JPH0130116B2 - - Google Patents
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- JPH0130116B2 JPH0130116B2 JP56048022A JP4802281A JPH0130116B2 JP H0130116 B2 JPH0130116 B2 JP H0130116B2 JP 56048022 A JP56048022 A JP 56048022A JP 4802281 A JP4802281 A JP 4802281A JP H0130116 B2 JPH0130116 B2 JP H0130116B2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J47/00—Tubes for determining the presence, intensity, density or energy of radiation or particles
- H01J47/02—Ionisation chambers
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、いわゆるコンピユータ・トモグラフ
イ装置に用いるのに最適な放射線検出器に関する
ものである。
イ装置に用いるのに最適な放射線検出器に関する
ものである。
Ｘ線等を用いた横断面検査装置として知られる
いわゆるコンピユータ・トモグラフイ
（Computerized tomography：CT）装置は、例
えば第１図ａ，ｂのように偏平な扇状のフアンビ
ームＸ線Fxを曝射するＸ線源１と、このＸ線を
検出する複数のＸ線検出素子を並設してなるＸ線
検出器２とを被検体Ｐを挾んで対峙させ、且つこ
れらＸ線源１およびＸ線検出器２を前記被検体Ｐ
を中心に互いに同方向に同一角速度で回転移動さ
せて、被検体断面上の種々の方向についてのＸ線
投影データを収集し、そして充分なデータを収集
した後、このデータを電子計算器で解析し被検体
断面の個々の位置に対応するＸ線吸収率を算出し
て、その吸収率に応じた階調度を与えて前記被検
体断面図における画像情報を再構成するようにし
たものであり、軟質組織から硬質組織にいたるま
で明確な断層像が得られる。
いわゆるコンピユータ・トモグラフイ
（Computerized tomography：CT）装置は、例
えば第１図ａ，ｂのように偏平な扇状のフアンビ
ームＸ線Fxを曝射するＸ線源１と、このＸ線を
検出する複数のＸ線検出素子を並設してなるＸ線
検出器２とを被検体Ｐを挾んで対峙させ、且つこ
れらＸ線源１およびＸ線検出器２を前記被検体Ｐ
を中心に互いに同方向に同一角速度で回転移動さ
せて、被検体断面上の種々の方向についてのＸ線
投影データを収集し、そして充分なデータを収集
した後、このデータを電子計算器で解析し被検体
断面の個々の位置に対応するＸ線吸収率を算出し
て、その吸収率に応じた階調度を与えて前記被検
体断面図における画像情報を再構成するようにし
たものであり、軟質組織から硬質組織にいたるま
で明確な断層像が得られる。
前記Ｘ線検出器２は例えば、それぞれ電離箱を
構成する多数の放射線検出セルからなりXe（キセ
ノン）等の高圧ガスが封入された放射線検出器と
して構成され、被検体Ｐの断面を透過したＸ線の
エネルギを電離電流として検出し、これをＸ線投
影による検出データとして出力する。
構成する多数の放射線検出セルからなりXe（キセ
ノン）等の高圧ガスが封入された放射線検出器と
して構成され、被検体Ｐの断面を透過したＸ線の
エネルギを電離電流として検出し、これをＸ線投
影による検出データとして出力する。
即ち、このＸ線投影データの収集にあたつては
電離箱を構成する各放射線検出セルとＸ線源１を
結ぶ経路（これを「Ｘ線パス」と称する）上を透
過して入射してＸ線のエネルギを電離電流として
検出してこれを所定の時間積分し、その積分値を
所定の時定数の放電回路にて放電してその放電時
間値を各Ｘ線パスについてのＸ線投影データとす
るものである。一つの角度位置におけるすべての
Ｘ線パスに対するデータ収集が終ると、次の角度
位置における各Ｘ線パスのデータ収集に移つてゆ
くが、この間に前回のＸ線投影による電離電流や
積分値の放電等が完全に消滅、終了していなけれ
ば次のデータ収集に誤差となつてあらわれてく
る。再構成画像の分解能はＸ線検出器１の感度、
分解能で決定されるため、優れたCT画像情報を
得るには早い回復時間、高感度、高分解能を有す
る放射線検出器を使用しなければならない。
電離箱を構成する各放射線検出セルとＸ線源１を
結ぶ経路（これを「Ｘ線パス」と称する）上を透
過して入射してＸ線のエネルギを電離電流として
検出してこれを所定の時間積分し、その積分値を
所定の時定数の放電回路にて放電してその放電時
間値を各Ｘ線パスについてのＸ線投影データとす
るものである。一つの角度位置におけるすべての
Ｘ線パスに対するデータ収集が終ると、次の角度
位置における各Ｘ線パスのデータ収集に移つてゆ
くが、この間に前回のＸ線投影による電離電流や
積分値の放電等が完全に消滅、終了していなけれ
ば次のデータ収集に誤差となつてあらわれてく
る。再構成画像の分解能はＸ線検出器１の感度、
分解能で決定されるため、優れたCT画像情報を
得るには早い回復時間、高感度、高分解能を有す
る放射線検出器を使用しなければならない。
第２図に、従来用いられている放射線検出器の
一例を示す。同図において、３は電極群を内蔵す
る容器本体、４はこの容器本体３の開口部を閉塞
する蓋である。これら容器本体３および蓋４は内
部に充填される高圧ガス（例えばXeガス）に対
して充分な強度および気密を保持できるようにし
てある。この放射線検出器はフアンビームＸ線
Fxの拡がり角θに対応して、その入射側側壁３
ａの一部３ｂを他の部分より薄くして充分にＸ線
エネルギが内部の電極群に到達するようにしてあ
る。第３図は第２図に示すＡ−A′線を矢印方向
に移動させた面に沿う断面を示すものであり、電
極群を配置し電離箱を構成するための空洞部３ｃ
があることがわかる。
一例を示す。同図において、３は電極群を内蔵す
る容器本体、４はこの容器本体３の開口部を閉塞
する蓋である。これら容器本体３および蓋４は内
部に充填される高圧ガス（例えばXeガス）に対
して充分な強度および気密を保持できるようにし
てある。この放射線検出器はフアンビームＸ線
Fxの拡がり角θに対応して、その入射側側壁３
ａの一部３ｂを他の部分より薄くして充分にＸ線
エネルギが内部の電極群に到達するようにしてあ
る。第３図は第２図に示すＡ−A′線を矢印方向
に移動させた面に沿う断面を示すものであり、電
極群を配置し電離箱を構成するための空洞部３ｃ
があることがわかる。
第４図は電極板５，６を所定のピツチに配置す
るための溝が設けられた電極支持板７に電極板
５，６を挿入配置した状態を示す図であり、５が
信号検出用の信号電極板、６が高圧用のバイアス
電極板である。８はバイアス電極板６に高圧を印
加するためのリード線であり、９は信号電極板５
から信号電流を外部に取り出すためのリード線で
ある。これらは信号電力板５とこれに隣接する２
枚のバイアス電極板６で一組の放射線検出セルを
構成している。
るための溝が設けられた電極支持板７に電極板
５，６を挿入配置した状態を示す図であり、５が
信号検出用の信号電極板、６が高圧用のバイアス
電極板である。８はバイアス電極板６に高圧を印
加するためのリード線であり、９は信号電極板５
から信号電流を外部に取り出すためのリード線で
ある。これらは信号電力板５とこれに隣接する２
枚のバイアス電極板６で一組の放射線検出セルを
構成している。
第５図は、第４図に示された電極板５，６を容
器本体３内に配置したときの第２図に示すＢ−
B′線を矢印方向に移動させた面に沿う断面を示
すもので容器本体３の内部に電極板５，６が交互
に配置されているのがわかる。
器本体３内に配置したときの第２図に示すＢ−
B′線を矢印方向に移動させた面に沿う断面を示
すもので容器本体３の内部に電極板５，６が交互
に配置されているのがわかる。
ところで、優れたCT画像を得るためにはＸ線
源と放射線検出器とが決められた位置に正確に配
置されていなければならない。即ち、Ｘ線源のフ
アンビームの拡がり範囲をカバーするように放射
線検出器が配されており、各Ｘ線パスの放射線を
検出できるよう放射線検出セルは扇の中心から放
射状に引いた線に平行に配設されていなければな
らない。一般に放射線検出器の各検出セルは予め
前記中心に開口方向が向くように作られているか
ら、この中心をＸ線源の焦点に一致させれば良い
わけであるが、もしこの位置決めに誤差がある場
合は、放射線検出セルの入射方向とＸ線パスとが
ずれを生ずることになり、本来検出できなければ
ならないものが正確に検出できないこととなるの
で再構成時に位置情報への誤差のため線状の虚像
であるアーチフアクトを生じてしまう。従つて
CT装置を使用する際には、Ｘ線源と検出器を含
むＸ線光学系のアライメントを正確に行なう必要
があるが、肝心のアライメントズレ量を正確に測
定する良い方法が無く、勘と経験とに頼る作業と
なつて調整は非常に難しく、多くの時間を費やし
た。
源と放射線検出器とが決められた位置に正確に配
置されていなければならない。即ち、Ｘ線源のフ
アンビームの拡がり範囲をカバーするように放射
線検出器が配されており、各Ｘ線パスの放射線を
検出できるよう放射線検出セルは扇の中心から放
射状に引いた線に平行に配設されていなければな
らない。一般に放射線検出器の各検出セルは予め
前記中心に開口方向が向くように作られているか
ら、この中心をＸ線源の焦点に一致させれば良い
わけであるが、もしこの位置決めに誤差がある場
合は、放射線検出セルの入射方向とＸ線パスとが
ずれを生ずることになり、本来検出できなければ
ならないものが正確に検出できないこととなるの
で再構成時に位置情報への誤差のため線状の虚像
であるアーチフアクトを生じてしまう。従つて
CT装置を使用する際には、Ｘ線源と検出器を含
むＸ線光学系のアライメントを正確に行なう必要
があるが、肝心のアライメントズレ量を正確に測
定する良い方法が無く、勘と経験とに頼る作業と
なつて調整は非常に難しく、多くの時間を費やし
た。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであ
り、放射線検出器内部に電極板から放出される二
次電子の放出能が材質により異なる性質を利用し
て、Ｘ線光学のアライメントズレ量を測定できる
電極群を組み込むことにより定量的な調整を可能
とし、アライメントズレ量の正確な調整を行なう
ことができるようにした放射線検出器を提供する
ことを目的とする。
り、放射線検出器内部に電極板から放出される二
次電子の放出能が材質により異なる性質を利用し
て、Ｘ線光学のアライメントズレ量を測定できる
電極群を組み込むことにより定量的な調整を可能
とし、アライメントズレ量の正確な調整を行なう
ことができるようにした放射線検出器を提供する
ことを目的とする。
以下、本発明の一実施例について図面を参照
し、具体的に説明する。第６図は入射放射線エネ
ルギに対する二次電子放出能の関係の一例をアル
ミニウムAl、銅Cu、金Auについて示したもので
ある。この図より二次電子放出能は材質により異
なり、原子番号の大きい元素からなる材料程大き
いことが分かる。従つて、材質の違いによる二次
電子放出能の違いを利用すればＸ線光学系のアラ
イメントズレ量を測定することが可能であり、こ
の原理を利用してアライメントズレ量を測定する
ための電極群を示したものが第７図である。５
ａ，５ｂは信号検出用の信号電極板、６ａ，６ｂ
が高圧用のバイアス電極板であり、８はバイアス
電極板６に高圧を印加するためのリード線であ
る。また、９ａは信号電極板５ａの、また９ｂは
信号電極板５ｂの信号をそれぞれまとめて取り出
すためのリード線である。また、７は前述同様の
電極支持のための支持板であり、前記電極板５
ａ，５ｂ，６ａ，６ｂは所定の間隔をもつてこの
支持板７に挿入支持されている。バイアス電極板
６ａは隣接検出素子からのクロストークを極少に
するため原子番号の大きい、例えばモリブデン、
タングステン、タンタル等の材質からなるもので
あり、またバイアス電極板６ｂは、このバイアス
電極板６ａの両面に更にそれより原子番号が小さ
い元素からなる金属例えばアルミニウム、ニツケ
ル、銅などを、例えば蒸着、或いはメツキ等によ
り被覆した多層構造のバイアス電極板であり、Ｃ
はその被覆層を示している。したがつて、バイア
ス電極６ｂの両面は原子番号の小さい金属で被覆
しているので、第６図より明らかなように二次電
子放出能が小さいものとなる。信号電極５ａはバ
イアス電極６ａと同じ材質の電極板に、バイアス
電極６ｂと同様にバイアス電極６ａを構成してい
る材質の原子番号よりも小さい材質を片側だけに
被覆したものである。したがつて、信号電極５ｂ
の片側は原子番号の小さい金属で被覆しているの
で、第６図より明らかなように二次電子放出能が
小さいものとなる。信号電極５ｂは信号電極５ａ
と被覆面を逆にした構造の電極板である。これら
電極板は隣接する電極板の非被覆面が対向するこ
とのないよう６ａ，５ａ，６ｂ，５ｂの順で連続
して配設してあり、放射線検出セル群としては、
バイアス電極６ａ，６ｂと信号電極５ａで一検出
セル、バイアス電極６ｂ，６ａ、と信号電極５ｂ
で一検出セル、以下同様の組み合わせで複数個の
検出セル群を形成しており、各検出セルは１つお
きに信号取り出し用リード９ａ，９ｂにそれぞれ
結合してある。
し、具体的に説明する。第６図は入射放射線エネ
ルギに対する二次電子放出能の関係の一例をアル
ミニウムAl、銅Cu、金Auについて示したもので
ある。この図より二次電子放出能は材質により異
なり、原子番号の大きい元素からなる材料程大き
いことが分かる。従つて、材質の違いによる二次
電子放出能の違いを利用すればＸ線光学系のアラ
イメントズレ量を測定することが可能であり、こ
の原理を利用してアライメントズレ量を測定する
ための電極群を示したものが第７図である。５
ａ，５ｂは信号検出用の信号電極板、６ａ，６ｂ
が高圧用のバイアス電極板であり、８はバイアス
電極板６に高圧を印加するためのリード線であ
る。また、９ａは信号電極板５ａの、また９ｂは
信号電極板５ｂの信号をそれぞれまとめて取り出
すためのリード線である。また、７は前述同様の
電極支持のための支持板であり、前記電極板５
ａ，５ｂ，６ａ，６ｂは所定の間隔をもつてこの
支持板７に挿入支持されている。バイアス電極板
６ａは隣接検出素子からのクロストークを極少に
するため原子番号の大きい、例えばモリブデン、
タングステン、タンタル等の材質からなるもので
あり、またバイアス電極板６ｂは、このバイアス
電極板６ａの両面に更にそれより原子番号が小さ
い元素からなる金属例えばアルミニウム、ニツケ
ル、銅などを、例えば蒸着、或いはメツキ等によ
り被覆した多層構造のバイアス電極板であり、Ｃ
はその被覆層を示している。したがつて、バイア
ス電極６ｂの両面は原子番号の小さい金属で被覆
しているので、第６図より明らかなように二次電
子放出能が小さいものとなる。信号電極５ａはバ
イアス電極６ａと同じ材質の電極板に、バイアス
電極６ｂと同様にバイアス電極６ａを構成してい
る材質の原子番号よりも小さい材質を片側だけに
被覆したものである。したがつて、信号電極５ｂ
の片側は原子番号の小さい金属で被覆しているの
で、第６図より明らかなように二次電子放出能が
小さいものとなる。信号電極５ｂは信号電極５ａ
と被覆面を逆にした構造の電極板である。これら
電極板は隣接する電極板の非被覆面が対向するこ
とのないよう６ａ，５ａ，６ｂ，５ｂの順で連続
して配設してあり、放射線検出セル群としては、
バイアス電極６ａ，６ｂと信号電極５ａで一検出
セル、バイアス電極６ｂ，６ａ、と信号電極５ｂ
で一検出セル、以下同様の組み合わせで複数個の
検出セル群を形成しており、各検出セルは１つお
きに信号取り出し用リード９ａ，９ｂにそれぞれ
結合してある。
第８図は第７図に示した位置偏位検出器を構成
する電極群を組み込んだ放射線検出器のＸ線ビー
ム放射方向断面及びＸ線源１との関係を示すもの
で、容器本体３の内部両端部分の領域には第７図
に示す何組かのアライメントズレ量を計測するた
めの位置偏位検出器となる電極群Ｍを設けてい
る。この両電極群Ｍの配設領域以外の領域は通常
の信号電極及びにバイアス電極が交互に配設され
ており、該領域の部分は放射線吸収データの収集
用検出セルとして用いる。
する電極群を組み込んだ放射線検出器のＸ線ビー
ム放射方向断面及びＸ線源１との関係を示すもの
で、容器本体３の内部両端部分の領域には第７図
に示す何組かのアライメントズレ量を計測するた
めの位置偏位検出器となる電極群Ｍを設けてい
る。この両電極群Ｍの配設領域以外の領域は通常
の信号電極及びにバイアス電極が交互に配設され
ており、該領域の部分は放射線吸収データの収集
用検出セルとして用いる。
第９図は、Ｘ線源との位置ずれにより電極群Ｍ
に対して放射線XRが電極板と角αをなす方向か
ら入射する状態を示した図である。本装置におい
ては隣接する電極板はその非被覆面が対向しない
ように配設してある。即ち、このことは第９図か
らもわかるように６ａ，５ａ，６ｂ，５ｂの各電
極から見ると斜め前方より同一強さの放射線XR
の入射を考えた場合、検出条件がそれぞれ異なる
ことを意味する。即ち、信号取り出しリード９
ａ，９ｂより測定される出力電流Ia，Ibにはそれ
ぞれ入射放射線によつて電極板間に存在する高圧
ガスが電離されることにより生ずる電離電流I゜a
（α）、I゜b（α）とバイアス電極板６a1，６a2、信
号電極板５a1，５a2（但し、各符号における添え
字１、２は異なる組の電極板であることを示す）
に放射線が当たることにより生ずる二次電子によ
る電流Ia′（α）、Ib′（α）が含まれており、信
号電極板５ａと５ｂとでは二次電子による電流の
入力条件が異なつてこの分、検出条件が異なる。
ここでもう少し詳しく説明すると電流I゜a（α）、
I゜b（α）については、検出セルの有効体積により
変化する電流成分であり、各検出セルの有効体積
はほぼ等しく、複数個の検出セル出力をまとめて
取り出しているため、各セル個々のバラツキは平
均化される傾向にあつて結局、 I°a（α）＝I°b（α） ……(1) が成り立ち、尚入射角αに対してはαが小さい
領域ではほぼαに比例して電流I゜a（α）は減少す
る。
に対して放射線XRが電極板と角αをなす方向か
ら入射する状態を示した図である。本装置におい
ては隣接する電極板はその非被覆面が対向しない
ように配設してある。即ち、このことは第９図か
らもわかるように６ａ，５ａ，６ｂ，５ｂの各電
極から見ると斜め前方より同一強さの放射線XR
の入射を考えた場合、検出条件がそれぞれ異なる
ことを意味する。即ち、信号取り出しリード９
ａ，９ｂより測定される出力電流Ia，Ibにはそれ
ぞれ入射放射線によつて電極板間に存在する高圧
ガスが電離されることにより生ずる電離電流I゜a
（α）、I゜b（α）とバイアス電極板６a1，６a2、信
号電極板５a1，５a2（但し、各符号における添え
字１、２は異なる組の電極板であることを示す）
に放射線が当たることにより生ずる二次電子によ
る電流Ia′（α）、Ib′（α）が含まれており、信
号電極板５ａと５ｂとでは二次電子による電流の
入力条件が異なつてこの分、検出条件が異なる。
ここでもう少し詳しく説明すると電流I゜a（α）、
I゜b（α）については、検出セルの有効体積により
変化する電流成分であり、各検出セルの有効体積
はほぼ等しく、複数個の検出セル出力をまとめて
取り出しているため、各セル個々のバラツキは平
均化される傾向にあつて結局、 I°a（α）＝I°b（α） ……(1) が成り立ち、尚入射角αに対してはαが小さい
領域ではほぼαに比例して電流I゜a（α）は減少す
る。
又、電流成分Ia′（α）、Ib′（α）については、
電極板からの二次電子放出能の差が現われ、例え
ば電流成分Ia′（α）はIb′（α）より二次電子放
出能の大きい電極による電流成分であるので Ia′（α）＞Ib′（α） ……(2) の関係が成り立つ。二次電子数は電極板に入射
する放射線量に比例すると考えられ、入射角αが
大きい程大きくなり、角αが小さい領域では、 Ia′（α）∝、Ib′（α）∝α ……(3) が成り立つ。又、電流成分Ia′（０）、Ib′（０）
は電流成分I゜a（０）よりも小さいので最終的には
第１０図に示すように出力電流Ia，Ibと入射角α
の関係は入射角αが大きくなるにつれてIa，Ibが
減少するが、Ibの減少の仕方がIaの減少より激し
くなる。従つて出力電流の比Ｒは、 Ｒ＝Ia／Ib ……(4) となり、第４式を考えると、Ｒとαの関係は第１
１図に示すように α＝０ のとき Ｒ＝１ になる。つまり入射角αと比Ｒとの関係によ
り、電流測定結果より求めた比Ｒから入射角αを
求めることが可能である。
電極板からの二次電子放出能の差が現われ、例え
ば電流成分Ia′（α）はIb′（α）より二次電子放
出能の大きい電極による電流成分であるので Ia′（α）＞Ib′（α） ……(2) の関係が成り立つ。二次電子数は電極板に入射
する放射線量に比例すると考えられ、入射角αが
大きい程大きくなり、角αが小さい領域では、 Ia′（α）∝、Ib′（α）∝α ……(3) が成り立つ。又、電流成分Ia′（０）、Ib′（０）
は電流成分I゜a（０）よりも小さいので最終的には
第１０図に示すように出力電流Ia，Ibと入射角α
の関係は入射角αが大きくなるにつれてIa，Ibが
減少するが、Ibの減少の仕方がIaの減少より激し
くなる。従つて出力電流の比Ｒは、 Ｒ＝Ia／Ib ……(4) となり、第４式を考えると、Ｒとαの関係は第１
１図に示すように α＝０ のとき Ｒ＝１ になる。つまり入射角αと比Ｒとの関係によ
り、電流測定結果より求めた比Ｒから入射角αを
求めることが可能である。
従つて放射線検出器の左右に組み込まれている
アライメントズレ量検出用の電極群Ｍでの検出出
力のうち、左側の電極群Ｍにより求めたアライメ
ントズレ角α1と、右側の電極群Ｍにより求めたア
ライメントズレ角α2を利用することによりＸ線源
の正位置からのズレ位置（ｘ、ｙ）を求めること
ができる。検出器は一般に位置決めピンで止めら
れているのでＸ線光学系でのアライメントズレは
Ｘ線源に起因することが大である。
アライメントズレ量検出用の電極群Ｍでの検出出
力のうち、左側の電極群Ｍにより求めたアライメ
ントズレ角α1と、右側の電極群Ｍにより求めたア
ライメントズレ角α2を利用することによりＸ線源
の正位置からのズレ位置（ｘ、ｙ）を求めること
ができる。検出器は一般に位置決めピンで止めら
れているのでＸ線光学系でのアライメントズレは
Ｘ線源に起因することが大である。
従つて、求めたズレ位置を正位置になるように
Ｘ線源の位置を調整すればアライメントが合うこ
とになる。
Ｘ線源の位置を調整すればアライメントが合うこ
とになる。
第１２図は、材質の違いによる二次電子放出能
の違いを利用したＸ線光学系のアライメントズレ
量を測定できる電極群を組みこんだ位置偏位検出
器１０を具備した放射線検出器の他の実施例を示
す斜視図である。この放射線検出器は電離箱型も
しくは比例計数型の従来と同様の構成の多チヤン
ネル形放射線検出器３とこの放射線検出器３の両
端部入射面位置に二次電子放出能の材質による違
いを利用した、第７図のものとほぼ同様の電極板
構成を持つＸ線光学系のアライメントズレ量を測
定するための電極群から構成された単独の位置偏
位検出器１０をそれぞれ設けて構成したものであ
る。
の違いを利用したＸ線光学系のアライメントズレ
量を測定できる電極群を組みこんだ位置偏位検出
器１０を具備した放射線検出器の他の実施例を示
す斜視図である。この放射線検出器は電離箱型も
しくは比例計数型の従来と同様の構成の多チヤン
ネル形放射線検出器３とこの放射線検出器３の両
端部入射面位置に二次電子放出能の材質による違
いを利用した、第７図のものとほぼ同様の電極板
構成を持つＸ線光学系のアライメントズレ量を測
定するための電極群から構成された単独の位置偏
位検出器１０をそれぞれ設けて構成したものであ
る。
第１３図は第１２図Ｃ−Ｃ矢示断面図であり位
置偏位検出器１０は中空の箱状となつていてその
空洞部１０ｃにアライメントズレ量測定用電極群
Ｍが、配置されている。この電極群Ｍの検出方向
は放射線検出器３の検出方向と一致させてあり、
この電極群Ｍにより前述の原理によつて放射線検
出器とＸ線管との光学系アライメントのズレ量を
測定することが可能である。
置偏位検出器１０は中空の箱状となつていてその
空洞部１０ｃにアライメントズレ量測定用電極群
Ｍが、配置されている。この電極群Ｍの検出方向
は放射線検出器３の検出方向と一致させてあり、
この電極群Ｍにより前述の原理によつて放射線検
出器とＸ線管との光学系アライメントのズレ量を
測定することが可能である。
以上詳述した本発明によれば電極材質の違いに
よる二次電子放出能の違いを利用した電極群を具
備することによつて、Ｘ線系光学系のアライメン
トのズレ量を定量的に測定することが可能である
放射線検出器を提供することができる。
よる二次電子放出能の違いを利用した電極群を具
備することによつて、Ｘ線系光学系のアライメン
トのズレ量を定量的に測定することが可能である
放射線検出器を提供することができる。
以上詳述したように本発明は、高圧印加用のバ
イアス電極と信号検出用の信号電極とを交互に並
設し、各電極間に放射線を受けて電離する気体を
密封してなる放射線検出器において、３つのバイ
アス電極とこれらにそれぞれ挟まれる２つの信号
電極とからなり、前記３つのバイアス電極のうち
中央に位置する電極でこれを挟む２つの信号電極
に対向している面と、前記２つの信号電極でそれ
ぞれ前記３つのバイアス電極のうち両端の電極に
対向している面とに、これらの電極より小さい原
子番号を有する材料を付設した電極群を具備した
ので、放射線検出器と放射線源との位置関係がず
れている場合にはこの位置偏位量検出器の出力に
てずれ量を知ることができるから、正確な位置決
めを定量的に行なうことができ、誰でも正確な位
置決めができるようになるなど優れた特徴を有す
る放射線検出器を提供することができる。
イアス電極と信号検出用の信号電極とを交互に並
設し、各電極間に放射線を受けて電離する気体を
密封してなる放射線検出器において、３つのバイ
アス電極とこれらにそれぞれ挟まれる２つの信号
電極とからなり、前記３つのバイアス電極のうち
中央に位置する電極でこれを挟む２つの信号電極
に対向している面と、前記２つの信号電極でそれ
ぞれ前記３つのバイアス電極のうち両端の電極に
対向している面とに、これらの電極より小さい原
子番号を有する材料を付設した電極群を具備した
ので、放射線検出器と放射線源との位置関係がず
れている場合にはこの位置偏位量検出器の出力に
てずれ量を知ることができるから、正確な位置決
めを定量的に行なうことができ、誰でも正確な位
置決めができるようになるなど優れた特徴を有す
る放射線検出器を提供することができる。
第１図ａ，ｂはCT装置の一例を説明するため
の原理図、第２図乃至第５図は従来の放射線検出
器の一例を説明するための図、第６図は放射線エ
ネルギと材質の放出能の関係を説明するための
図、第７図、第８図は本発明装置の一例を説明す
るための図、第９図はＸ線源との位置ずれにより
電極群Ｍに対して放射線XRが電極板と角αをな
す方向から入射する状態を示す図、第１０図乃至
第１１図は本発明の原理を説明するための図、第
１２図乃至第１３図は本発明の他の実施例を示す
図である。 １……Ｘ線源、２……Ｘ線検出器、３……容器
本体、４……蓋、５，６……電極板、７……電極
支持板、８……高圧用リード線、９……信号用リ
ード線、Ｃ……二次電子放出能の小さい材質によ
る層、９ａ，９ｂ……信号取り出し用リード。
の原理図、第２図乃至第５図は従来の放射線検出
器の一例を説明するための図、第６図は放射線エ
ネルギと材質の放出能の関係を説明するための
図、第７図、第８図は本発明装置の一例を説明す
るための図、第９図はＸ線源との位置ずれにより
電極群Ｍに対して放射線XRが電極板と角αをな
す方向から入射する状態を示す図、第１０図乃至
第１１図は本発明の原理を説明するための図、第
１２図乃至第１３図は本発明の他の実施例を示す
図である。 １……Ｘ線源、２……Ｘ線検出器、３……容器
本体、４……蓋、５，６……電極板、７……電極
支持板、８……高圧用リード線、９……信号用リ
ード線、Ｃ……二次電子放出能の小さい材質によ
る層、９ａ，９ｂ……信号取り出し用リード。
Claims (1)
- １ 高圧印加用のバイアス電極と信号検出用の信
号電極とを交互に並設し、各電極間に放射線を受
けて電離する気体を密封してなる放射線検出器に
おいて、３つのバイアス電極とこれらにそれぞれ
挟まれる２つの信号電極とからなり、前記３つの
バイアス電極のうち中央に位置する電極でこれを
挟む２つの信号電極に対向している面と、前記２
つの信号電極でそれぞれ前記３つのバイアス電極
のうち両端の電極に対向している面とに、これら
の電極より小さい原子番号を有する材料を付設し
た電極群を具備したことを特徴とする放射線検出
器。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56048022A JPS57161677A (en) | 1981-03-31 | 1981-03-31 | Radiation detector |
| NL8201262A NL191032C (nl) | 1981-03-31 | 1982-03-26 | Stralingsdetector. |
| US06/363,384 US4476390A (en) | 1981-03-31 | 1982-03-29 | Radiation detector having radiation source position detecting means |
| DE3211956A DE3211956C2 (de) | 1981-03-31 | 1982-03-31 | Strahlungsdetektoranordnung |
| FR8205579A FR2503381B1 (fr) | 1981-03-31 | 1982-03-31 | Detecteur de rayonnement |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56048022A JPS57161677A (en) | 1981-03-31 | 1981-03-31 | Radiation detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57161677A JPS57161677A (en) | 1982-10-05 |
| JPH0130116B2 true JPH0130116B2 (ja) | 1989-06-16 |
Family
ID=12791681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56048022A Granted JPS57161677A (en) | 1981-03-31 | 1981-03-31 | Radiation detector |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4476390A (ja) |
| JP (1) | JPS57161677A (ja) |
| DE (1) | DE3211956C2 (ja) |
| FR (1) | FR2503381B1 (ja) |
| NL (1) | NL191032C (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58168980A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-05 | Toshiba Corp | 放射線検出器 |
| FR2574989B1 (fr) * | 1984-12-14 | 1987-01-09 | Thomson Cgr | Procede de fabrication d'un multidetecteur a chambres d'ionisation et multidetecteur obtenu par ce procede |
| FR2591036A1 (fr) * | 1985-12-04 | 1987-06-05 | Balteau | Dispositif de detection et de localisation de particules neutres, et applications |
| FR2595276A1 (fr) * | 1986-03-05 | 1987-09-11 | Thomson Cgr | Procede de fabrication de pieces metalliques planes a tolerances serrees de planeite, telles que des electrodes pour multidetecteurs de rayons x |
| DE3901837A1 (de) * | 1989-01-23 | 1990-07-26 | H J Dr Besch | Bildgebender strahlendetektor mit pulsintegration |
| FR2790100B1 (fr) * | 1999-02-24 | 2001-04-13 | Commissariat Energie Atomique | Detecteur bidimensionnel de rayonnements ionisants et procede de fabrication de ce detecteur |
| CA2450229C (en) * | 2001-06-18 | 2008-09-16 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Radiation detector with converters |
| JP5683113B2 (ja) * | 2010-01-26 | 2015-03-11 | 株式会社日立製作所 | 放射線計測装置及び放射線計測装置の放射線計測方法 |
Family Cites Families (30)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1209594A (fr) * | 1958-08-19 | 1960-03-02 | Commissariat Energie Atomique | Nouveau dispositif pour repérer la position d'une source radioactive |
| US3723740A (en) * | 1971-04-29 | 1973-03-27 | Us Air Force | Directionally sensitive radiation detector system using ionization chambers |
| JPS522186A (en) * | 1974-11-29 | 1977-01-08 | Univ Leland Stanford Junior | Device for detecting and stopping divergent transmissive radiation and threeedimensional sectional camera device |
| US4031396A (en) * | 1975-02-28 | 1977-06-21 | General Electric Company | X-ray detector |
| FR2314699A1 (fr) * | 1975-06-19 | 1977-01-14 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif d'analyse pour tomographie a rayons x par transmission |
| US4051379A (en) * | 1975-11-28 | 1977-09-27 | Artronix, Inc. | Axial tomographic apparatus and detector |
| US4123657A (en) * | 1975-11-28 | 1978-10-31 | Artronix Inc. | X-ray detector |
| US4093859A (en) * | 1975-11-28 | 1978-06-06 | Artronix, Inc. | Axial tomographic apparatus |
| US4376893A (en) * | 1976-04-12 | 1983-03-15 | General Electric Company | Ion chamber array with reduced dead space |
| US4047041A (en) * | 1976-04-19 | 1977-09-06 | General Electric Company | X-ray detector array |
| US4047040A (en) * | 1976-05-06 | 1977-09-06 | General Electric Company | Gridded ionization chamber |
| US4047039A (en) * | 1976-06-03 | 1977-09-06 | General Electric Company | Two-dimensional x-ray detector array |
| US4275305A (en) * | 1976-09-13 | 1981-06-23 | General Electric Company | Tomographic scanning apparatus with ionization detector means |
| US4217498A (en) * | 1976-09-13 | 1980-08-12 | General Electric Company | Tomographic scanning apparatus with ionization detector means |
| US4217499A (en) * | 1976-09-13 | 1980-08-12 | General Electric Company | Tomographic scanning apparatus with ionization detector means |
| US4075527A (en) * | 1976-09-27 | 1978-02-21 | General Electric Company | X-ray detector |
| JPS5365774A (en) * | 1976-11-25 | 1978-06-12 | Toshiba Corp | Radiant ray detector |
| US4119853A (en) * | 1977-06-09 | 1978-10-10 | General Electric Company | Multicell X-ray detector |
| JPS5823705B2 (ja) * | 1977-08-24 | 1983-05-17 | 株式会社東芝 | 放射線検出器 |
| DE2747872A1 (de) * | 1977-10-26 | 1979-05-03 | Philips Patentverwaltung | Strahlennachweisvorrichtung |
| US4161655A (en) * | 1977-11-28 | 1979-07-17 | General Electric Company | Multi-cell detector using printed circuit board |
| US4159424A (en) * | 1978-04-03 | 1979-06-26 | General Electric Company | Trapezoidal scintillator for radiation detectors |
| US4303863A (en) * | 1978-06-20 | 1981-12-01 | General Electric Company | Tomographic scanning apparatus with ionization detector means |
| GB2027262A (en) * | 1978-08-04 | 1980-02-13 | Emi Ltd | Onisation chambers |
| FR2443184A1 (fr) * | 1978-11-28 | 1980-06-27 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif d'interconnexion par des conducteurs entre des bornes conductrices situees a l'interieur d'une enceinte fermee demontable et des bornes conductrices exterieures a cette enceinte |
| US4276476A (en) * | 1978-12-20 | 1981-06-30 | General Electric Company | Radiation detector having a unitary free floating electrode assembly |
| JPS5842941B2 (ja) * | 1979-10-08 | 1983-09-22 | 株式会社 日立メディコ | 電離箱型ｘ線検出器 |
| US4272680A (en) * | 1979-12-03 | 1981-06-09 | General Electric Company | Modular array radiation detector |
| US4301368A (en) * | 1980-01-31 | 1981-11-17 | Hospital Physics Oy | Ionizing radiation detector adapted for use with tomography systems |
| US4306155A (en) * | 1980-04-04 | 1981-12-15 | General Electric Company | Gas-filled x-ray detector with improved window |
-
1981
- 1981-03-31 JP JP56048022A patent/JPS57161677A/ja active Granted
-
1982
- 1982-03-26 NL NL8201262A patent/NL191032C/xx not_active IP Right Cessation
- 1982-03-29 US US06/363,384 patent/US4476390A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-03-31 DE DE3211956A patent/DE3211956C2/de not_active Expired
- 1982-03-31 FR FR8205579A patent/FR2503381B1/fr not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NL8201262A (nl) | 1982-10-18 |
| US4476390A (en) | 1984-10-09 |
| FR2503381B1 (fr) | 1986-01-10 |
| JPS57161677A (en) | 1982-10-05 |
| DE3211956A1 (de) | 1982-11-11 |
| DE3211956C2 (de) | 1986-04-24 |
| FR2503381A1 (fr) | 1982-10-08 |
| NL191032B (nl) | 1994-07-18 |
| NL191032C (nl) | 1994-12-16 |
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