JPH01303533A - テスト網羅率測定システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の・目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、プログラムのテスト技術に係り、特にプログ
ラムのテスト網羅率を測定するテスト網羅率測定システ
ムに関する。

（従来の技術） ソフトウェア開発におけるプログラムテストの目的は、
起こり得る全てのケースについて動作を確認してそのプ
ログラム品質を保証することである。

このため従来からソフトウェア開発においては、対象プ
ログラムがどの程度テストされたかを示すテスト網羅率
を測定することが行われている。

ところが、このテスト網羅率を測定するシステムにおい
て、例えば第４図に示すように、「ＩＦ〜ＴＨＥＮ　−
ＥＬＳＥＪのような形式で記述されるべき制御文のｒ　
ＥＬＳＥＪ部分Ａ、Ｂが欠落したプログラムのテストを
行った場合、分岐条件が真となるテストケース（Ｃ−ｅ
Ｄ→Ｅ−＋Ｆ→Ｇ→Ｈの順番）のみを実行しただけでテ
スト網羅率が１００％となってしまう。

つまり、これはプログラム上で欠落した部分が存在する
ことを踏まえた上でテスト網羅率を測定できないためで
ある。

したがって、従来からのテスト網羅率測定システムでは
、正確なテスト網羅率を得ることができないという問題
があった。

（発明が解決しようとする課題） 本発明は上記した課題を解決するためのもので、テスト
すべきプログラムの制御構造における欠落部分を補足し
て正しい制御構造のプログラムを生成することにより、
プログラムに対し実行されたテストの網羅率を正確に測
定することのできるテスト網羅率測定システムの提供を
目的としている。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明のテスト網羅率測定システムは上記した目的を達
成するために、テストすべきプログラムの制御構造を分
析する制御構造分析手段と、その分析結果に基づいてプ
ログラムにおいて制御構造が欠落している箇所を補足し
て正しい制御構造のプログラムを作成する欠落箇所補足
手段と、この欠落箇所補足手段により作成されたプログ
ラムをｉＰ＋定単位である制御構造部毎に分割する分割
手段と、この分割手段により分割された制御構造部の数
に基づいて、プログラムに対し実行されたテストの網羅
率を測定するテスト網羅率測定手段とを具備したもので
ある。

（作　用） 本発明のテスト網羅率測定システムでは、まず制御構造
分析手段がテストすべきプログラムの制御構造を分析す
る。

次に欠落箇所補足手段は、その分析結果に基づいてプロ
グラムにおいて制御構造が欠落している箇所を補足し正
しい制御構造のプログラムを作成し、さらに分割手段が
欠落箇所補足手段により作成されたプログラムを測定単
位である制御構造部毎に分割する。

そしてテスト網羅率測定手段が、分割手段により分割さ
れた制御構造部の数に基づいて、プログラムに対し実行
されたテストの網羅率を測定する。

したがって本発明によれば、実行されたテストの網羅率
を正確に測定することができる。

（実施例） 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図は本発明の一実施例のテスト網羅率測定システム
の構成を説明するためのブロック図である。

同図において、１は人力されたソースプログラムの制御
構造を分析する制御構造分析部、２は制御構造分析部１
の分析結果に基づいて上記したソースプログラムの制御
構造における欠落箇所を補うことにより正しい制御構造
を有するプログラムを生成する欠落箇所補足部、３は欠
落箇所補足部２により得られたプログラムが記憶される
記憶部、４は記憶部３に記憶されたプログラムを測定単
位である制御構造部毎に分割するＩＩＰｊ定単位分割部
、５はソースプログラムに対して実行されたテストの網
羅状況を測定するテスト網羅状況測定部、６はテスト網
羅状況測定部の測定結果を解析する解析部、７は解析部
６の解析結果を例えば表示等の形式で出力する出力部で
ある。

次にこの実施例システムの基本的な動作の流れを第２図
のフローチャートを参照しながら説明する。

まずユーザ作成のソースプログラムがテスト網羅率１１
１１定システムに人力されると（ステップａ）、制御構
造分析部１は、入力されたソースプログラムの制御構造
を分析する（ステップｂ）。

そして、ソースプログラムの制御構造において欠落箇所
があるか否かが判断され（ステップＣ）、欠落箇所が存
在すると判断された場合は、欠落箇所補足部２によりそ
の部分が補われて正しい制御構造のプログラムが作成さ
れる（ステップｄ）。

そして作成されたプログラムは記憶部３に格納される（
ステップｅ）。

次に、測定単位分割部４は記憶部３に記憶されたプログ
ラムを制御構造分析部１で得られた分析結果に基づいて
測定単位である制御構造部毎に分割する（ステップｆ）
。

この後、実際のソースプログラムに対するテストが行わ
れると、テスト網羅状況測定部５は、実行された測定単
位毎のテスト回数を、測定単位分割部４で得られた制御
構造部の数で割ることによりテスト網羅率を測定する（
ステップｇ）。

これにより得られたテスト網羅率は、次に解析部６に送
られることによりここで解析され（ステップｈ）、出力
部７より所定の出力形態で出力される（ステップｉ）。

次に、第３図を用いてこの実施例システムの具体的な作
用効果について説明する。

なお第３図はこの実施例システムにより得られた正しい
制御構造を有するプログラム制御構造図の一例を示すフ
ローチャートである。

同図に示すように、この実施例のテスト網羅システムで
は、ソースプログラムの制御構造（Ｃ〜Ｈの部分）を変
えることなく、欠落している制御部分ＡＳＢだけを補っ
て正しい制御構造のプログラムを作成している。

したがって、ソースプログラムをそのままＣ→Ｄ−４Ｅ
→Ｆ→Ｇ→Ｈの順番でテストしてテスト網羅率を測定す
ると、従来は１００％となってしまっていたものが、こ
の実施例のシステムでは、これを正しい制御構造のプロ
グラムにおいて実行し得る測定単位毎のテスト回数を基
にした百分率で（ここでは７５％）で表すことができる
。

かくしてこの実施例のテスト網羅率測定システムによれ
ば、プログラムの制御構造における欠落箇所を補って正
確な制御構造を有するプログラムを得ることにより、正
確なテスト網羅率を得ることができ、テスト漏れの防止
を図ることが可能となる。

さらにこの実施例では、出力部７においてテスト網羅率
をオペレータに示すようにしたので、正確なテスト進歩
状況の把握が可能となる。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明のテスト網羅率測定システム
によれば、テストすべきプログラムの制御構造における
欠落部分を補足して正しい制御構造のプログラムを生成
することにより、プログラムに対し実行されたテストの
網羅率を正確に測定することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のテスト網羅率測定システム
の構成を説明するためのブロック図、第２図は第１図の
テスト網羅率測定システムにおける基本的な動作の流れ
を示すフローチャート、第３図は欠落箇所補足後のプロ
グラムの制御構造を示すフローチャート、第４図は従来
からのテスト網羅率測定システムに人力されたソースプ
ログラムの制御構造を示すフローチャートである。 １・・・制御構造分析部、２・・・欠落箇所補足部、３
・・・記憶部、４・・・測定単位分割部、５・・・テス
ト網羅状況測定部、６・・・解析部、７・・・出力部。 出願人　　　　　株式会社　東芝 代理人　弁理士　須　山　佐　− 第１図 第２図 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）テストすべきプログラムの制御構造を分析する制
   御構造分析手段と、その分析結果に基づいて前記プログ
   ラムにおいて制御構造が欠落している箇所を補足して正
   しい制御構造のプログラムを作成する欠落箇所補足手段
   と、この欠落箇所補足手段により作成されたプログラム
   を測定単位である制御構造部毎に分割する分割手段と、
   この分割手段により分割された制御構造部の数に基づい
   て、前記プログラムに対し実行されたテストの網羅率を
   測定するテスト網羅率測定手段とを具備したことを特徴
   とするテスト網羅率測定システム。