JPH01307222A - 電子ビーム露光装置及び方法 - Google Patents
電子ビーム露光装置及び方法Info
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- JPH01307222A JPH01307222A JP63137942A JP13794288A JPH01307222A JP H01307222 A JPH01307222 A JP H01307222A JP 63137942 A JP63137942 A JP 63137942A JP 13794288 A JP13794288 A JP 13794288A JP H01307222 A JPH01307222 A JP H01307222A
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- Japan
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- blanking
- substrate
- voltage
- electron beam
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
ラインビーム等を使用して一括シヨツトが行える電′子
ビーム(EB)露光装置及び方法に係り、特にブランキ
ングテレイアパーチアに関し。
ビーム(EB)露光装置及び方法に係り、特にブランキ
ングテレイアパーチアに関し。
作製容易な構造を持ち、隣の電極に電圧がかかったとき
のビーム成分の欠けを防止して、完全なパターンが発生
できることを目的とし。
のビーム成分の欠けを防止して、完全なパターンが発生
できることを目的とし。
導電性基板に形成された電子通過用の開口の両側に複数
の電極対を持ち、各電極対の一方の電極は該基板と絶縁
して開口の両側に交互に配置され。
の電極対を持ち、各電極対の一方の電極は該基板と絶縁
して開口の両側に交互に配置され。
他方の電極は基板の開口側面を利用した共通電極として
構成されるブランキングアレイアパーチャを有し、各電
極対にブランキング電圧を印加することにより各電極対
内を通過するビーム成分をオンオフできるようにしたこ
とを特徴とする電子ビーム露光装置、或いはブランキン
グアレイアパーチャを有する電子ビーム露光装置を用い
、ブランキング電圧が印加されない当該電極対内のビー
ム成分が、隣の電極対にブランキング電圧が印加された
場合に該電圧に引っ張られて欠けを生ずる影響を打ち消
すような電圧を当該電極対に印加するように制御を行う
構成とする。
構成されるブランキングアレイアパーチャを有し、各電
極対にブランキング電圧を印加することにより各電極対
内を通過するビーム成分をオンオフできるようにしたこ
とを特徴とする電子ビーム露光装置、或いはブランキン
グアレイアパーチャを有する電子ビーム露光装置を用い
、ブランキング電圧が印加されない当該電極対内のビー
ム成分が、隣の電極対にブランキング電圧が印加された
場合に該電圧に引っ張られて欠けを生ずる影響を打ち消
すような電圧を当該電極対に印加するように制御を行う
構成とする。
本発明はラインビーム等を使用して一括シヨツトが行え
る電子ビーム(EB)露光装置及び方法に係り、特に電
子ビームをオンオフするブランキングアレイアパーチャ
に関する。
る電子ビーム(EB)露光装置及び方法に係り、特に電
子ビームをオンオフするブランキングアレイアパーチャ
に関する。
近年、半導体集積回路等の製造に用いられるEB露光に
おいてはサブミクロン以下のパターンの形成が要求され
ている。
おいてはサブミクロン以下のパターンの形成が要求され
ている。
この場合、ビームが可変矩形の露光装置においては小さ
なショットによってパターンを形成しなければならず、
露光時間がかかりず過ぎてしまうという欠点があった。
なショットによってパターンを形成しなければならず、
露光時間がかかりず過ぎてしまうという欠点があった。
そこで露光時間を短縮するため複数のショットをまとめ
たラインビームの使用が考えられ、各所で種々検討され
るようになってきた。
たラインビームの使用が考えられ、各所で種々検討され
るようになってきた。
ラインビーム、を使用す、場合、パターンに応じて個々
のショット(ビーム成分)に分解し、かつそれらをオン
オフするブランキングアレイアパーチャが必要となる。
のショット(ビーム成分)に分解し、かつそれらをオン
オフするブランキングアレイアパーチャが必要となる。
(従来の技術〕
第4図はプランキングアレイアパーチアを有するEB露
光装置の模式構成図である。
光装置の模式構成図である。
図において、プランキングアレイアパーチア41には複
数のアバ−チア(開口) 41A、 41B、 ・・
・等があり、各アパーチ1内にはビーム成分(各アバ−
チア内のビームを指す)をオンオフするブランキング電
極対が設けられている。
数のアバ−チア(開口) 41A、 41B、 ・・
・等があり、各アパーチ1内にはビーム成分(各アバ−
チア内のビームを指す)をオンオフするブランキング電
極対が設けられている。
電子銃42より出射した電子ビームはプランキングアレ
イアパーチア41の各アバ−チア41A、 41B。
イアパーチア41の各アバ−チア41A、 41B。
・・・等を通りで図示されない電磁レンズ、主偏向器(
コイル)43.副偏向器(電極)44等を経由してステ
ージ45上に置かれたウェハ46上を描画する。
コイル)43.副偏向器(電極)44等を経由してステ
ージ45上に置かれたウェハ46上を描画する。
CPU 47により制御された磁気ディスク48.1f
f気テープ49内の描画データはインタフェイス50を
経てビットマツプ発生回路52に到達し、ここで発生さ
れたビットマツプに従ってブランキング発生回路群53
A、 53B、 ・・・は各アバ−チア41A、 4
1B。
f気テープ49内の描画データはインタフェイス50を
経てビットマツプ発生回路52に到達し、ここで発生さ
れたビットマツプに従ってブランキング発生回路群53
A、 53B、 ・・・は各アバ−チア41A、 4
1B。
・・・内に設けられた電極対を制御してビーム成分をオ
ンオフする。
ンオフする。
一方、インタフェイス50よりのデータにより。
シケンスコントローラ54はビットマツプ発生回路52
、ブランキング制御回路55.偏向器制御回路56及び
ステージ制御回路57を順序制御する。
、ブランキング制御回路55.偏向器制御回路56及び
ステージ制御回路57を順序制御する。
ブランキング制御回路55はブランキング発生回路群5
3A、 53B、 ・・・を制御し、偏向器制御回路
56はD/Aコンバータ及びアンプ58.59を経てそ
れぞれ主偏向器43.副偏向器44によるビーム偏向を
制御し、ステージ制御回路57はステップモータ60に
よりステージ45の位置を制御する。
3A、 53B、 ・・・を制御し、偏向器制御回路
56はD/Aコンバータ及びアンプ58.59を経てそ
れぞれ主偏向器43.副偏向器44によるビーム偏向を
制御し、ステージ制御回路57はステップモータ60に
よりステージ45の位置を制御する。
第5図(1)、 (2)は従来例によるブランキングア
レイアパーチャの平面図と断面図である。
レイアパーチャの平面図と断面図である。
この例は、第4図のブランキングアレイアパーチャ41
に示される複数のアバ−チアの代わりに。
に示される複数のアバ−チアの代わりに。
細長い1個のアバ、−チア内に多数の電極対を一列に並
べて設けたものである。
べて設けたものである。
図において、導電性の基板1に開口IAが設けられ、開
口内に絶縁層4.5を介して電極対2^、3A;2B、
3B;・・・等が並べて設けられている。
口内に絶縁層4.5を介して電極対2^、3A;2B、
3B;・・・等が並べて設けられている。
電極対2A、3A:2B、3B、・・・等は、基板1上
に絶縁N4.5を介して形成された配線6^、7A;6
B、7B:・・・等によりブランキング発生回路に接続
される。
に絶縁N4.5を介して形成された配線6^、7A;6
B、7B:・・・等によりブランキング発生回路に接続
される。
(発明が解決しようとする課題〕
前記のように、ブランキングアレイアパーチャは電極を
電子通過用開口に並べてビームを要素(前記のビーム成
分)に分割するものである。
電子通過用開口に並べてビームを要素(前記のビーム成
分)に分割するものである。
そのため、各電極間隔はできるだけ小さくする必要があ
るが、その制御が難しい。
るが、その制御が難しい。
又、ブランキング電圧のかからないオン状態のビーム成
分は、隣の電極に電圧がかかると引っ張れて欠けてしま
うという不都合が生ずる。
分は、隣の電極に電圧がかかると引っ張れて欠けてしま
うという不都合が生ずる。
本発明はラインビームの各要素(ビーム成分)のオンオ
フにより完全なパターンが発生できるブランキングアレ
イアパーチャ及び制御方法を得ることを目的とする。
フにより完全なパターンが発生できるブランキングアレ
イアパーチャ及び制御方法を得ることを目的とする。
上記課題の解決は、(1)導電性基板に形成された電子
通過用の開口の両側に複数の電極対を持ち。
通過用の開口の両側に複数の電極対を持ち。
各電極対の一方の電極は該基板と絶縁して開口の両側に
交互に配置され、他方の電極は基板の開口側面を利用し
た共通電極として構成されるブランキングアレイアパー
チャを有し、各電極対にブランキング電圧を印加するこ
とにより各電極対内を通過するビーム成分をオンオフで
きるようにした電子ビーム露光装置、或いは、(2)ブ
ランキングアレイアパーチャを有するの電子ビーム露光
装置を用い、ブランキング電圧が印加されない当該電極
対内のビーム成分が、隣の電極対にブランキング電圧が
印加された場合に該電圧に引っ張られて欠けを生ずる影
響を打ち消すような電圧を当該電極対に印加するように
制御を行う電子ビーム露光方法により達成される。
交互に配置され、他方の電極は基板の開口側面を利用し
た共通電極として構成されるブランキングアレイアパー
チャを有し、各電極対にブランキング電圧を印加するこ
とにより各電極対内を通過するビーム成分をオンオフで
きるようにした電子ビーム露光装置、或いは、(2)ブ
ランキングアレイアパーチャを有するの電子ビーム露光
装置を用い、ブランキング電圧が印加されない当該電極
対内のビーム成分が、隣の電極対にブランキング電圧が
印加された場合に該電圧に引っ張られて欠けを生ずる影
響を打ち消すような電圧を当該電極対に印加するように
制御を行う電子ビーム露光方法により達成される。
勿論、上記(1)記載の装置を用い、上記(2)記載の
方法を用いる場合は一層効果が大きい。
方法を用いる場合は一層効果が大きい。
本発明は電極対の一方の基板と絶縁された金属電極を開
口両側に交互に配置し、他方の電極を導電性基板の開口
側面を利用した共通電極とすることにより、配線間隔及
び基板と絶縁された金属電極間隔を広くとることができ
、隣の要素の電極にブランキング電圧がかかった時、開
口の反対側にある当該電極に適宜の電位を印加して欠け
ようとするビームを引き戻すことによりビーム成分の欠
けをなくして完全なパターン形成ができるようにしたも
のである。
口両側に交互に配置し、他方の電極を導電性基板の開口
側面を利用した共通電極とすることにより、配線間隔及
び基板と絶縁された金属電極間隔を広くとることができ
、隣の要素の電極にブランキング電圧がかかった時、開
口の反対側にある当該電極に適宜の電位を印加して欠け
ようとするビームを引き戻すことによりビーム成分の欠
けをなくして完全なパターン形成ができるようにしたも
のである。
第1図(11〜(3)は本発明の実施例によるブランキ
ングアレイアパーチャの平面図である。
ングアレイアパーチャの平面図である。
第1図(1)は、基板と絶縁された電極と隣の基板電極
との間が絶縁層によって分離されている例を示す。
との間が絶縁層によって分離されている例を示す。
第1図(1)において、導電性の基板11に開口11A
が設けられ、開口内の両側に絶縁層14A、 14B、
・・・等を介して一方の電極12A、 12B、・・・
等が交互に並べられている。
が設けられ、開口内の両側に絶縁層14A、 14B、
・・・等を介して一方の電極12A、 12B、・・・
等が交互に並べられている。
電極12A、 12B、・・・等は、絶縁層14八、
14B、・・・等を介して基板11上に形成された配線
16A、 16B。
14B、・・・等を介して基板11上に形成された配線
16A、 16B。
・・・等によりブランキング発生回路に接続される。
他方の電極は開口の側面に露出する基板自身を用いる。
第1図(2)は、基板と絶縁された電極と隣の基板電極
との間が真空によって分離されている例を示す。
との間が真空によって分離されている例を示す。
第1図(3)は要素ごとに個々の開口を持つ場合で。
導電性の基板11に複数の開口11A、 IIB、・・
・等が設けられ、各開口内の両側に絶縁層14^、 1
4B、・・・等を介して一方の電極12A、 12B、
・・・等が交互に並べられている。
・等が設けられ、各開口内の両側に絶縁層14^、 1
4B、・・・等を介して一方の電極12A、 12B、
・・・等が交互に並べられている。
電極12八、12B、・・・等は、絶縁層14A、 1
4B、・・・等を介して基板11上に形成された配線1
6A、 16B。
4B、・・・等を介して基板11上に形成された配線1
6A、 16B。
・・・等によりブランキング発生回路に接続される。
他方の電極は開口の側面に露出する基板自身を用いる。
第2図(1)、 (2)は本発明のブランキングアレイ
アパーチャを用いてビームの欠けを防止する方法を説明
する平面図である。
アパーチャを用いてビームの欠けを防止する方法を説明
する平面図である。
第2図(1)は電極12Bにはブランキング電圧がかか
らない状態でビーム成分17Bが存在するとき。
らない状態でビーム成分17Bが存在するとき。
隣の電極12Aにブランキング電圧がかかると当初点線
で示されるビーム成分17Bが電極12A側に引っ張ら
れて実線で示されるように欠ける。
で示されるビーム成分17Bが電極12A側に引っ張ら
れて実線で示されるように欠ける。
そこで、第2図(2)に示されるように電極12Bに適
宜な電位子αをかけてビームを引き戻すようにする。
宜な電位子αをかけてビームを引き戻すようにする。
又、隣合った電極12A、 12Bに共にブランキング
電圧がかかる場合は9両方の電極には、共に+αをかけ
ないようにする。
電圧がかかる場合は9両方の電極には、共に+αをかけ
ないようにする。
以上のように、隣の電極にブランキング電圧がかかった
ときに、当該電極の電圧をビーム成分が隣の電極の影響
を見掛は上受けていないように制御することによりビー
ムの欠けを防止することができる。
ときに、当該電極の電圧をビーム成分が隣の電極の影響
を見掛は上受けていないように制御することによりビー
ムの欠けを防止することができる。
第3図(1)〜(11)は実施例のブランキングアレイ
アパーチャの製造工程の概略を説明する平面図と断面図
である。
アパーチャの製造工程の概略を説明する平面図と断面図
である。
この例は、第1図(1)の実施例を示す。
第3図(1)の平面図、(2)のA−A断面図において
。
。
導電性の基板11に電極を埋め込む凹部a、 b、 c
、・・・等を形成する。
、・・・等を形成する。
第3図(3)の平面図、(4)の八−^断面図において
。
。
凹部a、 b、 c、・・・等覆って基板上に絶!![
14を形成する。
14を形成する。
第3図(5)の平面図、(6)のA−A断面図において
。
。
絶縁層14を杉介して、凹部a、 b、 c、・・・等
の内部に電極12A、 12B、・・・等を埋め込む。
の内部に電極12A、 12B、・・・等を埋め込む。
第3図(7)の平面図、(8)のA−^断面図において
。
。
電極12A、 12B、・・・等に接続し、且つ絶縁層
14をを介して基板11上に配線16A、 16B、・
・・等を形成する。
14をを介して基板11上に配線16A、 16B、・
・・等を形成する。
第3 図(9)(7)lli図4.ニオll、Nテ、配
vA16A、16B、 −。
vA16A、16B、 −。
・等を覆って基板ll上に順次絶縁層18.金属層19
を形成する。金属層19は露光中のチャージアップ防止
のためのものである。
を形成する。金属層19は露光中のチャージアップ防止
のためのものである。
第3図(10)の断面図において、第3図(7)の平面
図に想像線で示した位置に電子通過孔用の溝11八 ′
を掘る。
図に想像線で示した位置に電子通過孔用の溝11八 ′
を掘る。
第3図(11)の断面図において、基板11の裏面より
溝を堀り、電子通過孔用の溝11A′の底を貫通して電
子通過用の開口11Aを形成する。
溝を堀り、電子通過孔用の溝11A′の底を貫通して電
子通過用の開口11Aを形成する。
以上が、ブランキングアレイアパーチャの製造工程の概
略である。
略である。
基板11として高導電性のSi基板を用いると、絶縁層
にSi酸化膜を用い、凹部形成、溝堀等に異方性ドライ
エツチングを用い、又、金属電極埋込工程、配線工程等
のSiテクノロジーをそのままを用いることができる。
にSi酸化膜を用い、凹部形成、溝堀等に異方性ドライ
エツチングを用い、又、金属電極埋込工程、配線工程等
のSiテクノロジーをそのままを用いることができる。
以上説明したように本発明によれば9個々の電極を容易
に作製できる構造を持ち、隣の電極に電圧がかかったと
きのビーム成分の欠けを防止したラインビームの各要素
のオンオフにより、完全なパターンが発生できるブラン
キングアレイアパーチャが得られる。
に作製できる構造を持ち、隣の電極に電圧がかかったと
きのビーム成分の欠けを防止したラインビームの各要素
のオンオフにより、完全なパターンが発生できるブラン
キングアレイアパーチャが得られる。
第1図(1)〜(3)は本発明の実施例によるブランキ
ングアレイアパーチャの平面図。 第2図(1)、 (2)は本発明のブランキングアレイ
アパーチャを用いてビームの欠けを防止する方法を説明
する平面図。 第3図(1)〜(11)は実施例のブランキングアレイ
アパーチャの製造工程の概略を説明する平面図と断面図
。 第4図はブランキングアレイアパーチャを有するEB露
光装置の模式構成図。 第5図(1)、(2)は従来例によるブランキングアレ
イアパーチャの平0面図と断面図である。 図において。 11は導電性の基板。 11Aは電子通過孔用開口。 12A、 12B、・・・等は電極。 14A、 14B、・・・等は絶縁層。 16A、 16B、・・・等は配線。 17Bはビーム成分 (1) (2ン
63ンf託例の平面図 第1 図 ヒ゛−4乙、×け 1方よ二f)名り月 図友 ″)
団 製羨工frえn説明図
ングアレイアパーチャの平面図。 第2図(1)、 (2)は本発明のブランキングアレイ
アパーチャを用いてビームの欠けを防止する方法を説明
する平面図。 第3図(1)〜(11)は実施例のブランキングアレイ
アパーチャの製造工程の概略を説明する平面図と断面図
。 第4図はブランキングアレイアパーチャを有するEB露
光装置の模式構成図。 第5図(1)、(2)は従来例によるブランキングアレ
イアパーチャの平0面図と断面図である。 図において。 11は導電性の基板。 11Aは電子通過孔用開口。 12A、 12B、・・・等は電極。 14A、 14B、・・・等は絶縁層。 16A、 16B、・・・等は配線。 17Bはビーム成分 (1) (2ン
63ンf託例の平面図 第1 図 ヒ゛−4乙、×け 1方よ二f)名り月 図友 ″)
団 製羨工frえn説明図
Claims (3)
- (1)導電性基板に形成された電子通過用の開口の両側
に複数の電極対を持ち、各電極対の一方の電極は該基板
と絶縁して開口の両側に交互に配置され、他方の電極は
基板の開口側面を利用した共通電極として構成されるブ
ランキングアレイアパーチャを有し、各電極対にブラン
キング電圧を印加することにより各電極対内を通過する
ビーム成分をオンオフできるようにしたことを特徴とす
る電子ビーム露光装置。 - (2)ブランキングアレイアパーチャを有する電子ビー
ム露光装置を用い、ブランキング電圧が印加されない当
該電極対内のビーム成分が、隣の電極対にブランキング
電圧が印加された場合に該電圧に引っ張られて欠けを生
ずる影響を打ち消すような電圧を当該電極対に印加する
ように制御を行うことを特徴とする電子ビーム露光方法
。 - (3)請求項(1)記載の電子ビーム露光装置を用い、
請求項(2)記載の制御を行うことを特徴とする電子ビ
ーム露光方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63137942A JP2600805B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 電子ビーム露光装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63137942A JP2600805B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 電子ビーム露光装置及び方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01307222A true JPH01307222A (ja) | 1989-12-12 |
| JP2600805B2 JP2600805B2 (ja) | 1997-04-16 |
Family
ID=15210307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63137942A Expired - Lifetime JP2600805B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 電子ビーム露光装置及び方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2600805B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5214289A (en) * | 1990-11-28 | 1993-05-25 | Fujitsu Limited | Charged particle beam deflector |
| WO2018167922A1 (ja) * | 2017-03-16 | 2018-09-20 | 株式会社ニコン | 荷電粒子ビーム光学装置、露光装置、露光方法、制御装置、制御方法、情報生成装置、情報生成方法、及び、デバイス製造方法 |
-
1988
- 1988-06-03 JP JP63137942A patent/JP2600805B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5214289A (en) * | 1990-11-28 | 1993-05-25 | Fujitsu Limited | Charged particle beam deflector |
| WO2018167922A1 (ja) * | 2017-03-16 | 2018-09-20 | 株式会社ニコン | 荷電粒子ビーム光学装置、露光装置、露光方法、制御装置、制御方法、情報生成装置、情報生成方法、及び、デバイス製造方法 |
| US10984982B2 (en) | 2017-03-16 | 2021-04-20 | Nikon Corporation | Charged particle beam optical apparatus, exposure apparatus, exposure method, control apparatus, control method, information generation apparatus, information generation method and device manufacturing method |
| US11387074B2 (en) | 2017-03-16 | 2022-07-12 | Nikon Corporation | Charged particle beam optical apparatus, exposure apparatus, exposure method, control apparatus, control method, information generation apparatus, information generation method and device manufacturing method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2600805B2 (ja) | 1997-04-16 |
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