JPH01291381A - 画像読取方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は　画像読取方法に関するものであり、特にコン
クリート構造物等の物体の表面に発生するひびわれを写
真撮影し、この写真を光電的に読み取り、画像処理及び
解析するプロセスにおいて、写真画像上のひびわれ画像
が存在する部分あるいはひびわれ画像が存在しない部分
をマニュアル指定し、そのひびわれ画像が存在する領域
を光電的に読み取る画像読取方法に関するものである。

〔従来技術〕

従来、建築物、橋梁、道路、堤防等の土木建築の構造物
や建築物の表面に生ずるひびわれは　漏水の原因となり
、漏水のために内部の鉄骨を腐食させ、これらの構造物
や建築物の老朽化を早める。

特に最近コンクリート等にひびわれが生ずると、その表
面に施された外装材料層が脱落し、大きな事故に至るな
ど社会的に重大な問題となっている。

従来、これら構造物や建築物におけるコンクリートの表
面に発生したひびわれの検査及び解析の方法としては　
発生したひびわれ個所に例えば透明なあるいは半透明の
板材に目盛が付されたクラックスケール板を当てがい、
ひびわれ幅を読み取ると共に、スケッチによりひびわれ
の形状を写し取るなどして作業者の視覚により測定した
事項を情報化し、これらの情報データを仮想的に設定し
た領域毎に集計して解析することにより、その後のひび
われの進行状況等を予測して補修時期などを予測、決定
していた。

〔発明が解決しようとする問題点］ しかしながら、上述したような作業者の視覚によるひび
われの測定は　多大な手間と労力を要し、きわめて非能
率的であるばかりでなく、測定値に作業者による個人差
が現れて測定精度が落ちるという問題があった。しかも
ひびわれが発生ずる現場は　千差万別であって、ひびわ
れを測定する作業のために特別に足場を組まなければな
らない所もあり、交通を一時遮断して作業しなければな
らないこともあり、また降雨等により長時間測定作業が
不能になることもあった。

本発明者等は　先に上述したごとき作業者の視覚による
測定作業における問題点を解消するため、ひびわれのあ
る構造物等の被解析面を現場において一旦写真撮影した
後、この写真画像から光電変換された画像情報を得、こ
れを画像処理し解析することによりひびわれを解析する
ひびわれ画像の解析方法を発明した。この解析方法にお
いては、ひびわれ写真画像全体を光電変換素子の受光面
の大きさと解析ずべき最小のひびわれ幅または画像処理
・解析装置の処理容量によって制約される大きさ（微小
な所定面積）の領域に分割し、その領域毎にひびわれ画
像を読み取って直ちに解析し、そのデータを蓄積し、順
次この読み取り、解析、データの蓄積を繰り返し、最終
的に蓄積したデータを合成してひびわれ写真画像全体の
データを作成するというものである。この解析方法にお
ける具体的な装置においては　表面サイズが１ｍ×１ｍ
の被解析面を写真撮影して画面寸法が５０ｍｍＸ５０ｍ
ｍの写真画像として記録しており、前記の微小領域は　
例えば０．５ｍｍＸ０．５ｍｍの大きさに設定すること
ができるので、上記の５０ｍ　ｍ　Ｘ５０ｍｍの写真画
像は　１０４個の微小領域に分割されて読み取られるこ
とになる。

しかしながら、一般に市販されている画像処理・解析装
置では前記の１つの領域の読み取り、解析にも比較的長
い時間がかかるため、ひびわれ写真画像全体について読
み取り、解析を行う場合にはさらに長時間を要し、また
ひびわれ写真画像全体を解析すると、その分だけ”ノイ
ズ”の混入の確率も大きくなる、つまり読み取り、解析
する領域が広がる程被解析面の汚れや表面構造による陰
影等がひびわれとして誤認される機会が多くなるという
問題があった。

〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明は　上
述した従来技術における問題点に鑑み、ひびわれ写真画
像全領域を読み取り、解析すると長時間を要し、またノ
イズの混入の確率も増大するので、ひびわれ写真画像の
光学的拡大投影像または電子的ディスプレイ手段によっ
て拡大表示された画像を観察し、その画像により明らか
にひびわれ画像が存在しない部分をマニュアル的に選択
し、事前にその部分の領域の読み取りを除外することに
より写真画像の読み取り、画像処理及び解析に要する時
間を短縮し、ノイズ混入の確率を低減化をはかることを
目的とするものである。

すなわち本発明は　物体のひびわれを写した写真画像を
複数の領域に分割し、該領域毎の写真画像を光電的に読
み取って情報化し、この情報を解析してひびわれに関す
るデータを得、得られたデータを合成して該写真画像の
ひびわれに関するデータを作成するひびわれ写真画像の
解析プロセスの画像読取方法において、予め拡大表示さ
れた写真画像からひびわれ画像が存在しない部分または
ひびわれ画像が存在する部分を指定し、指定された部分
の位置情報をコンピュータに入力し、該位置情報に基づ
いて指定された前記ひびわれ画像が存在しない部分を除
く部分に対応する写真上の領域または前記ひびわれ画像
が存在する部分に対応する写真上の領域だけを読み取る
ことを特徴とする画像読取方法であり、特に該拡大表示
された写真画像は　光学的に拡大して投影された画像あ
るいは電子的ディスプレイ手段によって拡大して表示さ
れた画像であり、また前者の場合、ｘＹデジタイザ上に
光学的に拡大して投影された画像である画像読取方法で
ある。

以下　本発明の詳細な説明する。

まず、本発明の画像読取方法を含むひびわれ写真画像の
解析プロセスが対象とするひびわれは物体、すなわちコ
ンクリート、ガラス、陶磁器、プラスチック、ゴム、塗
料等々からなる物体、例えばコンクリートの構築物、各
種の陶磁器、琺瑯、各種の形態に成形されたプラスチッ
クあるいはゴムの成形品、耐火物、各種塗料による塗膜
などあらゆる物体の表面に表れたひびわれである。本発
明は　これらのひびわれを含む大面積の物体表面の所定
部分を、例えば光学カメラによる写真撮影により写し取
り、この写し取ったひびわれ写真画像を効率的に読み取
るものである。

このようにして得られたひびわれ写真画像を仮想的に複
数の領域に分割し、かつ予め光学的に拡大投影された画
像あるいは電子的ディスプレイ手段によって拡大して表
示された画像からマニュアル的にひびわれ画像が存在し
ない部分またはひびわれ画像が存在する部分を指定し、
指定された部分の位置情報をコンピュータに人力し、該
位置情報に基づいて指定された前記のひびわれ画像が存
在しない部分を除く部分に対応する写真上の領域または
前記ひびわれ画像が存在する部分に対応する写真上の領
域だけを読み取って情報化し、この情報を解析してひび
われに関するデータを得、各画像毎に得られたデータを
合成して物体におけるひびわれに関するデータを作成す
るのである。

この過程について、その一実施態様を示す各種の図面を
参照し、本発明をより具体的に説明する。

第１図は　本発明の画像読取方法を含むひびわれの画像
化、その画像処理及び解析のためのプロセスを説明する
ブロックダイアグラムである。このプロセスは　基本的
に写真撮影サブユニット１とひびわれ写真画像の読み取
り・解析・出力サブユニット１０とから構成されている
。

本実施態様においては　図中、写真撮影サブユニット１
は　撮影機材−式、具体的には例えば光学カメラ及び写
真フィルム、ひびわれと設置する光学カメラの間の距離
を決めるスケール及び照明機器等を含んでいる。そして
この光学カメラによってコンクリート壁のひびわれを含
むｌｍＸ１ｍの壁面を１撮影視野として撮影する。この
場合、撮影した写真画像としては　この１撮影視野は５
０ｍｍＸ５０ｍｍのサイズの画像とすることができる。

従って上記壁面のひびわれに関して検出、解析したい最
小のひびわれ幅を例えば０．１ｍｍとすると、この０．
１ｍｍは　写真画像では０．００５ｍｍとなる。ちなみ
に０．１ｍｍよりも細いひびわれを検出、解析するには
１シヨツトで撮影する視野の大きさを小さくするとよい
。

前記読取・解析・出力サブユニット１０は　さらに（写
真）画像読取装置１１、画像処理・解析装置１２、ＣＰ
Ｕ　（中央演算装置）１３及び表示・出力装置１４から
なっており、各装置は　すべてＣＰＵ１３により制御さ
れる。

第２図は　本発明において最も特徴的である画像読み取
りの過程を実施する前記の（写真）画像読取装置１１の
具体例を示したものである。図示されているように、画
像読取装置１１は　基本的には撮影された写真を載置す
るステージ１００、写真用引伸装置１１０１　、χＹデ
ジタイザ１０２、前記ステージ１００をＸ軸及びＹ軸の
方向に移動させるＸ軸モータ１０３及びＹ軸モータ１０
４、前記ステージ１００上の写真を観察する顕微鏡１０
５及び写真画像を撮像して光電変換するエリア・イメー
ジセンサを含むＴＶカメラのごとき撮像装置１０６から
構成されている。

オペレータは　前記ステージ１００上のひびわれ写真画
像を写真用引伸装置１０１によりＸＹデジクイザ１０２
上に拡大投影する。そしてこの拡大投影像を観察しなか
らひびわれ画像と判断した部分をカーソルまたはスタイ
ラスペンでトレースする。

この時、ひびわれを写す写真フィルムとして微粒子のハ
ロゲン化銀からなる黒白ネガフィルムを用いると、ひび
われは　写真画像としては暗い背景に浮き出た明るい細
長い線状の像として記録される。そのため、オペレータ
は　例えば白い表面をもつＸＹデジタイザ上に拡大して
投影されたひびわれ写真画像中に明るい細長い線状をな
すひびわれ画像部分を容易に認識し、これをトレースす
ることができる。ＸＹデジタイザ１０２は　このトレー
スされた位置をχＹ座標の値に情報化し、この位置情報
はＣＰＵ１３に記憶される。

ＣＰＵ１３は　この位置情報に基づいて前記モータ１０
３及び１０４を制御し、ステージ１００をＸ軸及びＹ軸
の方向に適宜移動させ、位置情報に対応した写真画像上
の微小領域を顕微鏡１０５の観察位置及び撮像装置１０
６の撮像位置に配置する。この写真画像上の読み取るべ
き領域の観察位置及び撮像位置への配置は　隣接する領
域を順次辿るように進めてもよく、また無秩序の順に進
めてもよい。

次いで顕微鏡１０５の対物レンズ１０７下に配置された
前記微小領域は　顕微鏡１０５により観察されると共に
前記撮像装置１０６により光電変換される。

なお、前記微小領域は　エリア・イメージセンナの大き
さと解析ずべき最小のひびわれ幅あるし９１画像処理解
析装置の処理能力等によって制約され、例えば２５万画
素相当のエリア・イメージセンナの場合には０．５ｍｍ
Ｘ０．５ｍｍの大きさに設定されることができる。また
ＸＹデジタイザ上においては、写真画像は　１コマ全画
面あるいは分割された画面で拡大投影される。その分割
数は　適宜法められる。そして分割して拡大投影された
時の各領域のフィルム位置に対応したオフセット量は座
標計算によってＣＰＵ１３にて自動的に補正され、Ｘ軸
方向の長距離移動のためのＸ軸筒２モータ１゜８の回転
量を制御し、写真画像の所定部位が自動的に顕微鏡１０
５の光軸上に来るようにする。

なお、所望により（写真用）引伸装置及びＸＹデジタイ
ザにてひびわれ画像が存在する部分をマニュアル的に指
定した後、写真フィルムホルダ（図示されていない。）
が顕微鏡の対物レンズ下に搬送されてきた時、第二の写
真フィルムホルダが引伸装置の所定位置に来るように設
け、この第二のホルダには解析対象とする写真の複製を
装着しておき、顕微鏡の読取部分に対応した領域及びそ
の周辺領域を引伸装置にて拡大投影し、目視観察による
モニタリングができるように構成することができる。前
述したように、マニュアル的に指定されたひびわれ画像
が存在する部分に対応する領域が画像読取装置１１によ
り前記微小領域毎に読み取られ、かつ読み取られる度毎
に画像処理・解析装置により解析され、解析データがＣ
ＰＵ１３に蓄積され、以後上記の過程が繰り返され、最
終的にＣＰＵ１３により集計されて表示・出力装置１４
からひびわれの解析結果として出力される。この出力表
示の仕方としてはひびわれ幅の頻度分布ヒストグラム、
ひびわれ図、ひびわれ角度の頻度分布ヒストグラム等が
ある。第３図は　前記ひびわれ測定装置のＣＰＵによる
シーケンス制御の具体例を示すフロー・チャートである
。図において、まずオペレータは　光学的に拡大投影さ
れたひびわれ画像または電子的ディスプレイに拡大表示
されたひびわれ画像を観察しく２００）、ひびわれ画像
が存在する部分を指定するモードを設定しく２０１）、
次いでこの指定モードに従ってオペレータが光学的に拡
大投影されたひびわれ画像または電子的ディスプレイに
拡大表示されたひびわれ画像が存在する部分をカーソル
等でトレースするなどマニュアル的に指定しく２０２）
　、この指定した位置座標を含む部分に対応するひびわ
れ写真画像上の領域を「読み取り領域」として読み取り
（２０３）　、またオペレータがカーソル等によりＸＹ
デジタイザ上あるいは電子的ディスプレイ上で閉曲線を
描き（２０２）、この閉曲線に囲まれた位置座標を含む
部分に対応するひびわれ写真画像上の領域を「読み取り
領域」として読み取り（２０３）　、あるいはすべての
位置座標がカーソル等で描かれた（２０２）閉曲線内に
含まれる部分に対応するひびわれ写真画像上の領域を［
読の取り不要な領域」とし、それ以外の微小領域をすべ
て読み数る（２０３）のである。

このようにして読み取られた画像情報は　画像処理・解
析装置により画像処理され、解析される（２０４）。そ
の解析結果は　ＣＰＵにより上記装置から吸い上げられ
（２０５）　、ひびわれの幅、長さ、位置、方向等の数
値データとして記憶される。次いでＣＰＵにより指定領
域内の読め取り未了領域の有無が判別される（２０６）
。読み取り未了領域が存在する場合には　ステフプ２０
４に戻って前記過程が繰り返される。すべての読み取り
領域の解析が終了すると、全読取領域の解析結果が合成
、整理され（２０７）　、解析結果は電子的ディスプレ
イ上に表示（２０８）　、あるいはプリントアラ１−さ
れる（２０９）。

ところで、本発明の画像読取方法の前提となる写真画像
の解析プロセス、すなわちひびわれを写したひびわれ画
像を微小領域毎に光電的に読み取って情報化し、得られ
た画像情報からひびわれに関するデータを得るための画
像処理及び解析は例えば次のようにして行われる。

即ち、まずひびわれを写した画像を領域毎に光電的に読
み取って情報化し、その画像情報に画像処理を施して得
られた２値画像のうち、ひびわれ部分に対応する２値画
像（以下、″ひびわれ２値画像”という。）を認識し、
次いでこのひびわれ２値画像からその幅、長さ等の形状
についての解析を行い、その結果からひびわれに関する
データを得るのである。

ここで、ひびわれ２値画像の認識について説明する。一
般にコンクリート構造物等の表面に発生したひびわれは
　その幅に比較して長さが長い、いわゆる細長い形状を
呈する。即ち、例えば０．１ｍｍ、０．５ｍｍあるいは
１．０ｍｍといったある程度の幅をもつひびわれは　表
面に沿って長く連続しており、そのひびわれがある個所
で突然消滅することはなく、通常は徐々に細くなって消
滅し、いずれの場合もある長さを有するものである。従
ってひびわれのある物体表面を撮影した写真画像におい
て、ある程度の幅をもつひびわれに相当する部分は　そ
れに相当する長さを有する。よって物体の表面を撮影し
た画像を小さな領域毎に分割して読み取ると、ひびわれ
に相当する部分の画像は　必ず各領域の周縁（境界）に
達することになる。この周縁に達しないひびわれ画像は
　その読み取り視野サイズでは　短くかつ細すぎるもの
であり、ひびわれ部分として認識するに及ばない。

しかし、そのようなひびわれ画像をも認識する必要があ
る場合には　読み取り視野サイズ、すなわち分割する領
域のサイズを小さくすればよいのである。このように本
発明においては　画像処理により抽出された２値画像の
特徴、すなわち各領域毎の周縁に達する細長い２値画像
をひびわれ２値画像とみなして判別し、認識する。

なお、画像の読み取りにおいては　領域の所定の大きさ
よりも大きめに読み取り、画像を解析する段階で所定の
大きさの領域だけを切り出し、その中に存在するひびわ
れ画像がこの限定された領域の周縁（境界）に達してい
るかどうかを判定することもできる。

さて、コンクリート構造物の表面に発生したひびわれを
撮影した写真画像を本発明の画像読取方法によりひびわ
れが存在する領域のみを画像読み取りの対象にするとは
いえ、読み取って得られた画像情報に２値化処理を含む
画像処理を施して得られた２値画像には　コンクリート
を打ち込んだ時等に発生した気泡に起因する窪みに相当
する比較的丸い２（ｉ画像が含まれていることがある。

これらの２値画像は　殆どの場合点在しており、各領域
ごとの読み取り視野の周縁に達していないので、ひびわ
れ２植画像ではないと認識されて、解析の対象から除外
される。また、各領域毎の読み取り視野の周縁に達して
いる窪み等の２値画像はサイズが小さいかあるいは下記
の形状に関するひびわれ２（ｉ画像であるための条件を
満たさないので、この場合もひびわれ２値画像ではない
と認識される。この抽出された２値画像がひびわれ２値
画像であることを判別、認識するための条件は次の通り
である。すなわち対象とする２値画像が条件１：ひびわ
れのある物体上での長さが２．５ｍｍ以上に相当する。

条件２：２値画像の最大長径の長さ（Ｌ）がその方向に
平行で、その外周に接する２木の平行線の間隔（Ｗ）の
２倍以上（Ｌ≧２Ｗ）である。

条件３：弐Ｐ２／　（４πＡ）≧３（但し、Ｐ：その周
長、Ａ：その面積、π：円周率） の３条件を満たす場合には「その２値画像は　ひびわれ
２値画像である。」と判定、認識されるのである。ここ
で、条件２における「２値画像の最大長径の長さ（Ｌ）
」とは　１つの抽出された２値画像（例えばひびわれに
対応する抽出された画像の部分が”１一画素″で表現さ
れ、ひびわれ像には対応しない背景の部分が”０一画素
°′で表現されているとする。）を構成する１つの”１
一画素”と他の”■一画素”とを結ぶ直線の長さのうち
最大の長さをいう。また条件３における式”Ｐ２／（４
πＡ）”は　真円度を表し、抽出画像が真円のとき　そ
の値は１であり、真円以外のときは１より大なる値とな
り、細長い程大きな値となる。

但し、式中のＰは　抽出画像を構成する゛′１一画素′
°群の外周を形成する画素数であり、Ａは抽出画像を構
成する”１一画素”群の全画素数である。

そして抽出された２値画像が物体上のひびゎれに対応す
る２値画像、っまり″ひびわれ２値画像′”であるか否
かを判別し、ひびわれ２値画像であると認識するための
条件として　写真画像を読み取った領域ごとに抽出され
た２値画像について種々の条件を設定して得られた結果
と物体−ヒのひびゎれを目視観察したりクラックスケー
ルを使用してその幅を測定した結果とを比較したところ
、上記の３条件を同時に満たす２値画像を′ひびゎれ２
値画像′°であるとみなすと両結果が好ましく対応する
傾向が認められたものである。

さらに各領域毎の画像読み取り及び解析において、「ひ
びわれに関するデータ」は画像処理を経てひびわれに対
応する像として抽出されたひびわれ２値画像に関する各
種の特性値を用いて、例えば次のようにして求められる
。

■ひびわれの面積：ひびわれ２値画像の″１一画素”成
分のＰｉｘｅｌ数を求め、これを撮影、画像読み取り及
び画像表示の総合倍率等を用いて換算して”ひびわれの
面積′”とする。

■ひびわれの長さ：ひびわれ２値画像に細線化の画像処
理を施して中心線を得て、その長さを求め、上記の総合
倍率を用いて換算した値あるいはひびわれ２値画像の面
積Ａ及び周囲長ＰよりＬ−（Ｐ／２＋　　Ｐ”／４−４
Ａ）／２で与えられるＬに上記の総合倍率の補正を加え
た値を”ひびわれの長さ”とする。さらに細いひびわれ
の場合は近似的にひびわれ２値画像の最大長径の長さに
上記の総合倍率の補正を加えた値を″ひびわれの長さ”
とすることもできる。

■ひびわれの幅；ひびわれ２値画像の面積をその中心線
の長さで除した商、あるいはひびわれ２値画像の面積Ａ
及び周囲長Ｐより ｗ−（Ｐ／２−７４７）／２ で与えられるＷに上記の総合倍率の補正を加えた値をそ
の画像の読み取り及び解析の各領域内での平均的な”ひ
びわれの幅”とする。

■ひびわれの角度：ひびわれ２値画像の中心線の両端を
結ぶ直線の傾きを求め、あるいは細いひびわれの場合は
近似的にひびわれ２値画像の最大長径の傾きを求め、こ
れをその画像読み取り及び解析の各領域内での代表的な
”ひびわれの角度”とする。

■ひびわれの位置：ひびわれ２値画像の重心の位置座標
、あるいはひびわれ２値画像の中心線の中央点座標、ま
たはひびわれ２値画像の中心線両端を結ぶ直線の中点の
座標に上記の総合倍率の補正を加えた値をその画像読み
取り及び解析の各領域内での”ひびわれの位置゛とする
。

上記の０項及び０項における式を設定した考え方は　次
の通りである。一般に物体の表面に表れるひびわれは　
細長いものであり、それを写したひびわれ画像やこれを
画像処理して得られた２値画像も当然細長いものである
。そしてその画像を含む画面を微小な領域に分割して各
領域毎にみると、その画像のひびわれ部分の両側は　は
ぼ平行で、その幅には極端に大きな変化はない。つまり
その画像のひびわれ部分は　厳密には形状として直線的
な部分や屈曲した部分があるが、幅が比較的−様である
ために　この微小領域内ではこれを近似的にひびわれ部
分の長さを長辺の長さとし、その幅を短辺の長さとする
長方形とみなすことができる。このとき、この長方形（
長さし、幅Ｗ）の面積をＡ、周長をＰとすると、Ｌ、Ｗ
、Ａ及びＰの間には　次の関係が成立し、 （Ｗ十Ｌ）Ｘ２＝Ｐ ＷＸＬ＝Ａ Ｌ≧Ｗ この上３式から各項に記載の通りＬ及ｑＷの値が求めら
れる。

なお、ひびわれ２値画像の各種の特性値よりひびわれに
関するデータを求める際に、撮影、画像の読み取り、画
像表示の総合倍率を考慮する必要がある。但し、ひびわ
れ解析に係る系が等方的である場合には、ひびわれの角
度については倍率の影響を受けない。

〔発明の効果〕

本発明によれば、物体のひびわれを例えば写真撮影して
画像化し、さらにその画像を多数の領域に分割し、領域
ごとの画像を光電的に読み取って情報化し、この情報を
解析してひびわれ画像に関するデータを得、得られたデ
ータを合成し、ひびわれ画像全体等についてデータを作
成するひびわれ写真画像の解析プロセスにおいて、予め
ひびわれ画像部分が存在する領域をマニュアル的に選択
して読み取り、ひびわれ画像部分が存在しない領域を読
み取らないので、ひびわれの存在しない領域までも含め
た全領域を読み取り、画像処理、解析する場合と比較し
て　はるかに短い時間で実施することができ、しかも一
般にひびねれは　物体表面についてきわめて局部的に発
生することが多く、従って予めひびわれ画像部分が存在
する領域をマニュアル的に選択することは　無駄な操作
を著しく省（ことができるという効果が奏せられる。

さらにマニュアル的な画面の選択操作によりひびわれ被
解析面におけるひびわれ以外の欠損部分や汚れ等を区別
して除外することができ、また読み取り不要部分の無用
な選択を回避することができ、さらにノイズ混入の確率
も著しく低減させることができるという諸々の重要な効
果が奏せられる。

従って本発明は　当業界においてきわめて有用な発明で
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は　本発明の画像読取方法を含むひびわれ画像の
解析プロセスを実施する装置例の基本構成を示すブロッ
クダイアグラム、第２図は　ひびわれ画像の画像読取装
置の概要図、第３図は　ひびわれ画像情報の解析プロセ
スのフローチャートである。 図中、１０は　読取・解析・出力サブユニント、１１は
（写真）画像読取装置、１２は　画像処理・解析装置、
１３は　ＣＰＵ、１４は　表示・出力装置、１００は　
ステージ、１０１は（写真用）引伸装置、１０２は　Ｘ
Ｙデジタイザ、１０３は　Ｘ軸モータ、１０４は　Ｙ軸
モータ、１０５は　顕微鏡、１０６は撮像装置、１０７
は　対物レンズ、１０８は　Ｘ軸筒２モータである。 代理人　弁理士（’８１Ｑ７）佐々木清隆（外３名）第
　　１　　図 １″′ た １０ＩＴＬｌイ（官灸取鴫表ｊ頂１ ４″□＊畔ｆ極＠　　　　　　　　５ＴＡＲＴ（輌）’
Ｌ／ ず５．慣巾塊１　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　ひび燻匝４レトロ６す３宴吟功■数　　　　　　
　　４°す（２００）−＃：の設定 拭課〒庸Ｖ嘗 ｊ　　　　　　　　　　　　　　　　　　／□１ぶ槽を
詰計 １００：、Ｘｆ−；＝　　　＠ｌ゛″゛予七毒獣

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）物体のひびわれを写した写真画像を複数の領域に
   分割し、該領域毎の写真画像を光電的に読み取って情報
   化し、この情報を解析してひびわれに関するデータを得
   、得られたデータを合成して該写真画像のひびわれに関
   するデータを作成するひびわれ写真画像の解析プロセス
   の画像読取方法において、予め拡大表示された写真画像
   からひびわれ画像が存在しない部分またはひびわれ画像
   が存在する部分を指定し、指定された部分の位置情報を
   コンピュータに入力し、該位置情報に基づいて指定され
   た前記ひびわれ画像が存在しない部分を除く部分に対応
   する写真上の領域または前記ひびわれ画像が存在する部
   分に対応する写真上の領域だけを読み取ることを特徴と
   する画像読取方法。
2. （２）該拡大表示された写真画像は　光学的に拡大して
   投影された画像であることを特徴とする請求項第１項に
   記載の画像読取方法。
3. （３）該拡大表示された写真画像は　電子的ディスプレ
   イ手段によって拡大して表示された画像であることを特
   徴とする請求項第１項に記載の画像読取方法。
4. （４）該拡大表示された写真画像はＸＹデジタイザ上に
   光学的に拡大して投影された画像であることを特徴とす
   る請求項第２項に記載の画像読取方法。