JPH01304647A - 反射電子検出装置 - Google Patents
反射電子検出装置Info
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- JPH01304647A JPH01304647A JP63135118A JP13511888A JPH01304647A JP H01304647 A JPH01304647 A JP H01304647A JP 63135118 A JP63135118 A JP 63135118A JP 13511888 A JP13511888 A JP 13511888A JP H01304647 A JPH01304647 A JP H01304647A
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims abstract description 36
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 40
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 2
- 101150097247 CRT1 gene Proteins 0.000 description 1
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- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
電子照射した試料から反射された反射電子を検出して画
像を表示する反射電子検出装置に関し、反射電子検出器
を複数に分割し、電子ビームおよび画像表示方向を同期
して回転させたことに対応して該当する反射電子信号を
合成し、これらを信号処理して表示することにより、任
意の方向の良質な反射電子画像を容易かつ迅速に表示す
ることを目的とし、 電子ビームによって走査する試料の近傍かつ当該電子ビ
ームの軸を中心に複数に分割して配置した複数の反射電
子検出器と、これら複数の反射電子検出器によってそれ
ぞれ検出された反射電子信号のうち、電子ビームの走査
方向に対してほぼ直角方向で2つに分離した反射電子信
号にそれぞれ合成する信号合成器と、電子ビームによっ
て試料を走査する走査方向および画像信号を表示する方
向を同期して回転させるスキャンローティション回路と
を備え、電子ビームの走査方向および表示方向を回転さ
せたことに対応して、上記信号合成器によって同期する
態様で合成した2つの反射電子信号を信号処理し、画像
として表示するように構成する。
像を表示する反射電子検出装置に関し、反射電子検出器
を複数に分割し、電子ビームおよび画像表示方向を同期
して回転させたことに対応して該当する反射電子信号を
合成し、これらを信号処理して表示することにより、任
意の方向の良質な反射電子画像を容易かつ迅速に表示す
ることを目的とし、 電子ビームによって走査する試料の近傍かつ当該電子ビ
ームの軸を中心に複数に分割して配置した複数の反射電
子検出器と、これら複数の反射電子検出器によってそれ
ぞれ検出された反射電子信号のうち、電子ビームの走査
方向に対してほぼ直角方向で2つに分離した反射電子信
号にそれぞれ合成する信号合成器と、電子ビームによっ
て試料を走査する走査方向および画像信号を表示する方
向を同期して回転させるスキャンローティション回路と
を備え、電子ビームの走査方向および表示方向を回転さ
せたことに対応して、上記信号合成器によって同期する
態様で合成した2つの反射電子信号を信号処理し、画像
として表示するように構成する。
本発明は、電子照射した試料から反射された反射電子を
検出して画像を表示する反射電子検出装置に関するもの
である。
検出して画像を表示する反射電子検出装置に関するもの
である。
従来、走査型電子顕微鏡は、反射電子検出器を電子ビー
ムの走査方向に対して直角方向で2つに分離して左右方
向に配置し、試料から反射した反射電子をそれぞれ検出
するようにしている。これら左右方向からそれぞれ検出
した2つの反射電子信号の和、差などを求め、組成像(
和信号)、凹凸像(差信号)などとして表示するように
している。
ムの走査方向に対して直角方向で2つに分離して左右方
向に配置し、試料から反射した反射電子をそれぞれ検出
するようにしている。これら左右方向からそれぞれ検出
した2つの反射電子信号の和、差などを求め、組成像(
和信号)、凹凸像(差信号)などとして表示するように
している。
従来の反射電子検出器は2分割して装着するようにして
いたため、任意の方向から走査した画像を表示させたい
場合、試料を機械的に回転させて電子ビームの走査方向
に合致などさせる必要があり、迅速に所望の方向の画像
を表示し得ないという問題があった。
いたため、任意の方向から走査した画像を表示させたい
場合、試料を機械的に回転させて電子ビームの走査方向
に合致などさせる必要があり、迅速に所望の方向の画像
を表示し得ないという問題があった。
本発明は、反射電子検出器を複数に分割し、電子ビーム
および画像表示方向を同期して回転させたことに対応し
て該当する反射電子信号を合成し、これらを信号処理し
て表示することにより、任意の方向の良質な反射電子画
像を容易かつ迅速に表示することを目的としている。
および画像表示方向を同期して回転させたことに対応し
て該当する反射電子信号を合成し、これらを信号処理し
て表示することにより、任意の方向の良質な反射電子画
像を容易かつ迅速に表示することを目的としている。
第1図を参照して課題を解決する手段を説明する。
第1図において、反射電子検出器1は、試料2から反射
した反射電子を検出するものであって、試料2を走査す
る電子ビームの軸を中心に複数に分割して配置したもの
である。
した反射電子を検出するものであって、試料2を走査す
る電子ビームの軸を中心に複数に分割して配置したもの
である。
スキャンローティション回路9は、試料2を走査する電
子ビームの走査方向およびCRT16上に画像を表示す
る方向を同期する態様で回転させるものである。
子ビームの走査方向およびCRT16上に画像を表示す
る方向を同期する態様で回転させるものである。
信号合成器12は、試料2を走査する電子ビームの走査
方向に対して左右方向についての反射電子を検出するよ
うに合成するものである。
方向に対して左右方向についての反射電子を検出するよ
うに合成するものである。
本発明は、第1図に示すように、試料2を照射する電子
ビームの軸を中心に複数に分割した反射電子検出器1を
図示のように配置し、これら複数の反射電子検出器1に
よって検出された反射電子信号について、スキャンロー
ティション回路9によって走査方向が回転するに対応し
て信号合成器12によって電子ビームの左右方向の2つ
のものを検出するように合成し、この合成した反射電子
信号を信号処理(例えば差を算出)して画像として表示
するようにしている。
ビームの軸を中心に複数に分割した反射電子検出器1を
図示のように配置し、これら複数の反射電子検出器1に
よって検出された反射電子信号について、スキャンロー
ティション回路9によって走査方向が回転するに対応し
て信号合成器12によって電子ビームの左右方向の2つ
のものを検出するように合成し、この合成した反射電子
信号を信号処理(例えば差を算出)して画像として表示
するようにしている。
従って、スキャンローティション回路9によって試料2
を走査する電子ビームの走査方向およびCRT16の表
示方向を同期して回転させることに対応して、信号合成
器12によって常に走査方向に対して左右方向の反射電
子信号を検出していわば自動的に合成し、この合成した
反射電子信号を信号処理して画像として表示することに
より、試料2の任意の方向に走査した時の反射電子信号
による良質な画像を迅速に表示することが可能となる。
を走査する電子ビームの走査方向およびCRT16の表
示方向を同期して回転させることに対応して、信号合成
器12によって常に走査方向に対して左右方向の反射電
子信号を検出していわば自動的に合成し、この合成した
反射電子信号を信号処理して画像として表示することに
より、試料2の任意の方向に走査した時の反射電子信号
による良質な画像を迅速に表示することが可能となる。
次に、第1図から第5図を用いて本発明の1実施例の構
成および動作を順次詳細に説明する。
成および動作を順次詳細に説明する。
第1図において、反射電子検出器1は、試料2から反射
した反射電子を検出するP −N JUNCTTON
(半導体検出器)などであって、既述したように、電子
ビームの軸を中心に複数に分割して試料2の近傍に図示
のように配置したものである。本実施例は、軸対称に6
分割した例を以下具体的に説明する。
した反射電子を検出するP −N JUNCTTON
(半導体検出器)などであって、既述したように、電子
ビームの軸を中心に複数に分割して試料2の近傍に図示
のように配置したものである。本実施例は、軸対称に6
分割した例を以下具体的に説明する。
試料2は、反射電子による画像を表示させて観察などし
ようとするものである。
ようとするものである。
電子銃3は、電子を放射するものである。
収束レンズ4は、電子銃3から放射された電子(電子線
)を収束するものである。
)を収束するものである。
偏向コイル5は、試料2上をH方向およびV方向に電子
ビーム(電子プローブ)を走査させるものである。
ビーム(電子プローブ)を走査させるものである。
対物レンズ6は、試料2上に電子ビームを結像させるも
のである。
のである。
偏向切換器7は、試料2を走査する電子ビームの方向の
切り換えを指示するものである。
切り換えを指示するものである。
走査信号発生器(H,V)8は、試料2上を電子ビーム
によって水平方向(H)および垂直方向(V)に走査す
る走査信号を発生するものである。
によって水平方向(H)および垂直方向(V)に走査す
る走査信号を発生するものである。
尚、この走査信号(H,V)によってCRTl6も同期
して走査する。これにより、CRTl、6上には、試料
2を走査する走査方向を回転させても、像は回転するこ
とがない。
して走査する。これにより、CRTl、6上には、試料
2を走査する走査方向を回転させても、像は回転するこ
とがない。
スキャンローティション回路9は、走査信号発生器(H
,V)8によって発生された走査信号に対して、偏向切
換器7から指示された角度に回転例えば後述する第3図
(イ)あるいは第5図に示すように回転させるものであ
る。
,V)8によって発生された走査信号に対して、偏向切
換器7から指示された角度に回転例えば後述する第3図
(イ)あるいは第5図に示すように回転させるものであ
る。
倍率駆動設定部(H,V)10は、試料2を走査する電
子ビームの幅(H,V)を制御して、CRTl6上に表
示される反射電子像の倍率を設定するものである。
子ビームの幅(H,V)を制御して、CRTl6上に表
示される反射電子像の倍率を設定するものである。
アンプ1)は、複数の反射電子検出器1によって検出さ
れた反射電子信号をそれぞれ増幅するものである。
れた反射電子信号をそれぞれ増幅するものである。
信号合成器12は、複数の反射電子検出器1によって検
出され、アンプ1)で増幅された反射量 −子信号を合
成するものである。この合成は、後述する第3図に示す
ように、走査方向に対して左右方向の2つにまとめた反
射電子信号を生成するようにしている。
出され、アンプ1)で増幅された反射量 −子信号を合
成するものである。この合成は、後述する第3図に示す
ように、走査方向に対して左右方向の2つにまとめた反
射電子信号を生成するようにしている。
信号処理回路13は、信号合成器12によってまとめら
れた2つの反射電子信号について、和、差を算出するな
どの信号処理を行うものである。
れた2つの反射電子信号について、和、差を算出するな
どの信号処理を行うものである。
この信号処理された結果は、CRTl6上に例えば輝度
変調して組成像(和信号による画像)および凹凸像(差
信号による画像)などとして表示する。
変調して組成像(和信号による画像)および凹凸像(差
信号による画像)などとして表示する。
CRT偏向駆動回路14は、CRT偏向コイル15を駆
動して、CRTl6上に画像を表示させるものである。
動して、CRTl6上に画像を表示させるものである。
次に、第2図を用いて、第1図反射電子検出器1、信号
合成器12、および信号処理回路13によって、差信号
による画像(凹凸像)を生成する場合の具体例を説明す
る。
合成器12、および信号処理回路13によって、差信号
による画像(凹凸像)を生成する場合の具体例を説明す
る。
第2図において、反射電子検出器1は、■ないし■に示
すように、電子ビームの中心を軸に6分割されている。
すように、電子ビームの中心を軸に6分割されている。
これら反射電子検出器1を構成する■ないし■は、図示
のようにアンプ1)をそれぞれ通った後、スイッチ12
−1に図示のように接続され、任意のものが選択されて
増幅器12−2.12−3に入力される。これにより、
反射電子検出器1を構成する■ないし■のうちの任意の
組み合せ、例えば電子ビームの走査方向に対応づけてス
イッチ12−1を図示実線のように切り換えて■ないし
■を増幅器12−3に入力して加算した信号Bを生成し
、■ないし■を増幅器12−2に入力して加算した信号
Aを生成する。そして、これら生成した信号Aから信号
Bを差分信号処理回路13−1によって差分(A−B)
を求め、更に信号レベル選択回路13−2によって、後
述する第4図(へ)に示すように下側の部分をカントし
た結果の信号によって輝度変調してCRT16上に画像
(凹凸像など)として表示し、第5図(イ)ないしく二
)に示すような反射電子による画像を表示することがで
きる。
のようにアンプ1)をそれぞれ通った後、スイッチ12
−1に図示のように接続され、任意のものが選択されて
増幅器12−2.12−3に入力される。これにより、
反射電子検出器1を構成する■ないし■のうちの任意の
組み合せ、例えば電子ビームの走査方向に対応づけてス
イッチ12−1を図示実線のように切り換えて■ないし
■を増幅器12−3に入力して加算した信号Bを生成し
、■ないし■を増幅器12−2に入力して加算した信号
Aを生成する。そして、これら生成した信号Aから信号
Bを差分信号処理回路13−1によって差分(A−B)
を求め、更に信号レベル選択回路13−2によって、後
述する第4図(へ)に示すように下側の部分をカントし
た結果の信号によって輝度変調してCRT16上に画像
(凹凸像など)として表示し、第5図(イ)ないしく二
)に示すような反射電子による画像を表示することがで
きる。
尚、差分信号処理回路13−1によって求めた差分(A
−B)をそのままCRT16上に表示してもよい。
−B)をそのままCRT16上に表示してもよい。
第3図を用いて、偏向方向と反射電子検出器1との関係
例を説明する。
例を説明する。
第3図(イ)は試料2を電子ビームによって走査する走
査方向を示し、第3図(ロ)はその時に反射電子検出器
1によって検出された反射電子信号を合成するスイッチ
パターン例を示す。
査方向を示し、第3図(ロ)はその時に反射電子検出器
1によって検出された反射電子信号を合成するスイッチ
パターン例を示す。
まず、第3図(イ)N=1(θ=0°)に示すように横
方向に走査(水平走査、H)する場合、第3図(ロ)ス
イッチパターン例中のN=1に示すように、■ないし■
の反射電子検出器(第2図反射電子検出器)lによって
検出された反射電子信号を第2図スイッチ12−1およ
び増幅器12−3によって1つに合成し、■ないし■の
反射電子検出器1によって検出された反射電子信号を第
2図スイッチ12−1および増幅器12−2によって1
つに合成するようにしている。同様に、第3図(イ)N
=2、N=3についても、第3図(ロ)に示すような反
射電子検出器1によって検出された反射電子信号をそれ
ぞれ1つに合成する。
方向に走査(水平走査、H)する場合、第3図(ロ)ス
イッチパターン例中のN=1に示すように、■ないし■
の反射電子検出器(第2図反射電子検出器)lによって
検出された反射電子信号を第2図スイッチ12−1およ
び増幅器12−3によって1つに合成し、■ないし■の
反射電子検出器1によって検出された反射電子信号を第
2図スイッチ12−1および増幅器12−2によって1
つに合成するようにしている。同様に、第3図(イ)N
=2、N=3についても、第3図(ロ)に示すような反
射電子検出器1によって検出された反射電子信号をそれ
ぞれ1つに合成する。
以上のように、第3図(イ)に示すように電気的に回転
させた走査方向に直角方向で左右に2つに分離した態様
でまとめた反射電子信号を得ることができる。従って、
従来のように、試料2を回転させる必要がな(、迅速か
つ容易に所望の回転角度の反射電子信号を検出し、凹凸
像などを表示させることが可能となる。
させた走査方向に直角方向で左右に2つに分離した態様
でまとめた反射電子信号を得ることができる。従って、
従来のように、試料2を回転させる必要がな(、迅速か
つ容易に所望の回転角度の反射電子信号を検出し、凹凸
像などを表示させることが可能となる。
次に、第4図および第5図を用いて半球の試料2の凹凸
像を表示させる場合の動作を具体的に説明する。
像を表示させる場合の動作を具体的に説明する。
第4図(イ)は、半球の試料2を示す。これは、第1図
走査電子顕微鏡の試料ステージ上に図示半球の試料2を
装着したことを表す。
走査電子顕微鏡の試料ステージ上に図示半球の試料2を
装着したことを表す。
第4図(ロ)は、第4図(イ)半球状の試料2をA側か
らB側に向かって電子ビームによって走査する状態を示
す。
らB側に向かって電子ビームによって走査する状態を示
す。
第4図(ハ)は、A側に配置した反射電子検出器1によ
って検出された反射電子信号を示す。これは、第4図(
ロ)の走査に対応して、A側に配置した反射電子検出器
(第2図■ないし■)1、アンプ1)、スイッチ12−
L増幅器12−2によって検出されたA側の反射電子信
号である。
って検出された反射電子信号を示す。これは、第4図(
ロ)の走査に対応して、A側に配置した反射電子検出器
(第2図■ないし■)1、アンプ1)、スイッチ12−
L増幅器12−2によって検出されたA側の反射電子信
号である。
図中■の部分は半球の試料2が反射電子検出器lに向か
う面であるため大きなピークとして検出され、図中■の
部分は半球の試料2が反射電子検出器lの反対の方向に
向かう面であるために負のピークとして検出される。
う面であるため大きなピークとして検出され、図中■の
部分は半球の試料2が反射電子検出器lの反対の方向に
向かう面であるために負のピークとして検出される。
第4図(ニ)は、B側の反射電子検出器1によって検出
された反射電子信号を示す、これは、第4図(ロ)の走
査に対応して、B側に配置した反射電子検出器(第2図
■ないし■)1、アンプ1)、スイッチ12−1、増幅
器12−3によって検出されたB側の反射電子信号であ
る。図中■の部分は半球の試料2が反射電子検出器1の
反対の方向に向かう面であるために負のピークとして検
出され、図中■の部分は半球の試料2が反射電子検出器
1の方向に向かう面であるため大きなピークとして検出
される。
された反射電子信号を示す、これは、第4図(ロ)の走
査に対応して、B側に配置した反射電子検出器(第2図
■ないし■)1、アンプ1)、スイッチ12−1、増幅
器12−3によって検出されたB側の反射電子信号であ
る。図中■の部分は半球の試料2が反射電子検出器1の
反対の方向に向かう面であるために負のピークとして検
出され、図中■の部分は半球の試料2が反射電子検出器
1の方向に向かう面であるため大きなピークとして検出
される。
第4図(ホ)は、第4図(ハ)A側の反射電子信号から
、第4図(ニ)B側の反射電子信号を減算した差分(A
−B)を示す。この差分(A−B)をCRT16上に輝
度変調して表示した画像は、一般に凹凸像、トポ像など
と呼ばれている。
、第4図(ニ)B側の反射電子信号を減算した差分(A
−B)を示す。この差分(A−B)をCRT16上に輝
度変調して表示した画像は、一般に凹凸像、トポ像など
と呼ばれている。
第4図(へ)は、第4図(ホ)差分(A−B)のうち、
図中“下の部分をカントする”と記載したように、負方
向に向かうピークをカットする。
図中“下の部分をカントする”と記載したように、負方
向に向かうピークをカットする。
これにより、凹凸像のうちの凹の部分がカントされ、凸
の部分が取り出されることとなる。
の部分が取り出されることとなる。
次に、第5図(イ)は、半球の試料2の全面に 2つ
いて走査(H,V)して検出・信号処理した第4図(へ
)に示す差分(A−B)を、CRT16上に輝度変調し
て表示したものである。黒い部分が明るい部分である。
いて走査(H,V)して検出・信号処理した第4図(へ
)に示す差分(A−B)を、CRT16上に輝度変調し
て表示したものである。黒い部分が明るい部分である。
第5図(ロ)は、半球の試料2を走査する電子ビームの
走査方向およびCRT16上に画像を表示する表示方向
をそれぞれ120’反時計方向に回転させた場合のもの
を示す。
走査方向およびCRT16上に画像を表示する表示方向
をそれぞれ120’反時計方向に回転させた場合のもの
を示す。
第5図(ハ)は、240°反時計方向に回転させた場合
のものを示す。
のものを示す。
第5図(ニ)は、第5図(イ)ないし第5図(ハ)の3
つの画像を加算(A + A I□。十AX4゜)して
表示したものである。
つの画像を加算(A + A I□。十AX4゜)して
表示したものである。
以上のように、半球状の試料2を、第4図(ロ)に示す
A方向、Al1゜方向、およびA14゜方向の3方向か
らそれぞれ見た凹凸画像のうちの、明るく見える部分(
凸の部分)を取り出し、第5図(ニ)に示すように、1
つの画面上に重畳させて表示することにより、半球状の
試料2をいわば立体的に表示することが可能となる。
A方向、Al1゜方向、およびA14゜方向の3方向か
らそれぞれ見た凹凸画像のうちの、明るく見える部分(
凸の部分)を取り出し、第5図(ニ)に示すように、1
つの画面上に重畳させて表示することにより、半球状の
試料2をいわば立体的に表示することが可能となる。
以上説明したように、スキャンローティション回路9に
よって試料2を走査する電子ビームの走査方向およびC
RT16の表示方向を同期して回転させることに対応し
て、信号合成器12によって常に左右方向の反射電子信
号を検出していわば自動的に合成し、この合成した反射
電子信号を信号処理して画像として表示する構成を採用
しているため、試料2の任意の方向に走査した時の反射
電子信号による良質な画像を迅速に表示することができ
る。更に、試料2に対して複数の方向から検出した反射
電子信号を重畳して表示することにより、立体的に表示
することが可能となる。
よって試料2を走査する電子ビームの走査方向およびC
RT16の表示方向を同期して回転させることに対応し
て、信号合成器12によって常に左右方向の反射電子信
号を検出していわば自動的に合成し、この合成した反射
電子信号を信号処理して画像として表示する構成を採用
しているため、試料2の任意の方向に走査した時の反射
電子信号による良質な画像を迅速に表示することができ
る。更に、試料2に対して複数の方向から検出した反射
電子信号を重畳して表示することにより、立体的に表示
することが可能となる。
第1図は本発明の1実施例構成図、第2図は本発明に係
わる要部回路例、第3図は偏向方向と反射電子検出器と
の関係説明図、第4図は差分信号処理説明図、第5図は
差分信号処理した画像表示例を示す。 図中、lは反射電子検出器、2は試料、9はスキャンロ
ーティ292回路、1)はアンプ、12は信号合成器、
13は信号処理回路、16はCRTを表す。 駅寸
わる要部回路例、第3図は偏向方向と反射電子検出器と
の関係説明図、第4図は差分信号処理説明図、第5図は
差分信号処理した画像表示例を示す。 図中、lは反射電子検出器、2は試料、9はスキャンロ
ーティ292回路、1)はアンプ、12は信号合成器、
13は信号処理回路、16はCRTを表す。 駅寸
Claims (2)
- (1)電子照射した試料から反射された反射電子を検出
して画像を表示する反射電子検出装置において、 電子ビームによって走査する試料の近傍かつ当該電子ビ
ームの軸を中心に複数に分割して配置した複数の反射電
子検出器(1)と、 これら複数の反射電子検出器(1)によってそれぞれ検
出された反射電子信号のうち、電子ビームの走査方向に
対してほぼ直角方向で2つに分離した反射電子信号にそ
れぞれ合成する信号合成器(12)と、電子ビームによ
って試料を走査する走査方向および画像信号を表示する
方向を同期して回転させるスキャンローティション回路
(9)とを備え、電子ビームの走査方向および表示方向
を回転させたことに対応して、上記信号合成器(12)
によって同期する態様で合成した2つの反射電子信号を
信号処理し、画像として表示するように構成したことを
特徴とする反射電子検出装置。 - (2)上記電子ビームの走査方向および画像表示方向を
回転させたことに対応して、上記信号合成器(12)に
よって同期する態様で合成した2つの反射電子信号の差
を画像として表示するように構成したことを特徴とする
第(1)項記載の反射電子検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63135118A JP2675335B2 (ja) | 1988-06-01 | 1988-06-01 | 反射電子検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63135118A JP2675335B2 (ja) | 1988-06-01 | 1988-06-01 | 反射電子検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01304647A true JPH01304647A (ja) | 1989-12-08 |
| JP2675335B2 JP2675335B2 (ja) | 1997-11-12 |
Family
ID=15144246
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63135118A Expired - Lifetime JP2675335B2 (ja) | 1988-06-01 | 1988-06-01 | 反射電子検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2675335B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008159574A (ja) * | 2006-11-27 | 2008-07-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 走査型電子顕微鏡 |
| JP2009295371A (ja) * | 2008-06-04 | 2009-12-17 | Jeol Ltd | 断面観察用走査電子顕微鏡 |
| JP2012009437A (ja) * | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Carl Zeiss Nts Gmbh | 物体加工方法 |
| US8188428B2 (en) | 2006-11-17 | 2012-05-29 | Hitachi High-Technologies Corporation | Scanning electron microscope |
| JP2013134879A (ja) * | 2011-12-26 | 2013-07-08 | Toshiba Corp | 信号処理方法および信号処理装置 |
| US9019362B2 (en) | 2009-12-03 | 2015-04-28 | Hitachi High-Technologies Corporation | Charged particle beam device and a method of improving image quality of the same |
| US10229812B2 (en) | 2015-01-26 | 2019-03-12 | Hitachi High-Technologies Corporation | Sample observation method and sample observation device |
| KR20230039693A (ko) * | 2020-12-28 | 2023-03-21 | 주하이 코스엠엑스 배터리 컴퍼니 리미티드 | 리튬 이온 전지 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5093078A (ja) * | 1973-12-17 | 1975-07-24 | ||
| JPS50118659A (ja) * | 1974-03-01 | 1975-09-17 |
-
1988
- 1988-06-01 JP JP63135118A patent/JP2675335B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5093078A (ja) * | 1973-12-17 | 1975-07-24 | ||
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| US9019362B2 (en) | 2009-12-03 | 2015-04-28 | Hitachi High-Technologies Corporation | Charged particle beam device and a method of improving image quality of the same |
| JP2012009437A (ja) * | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Carl Zeiss Nts Gmbh | 物体加工方法 |
| JP2013134879A (ja) * | 2011-12-26 | 2013-07-08 | Toshiba Corp | 信号処理方法および信号処理装置 |
| US10229812B2 (en) | 2015-01-26 | 2019-03-12 | Hitachi High-Technologies Corporation | Sample observation method and sample observation device |
| KR20230039693A (ko) * | 2020-12-28 | 2023-03-21 | 주하이 코스엠엑스 배터리 컴퍼니 리미티드 | 리튬 이온 전지 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2675335B2 (ja) | 1997-11-12 |
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