JPH0129563Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0129563Y2 JPH0129563Y2 JP17127083U JP17127083U JPH0129563Y2 JP H0129563 Y2 JPH0129563 Y2 JP H0129563Y2 JP 17127083 U JP17127083 U JP 17127083U JP 17127083 U JP17127083 U JP 17127083U JP H0129563 Y2 JPH0129563 Y2 JP H0129563Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- specimen
- trimming
- cutter
- angle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000009966 trimming Methods 0.000 claims description 7
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は電子顕微鏡及び顕微鏡用の検体試料を
超薄切片にするための各種形状にトリミング(整
形)する装置に関する。
超薄切片にするための各種形状にトリミング(整
形)する装置に関する。
従来、電子顕微鏡等各種顕微鏡用の検体を樹脂
で包埋した試料より超薄切片を得るために、試料
部位の切り出し、次いで試料を超薄切片にするた
めに切り易い形状にトリミングンして用いられて
いた。その方法として現今まで試料を糸ノコ、ヤ
スリ、カミソリ、手持グラインダー等を用いて手
作業で徐々に小さくして行き、各種の形状に加工
していた。この場合理想的な試料を得るまでに
は、多年の経験と技術を必要とし、研究者の大事
な時間をそのために割かざるを得ない他、大事な
試料に多量の無駄が生じると共に一般に理想的形
状を作り出すことは不可能な状態であつた。又、
カミソリ等鋭利な刃物で硬い試料を極小に加工す
るため手を切ることが多く絶えず危険性を伴つて
いた。
で包埋した試料より超薄切片を得るために、試料
部位の切り出し、次いで試料を超薄切片にするた
めに切り易い形状にトリミングンして用いられて
いた。その方法として現今まで試料を糸ノコ、ヤ
スリ、カミソリ、手持グラインダー等を用いて手
作業で徐々に小さくして行き、各種の形状に加工
していた。この場合理想的な試料を得るまでに
は、多年の経験と技術を必要とし、研究者の大事
な時間をそのために割かざるを得ない他、大事な
試料に多量の無駄が生じると共に一般に理想的形
状を作り出すことは不可能な状態であつた。又、
カミソリ等鋭利な刃物で硬い試料を極小に加工す
るため手を切ることが多く絶えず危険性を伴つて
いた。
機械加工方法として自動トリミング装置が製造
販売されているが高価であり、理想とする形状に
トリミングするまでには装置のセツトに時間が係
り過ぎる等の欠点を有している。
販売されているが高価であり、理想とする形状に
トリミングするまでには装置のセツトに時間が係
り過ぎる等の欠点を有している。
本考案は、前記の諸欠点に鑑みて創案されたも
のであつて極めて安価でかつ簡易な機構によつて
安定したトリミングを誰が行なつても容易に短時
間で作成することを可能となさしめた画期的な装
置を提供できるものである。
のであつて極めて安価でかつ簡易な機構によつて
安定したトリミングを誰が行なつても容易に短時
間で作成することを可能となさしめた画期的な装
置を提供できるものである。
以下図面に基づいて本考案の構成と効果を説明
する。
する。
基板とする台座1面上の片側辺へ、仰角角度を
自在に可変できる手段を以つて取り替え可能な刃
2を帯持せしめたカツター桿3を回動自在に係持
した支持具4と、これを回動保持する二股脚部5
を設け、支持具4を二股脚部5の脚間へ挿入して
係持せしめ、台座1他方片側面上へ半球面状に穿
設して、該箇所と合致する半球面状の底面を有し
た試料イを保持するチヤツク部6と、ヒーターを
内蔵したホルダー7を回動自在に載置せしめて本
考案を構成したものである。
自在に可変できる手段を以つて取り替え可能な刃
2を帯持せしめたカツター桿3を回動自在に係持
した支持具4と、これを回動保持する二股脚部5
を設け、支持具4を二股脚部5の脚間へ挿入して
係持せしめ、台座1他方片側面上へ半球面状に穿
設して、該箇所と合致する半球面状の底面を有し
た試料イを保持するチヤツク部6と、ヒーターを
内蔵したホルダー7を回動自在に載置せしめて本
考案を構成したものである。
以上の様に構成した本考案は図示の如く、極め
て簡易な構成であるため廉価にて供する有利性を
有し、加えて故障等によるトラブル等も極減でき
る特性をも併有するものである。
て簡易な構成であるため廉価にて供する有利性を
有し、加えて故障等によるトラブル等も極減でき
る特性をも併有するものである。
次いで、使用方法について説明する。
本装置は簡易な機構であり、かつ常に確実な安
定性を誇れるものである。先づチヤツク部6に固
定した検体試料イを、どの様なトリミングを行な
うかによつてカツター支持具4の角度を回動によ
つて位置決めを行なうか、又は試料ホルダー7を
底部に設けた球面体を利して、揺動しながら微調
整を行ない、内蔵するヒーターで試料片イを暖め
乍らカツター桿3を押し下げて切削する。
定性を誇れるものである。先づチヤツク部6に固
定した検体試料イを、どの様なトリミングを行な
うかによつてカツター支持具4の角度を回動によ
つて位置決めを行なうか、又は試料ホルダー7を
底部に設けた球面体を利して、揺動しながら微調
整を行ない、内蔵するヒーターで試料片イを暖め
乍らカツター桿3を押し下げて切削する。
上記の如く、カツター桿3の角度の可変が行
え、加えて試料ホルダー7の角度の可変も自在に
行なえる本考案は前記の特性と相俟つて実用上極
めて顕著な効果を奏するものである。
え、加えて試料ホルダー7の角度の可変も自在に
行なえる本考案は前記の特性と相俟つて実用上極
めて顕著な効果を奏するものである。
図面は本考案の顕微鏡用試料トリミング装置の
斜視図である。 イ…試料、1…台座、2…取替自在な刃、3…
カツター桿、4…支持具、5…二股脚部、6…チ
ヤツク部、7…試料ホルダー。
斜視図である。 イ…試料、1…台座、2…取替自在な刃、3…
カツター桿、4…支持具、5…二股脚部、6…チ
ヤツク部、7…試料ホルダー。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 検体試料を簡易にトリミングを行なうカツター
であつて、 基板とする台座面上の片側辺へ仰角角度を自在
に可変できる手段を以つて、取替可能な刃を帯持
せしめたカツター桿を回動自在に係持した支持具
と、二股脚部を設け、前記支持具を二股脚部へ挿
着して形成すると共に、台座の他方片側辺上を半
球面状に穿設して該箇所と合致する半球状の底面
を有した試料を保持するチヤツク部とヒーターを
内蔵して成るホルダーを回動自在に載置せしめて
構成することにより、試料片のどの角度において
も超薄切片用試料のトリミングを簡易に行え任意
の試料面を作成できることを特徴とする顕微鏡用
試料トリミング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17127083U JPS6079137U (ja) | 1983-11-07 | 1983-11-07 | 顕微鏡用試料トリミング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17127083U JPS6079137U (ja) | 1983-11-07 | 1983-11-07 | 顕微鏡用試料トリミング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6079137U JPS6079137U (ja) | 1985-06-01 |
| JPH0129563Y2 true JPH0129563Y2 (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=30373657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17127083U Granted JPS6079137U (ja) | 1983-11-07 | 1983-11-07 | 顕微鏡用試料トリミング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6079137U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006054609B4 (de) * | 2006-11-17 | 2015-05-07 | Leica Mikrosysteme Gmbh | Vorrichtung zum Bearbeiten von Proben |
-
1983
- 1983-11-07 JP JP17127083U patent/JPS6079137U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6079137U (ja) | 1985-06-01 |
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