JPH0130405B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0130405B2 JPH0130405B2 JP56201339A JP20133981A JPH0130405B2 JP H0130405 B2 JPH0130405 B2 JP H0130405B2 JP 56201339 A JP56201339 A JP 56201339A JP 20133981 A JP20133981 A JP 20133981A JP H0130405 B2 JPH0130405 B2 JP H0130405B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- output signal
- unit
- input
- section
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は各種流量や濃度等の情報を監視する
計測器から出力される信号の処理装置に関する。
計測器から出力される信号の処理装置に関する。
前述した計測器の出力信号は普通直流電圧や直
流電流信号として記憶装置、印字装置、監視装置
や制御装置等に伝送されてくる。これら信号は上
記装置に入力されるが、それら信号はすべて測定
対象からの信号とは限らず、伝送線路に生じた外
乱による信号等が混在してくることがある。この
ため、外乱等の信号により各種装置が誤動作した
りするおそれが多分にある。上記外乱としては例
えば第1に電源や他系統の信号等に影響されて生
じる外乱と第2に計測器の原理等に係わる外乱が
ある。
流電流信号として記憶装置、印字装置、監視装置
や制御装置等に伝送されてくる。これら信号は上
記装置に入力されるが、それら信号はすべて測定
対象からの信号とは限らず、伝送線路に生じた外
乱による信号等が混在してくることがある。この
ため、外乱等の信号により各種装置が誤動作した
りするおそれが多分にある。上記外乱としては例
えば第1に電源や他系統の信号等に影響されて生
じる外乱と第2に計測器の原理等に係わる外乱が
ある。
前記第1の外乱には例えば計測器の電源等から
侵入する高周波等がある。これによる外乱が生じ
ると計測器の出力信号が小刻みに変動する要因と
なる。次に、第2の外乱には例えば、散乱光を利
用した計測器等がある。散乱孔の光量を計測する
際、計測器と被計測物との間に光が入射したりす
ると、得られる計測値には被計測物からの散乱光
に加えて、外乱としての光をも含んだ値となる。
また、計測器と被計測物との間に、光を遮ぎるよ
うな物質が存在するような状況の下では、そのよ
うな物質が計測器と被計測物との間に粉れこむた
びに、散乱の仕方が変化してしまう。このことは
検出原理に光線を使用するために生じる外乱であ
る。通常、計測器には増幅回路が組込まれている
ので、場合によつては上記外乱のために出力信号
が大きく変動するおそれがある。
侵入する高周波等がある。これによる外乱が生じ
ると計測器の出力信号が小刻みに変動する要因と
なる。次に、第2の外乱には例えば、散乱光を利
用した計測器等がある。散乱孔の光量を計測する
際、計測器と被計測物との間に光が入射したりす
ると、得られる計測値には被計測物からの散乱光
に加えて、外乱としての光をも含んだ値となる。
また、計測器と被計測物との間に、光を遮ぎるよ
うな物質が存在するような状況の下では、そのよ
うな物質が計測器と被計測物との間に粉れこむた
びに、散乱の仕方が変化してしまう。このことは
検出原理に光線を使用するために生じる外乱であ
る。通常、計測器には増幅回路が組込まれている
ので、場合によつては上記外乱のために出力信号
が大きく変動するおそれがある。
上記のように外乱があると計測値に誤つた値が
生じるため、普通これら外乱に対しては種々の対
策が施されている。例えば第1の外乱に対しては
電源から侵入する高周波を除去するため、時定数
を調節して応答を意織的に遅らせて、安定化を図
る回路を設ける手段がある。しかし、時定数をあ
まり長くすると応答性が低下する欠点が生じる。
また、第2の外乱に対しては、例えば計測器を使
用する環境条件を調整したり、使用条件を限定す
る等をして、原理等に係わる外乱が生じないよう
にしている。しかし、間欠的に光線が入射した
り、光線が遮ぎられたりするような状況がどうし
てもできる場合には、原理的にこの外乱を分離す
ることは困難である。
生じるため、普通これら外乱に対しては種々の対
策が施されている。例えば第1の外乱に対しては
電源から侵入する高周波を除去するため、時定数
を調節して応答を意織的に遅らせて、安定化を図
る回路を設ける手段がある。しかし、時定数をあ
まり長くすると応答性が低下する欠点が生じる。
また、第2の外乱に対しては、例えば計測器を使
用する環境条件を調整したり、使用条件を限定す
る等をして、原理等に係わる外乱が生じないよう
にしている。しかし、間欠的に光線が入射した
り、光線が遮ぎられたりするような状況がどうし
てもできる場合には、原理的にこの外乱を分離す
ることは困難である。
このため、近年、第1、第2の外乱を除去する
ために、外乱をデジタル的に処理する手段がなさ
れている。まず、第1の外乱に対しては、一定時
間間隔毎にサンプリングして得られるデジタル信
号(以下サンプリングデータと称す)をメモリに
記憶させ、現在時間までの一定サンプリングデー
タ数について平均値を演算する手段がある。また
サンプリングデータが得られる毎にデータを更新
して行く、いわゆる移動平均値法が利用されるこ
とが多い。この移動平均値法を式であらわすと次
のようになる。デジタル信号のサンプリング間隔
をΔt、現在時間をt、また、データ数をNとす
れば、 =1/N(xt-(o-1)
ために、外乱をデジタル的に処理する手段がなさ
れている。まず、第1の外乱に対しては、一定時
間間隔毎にサンプリングして得られるデジタル信
号(以下サンプリングデータと称す)をメモリに
記憶させ、現在時間までの一定サンプリングデー
タ数について平均値を演算する手段がある。また
サンプリングデータが得られる毎にデータを更新
して行く、いわゆる移動平均値法が利用されるこ
とが多い。この移動平均値法を式であらわすと次
のようになる。デジタル信号のサンプリング間隔
をΔt、現在時間をt、また、データ数をNとす
れば、 =1/N(xt-(o-1)
Claims (1)
- 1 変動するアナログデータ信号をデジタルデー
タ信号に変換して出力する変換部と、求めるデー
タの期待値である平滑値Ynから1つ手前のN−
1番号の平滑値Yo-1を出力する記憶部と、この
記憶部から出力される平滑値Yo-1と前記変換部
の出力信号とが入力されて比較され、出力信号の
上下限の範囲を設定してその範囲内にある出力信
号だけを送出する入力値平滑値比較部と、この比
較部の出力信号に係数aを乗算する入力値係数乗
算部と、前記記憶部から出力される平滑値Yo-1
が入力され、この値に係数(1−a)を乗算する
平滑値係数乗算部と、この乗算部の出力信号と前
記入力値係数乗算部の出力信号とが入力され加算
処理されて出力される平滑値演算部と、この演算
部で演算された出力信号が入力され、前記変換部
の出力信号が比較部で設定した範囲内にある信号
のときには演算部の出力信号を求める平滑値とし
て前記記憶部に供給させるとともにその出力信号
が入力され、前記変換部の出力信号が比較部で設
定した範囲外にある信号のときには演算部の出力
信号を記憶部へは供給しないとともに求める平滑
値としては前回値が保持されるデジタル・アナロ
グ変換部とを備えた信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56201339A JPS58103097A (ja) | 1981-12-14 | 1981-12-14 | 信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56201339A JPS58103097A (ja) | 1981-12-14 | 1981-12-14 | 信号処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58103097A JPS58103097A (ja) | 1983-06-18 |
| JPH0130405B2 true JPH0130405B2 (ja) | 1989-06-20 |
Family
ID=16439378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56201339A Granted JPS58103097A (ja) | 1981-12-14 | 1981-12-14 | 信号処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58103097A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60177271A (ja) * | 1984-02-22 | 1985-09-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 時間的に変動する信号の中央値検出回路 |
| JPS61195304A (ja) * | 1985-02-26 | 1986-08-29 | Yokogawa Electric Corp | シ−ト状物体特性測定装置 |
| JPH0695028B2 (ja) * | 1985-09-03 | 1994-11-24 | トヨタ自動車株式会社 | カルマン渦センサの出力信号処理装置 |
| JP2564831B2 (ja) * | 1987-06-24 | 1996-12-18 | 株式会社島津製作所 | インテリジエントレコ−ダ |
| JPH02161307A (ja) * | 1988-12-15 | 1990-06-21 | Matsushita Electric Works Ltd | 平板の波打検査方法 |
| JP6969264B2 (ja) * | 2017-09-29 | 2021-11-24 | 株式会社アドヴィックス | 車両の電子装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AT316161B (de) * | 1972-07-17 | 1974-06-25 | Pletscher Geb | Ofen zum Schmelzen oder Warmhalten von Metallen |
| JPS5567607A (en) * | 1978-11-17 | 1980-05-21 | Hajime Sangyo Kk | Pattern discrimination method |
-
1981
- 1981-12-14 JP JP56201339A patent/JPS58103097A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58103097A (ja) | 1983-06-18 |
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