JPH01301182A - 電気信号観測装置 - Google Patents
電気信号観測装置Info
- Publication number
- JPH01301182A JPH01301182A JP63132051A JP13205188A JPH01301182A JP H01301182 A JPH01301182 A JP H01301182A JP 63132051 A JP63132051 A JP 63132051A JP 13205188 A JP13205188 A JP 13205188A JP H01301182 A JPH01301182 A JP H01301182A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrical signal
- signal
- optical
- measured
- observation device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 121
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 23
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 6
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 7
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 4
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 102000040650 (ribonucleotides)n+m Human genes 0.000 description 1
- 108091032973 (ribonucleotides)n+m Proteins 0.000 description 1
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical group CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 230000008685 targeting Effects 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
- G01R13/347—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies using electro-optic elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、被測定電気信号を光信号でサンプリングして
観測信号を得るための電気信号観測装置に係り、特に、
簡単な構成により、効率良く被測定電気信号をサンプリ
ングして観測信号を得ることが可能な電気信号観測装置
に関するものである。
観測信号を得るための電気信号観測装置に係り、特に、
簡単な構成により、効率良く被測定電気信号をサンプリ
ングして観測信号を得ることが可能な電気信号観測装置
に関するものである。
従来、繰返し高速電気信号はサンプリングオシロスコー
プ(分解能20〜30ピコ秒が限度)で、又、単一の高
速電気信号はリアルタイムオシロスコープ(分解能30
0ピコ秒程度が限度)で測定されているが、測定対象の
高速化に伴い、被測定電気信号を更に高分解能で測定す
る必要が生じてきている。 このような要請を満足するものとして、米国特許44:
46425号には、電気光学効果を有する非線形光学媒
質(ポッケルスセル)と、偏光子、検光子及び補償器を
組合わせた光変調器を用いて、被測定電気信号を短パル
ス光によりサンプリングして観測信号を得るようにした
電圧測定装置が開示されている。 しかしながら、このような非線形光学媒質を含む光変調
器を用いる場合には、該非線形光学媒質が一般に高価で
あるだけでなく、取扱いが難しい。 又、非線形光学媒質の他に偏光子及び検光子、更に補償
器が必要となるため、光学系が複雑になり、その調整も
複雑で面倒である。更に、非線形光学媒質を用いた光変
調器は、”偏光状態の変化を利用して透過率を変えるだ
けであり、増幅機能を持たないため、入射光を有効に利
用できず、効率が低いため、SN比が悪い等の問題点を
有していた。
プ(分解能20〜30ピコ秒が限度)で、又、単一の高
速電気信号はリアルタイムオシロスコープ(分解能30
0ピコ秒程度が限度)で測定されているが、測定対象の
高速化に伴い、被測定電気信号を更に高分解能で測定す
る必要が生じてきている。 このような要請を満足するものとして、米国特許44:
46425号には、電気光学効果を有する非線形光学媒
質(ポッケルスセル)と、偏光子、検光子及び補償器を
組合わせた光変調器を用いて、被測定電気信号を短パル
ス光によりサンプリングして観測信号を得るようにした
電圧測定装置が開示されている。 しかしながら、このような非線形光学媒質を含む光変調
器を用いる場合には、該非線形光学媒質が一般に高価で
あるだけでなく、取扱いが難しい。 又、非線形光学媒質の他に偏光子及び検光子、更に補償
器が必要となるため、光学系が複雑になり、その調整も
複雑で面倒である。更に、非線形光学媒質を用いた光変
調器は、”偏光状態の変化を利用して透過率を変えるだ
けであり、増幅機能を持たないため、入射光を有効に利
用できず、効率が低いため、SN比が悪い等の問題点を
有していた。
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたも
ので、構成が簡単であり、且つ、入射光を有効に利用で
きて効率の高い電気信号観測装置を提供することを目的
とする。
ので、構成が簡単であり、且つ、入射光を有効に利用で
きて効率の高い電気信号観測装置を提供することを目的
とする。
【課題を達成するための手段]
本発明は、被測定信号を光信号でサンプリングして観測
信号を得るようにした電気信号観測装置において、被測
定電気信号より短いパルス幅の短パルス光列を発生する
手段と、被測定電気信号によって制御される可変利得に
より、前記短パルス光列を増幅する光増幅器と、該光増
幅器の出射光を検出して観測信号を得る光検出器と、被
測定電気信号と短パルス光列間の遅延量を変化させる遅
延系と、前記光検出器出力を前記遅延】の関数として表
示する表示装置とを備えることにより、前記目的を達成
したものである。 又、前記短パルス光列を、被測定電気信号を分岐し、タ
イミングをとった後、レーザ装置を用いて発生するよう
にしたものである。 又、前記遅延系を、短パルス光列発生用に分岐された被
測定電気信号の位相をシフトする位相シフト回路とした
ものである。 又、前記光増幅器を、半導体レーザの両端面での反射゛
を抑えた非共据型の進行波型光増幅器としたものである
。 又、前記測定対象が光検出器である場合に、前記短パル
ス光列より分岐した光信号を該被測定光検出器で電気信
号に変換し、該電気信号によって前記光増幅器の利得を
制御するようにして、光検出器の特性を測定可能とした
ものである。 更に、前記分岐された光信号を所定周波数でオンオフさ
せるための光チョップ素子と、前記出射光検出器の出力
のうち、該周波数成分だけを狭帯域で取出すロックイン
増幅器とを備えたものである。 又、前記光増幅器自体を゛、前記光チョップ素子として
も動作させたものである。 又、前記光増幅器を複数並列配置すると共に、各光増幅
器の出射光信号を検出するイメージセンサを設け、複数
の被測定電気信号の同時並列測定を可能としたものであ
る。
信号を得るようにした電気信号観測装置において、被測
定電気信号より短いパルス幅の短パルス光列を発生する
手段と、被測定電気信号によって制御される可変利得に
より、前記短パルス光列を増幅する光増幅器と、該光増
幅器の出射光を検出して観測信号を得る光検出器と、被
測定電気信号と短パルス光列間の遅延量を変化させる遅
延系と、前記光検出器出力を前記遅延】の関数として表
示する表示装置とを備えることにより、前記目的を達成
したものである。 又、前記短パルス光列を、被測定電気信号を分岐し、タ
イミングをとった後、レーザ装置を用いて発生するよう
にしたものである。 又、前記遅延系を、短パルス光列発生用に分岐された被
測定電気信号の位相をシフトする位相シフト回路とした
ものである。 又、前記光増幅器を、半導体レーザの両端面での反射゛
を抑えた非共据型の進行波型光増幅器としたものである
。 又、前記測定対象が光検出器である場合に、前記短パル
ス光列より分岐した光信号を該被測定光検出器で電気信
号に変換し、該電気信号によって前記光増幅器の利得を
制御するようにして、光検出器の特性を測定可能とした
ものである。 更に、前記分岐された光信号を所定周波数でオンオフさ
せるための光チョップ素子と、前記出射光検出器の出力
のうち、該周波数成分だけを狭帯域で取出すロックイン
増幅器とを備えたものである。 又、前記光増幅器自体を゛、前記光チョップ素子として
も動作させたものである。 又、前記光増幅器を複数並列配置すると共に、各光増幅
器の出射光信号を検出するイメージセンサを設け、複数
の被測定電気信号の同時並列測定を可能としたものであ
る。
本発明は、被測定電気信号を光信号でサンプリングして
観測信号を得る際に、第1図に示す如く、被測定電気信
号より短いパルス幅の短パルス光列を、被測定電気信号
によって利得が制御される光増幅器10を用いて、増幅
しつつ変調するようにしている。該光増幅器10の出射
光は、光検出器12で検出して観測信号とされる。被測
定電気信号と短パルス光列間の遅延量を、遅延系制御回
路15により遅延系14(第1図の例では、短パルス光
列を遅延する光遅延系)で変化させることによって、測
定電気信号を短パルス光列でサンプリングして観測信号
を得るようにしている。 今、第2図(A)〜(C)に示す如く、短パルス光列と
被測定電気信号との間の遅延量が遅延系制御回路15に
より連続的に変化し、ある時刻でτ1、τ2、τ3であ
るとき、光増幅器10からの出射短パルス光列強度は、
第2図に示す如く、被測定電気信号とのタイミングに依
存して変化する。従って、積分回路16を介した光検出
器12の出力11、■2、■3は、遅延量τの関数とし
て、第2図(D)に示したように観測される。即ち、被
測定電気信号を短パルス光列でサンプリングしたものが
、表示装置16に表示される。ここで、光増幅器10は
増幅素子であるので、サンプリングする短パルス光列を
増幅して利用できる。 従って、本発明によれば、偏光子や検光子が不要で構成
が簡単であり、装置を安価に構成できると共に、光学系
の調整も簡略である。又、透過率でなく増幅率を変える
ことによって光信号を変調しているので、入射光を有効
に利用でき、効率が高く、SN比も良い。 前記短パルス光列は、例えば、被測定電気信号を分岐し
、タイミングをとった後、レーザ装置を用いて発生する
ことができ゛る。この場合には、被測定電気信号と短パ
ルス光列のタイミングを合わせるのが容易である。 前記短パルス光列を発生するためのレーザ装置としては
、10ピコ秒のオーダの短パルス光を発生させる場合に
は、半導体レーザを用いることができる。 又、被測定電気信号を分岐して短パルス光列を発生させ
る際には、この短パルス光列発生用に分岐された被測定
電信号の位相をシフトする位相シフト回路を前記遅延系
として用いることができる。 この場合には、遅延系の構成が簡略である。 入射光を、外部からの電気信号に依存した増幅度で増幅
して、出射することができる前記光増幅器10としては
、半導体レーザの両端面に反射防止膜を施し、両端面で
の反射を抑えた非共振型の進行波型光増幅器(Trav
eling −Wave type optical
A mplifier、TWA)や、通常の半導体レ
ーザを発振閾値以下にバイアスして光増幅器として用い
るファブリペロ−型光増幅器(F abry per
ot type optical Amplifier
、 F PA )や、ファイバ中の誘導ラマン散乱を利
用したファイバラマン増幅器や、DFBレーザを用いた
もの、注入同期型増幅器等を用いることができるが、光
増幅器の小型化や、制御の容易さから半導体光増幅器が
有利である。 中でもTWAは、電気信号に対する高速応答、高速光信
号の増幅が可能であり、共振器による波長選択性がない
ため、数十nmに渡る広い利得帯域幅(約50nm>を
持ち、増幅器の温度や、入射光の波長が変化しても利得
の変化が小さく、安定した利得が得られるという大きな
利点を有する。又、光増幅器としての重要な基本特性で
ある利得飽和や雑音の面でも優れた特性を持っている。 これに対してFPAは、製作が容易であると共に、両端
面間の多重反射を利用して信号利得を得るため、低注入
電流でも閾値付近で高利得が得易いという利点を有する
。 更に、半導体光増幅器では、その注入電流を変える。こ
とで容易に利得が変えられるため、本発明のように、注
入電流のオシオフにより光スィッチとしても用いること
ができる。 本発明に用いるのに好適なTWAは、例えば第3図に示
すような、V I PS (V−grooved l
nner 5tripe on P −S ubst
rate)構造の半導体レーザ49の両端面に反射防止
膜を施したものとすることができる。 前記vrpsm造は、第3図に示した如く、1回目の液
相成長で、まずo−1nP基板49A上に、D+ I
nPバッファ層49B、n−1nPブロックtiJ49
c、 p2−1nPブロック層49Dを成長し、5t
Ozストライブマスクを通常のフォトリソ工程で作成し
く111)B而を持つV溝をウェットエツチングで形成
する。これに2回目の液相成長で、p−rnPクラッド
層49E。 p型乃至はノンドープGa1nASP活性層49F、n
−11IPクラッド層49G、n” −Ga rnAs
Pコンタクト層49)−1を順次成長する。このとき、
GaInAsP活性ff149Fは■溝の底に形成され
、例えば幅約1.2μm、厚み約0゜101/mに制御
される。その後、電極を形成し、ヘキ開により端面を形
成して作成される。 TWAは、この半導体レーザ49の両端面に、例えばS
i 02をターゲットにし、酸素男囲気中で蓋着により
反射防止膜を施すことによって作成される。VIPS構
造の半導体レーザ49は、活性層への注入効率が高く、
優れた高出力特性が得られるので、これを用いたTWA
も、高利得で、高飽和出力となる。 このようにして作成されたTWA50は、第4図に示す
ような基本構成を有し、該TWA50への入射光強度(
inが一定である場合には、入力電流値iが変化すると
、TWA50からの出射光強度■outは、第5図に示
す如く非線形に変化する。 従って、入射光強度Tinが一定である時は、出射光強
度■outを入力電流iで制御できることがわかる。 今、簡単のために線形の部分のみを使うと仮定すると(
非線形な部分は補正も可能)、第5図の関係は第6図に
示す如くとなる。従って、第6図に示す範囲では、線形
な増゛幅器として取扱うことができる。 なお、前記TWA50においては、その両端面に反射防
止膜を施すことによって、両端面の反射を抑えていたが
、両端面の反射を抑える構成はこれに限定されず、第7
図に示す如く、両端面をブリュースタ角とすることによ
って、両端面での反射を抑えることも可能である。こめ
場合には、偏光面が規定されるが、そのことを逆に利用
することも考えられる。即ち、偏光面を規定する必要が
ある場合には、そのための偏光子や検光子が不要となる
。 なお、本発明に用いる光増幅器としては、前記TWA5
0やFPAの他に、第8図に示す如く、固体レーザ媒質
52にレーザダイオード54により励起光を与え、発振
閾値以下にバイアスして共振型の光増幅器としたものや
、第9図に示す如く、固体レーザ媒質52の両端面の反
射を反射防止膜又はブリュースタ角によって抑え、TW
Aと類似の非共振型の光増幅器としたものを用いること
もできる。第8図において、56は共振鏡である。 なお、前記レーザダイオード54には、同値付近にする
ため、及び/又は、増幅率を高めるためのバイアス電流
を流してもよく、又、流さなくてもよい。 又、光増幅器10として、第10図に示す如く、色素レ
ーザ媒質又は気体レーザ媒質58に対して、半導体レー
ザ、発光ダイオード又はレーザダイオード又”は各種電
流制御ランプ6oを用いて励起光を与えるようにしたも
のを用いることもできる。 又、第10図において、共振鏡56を省略したものを用
いることもできる。 更に、光増幅器の他の例として、第11図に示す如く、
気体レーザ媒質62を電流−電圧変換器64を介して電
極62A間に印加される電圧によって励起するようにし
た、放電を利用したものを用いることもできる。又、第
11図において、共振鏡56を省略したものを用いるこ
ともできる。 又、前記光増幅器10の入1射光学系及び/又は出射光
学系に光ファイバを用いた場合には、光学系の厳密な調
整が不要となると共に、各構成要素の配置の自由度が高
まり、例えば全体を小型化することもできる。 又、前記遅延系を、前記短パルス光列発生手段と光増幅
器の間の光路長を変えられる光遅延系とした場合には、
電気回路の構成が簡略である。 前記光検出器12としては、例えば、光電子増倍管、マ
ルチチャンネルプレート内蔵型光電子増倍管や:prN
フォトダイオード等の半導体光検出器を用いることがで
きる。 又、測定対象が光検出器である場合には、第12図に示
す如く、前記短パルス光列より分岐した光信号を光分岐
器20で分岐し、分岐された光信号を被測定光検出器2
2で電気信号に変換し、該電気信号によって、前記光増
幅器10の利得を制御するように構成することもできる
。短パルス光列を発生させるレーザ装置としては、例え
ば100フェムト秒のオーダの短パルス光を発生させる
CPMリング色素レーザを用いことができる。この場合
には、被測定光検出器22の特性を簡便に測定できる。 又、第13図に示す如く、前記分岐された光信号を所定
周波数でオンオフさせるための光チョップ素子3oと、
前記出射光検出器12の出力のうち、該周波数成分だけ
を狭帯域で取出すロックイン増幅器32とを備えた場合
には、前記効果に加えて、更にSN比を向上させること
ができる。又、光信号の代わりに電気信号をチョップし
ても良い。 前記光チョップ素子30としては、通常の光チョッパの
他、前記のような光増幅器、電気光学効果を用いた光変
調器、E−0変調器、更には、光力−シャッタ、液晶シ
ャッタ等を用いることができる。前記光チョップ素子8
0として、電気信号によって利得が可変とされた光増幅
器を用いた場合には、光信号が増幅されるという効果が
ある。 又、前記光増幅器10自体が、前記光チョップ素子30
としても動作するようにした場合には、別体の光チョッ
プ素子を設ける必要がなく、構成が簡単である。 又、前記光増幅器10を複数並列配置すると共に、各光
増幅器10の出射光信号を検出するイメージセンサを設
けた場合には、複数の被測定電気信号の同時並列測定が
可能となる。
観測信号を得る際に、第1図に示す如く、被測定電気信
号より短いパルス幅の短パルス光列を、被測定電気信号
によって利得が制御される光増幅器10を用いて、増幅
しつつ変調するようにしている。該光増幅器10の出射
光は、光検出器12で検出して観測信号とされる。被測
定電気信号と短パルス光列間の遅延量を、遅延系制御回
路15により遅延系14(第1図の例では、短パルス光
列を遅延する光遅延系)で変化させることによって、測
定電気信号を短パルス光列でサンプリングして観測信号
を得るようにしている。 今、第2図(A)〜(C)に示す如く、短パルス光列と
被測定電気信号との間の遅延量が遅延系制御回路15に
より連続的に変化し、ある時刻でτ1、τ2、τ3であ
るとき、光増幅器10からの出射短パルス光列強度は、
第2図に示す如く、被測定電気信号とのタイミングに依
存して変化する。従って、積分回路16を介した光検出
器12の出力11、■2、■3は、遅延量τの関数とし
て、第2図(D)に示したように観測される。即ち、被
測定電気信号を短パルス光列でサンプリングしたものが
、表示装置16に表示される。ここで、光増幅器10は
増幅素子であるので、サンプリングする短パルス光列を
増幅して利用できる。 従って、本発明によれば、偏光子や検光子が不要で構成
が簡単であり、装置を安価に構成できると共に、光学系
の調整も簡略である。又、透過率でなく増幅率を変える
ことによって光信号を変調しているので、入射光を有効
に利用でき、効率が高く、SN比も良い。 前記短パルス光列は、例えば、被測定電気信号を分岐し
、タイミングをとった後、レーザ装置を用いて発生する
ことができ゛る。この場合には、被測定電気信号と短パ
ルス光列のタイミングを合わせるのが容易である。 前記短パルス光列を発生するためのレーザ装置としては
、10ピコ秒のオーダの短パルス光を発生させる場合に
は、半導体レーザを用いることができる。 又、被測定電気信号を分岐して短パルス光列を発生させ
る際には、この短パルス光列発生用に分岐された被測定
電信号の位相をシフトする位相シフト回路を前記遅延系
として用いることができる。 この場合には、遅延系の構成が簡略である。 入射光を、外部からの電気信号に依存した増幅度で増幅
して、出射することができる前記光増幅器10としては
、半導体レーザの両端面に反射防止膜を施し、両端面で
の反射を抑えた非共振型の進行波型光増幅器(Trav
eling −Wave type optical
A mplifier、TWA)や、通常の半導体レ
ーザを発振閾値以下にバイアスして光増幅器として用い
るファブリペロ−型光増幅器(F abry per
ot type optical Amplifier
、 F PA )や、ファイバ中の誘導ラマン散乱を利
用したファイバラマン増幅器や、DFBレーザを用いた
もの、注入同期型増幅器等を用いることができるが、光
増幅器の小型化や、制御の容易さから半導体光増幅器が
有利である。 中でもTWAは、電気信号に対する高速応答、高速光信
号の増幅が可能であり、共振器による波長選択性がない
ため、数十nmに渡る広い利得帯域幅(約50nm>を
持ち、増幅器の温度や、入射光の波長が変化しても利得
の変化が小さく、安定した利得が得られるという大きな
利点を有する。又、光増幅器としての重要な基本特性で
ある利得飽和や雑音の面でも優れた特性を持っている。 これに対してFPAは、製作が容易であると共に、両端
面間の多重反射を利用して信号利得を得るため、低注入
電流でも閾値付近で高利得が得易いという利点を有する
。 更に、半導体光増幅器では、その注入電流を変える。こ
とで容易に利得が変えられるため、本発明のように、注
入電流のオシオフにより光スィッチとしても用いること
ができる。 本発明に用いるのに好適なTWAは、例えば第3図に示
すような、V I PS (V−grooved l
nner 5tripe on P −S ubst
rate)構造の半導体レーザ49の両端面に反射防止
膜を施したものとすることができる。 前記vrpsm造は、第3図に示した如く、1回目の液
相成長で、まずo−1nP基板49A上に、D+ I
nPバッファ層49B、n−1nPブロックtiJ49
c、 p2−1nPブロック層49Dを成長し、5t
Ozストライブマスクを通常のフォトリソ工程で作成し
く111)B而を持つV溝をウェットエツチングで形成
する。これに2回目の液相成長で、p−rnPクラッド
層49E。 p型乃至はノンドープGa1nASP活性層49F、n
−11IPクラッド層49G、n” −Ga rnAs
Pコンタクト層49)−1を順次成長する。このとき、
GaInAsP活性ff149Fは■溝の底に形成され
、例えば幅約1.2μm、厚み約0゜101/mに制御
される。その後、電極を形成し、ヘキ開により端面を形
成して作成される。 TWAは、この半導体レーザ49の両端面に、例えばS
i 02をターゲットにし、酸素男囲気中で蓋着により
反射防止膜を施すことによって作成される。VIPS構
造の半導体レーザ49は、活性層への注入効率が高く、
優れた高出力特性が得られるので、これを用いたTWA
も、高利得で、高飽和出力となる。 このようにして作成されたTWA50は、第4図に示す
ような基本構成を有し、該TWA50への入射光強度(
inが一定である場合には、入力電流値iが変化すると
、TWA50からの出射光強度■outは、第5図に示
す如く非線形に変化する。 従って、入射光強度Tinが一定である時は、出射光強
度■outを入力電流iで制御できることがわかる。 今、簡単のために線形の部分のみを使うと仮定すると(
非線形な部分は補正も可能)、第5図の関係は第6図に
示す如くとなる。従って、第6図に示す範囲では、線形
な増゛幅器として取扱うことができる。 なお、前記TWA50においては、その両端面に反射防
止膜を施すことによって、両端面の反射を抑えていたが
、両端面の反射を抑える構成はこれに限定されず、第7
図に示す如く、両端面をブリュースタ角とすることによ
って、両端面での反射を抑えることも可能である。こめ
場合には、偏光面が規定されるが、そのことを逆に利用
することも考えられる。即ち、偏光面を規定する必要が
ある場合には、そのための偏光子や検光子が不要となる
。 なお、本発明に用いる光増幅器としては、前記TWA5
0やFPAの他に、第8図に示す如く、固体レーザ媒質
52にレーザダイオード54により励起光を与え、発振
閾値以下にバイアスして共振型の光増幅器としたものや
、第9図に示す如く、固体レーザ媒質52の両端面の反
射を反射防止膜又はブリュースタ角によって抑え、TW
Aと類似の非共振型の光増幅器としたものを用いること
もできる。第8図において、56は共振鏡である。 なお、前記レーザダイオード54には、同値付近にする
ため、及び/又は、増幅率を高めるためのバイアス電流
を流してもよく、又、流さなくてもよい。 又、光増幅器10として、第10図に示す如く、色素レ
ーザ媒質又は気体レーザ媒質58に対して、半導体レー
ザ、発光ダイオード又はレーザダイオード又”は各種電
流制御ランプ6oを用いて励起光を与えるようにしたも
のを用いることもできる。 又、第10図において、共振鏡56を省略したものを用
いることもできる。 更に、光増幅器の他の例として、第11図に示す如く、
気体レーザ媒質62を電流−電圧変換器64を介して電
極62A間に印加される電圧によって励起するようにし
た、放電を利用したものを用いることもできる。又、第
11図において、共振鏡56を省略したものを用いるこ
ともできる。 又、前記光増幅器10の入1射光学系及び/又は出射光
学系に光ファイバを用いた場合には、光学系の厳密な調
整が不要となると共に、各構成要素の配置の自由度が高
まり、例えば全体を小型化することもできる。 又、前記遅延系を、前記短パルス光列発生手段と光増幅
器の間の光路長を変えられる光遅延系とした場合には、
電気回路の構成が簡略である。 前記光検出器12としては、例えば、光電子増倍管、マ
ルチチャンネルプレート内蔵型光電子増倍管や:prN
フォトダイオード等の半導体光検出器を用いることがで
きる。 又、測定対象が光検出器である場合には、第12図に示
す如く、前記短パルス光列より分岐した光信号を光分岐
器20で分岐し、分岐された光信号を被測定光検出器2
2で電気信号に変換し、該電気信号によって、前記光増
幅器10の利得を制御するように構成することもできる
。短パルス光列を発生させるレーザ装置としては、例え
ば100フェムト秒のオーダの短パルス光を発生させる
CPMリング色素レーザを用いことができる。この場合
には、被測定光検出器22の特性を簡便に測定できる。 又、第13図に示す如く、前記分岐された光信号を所定
周波数でオンオフさせるための光チョップ素子3oと、
前記出射光検出器12の出力のうち、該周波数成分だけ
を狭帯域で取出すロックイン増幅器32とを備えた場合
には、前記効果に加えて、更にSN比を向上させること
ができる。又、光信号の代わりに電気信号をチョップし
ても良い。 前記光チョップ素子30としては、通常の光チョッパの
他、前記のような光増幅器、電気光学効果を用いた光変
調器、E−0変調器、更には、光力−シャッタ、液晶シ
ャッタ等を用いることができる。前記光チョップ素子8
0として、電気信号によって利得が可変とされた光増幅
器を用いた場合には、光信号が増幅されるという効果が
ある。 又、前記光増幅器10自体が、前記光チョップ素子30
としても動作するようにした場合には、別体の光チョッ
プ素子を設ける必要がなく、構成が簡単である。 又、前記光増幅器10を複数並列配置すると共に、各光
増幅器10の出射光信号を検出するイメージセンサを設
けた場合には、複数の被測定電気信号の同時並列測定が
可能となる。
以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明す
る。 本発明の第1実施例は、第14図に示す如く、被測定電
気信号を分岐するスプリッタ70と、該スプリッタ70
で分岐された被測定電気信号のタイミングをとるための
トリが回路72と、該トリガ回路72の出力に応じて短
パルスの電気信号を発生する短パルス電気信号発生回路
74と、該短パルス電気信号発生回路74で発生された
短パルスの位相をシフトする位相シフト回路76と、該
位相シフト回路76の出力に応じて短パルス光列を発生
する半導体レーザ78と、該半導体レーザ78で発生さ
れた短パルス光列が入力されると共に、前記スプリッタ
70で分岐された被測定電気信号の他方が利得制御信号
として入力される、本発明に係るTWA50と、該TW
A50の出射光を検出する光検出器12と、該光検出器
12の出力を積分する積分回路16と、前記位相シフト
回路76から入力されるシフト量、即ち遅延量がX軸信
号とされ、前記光検出器12の出力がY軸信号として入
力される×Yレコーダ80等の表示装置とから構成され
ている。 以下、第1実施例の作用を説明する。 被測定電気信号は、スプリッタ7oで分岐され、トリガ
回路72でタイミングがとられて、短パルス電気信号発
生回路74で、被測定電気信号と同期した短パルス電気
信号が作られる。 この短パルス電気信号は、位相シフト回路76を経て半
導体レーザ78に入力され、該半導体レーザ78で被測
定電気信号と同期した短パルス光列に変換される。 なお、この実施例では、半導体レーザ78に直流バイア
ス電流を加えているが、これは、直流バイアス電流を加
えた方が、より短パルスの光が発生するためである。な
お、測定対象によっては、直流バイアス電流を流す必要
がない場合もある。 半導体レーザ78で発生された短パルス光列は、分岐さ
れた他方の被測定電気信号により、TWA50で増幅さ
れて出射され、光検出器12で光電変換される。 被測定電気信号と短パルス光列との間の遅延量は、例え
ば短パルス電気信号発生回路74と半導体レーザ78の
間に設置した位相シフト回路76(トリガ回路72と短
パルス電気信号発生回路74の間に設置してもよい)に
より変えられ、光検出器12の出力は、積分回路16を
介して、この遅延量の関数として、XYレコーダ80等
によって記録される。 単位時間当りの位相シフト量が線形で既知であれば、X
Yレコーダ80の代わりにオシロスコープを用いること
もできる。 本実施例においては、位相シフト回路76により遅延量
を変えているので、遅延量を容易に変えることができる
。 次に、第15図を参照して、本発明の第2実施例を詳細
に説明する。 本実施例は、前出第13図に示したような、光分岐器2
0と、遅延系14と、光増幅器10と、光検出器12と
を有する電気信号観測装置において、第15図に示ず如
く、光分岐器20をビームスプリッタ82とし、光増幅
器10をTWA 50とし、遅延系14を光遅延系84
とすると共に、該光遅延系84の遅延量を制御するため
の遅延系制御回路86と、該遅延系制御回路86出力の
遅延IをX軸信号とし、前記光検出器12の出力を積分
回路16を介してY軸信号とするXYレコーダ80とを
設けたものである。 本実施例によれば、被測定光検出器22の応答時間等を
測定することができる。 なお、本実施例では、被測定光検出器22の出力をその
ままTWA50の利得制御信号としていたが、間に電気
回路88を入れて波形整形等を行い、被測定光検出器2
2の立上がり時間の測定を可能としてもよい。 又、本実施例では光遅延系84を用いていたが、電気的
遅延回路を被測定光検出器22とTWA 50の間に設
けて、光学系の構成を簡略化することも可能である。 次に、第16図を参照して、本発明の第3実施例を詳細
に説明する。 本実施例は、前記第2実施例に、前出第13図に示した
ような、周波数をロックインするためのロックイン増幅
器32と、光チョップ素子30としての光チョッパ90
とを組込んだものである。 本実施例においては、前記第2実施例の効果に加えて、
更にSN比が向上する。 本実施例は、第2実施例にロックイン検出を適用したも
のであったが、第1実施例にも同様にロックイン検出が
適用可能である。即ち、この場合には、半導体レーザ7
8とTWA50の間、又は、TWA50と光検出器12
の間に光チョッパを入れる。あるいは、スプリッタ70
とTWA50の間、又は、前記スプリッタ70からトリ
ガ回路72、短パルス電気信号発生回路74、位相シフ
ト回路76、半導体レーザ78に至る間のいずれかに電
気的なチョッパを入れ、光検出器12の出力をロックイ
ン増幅器で検出すればよい。 次に、第17図を参照して、本発明の第4実施例を詳細
に説明する。 この第4実施例は、第3実施例と同様の電気信号観測装
置において、光チョッパ90の代わりに、前記TWA5
0自体を光チョップ素子としたものである。 本実施例においては、別体の光チョップ素子が不要であ
るため、構成が簡略である。 次に、第18図を参照して、本発明の第5実施例を詳細
に説明する。 本実施例は、第3実施例と同様の電気信号観測装置にお
いて、光チョッパ9oの代わりに、TWA50とは別体
のTWA92を、該TWA50の後方にタンデム配置し
たものである。 本実施例においては、光増幅器としても作動するTWA
50.92がタンデムに2段配置されるので、増幅率が
高められる。 なお、前記TWA50と92を、その端面において、例
えば接着により一体化して、強度や耐振動性を高めるこ
ともできる。 次に、第19図を参照して、本発明の第6実施例を詳細
に説明する。 この第6実施例は、前記光増幅器としてのTWA50を
複数並列配置し、各TWA50に光ファイバ94を介し
て短パルス光列を入射するようにすると共に、各TWA
50の光出力を、光ファイバ96を介してイメージセン
サ98に入射し、コントローラ100を介して表示器1
02上に表示するようにしている。 前記イメージセンサ98としては、COD等のりニヤセ
ンサを用いることができる。 本実施例においては、複数の被測定電気信号の同時並列
測定が可能となる。又、各TWA50毎に遅延量を変え
ることによって、単一の波形を同時に並列測定すること
も可能となる。更に、分光器で波長成分に分けて各波長
成分毎にTWA 50で検出するように構成することも
できる。
る。 本発明の第1実施例は、第14図に示す如く、被測定電
気信号を分岐するスプリッタ70と、該スプリッタ70
で分岐された被測定電気信号のタイミングをとるための
トリが回路72と、該トリガ回路72の出力に応じて短
パルスの電気信号を発生する短パルス電気信号発生回路
74と、該短パルス電気信号発生回路74で発生された
短パルスの位相をシフトする位相シフト回路76と、該
位相シフト回路76の出力に応じて短パルス光列を発生
する半導体レーザ78と、該半導体レーザ78で発生さ
れた短パルス光列が入力されると共に、前記スプリッタ
70で分岐された被測定電気信号の他方が利得制御信号
として入力される、本発明に係るTWA50と、該TW
A50の出射光を検出する光検出器12と、該光検出器
12の出力を積分する積分回路16と、前記位相シフト
回路76から入力されるシフト量、即ち遅延量がX軸信
号とされ、前記光検出器12の出力がY軸信号として入
力される×Yレコーダ80等の表示装置とから構成され
ている。 以下、第1実施例の作用を説明する。 被測定電気信号は、スプリッタ7oで分岐され、トリガ
回路72でタイミングがとられて、短パルス電気信号発
生回路74で、被測定電気信号と同期した短パルス電気
信号が作られる。 この短パルス電気信号は、位相シフト回路76を経て半
導体レーザ78に入力され、該半導体レーザ78で被測
定電気信号と同期した短パルス光列に変換される。 なお、この実施例では、半導体レーザ78に直流バイア
ス電流を加えているが、これは、直流バイアス電流を加
えた方が、より短パルスの光が発生するためである。な
お、測定対象によっては、直流バイアス電流を流す必要
がない場合もある。 半導体レーザ78で発生された短パルス光列は、分岐さ
れた他方の被測定電気信号により、TWA50で増幅さ
れて出射され、光検出器12で光電変換される。 被測定電気信号と短パルス光列との間の遅延量は、例え
ば短パルス電気信号発生回路74と半導体レーザ78の
間に設置した位相シフト回路76(トリガ回路72と短
パルス電気信号発生回路74の間に設置してもよい)に
より変えられ、光検出器12の出力は、積分回路16を
介して、この遅延量の関数として、XYレコーダ80等
によって記録される。 単位時間当りの位相シフト量が線形で既知であれば、X
Yレコーダ80の代わりにオシロスコープを用いること
もできる。 本実施例においては、位相シフト回路76により遅延量
を変えているので、遅延量を容易に変えることができる
。 次に、第15図を参照して、本発明の第2実施例を詳細
に説明する。 本実施例は、前出第13図に示したような、光分岐器2
0と、遅延系14と、光増幅器10と、光検出器12と
を有する電気信号観測装置において、第15図に示ず如
く、光分岐器20をビームスプリッタ82とし、光増幅
器10をTWA 50とし、遅延系14を光遅延系84
とすると共に、該光遅延系84の遅延量を制御するため
の遅延系制御回路86と、該遅延系制御回路86出力の
遅延IをX軸信号とし、前記光検出器12の出力を積分
回路16を介してY軸信号とするXYレコーダ80とを
設けたものである。 本実施例によれば、被測定光検出器22の応答時間等を
測定することができる。 なお、本実施例では、被測定光検出器22の出力をその
ままTWA50の利得制御信号としていたが、間に電気
回路88を入れて波形整形等を行い、被測定光検出器2
2の立上がり時間の測定を可能としてもよい。 又、本実施例では光遅延系84を用いていたが、電気的
遅延回路を被測定光検出器22とTWA 50の間に設
けて、光学系の構成を簡略化することも可能である。 次に、第16図を参照して、本発明の第3実施例を詳細
に説明する。 本実施例は、前記第2実施例に、前出第13図に示した
ような、周波数をロックインするためのロックイン増幅
器32と、光チョップ素子30としての光チョッパ90
とを組込んだものである。 本実施例においては、前記第2実施例の効果に加えて、
更にSN比が向上する。 本実施例は、第2実施例にロックイン検出を適用したも
のであったが、第1実施例にも同様にロックイン検出が
適用可能である。即ち、この場合には、半導体レーザ7
8とTWA50の間、又は、TWA50と光検出器12
の間に光チョッパを入れる。あるいは、スプリッタ70
とTWA50の間、又は、前記スプリッタ70からトリ
ガ回路72、短パルス電気信号発生回路74、位相シフ
ト回路76、半導体レーザ78に至る間のいずれかに電
気的なチョッパを入れ、光検出器12の出力をロックイ
ン増幅器で検出すればよい。 次に、第17図を参照して、本発明の第4実施例を詳細
に説明する。 この第4実施例は、第3実施例と同様の電気信号観測装
置において、光チョッパ90の代わりに、前記TWA5
0自体を光チョップ素子としたものである。 本実施例においては、別体の光チョップ素子が不要であ
るため、構成が簡略である。 次に、第18図を参照して、本発明の第5実施例を詳細
に説明する。 本実施例は、第3実施例と同様の電気信号観測装置にお
いて、光チョッパ9oの代わりに、TWA50とは別体
のTWA92を、該TWA50の後方にタンデム配置し
たものである。 本実施例においては、光増幅器としても作動するTWA
50.92がタンデムに2段配置されるので、増幅率が
高められる。 なお、前記TWA50と92を、その端面において、例
えば接着により一体化して、強度や耐振動性を高めるこ
ともできる。 次に、第19図を参照して、本発明の第6実施例を詳細
に説明する。 この第6実施例は、前記光増幅器としてのTWA50を
複数並列配置し、各TWA50に光ファイバ94を介し
て短パルス光列を入射するようにすると共に、各TWA
50の光出力を、光ファイバ96を介してイメージセン
サ98に入射し、コントローラ100を介して表示器1
02上に表示するようにしている。 前記イメージセンサ98としては、COD等のりニヤセ
ンサを用いることができる。 本実施例においては、複数の被測定電気信号の同時並列
測定が可能となる。又、各TWA50毎に遅延量を変え
ることによって、単一の波形を同時に並列測定すること
も可能となる。更に、分光器で波長成分に分けて各波長
成分毎にTWA 50で検出するように構成することも
できる。
第1図は、本発明の基本的な構成を示すブロック線図、
第2図は、本発明の基本的な作用を説明するための線図
、第3図は、本発明で用いられる光増幅器の一例として
の進行波型光増幅器(TWA)を構成する半導体レーザ
の構造の一例を示す断面図、第4図は、前記TWAの動
作特性を説明するためのブロック線図、第5図及び第6
図は、同じく出射光強度特性の一例を示す線図、第7図
は、前記TWAの変形例の構成を示す概略図、第8図乃
至第11図は、前記光増幅器の他の変形例をそれぞれ示
す概略図、第12図及び第13図は、それぞれ本発明の
他の基本的な構成を示すブロック線図、第14図は、本
発明に係る電気信号観測装置の第1実施例の構成を示す
ブロック線図、第15図は、同じく第2実施例の構成を
示すブロック線図、第16図は、同じく第3実施例の構
成を示すブロック線図、第17図は、同じく第4実施例
の構成を示すブロック線図、第18図は、同じく第5実
施例の構成を示すブロック線図、第19図は、同じく第
6実施例の構成を示すブロック線図である。 10・・・光増幅器、 12・・・光検出器、 14・・・遅延系、 15・・・遅延系制御回路、 16・・・積分回路、 17・・・表示装置、 20・・・光分岐器、 22・・・被測定光検出器、 30・・・光チョップ素子、 32・・・ロックイン増幅器、 50.92・・・進行波型光増幅器(TWA’)、76
・・・位相シフト回路、 78・・・半導体レーザ、 80・・・XYレコーダ、 82・・・ビームスプリッタ、 84・・・光遅延系、 86・・・遅延系制御回路、 90・・・光チョッパ、 94.96・・・光ファイバ、 98・・・イメージセンサ。
第2図は、本発明の基本的な作用を説明するための線図
、第3図は、本発明で用いられる光増幅器の一例として
の進行波型光増幅器(TWA)を構成する半導体レーザ
の構造の一例を示す断面図、第4図は、前記TWAの動
作特性を説明するためのブロック線図、第5図及び第6
図は、同じく出射光強度特性の一例を示す線図、第7図
は、前記TWAの変形例の構成を示す概略図、第8図乃
至第11図は、前記光増幅器の他の変形例をそれぞれ示
す概略図、第12図及び第13図は、それぞれ本発明の
他の基本的な構成を示すブロック線図、第14図は、本
発明に係る電気信号観測装置の第1実施例の構成を示す
ブロック線図、第15図は、同じく第2実施例の構成を
示すブロック線図、第16図は、同じく第3実施例の構
成を示すブロック線図、第17図は、同じく第4実施例
の構成を示すブロック線図、第18図は、同じく第5実
施例の構成を示すブロック線図、第19図は、同じく第
6実施例の構成を示すブロック線図である。 10・・・光増幅器、 12・・・光検出器、 14・・・遅延系、 15・・・遅延系制御回路、 16・・・積分回路、 17・・・表示装置、 20・・・光分岐器、 22・・・被測定光検出器、 30・・・光チョップ素子、 32・・・ロックイン増幅器、 50.92・・・進行波型光増幅器(TWA’)、76
・・・位相シフト回路、 78・・・半導体レーザ、 80・・・XYレコーダ、 82・・・ビームスプリッタ、 84・・・光遅延系、 86・・・遅延系制御回路、 90・・・光チョッパ、 94.96・・・光ファイバ、 98・・・イメージセンサ。
Claims (8)
- (1)被測定電気信号を光信号でサンプリングして観測
信号を得るようにした電気信号観測装置において、 被測定電気信号より短いパルス幅の短パルス光列を発生
する手段と、 被測定電気信号によつて制御される可変利得により、前
記短パルス光列を増幅する光増幅器と、該光増幅器の出
射光を検出して観測信号を得る光検出器と、 被測定電気信号と短パルス光列間の遅延量を変化させる
遅延系と、 前記光検出器出力を前記遅延量の関数として表示する表
示装置と、 を備えたことを特徴とする電気信号観測装置。 - (2)請求項1に記載の電気信号観測装置において、前
記短パルス光列が、被測定電気信号を分岐し、タイミン
グをとつた後、レーザ装置を用いて発生されたものであ
ることを特徴とする電気信号観測装置。 - (3)請求項2に記載の電気信号観測装置において、前
記遅延系が、短パルス光列発生用に分岐された被測定電
気信号の位相をシフトする位相シフト回路であることを
特徴とする電気信号観測装置。 - (4)請求項1に記載の電気信号観測装置において、前
記光増幅器が、半導体レーザの両端面での反射を抑えた
非共振型の進行波型光増幅器であることを特徴とする電
気信号観測装置。 - (5)請求項1に記載の電気信号観測装置において、測
定対象が光検出器であり、前記短パルス光列より分岐し
た光信号を該被測定光検出器で電気信号に変換し、該電
気信号によつて前記光増幅器の利得を制御するようにし
たことを特徴とする、光検出器の特性を測定するための
電気信号観測装置。 - (6)請求項5に記載の電気信号観測装置において、更
に、前記分岐された光信号を所定周波数でオンオフさせ
るための光チョップ素子と、前記出射光検出器の出力の
うち、該周波数成分だけを狭帯域で取出すロックイン増
幅器とを備えたことを特徴とする電気信号観測装置。 - (7)請求項6に記載の電気信号観測装置において、前
記光増幅器自体が、前記光チョップ素子としても動作す
ることを特徴とする電気信号観測装置。 - (8)請求項1に記載の電気信号観測装置において、前
記光増幅器が複数並列配置されると共に、各光増幅器の
出射光信号を検出するイメージセンサが設けられ、複数
の被測定電気信号の同時並列測定が可能とされているこ
とを特徴とする電気信号観測装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63132051A JPH0769351B2 (ja) | 1988-05-30 | 1988-05-30 | 電気信号観測装置 |
| DE89305423T DE68907524T2 (de) | 1988-05-30 | 1989-05-30 | Elektrische Signalüberwachungsvorrichtung. |
| EP89305423A EP0345011B1 (en) | 1988-05-30 | 1989-05-30 | Electrical signal observing device |
| US07/358,220 US4980632A (en) | 1988-05-30 | 1989-05-30 | Electrical signal observing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63132051A JPH0769351B2 (ja) | 1988-05-30 | 1988-05-30 | 電気信号観測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01301182A true JPH01301182A (ja) | 1989-12-05 |
| JPH0769351B2 JPH0769351B2 (ja) | 1995-07-26 |
Family
ID=15072375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63132051A Expired - Fee Related JPH0769351B2 (ja) | 1988-05-30 | 1988-05-30 | 電気信号観測装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4980632A (ja) |
| EP (1) | EP0345011B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0769351B2 (ja) |
| DE (1) | DE68907524T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008244339A (ja) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光パルスレーザー装置 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3176644B2 (ja) * | 1991-03-27 | 2001-06-18 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光波形の測定装置 |
| GB9127057D0 (en) * | 1991-12-20 | 1992-02-19 | Secr Defence | Improved digital sampling of individual pulses |
| JPH11108959A (ja) * | 1997-10-06 | 1999-04-23 | Ando Electric Co Ltd | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
| JPH11352156A (ja) * | 1998-06-03 | 1999-12-24 | Ando Electric Co Ltd | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5632785A (en) * | 1979-08-25 | 1981-04-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Light amplifier |
| JPS6288387A (ja) * | 1985-10-15 | 1987-04-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 進行波型カスケ−ド光増幅器 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3614451A (en) * | 1968-08-19 | 1971-10-19 | Ibm | Sampling system utilizing electrooptic techniques |
| US3860880A (en) * | 1973-05-18 | 1975-01-14 | California Inst Of Techn | Travelling wave optical amplifier and oscillator |
| US4070621A (en) * | 1976-07-23 | 1978-01-24 | The United States Of America As Represented By The Department Of Health, Education And Welfare | Antenna with electro-optical modulator |
| US4401900A (en) * | 1979-12-20 | 1983-08-30 | International Business Machines Corporation | Ultra high resolution Josephson sampling technique |
| US4631423A (en) * | 1979-12-20 | 1986-12-23 | International Business Machines Corporation | Ultra high resolution Josephson sampling technique |
| NL181528C (nl) * | 1980-01-12 | 1987-09-01 | Sumitomo Electric Industries | Inrichting voor het meten van een spanning of van een elektrisch veld met gebruikmaking van licht. |
| US4446425A (en) * | 1982-02-12 | 1984-05-01 | The University Of Rochester | Measurement of electrical signals with picosecond resolution |
| GB2160380B (en) * | 1984-06-14 | 1988-01-27 | Stc Plc | Optical transmission systems |
| EP0197196A1 (en) * | 1985-03-08 | 1986-10-15 | The University Of Rochester | Electro-electron optical oscilloscope system for time-resolving picosecond electrical waveforms |
| US4755745A (en) * | 1986-03-04 | 1988-07-05 | The United States Of America As Represented By The Director, National Security Agency | Incoherent light optical processor |
| JPH0695114B2 (ja) * | 1987-07-13 | 1994-11-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 電圧検出装置 |
| DE3884490T2 (de) * | 1987-07-14 | 1994-01-27 | Hamamatsu Photonics Kk | Einrichtung zum Abtasten, Analysieren und Anzeigen eines elektrischen Signals. |
-
1988
- 1988-05-30 JP JP63132051A patent/JPH0769351B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-05-30 US US07/358,220 patent/US4980632A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-05-30 EP EP89305423A patent/EP0345011B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-05-30 DE DE89305423T patent/DE68907524T2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5632785A (en) * | 1979-08-25 | 1981-04-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Light amplifier |
| JPS6288387A (ja) * | 1985-10-15 | 1987-04-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 進行波型カスケ−ド光増幅器 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008244339A (ja) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光パルスレーザー装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0345011B1 (en) | 1993-07-14 |
| EP0345011A1 (en) | 1989-12-06 |
| DE68907524T2 (de) | 1993-10-28 |
| DE68907524D1 (de) | 1993-08-19 |
| JPH0769351B2 (ja) | 1995-07-26 |
| US4980632A (en) | 1990-12-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4958354A (en) | Apparatus for stabilizing the intensity of light | |
| US20150380892A1 (en) | Optical signal processing with modelocked lasers | |
| CN210074417U (zh) | 828nm大气水汽探测差分吸收激光雷达发射机系统 | |
| US4958231A (en) | Electro-optical streak camera | |
| US4988859A (en) | Optical waveform measuring device | |
| CN118899739B (zh) | 基于法布里-珀罗腔的486nm蓝光激光稳频装置 | |
| JP2659554B2 (ja) | 光強度相関装置 | |
| JPH0543983B2 (ja) | ||
| US20090185161A1 (en) | Optical Measurement Apparatus And Wideband Light Source Apparatus Employable Therein | |
| JPH0758376B2 (ja) | 光波形整形装置 | |
| JPH01301182A (ja) | 電気信号観測装置 | |
| Sucha et al. | A new method for rapid temporal scanning of ultrafast lasers | |
| JP2598458B2 (ja) | 電気信号観測装置 | |
| JP2009033078A (ja) | 波長走査型光源 | |
| US4772118A (en) | Methods of and apparatus for measuring picosecond semiconductor laser pulse duration using the internally generated second harmonic emission accompanying the laser output | |
| CN112880824A (zh) | 超短光脉冲放大压缩系统cep的噪声测量、稳定控制方法及系统 | |
| WO1989012831A1 (fr) | Element a effet electro-optique et dispositif de mesure de formes d'onde de signaux electriques utilisant ledit element | |
| JP3313492B2 (ja) | 光波形測定装置 | |
| JP2008209214A (ja) | 光サンプリング装置 | |
| JP2709170B2 (ja) | 電圧測定装置 | |
| JPH04143624A (ja) | 光波形計測装置 | |
| JPH01153923A (ja) | コヒーレント光測定装置 | |
| FR2824635A1 (fr) | Caracterisation d'impulsions courtes faible puissance | |
| JPH01121765A (ja) | 電圧検出装置 | |
| JPH02103425A (ja) | レーザ装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |