JPH01290055A - チャネル試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 電子計算機システムにおけるＩ１０装置が接続されるチ
ャネルの試験方法に関し、 試験精度を落とさずに、且つプログラム開発工数を少な
くすることを目的とし、 各試験モジュールに対応した期待値データを外部記憶装
置に記憶しておき、チャネルの試験時には実際に実行し
た結果値と外部記憶装置から読み出した期待値データと
を比較するチャネルの試験方法において、試験対象とす
るチャネルの変更により、実際に実行した結果値と期待
値データとを比較した結果が不一致であり、且つその要
因がハードエラーによるものではない時は新たに外部記
憶装置に不一致時の結果値を記憶してチャネルの比較試
験を実行し、以降試験対象とするチャネルが変更された
場合は上記処理を繰り返し実行するよう構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、電子計算機システムにおけるＩ１０装置が接
続されるチャネルの試験方法に係るものである。

近年、電子計算機システムの高速化に伴って、チャネル
の種類も多種多様化となりつつあり、制御の方も複雑化
の傾向を辿っている。また、チャネルの開発工程も著し
く短くなってきており、短期間に開発されてくる多種多
様のチャネルに対し、それを試験する試験プログラムの
開発が追従できず、試験が充分に実行されない内に、次
の開発工程に移行してしまうということが現実問題とし
て発生しつつある。

そこで、チャネル試験プログラムの開発工程が短くて済
み、且つ試験精度が充分である試験プログラムの開発ツ
ールを確立する必要性が望まれつつある。

〔従来の技術〕

まず、従来は一般的に以下に示す様にして試験プログラ
ムを作成していた。

■　チャネルが開発される度にその仕様に合う試験プロ
グラムを新規に開発する。

■　以前に作られたチャネル試験プログラムに対し異な
る仕様部分だけを抜き出して、その部分を変更すること
により対処する。既存のプログラムにない機能に対して
は新規に開発する。

そして、従来のチャネルの正当性の試験を行なう方法と
しては、上記の手法で開発した試験プログラムに基づく
各試験に対する期待値とを実際にチャネルを実行して得
られた結果値との比較を行なうことによって、試験対象
とするチャネルの正当性を判断していた。

〔発明が解決しようとする課題〕

然しなから従来の試験方式では、特に試験プログラムの
開発に対して以下の課題がある。

まず、■において、試験チャネルが新規なものであると
その都度試験プログラムを開発しているため、開発工数
に多大の時間を費やしていまい、又、■においては、実
際に変更があった箇所を人が逐次認識して試験プログラ
ムの変更を行っていたため、試験プログラムの変更処理
が煩雑になる。

また、既存の試験プログラムの開発者とそれを変更する
人が異なる時は、プログラムを理解しながらの開発とな
るため、■と同様に開発工数に多大の時間を費やしてし
まうという課題があった。

本発明は試験精度を落とさずに、且つプログラム開発工
数を少なくすることを目的とするものである。

〔課題を解決するための手段〕

第１図に示す本発明における原理図について説明する。

■はチャネル試験制御部であり、チャネルの試験を制御
する共通部であり、具体的動作として試験モジュールの
スケジュール、辞書からの期待値情報の取り出し、辞書
への追加期待値情報の組み込み、操作者とのやりとり等
の処理を行なう。２はチャネルの各機能を試験している
試験モジュール２３，２□〜２ゎから構成される試験モ
ジュール群、３は各試験モジュールがプログラム走行時
に期待している情報を蓄積している外部記憶装置である
。

そして、上記目的は、各試験モジュール２Ｉ、２２〜２
ｏに対応した期待値データを外部記憶装置３に記憶して
おき、チャネルの試験時には実際に実行した結果値と該
外部記憶装置３から読み出した該期待値データとを比較
するチャネルの試験方法において、試験対象とするチャ
ネルの変更により、前記実際に実行した結果値と前記期
待値データとを比較した結果が不一致であり、且つその
要因がハードエラーによるものではない時は新たに前記
外部記憶装置３に該不一致時の結果値を記憶して該チャ
ネルの比較試験を実行し、以降試験対象とするチャネル
が変更された場合は上記処理を繰り返し実行することを
特徴とするチャネル試験方法により達成される。

〔作用〕

本発明では、試験対象とするチャネルに変更がある（特
に、新規な機能を有するチャネルに変更があった場合）
と、試験モジュール２１，２□〜２．。

に対応した外部記憶装置３内の期待値情報３ａ、３ｂ〜
３ｎ上の追加期待値領域（ｂ）に、その試験モジュール
２１．２２〜２ｏを実行して得られた結果値を期待値と
して書き込んでおく。そして、該試験モジュール２．２
□〜２．、を使用して行なう試験については、前回期待
値として書き込んでおいたため、この期待値と実際に実
行して得られた結果値とを比較すればチャネルの正当性
を認識することができる。又、該処理はチャネル試験制
御部１の制御に基いて行われるものであり、第三者が介
在しないため、設計仕様の解釈の違いによるミスもなく
精度の高いチャネル試験プログラムが提供できる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を第２〜４図を用いて詳細に説
明する。

第２図は本発明が適用されるシステム構成図、第３図は
本発明の一実施例の動作を説明するための本発明の一実
施例の動作を説明するためのフローチャートを示し、第
４図は本発明における期待値格納辞書の内部構成を示す
図である。

まず、本発明が適用されるシステム構成図を第２図を用
いて説明する。システムの末端に複数のＩ１０装置（表
示機能を持つＩｌｏ等）がチャネルＣＨを介してチャネ
ル・プロセッサＣＨＰに接続されている。そして、この
チャネル・プロセッリ°ＣＨＰはメモリ・ストレージ・
ユニットＭＳＵに格納されている情報を読み出して、且
つサービス・プロセッサＳＶＰの処理プログラムに従い
、システム全体の処理を行なうセントラル・プロセシン
グ・ユニットＣＰＵと接続されている。また、本発明に
おけるチャネル試験制御部と試験部格納媒体とは上記シ
ステムと別のライブラリ辞書に格納されるものであり、
同様にして、各試験部の期待値情報が格納されている外
部記憶装置も上記システムとは別の媒体（フロッピ）に
記憶されている。

次に、上述した外部記憶装置の内部構成について詳細に
説明する。第４図に示す様に、外部記憶装置３の内部は
試験モジュールの数と対応する数の期待値情報３ａ、３
ｂ〜３ｎから構成されており、且つこの期待値情報３ａ
、３ｂ〜３ｎは大きく分類して基本仕様における期待値
領域（ａ）と、個別仕様にお（）る追加期待値領域（ｂ
）により構成されている。

以下、第３図のフローチャートを用いて本発明の一実施
例の動作を説明する。

〔ステップ１００〕 各種のチャネル試験を行なうために試験内容に対応した
試験モジュールをチャネル試験制御部からの試験モジュ
ール選択信号に基いて、試験モジュール群から１つ選択
し゛取り出す。

〔ステップ１０１〕 実際にこの試験モジュールを使用して、チャネルを動作
させ、その値を結果値として例えば−旦チャネル試験制
御部の所定の位置に格納しておく。

〔ステップ１０２〕 フロッピのテーブルから、図示しないチャネル試験制御
部からの制御信号に従って、選択した試験モジュールに
該当する期待値情報を取り出す。

〔ステップ１０３〕 期待値と結果値との比較を行なう。

＝　９＝ 〔ステップ１０４〕 先に選択した試験モジュールの比較処理が一試験モジュ
ールに対して終了したか否かの判断を行なう。仮に比較
処理が終了していなければ再度ステップ１０３にフィー
ドバックして比較処理が終了するまで、繰り返し比較処
理を実行する。

〔ステップ１０５〕 ステップ１０４にて一試験モジュールに対して比較処理
が終了すれば、今度は比較したものに期待値と結果値の
一致があったか否かの判断を行なう。

〔ステップ１０６〕 ステップ１０５において、一致があればその試験におい
てはチャネルは正当性を満足したものとみなす。

（ステップ１０７〕 一方、ステップ１０５において、全く期待値と結果値と
の一致がなされなかった場合は一旦操作者等にデイスプ
レィ等を用いてエラー通知を行なう。

［ステップ１０８］ 操作者はデイスプレィ等を目視して、それがハ−ド的な
エラーか否かを判断する。予じめハード的なエラーであ
れば、その内容を示すコードがデイスプレィ上に出てく
るように、プログラムを作成しておけば目視にて容易に
理解することが可能である。

〔ステップ１０９〕 ステップ１０８において、ハードエラーである時は、障
害が発生した部分のハードを交換した後、再度上述のス
テップ１００〜１０５の処理を行なう。

〔ステップ１１０〕 一方、ステップ１０８において、ハードエラーでない時
はチャネルそのものが新規なものであるため、期待値そ
のものが記憶されておらず比較試験が行えないものであ
ったものであることから、新規に該試験モジュールの期
待値情報を構成する追加期待値領域にこの結果値を書き
込み、記憶する。

尚、この書き込み・記憶時の制御は図示しないチャネル
試験制御部１のプログラムに従って行われる。

〔ステップ１１１〕 一つの試験モジュールを使用した一試験が終了すると、
再度具なる試験を行なうためにステップ１００〜１０４
の処理を繰り返し全試験モジュールが終了するまで実行
する。但し、当然の如く試験モジュールは行なう試験が
変わる毎に異なる試験モジュールを選択するものである
。

〔発明の効果〕

以上説明した様に、本発明によれば、短期間の工程で開
発されるチャネルシステムに対してもチャネル設計者自
身が直接チャネル試験プログラムを構築できるため、試
験精度を落とさずにプログラム開発工数を少なくさせる
というニーズに充分に答えうろことができ、且つ係る新
規チャネルシステムの機能、性能の保証に寄与するとこ
ろが大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理図を示し、第２図は本発明が適用
されるシステム構成図、第３図は本発明の詳細な説明す
るためのフローチャートを示し、第４図は外部記憶装置
の内部構成を示す図である。 図において、 ■・・・・・・・・・チャネル試験制御部、２・・・・
・・・・・試験モジュール群、　２．．２□〜２．、・
・・・・・・・・試験モジュール、３・・・・・・・・
・外部記憶装置（フロッピ）、　３ａ、３ｂ〜３ｎ・・
・・・・・・・期待値情報、（ａ）・・・・・・・・・
基本仕様における期待値領域、（ｂ）・・・・・・・・
・個別仕様における追加期待値領域をそれぞれ示す。 ■ 外御起憧辰１６ 葛４１ へ内部４鼻Ｆ８記 コ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 各試験モジュール（２＿１、２＿２〜２＿ｎ）に対応し
   た期待値データを外部記憶装置（３）に記憶しておき、
   チャネルの試験時には実際に実行した結果値と該外部記
   憶装置（３）から読み出した該期待値データとを比較す
   るチャネル試験方法において、 試験対象とするチャネルの変更により、前記実際に実行
   した結果値と前記期待値データとを比較した結果が不一
   致であり、且つその要因がハードエラーによるものでは
   ない時は新たに前記外部記憶装置（３）に該不一致時の
   結果値を記憶して該チャネルの比較試験を実行し、以降
   試験対象とするチャネルが変更された場合は上記処理を
   繰り返し実行することを特徴とするチャネル試験方法。