折率ｎ ＝ １．５０９７４を用いて、ハーフ
ミラ−４に垂直入射するように頂角を決定してビーム整
形プリズム３および平行光束の光路が初期設計されてい
る。
、波長８３０ｎｍに対して屈折率；ｎ ＝１．５０９７
４．屈折率変動：ｍ＃−１，８ＸＩＯ′５／ｎｍである
。この屈折率ｎ ＝ １．５０９７４を用いて、ハーフ
ミラ−４に垂直入射するように頂角を決定してビーム整
形プリズム３および平行光束の光路が初期設計されてい
る。
ここで、半導体レーザｌの出力が変化して、発散光に波
長変化：Ｃ＝１０ｎｍを生じた場合、ビーム整形プリズ
ム３の屈折率はｎ ＝１．５０９５６に変化してしまう
。
長変化：Ｃ＝１０ｎｍを生じた場合、ビーム整形プリズ
ム３の屈折率はｎ ＝１．５０９５６に変化してしまう
。
この時、ビーム整形プリズム３からの出射光は初期設計
とは異なる光路を通り、ハーフミラ−４には垂直入射せ
ずに角度を持って入射する。この光路変化は、光デイス
ク６上に形成される光スポットに光デイスク６面内の位
置変動を生じさせるため、安定した記録、再生、消去を
実現できないという課題を有していた。
とは異なる光路を通り、ハーフミラ−４には垂直入射せ
ずに角度を持って入射する。この光路変化は、光デイス
ク６上に形成される光スポットに光デイスク６面内の位
置変動を生じさせるため、安定した記録、再生、消去を
実現できないという課題を有していた。
本発明は上記問題点に鑑み、半導体レーザ１の出力が変
化して、発散光に波長変化を生じた場合でも、低分散の
硝材を用いるだけで、光デイスク上に形成される光スポ
ットに対して、平行光束の光路変化に伴う光デイスク面
内の位置変動を小さくすることが出来る。したがって、
常に安定した記録、再生、消去を実現できる光記録再生
装置を提供するものである。
化して、発散光に波長変化を生じた場合でも、低分散の
硝材を用いるだけで、光デイスク上に形成される光スポ
ットに対して、平行光束の光路変化に伴う光デイスク面
内の位置変動を小さくすることが出来る。したがって、
常に安定した記録、再生、消去を実現できる光記録再生
装置を提供するものである。
課題を解決するための手段
この目的を達成するために本発明の光記録再生装置は、
記録媒体である光ディスクと、光源である半導体レーザ
と、半導体レーザからの発散光を平行光に変換するコリ
メートレンズと、コリメートレンズからの平行光が入射
して楕円断面平行光を略円形断面平行光に変換するビー
ム整形手段と、ビーム整形手段からの平行光入射して光
ディスクに光スポットを形成する対物レンズと、光ディ
スクからの反射光を分離する光束分離手段と、光束分離
手段で分離された光ビームが入射して、情報信号を検出
する情報信号検出手段、サーボ信号を検出するサーボ信
号検出手段とを具備し、前記ビーム整形手段が、分散の
硝材を用いて形成されたことを特徴とする。
記録媒体である光ディスクと、光源である半導体レーザ
と、半導体レーザからの発散光を平行光に変換するコリ
メートレンズと、コリメートレンズからの平行光が入射
して楕円断面平行光を略円形断面平行光に変換するビー
ム整形手段と、ビーム整形手段からの平行光入射して光
ディスクに光スポットを形成する対物レンズと、光ディ
スクからの反射光を分離する光束分離手段と、光束分離
手段で分離された光ビームが入射して、情報信号を検出
する情報信号検出手段、サーボ信号を検出するサーボ信
号検出手段とを具備し、前記ビーム整形手段が、分散の
硝材を用いて形成されたことを特徴とする。
作用
この構成によって、半導体レーザの出力が変化して、発
散光に波長変化を生じた場合でも、低分散の硝（オを用
いるだけで、光デイスク上に形成される光スポットに対
して、平行光束の光路変化に伴う光デイスク面内の位置
変動の量を小さくすることが出来る。したがって、常に
安定した記録。
散光に波長変化を生じた場合でも、低分散の硝（オを用
いるだけで、光デイスク上に形成される光スポットに対
して、平行光束の光路変化に伴う光デイスク面内の位置
変動の量を小さくすることが出来る。したがって、常に
安定した記録。
再生、消去を実現できる。
実施例
以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。第１図は本発明の一実施例における光記録再生
装置の概略構成図である。
明する。第１図は本発明の一実施例における光記録再生
装置の概略構成図である。
第１図において、１は半導体レーザ、２はコリメートレ
ンズ、３はビーム整形手段であるビーム整形プリズム、
４は光束分離手段であるハーフミラ−１５は対物レンズ
であって光集光部を形成する。６は記録媒体である光デ
ィスク、７は１／２波長板、８は偏光ビームスプリッタ
、９，１０は凸レンズ、１１はフォーカス誤差検出器、
１２゜１３は光検出器である。この構成では、凸レンズ
９、フォーカス誤差検出器１１．光検出器１２とでフォ
ーカス誤差検出手段を、凸レンズ１０．光検出器１３と
でトラッキング誤差検出手段を形成している。
ンズ、３はビーム整形手段であるビーム整形プリズム、
４は光束分離手段であるハーフミラ−１５は対物レンズ
であって光集光部を形成する。６は記録媒体である光デ
ィスク、７は１／２波長板、８は偏光ビームスプリッタ
、９，１０は凸レンズ、１１はフォーカス誤差検出器、
１２゜１３は光検出器である。この構成では、凸レンズ
９、フォーカス誤差検出器１１．光検出器１２とでフォ
ーカス誤差検出手段を、凸レンズ１０．光検出器１３と
でトラッキング誤差検出手段を形成している。
以上の構成要素は、第２図に示した従来例とまったく同
一であり、光記録再生装置のうちいわゆる光磁気記録再
生装置を示すものである。
一であり、光記録再生装置のうちいわゆる光磁気記録再
生装置を示すものである。
ここで、ビーム整形プリズム３は、低分散の硝材である
（ＣａＦＫ９５）’参考文献：ｐ４５〜ｐ４６．Ｎｏ８
９．１９８７年４月、 Ｏｐｌｕｓ ＥＪを用いて形成
されている。
（ＣａＦＫ９５）’参考文献：ｐ４５〜ｐ４６．Ｎｏ８
９．１９８７年４月、 Ｏｐｌｕｓ ＥＪを用いて形成
されている。
以上の様に構成された本発明の一実施例の動作は、第２
図、第３図の従来の光記録再生装置の動作とまったく同
一であるため、説明は省略する。
図、第３図の従来の光記録再生装置の動作とまったく同
一であるため、説明は省略する。
本実施例の光記録再生装置では、ビーム整形プリズム３
が低屈折率変動（屈折率変動・波長変化に対する屈折率
変化）の硝材である。（ＣａＦＫ９５）を用いて形成さ
れている。このため、半導体レーザ１の出力が変化して
、発散光の波長が変化した場合でも、初期設計時の平行
光束の光路からの光路変化は小さい。
が低屈折率変動（屈折率変動・波長変化に対する屈折率
変化）の硝材である。（ＣａＦＫ９５）を用いて形成さ
れている。このため、半導体レーザ１の出力が変化して
、発散光の波長が変化した場合でも、初期設計時の平行
光束の光路からの光路変化は小さい。
この効果について詳しく述べる。硝材（ＣａＦＫ９５）
は、ある特定の成分比で、波長８３０ｎｍに対して屈折
率： ｎ ｄ、４３０５．屈折率変動：ｍ ’；−１，
０Ｘ１０石／ｎ＋ｗである。この屈折率ｎ ＝１．４３
０５２を用いて、ハーフミラ−４に垂直入射するように
頂角を決定してビーム整形プリズム３および平行光束の
光路が初期設計する。
は、ある特定の成分比で、波長８３０ｎｍに対して屈折
率： ｎ ｄ、４３０５．屈折率変動：ｍ ’；−１，
０Ｘ１０石／ｎ＋ｗである。この屈折率ｎ ＝１．４３
０５２を用いて、ハーフミラ−４に垂直入射するように
頂角を決定してビーム整形プリズム３および平行光束の
光路が初期設計する。
ここで、半導体レーザ１の出力が変化して、発散光に波
長変化：Ｃ”ｌＯｎｍを生じた場合、ビーム整形プリズ
ム３の屈折率はｎ ＝１．４３４０２に変化する。この
時、ビーム整形プリズム３からの出射光は初期設計とは
異なる光路を通り、ハーフミラ−４には垂直入射せずに
角度を持って入射する。
長変化：Ｃ”ｌＯｎｍを生じた場合、ビーム整形プリズ
ム３の屈折率はｎ ＝１．４３４０２に変化する。この
時、ビーム整形プリズム３からの出射光は初期設計とは
異なる光路を通り、ハーフミラ−４には垂直入射せずに
角度を持って入射する。
この光路変化は、光デイスク６上に形成される光スポッ
トに光デイスク６面内の位置変動を生じさせるため、安
定した記録、再生、消去に影響を与える。
トに光デイスク６面内の位置変動を生じさせるため、安
定した記録、再生、消去に影響を与える。
しかしながら、第１図の従来例でビーム整形プリズム３
を形成していた硝材（ＢＫ７）の屈折率変動：ｍ”＝−
１，８Ｘ１０’ ／ｎｍと比較すると、本実施例でビー
ム整形プリズム３に用いた、ある特定成分比の硝材（Ｃ
ａＦＫ９５）の屈折率変動は約１／２である。
を形成していた硝材（ＢＫ７）の屈折率変動：ｍ”＝−
１，８Ｘ１０’ ／ｎｍと比較すると、本実施例でビー
ム整形プリズム３に用いた、ある特定成分比の硝材（Ｃ
ａＦＫ９５）の屈折率変動は約１／２である。
したがって、波長変化による光デイスク６面内の光スポ
ツト位置変動量も、約１／２となり、記録、再生、消去
特性に与える影響も約１／２に低減される。
ツト位置変動量も、約１／２となり、記録、再生、消去
特性に与える影響も約１／２に低減される。
以上のように本実施例によれば、コリメートレンズから
の楕円断面平行光を略円形断面に変換するビーム整形プ
リズムを、ある特定成分比の硝材（ＣａＦＫ９５）を用
いて形成することにより、半導体レーザの波長変化によ
る光デイスク面内の光スポツト位置変動量を従来の硝材
（ＢＫ７）の約１／２に低減することが出来る。
の楕円断面平行光を略円形断面に変換するビーム整形プ
リズムを、ある特定成分比の硝材（ＣａＦＫ９５）を用
いて形成することにより、半導体レーザの波長変化によ
る光デイスク面内の光スポツト位置変動量を従来の硝材
（ＢＫ７）の約１／２に低減することが出来る。
なお、本実施例では、従来例と比較するために、ビーム
整形手段として三角柱状のビーム整形プリズムを用いた
が、その他のビーム整形手段として、例えばレンズ系を
組み合わせたビーム整形手段においても、低屈折率変動
の特性を持つ、ある特定成分比の硝材（ＣａＦＫ９５）
を用いれば、硝材（ＢＫ７）を用いた場合に比べて、半
導体レーザの出力が変化して、発散光に波長変化を生じ
た場合でも、レンズ系の焦点距離１作動距離の変化量が
小さいため、光デイスク上の光スポットのデフォーカス
量も小さく、本実施例と同様に安定した記録、再往、消
去を実現できる。
整形手段として三角柱状のビーム整形プリズムを用いた
が、その他のビーム整形手段として、例えばレンズ系を
組み合わせたビーム整形手段においても、低屈折率変動
の特性を持つ、ある特定成分比の硝材（ＣａＦＫ９５）
を用いれば、硝材（ＢＫ７）を用いた場合に比べて、半
導体レーザの出力が変化して、発散光に波長変化を生じ
た場合でも、レンズ系の焦点距離１作動距離の変化量が
小さいため、光デイスク上の光スポットのデフォーカス
量も小さく、本実施例と同様に安定した記録、再往、消
去を実現できる。
ここで、最近の光学式記録再生装置の開発動向を見ると
、−段と大容量化、高速アクセス化、高速回転化が進み
、光学式記録再生装置の特性におけるマージンが問題と
なっている。すなわち、少しでも高性能化を図ることが
光学式記録再生装置の必須の条件といえる。このため、
低分散の硝材を用いて、光デイスク上に形成される光ス
ポットに対して、平行光束の光路変化に伴う光デイスク
面内の位置変動や、デフォーカス量を小さくすることが
でき、従来に比べて少しでも安定した記録。
、−段と大容量化、高速アクセス化、高速回転化が進み
、光学式記録再生装置の特性におけるマージンが問題と
なっている。すなわち、少しでも高性能化を図ることが
光学式記録再生装置の必須の条件といえる。このため、
低分散の硝材を用いて、光デイスク上に形成される光ス
ポットに対して、平行光束の光路変化に伴う光デイスク
面内の位置変動や、デフォーカス量を小さくすることが
でき、従来に比べて少しでも安定した記録。
再生、消去を実現できることは、非常に大きな効果であ
る。
る。
発明の効果
本発明は、記録媒体である光ディスクと、光源である半
導体レーザと、半導体レーザからの発散光を平行光に変
換するコリメートレンズと、コリメートレンズからの平
行光が入射して楕円断面平行光を略円形断面平行光に変
換するビーム整形手段と、ビーム整形手段からの平行光
が入射して光ディスクに光スポットを形成する対物レン
ズと、光ディスクからの反射光を分離する光束分離手段
と、光束分離手段で分離された光ビームが入射して、情
報信号を検出する情報信号検出手段、サーボ信号を検出
するサーボ信号検出手段とを具備し、前記ビーム整形手
段が、低分散の硝材を用いて形成されたことを特徴とす
ることによって、半導体レーザの出力が変化して、発散
光に波長変化を生じた場合でも、低分散の硝材を用いる
だけで、光デイスク上に形成される光スポットに対して
、平行光束の光路変化に伴う光デイスク面内の位置変動
や、デフォーカス量を小さくすることが出来る。
導体レーザと、半導体レーザからの発散光を平行光に変
換するコリメートレンズと、コリメートレンズからの平
行光が入射して楕円断面平行光を略円形断面平行光に変
換するビーム整形手段と、ビーム整形手段からの平行光
が入射して光ディスクに光スポットを形成する対物レン
ズと、光ディスクからの反射光を分離する光束分離手段
と、光束分離手段で分離された光ビームが入射して、情
報信号を検出する情報信号検出手段、サーボ信号を検出
するサーボ信号検出手段とを具備し、前記ビーム整形手
段が、低分散の硝材を用いて形成されたことを特徴とす
ることによって、半導体レーザの出力が変化して、発散
光に波長変化を生じた場合でも、低分散の硝材を用いる
だけで、光デイスク上に形成される光スポットに対して
、平行光束の光路変化に伴う光デイスク面内の位置変動
や、デフォーカス量を小さくすることが出来る。
したがって、常に安定した記録、再生、消去を実現でき
る優れた光記録再生装置を実現できるものである。
る優れた光記録再生装置を実現できるものである。
第１図は本発明の一実施例における光記録再生装置の概
略構成図、第２図は従来の光記録再生装置の概略構成図
、第３図半導体レーザからの発散光の遠視野像を示す斜
視図である。 ｌ・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・コリメー
トレンズ、３・・・・・・ビーム整形プリズム、４・・
・・・・ハーフミラ−１５・・・・・・対物レンズ、６
・・・・・・光ディスク、７・・・・・・１／２波長板
、８・・・・・・偏光ビームスプリンタ、９゜ｌＯ・・
・・・・レンズ、１１・・・・・・フォーカス誤差検出
器、１２．１３・・・・・・光検出器。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか１名第１図 ｆ 半導体レープ 第２図 ６光テ〉スフ 牛導俸レーブ
略構成図、第２図は従来の光記録再生装置の概略構成図
、第３図半導体レーザからの発散光の遠視野像を示す斜
視図である。 ｌ・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・コリメー
トレンズ、３・・・・・・ビーム整形プリズム、４・・
・・・・ハーフミラ−１５・・・・・・対物レンズ、６
・・・・・・光ディスク、７・・・・・・１／２波長板
、８・・・・・・偏光ビームスプリンタ、９゜ｌＯ・・
・・・・レンズ、１１・・・・・・フォーカス誤差検出
器、１２．１３・・・・・・光検出器。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか１名第１図 ｆ 半導体レープ 第２図 ６光テ〉スフ 牛導俸レーブ
Claims (2)
- （１）記録媒体である光ディスクと、光源である半導体
レーザと、前記半導体レーザからの発散光を平行光に変
換するコリメートレンズと、前記コリメートレンズから
の平行光が入射して楕円断面平行光を略円形断面平行光
に変換するビーム整形手段と、前記ビーム整形手段から
の平行光が入射して前記光ディスクに光スポットを形成
する対物レンズと、前記光ディスクからの反射光を分離
する光束分離手段と、前記光束分離手段で分離された光
ビームが入射して、情報信号を検出する情報信号検出手
段、サーボ信号を検出するサーボ信号検出手段とを具備
し、前記ビーム整形手段が、分散の硝材を用いて形成さ
れたことを特徴とする光記録再生装置。 - （２）低分散の硝材は、ＣａＦＫ９５であることを特徴
とする請求項（１）記載の光記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63117322A JPH01287830A (ja) | 1988-05-13 | 1988-05-13 | 光記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63117322A JPH01287830A (ja) | 1988-05-13 | 1988-05-13 | 光記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01287830A true JPH01287830A (ja) | 1989-11-20 |
Family
ID=14708877
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63117322A Pending JPH01287830A (ja) | 1988-05-13 | 1988-05-13 | 光記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01287830A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5220553A (en) * | 1990-05-30 | 1993-06-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical head |
| US5307185A (en) * | 1992-05-19 | 1994-04-26 | Raychem Corporation | Liquid crystal projection display with complementary color dye added to longest wavelength imaging element |
| US8208359B2 (en) | 2006-12-04 | 2012-06-26 | Panasonic Corporation | Optical head, optical information recording and reproducing device, and optical information system device |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60234247A (ja) * | 1984-05-07 | 1985-11-20 | Hitachi Ltd | 光ヘツド |
-
1988
- 1988-05-13 JP JP63117322A patent/JPH01287830A/ja active Pending
Patent Citations (1)
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| JPS60234247A (ja) * | 1984-05-07 | 1985-11-20 | Hitachi Ltd | 光ヘツド |
Cited By (3)
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