JPH01307640A - Gas detecting device - Google Patents
Gas detecting deviceInfo
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- JPH01307640A JPH01307640A JP13722588A JP13722588A JPH01307640A JP H01307640 A JPH01307640 A JP H01307640A JP 13722588 A JP13722588 A JP 13722588A JP 13722588 A JP13722588 A JP 13722588A JP H01307640 A JPH01307640 A JP H01307640A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明はレーザ光を用いた差分吸収法によりガスを検
知するガス検知装置、特にガス検知精度の向上に関する
ものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a gas detection device that detects gas by a differential absorption method using laser light, and particularly to improvement of gas detection accuracy.
[従来の技術]
ガス分子の化学的、物理的性質である光吸収を利用して
ガスを検知する差分吸収法は、例えば文献「センサ技術
」 (技術調査会、昭和61年2月号)第29頁〜第3
1頁に開示されている。この文献に開示されたガス検知
システムはHe−Neレーザの3.39μm帯のメタン
ガスに強く吸収される波長のレーザ光と、このレーザ光
と波長が僅かに異なりメタンガスに吸収されない波長の
レーザ光をメカニカルチョッパで交互に切替えたり、あ
るいは1個のレーザ発振器の発振器長を機械的に変化さ
せて2波長のレーザ光を得て、この2波長のレーザ光を
路面や壁などの被n1定部に向けて照射し、そこからの
乱反射光強度の差から光路中のメタンを検出するように
している。この差分吸収法は2波長のレーザ光を使用す
ることにより検出すべきガス以外の要因によるレーザ光
の光量の減衰を補償しているため精度良くガスを検知す
ることができる。[Prior art] The differential absorption method, which detects gas by using light absorption, which is a chemical and physical property of gas molecules, is described in, for example, the document "Sensor Technology" (Technical Research Committee, February 1986 issue). Page 29 - 3rd
It is disclosed on page 1. The gas detection system disclosed in this document uses a laser beam in the 3.39 μm band of a He-Ne laser with a wavelength that is strongly absorbed by methane gas, and a laser beam with a wavelength that is slightly different from this laser beam and is not absorbed by methane gas. Obtain two wavelengths of laser light by alternating switching with a mechanical chopper or mechanically changing the oscillator length of one laser oscillator, and direct these two wavelengths of laser light to n1 fixed parts such as road surfaces and walls. The system detects methane in the optical path from the difference in intensity of diffusely reflected light. This differential absorption method uses laser light of two wavelengths to compensate for the attenuation of the amount of laser light due to factors other than the gas to be detected, so that gas can be detected with high accuracy.
[発明が解決しようとする課題]
従来の2波長のレーザ光を使用した差分吸収法は波長が
僅かに異なるレーザ光をメカニカルチョッパにより出射
させたり、あるいは発振器長を機械的に変化させて出射
させているため、2波長のレーザ光の波長安定と高速ス
イッチングに限界があった。このためガス検知センサを
空間的に高速で掃引することができないという問題点が
あった。[Problem to be solved by the invention] Conventional differential absorption methods using laser beams with two wavelengths emit laser beams with slightly different wavelengths using a mechanical chopper or by mechanically changing the oscillator length. Therefore, there was a limit to the wavelength stability and high-speed switching of the two-wavelength laser beam. For this reason, there was a problem in that the gas detection sensor could not be spatially swept at high speed.
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
であり、高速度で精度良くガスを検知することができる
ガス検知装置を得ることを目的とするものである。The present invention was made to solve these problems, and an object of the present invention is to provide a gas detection device that can detect gas at high speed and with high precision.
[課題を解決するための手段]
この発明に係るガス検知装置は測定ガスの吸収波長に合
った波長のレーザ光を出射する第1半導体レーザ装置と
、該第1半導体レーザ装置から出射するレーザ光の波長
と僅かに異なり測定ガスに吸収されない波長のレーザ光
を出射する第2半導体レーザ装置と、上記各レーザ光の
波長より短い波長の参照レーザ光を出射する第3半導体
レーザ装置と1周波数f (Hz)の信号を発振し、第
1半導体レーザ装置と第3半導体レーザ装置とから出射
するレーザ光の強度を変調する発振器と、該発振器から
出力する信号と位相π/2(rad)ずらした信号を出
力し、第2半導体レーザ装置から出射するレーザ光の強
度を変調する位相調整器と、第1半導体レーザ装置と第
2半導体レーザ装置から投光した2波長のレーザ光を受
光し電気信号に変換する第1受光器と、第3半導体レー
ザ装置から投光した参照レーザ光を受光し参照電気信号
に変換する第2受光器と、該第2受光器から送られる参
照電気信号により、第1受光器から送られる位相が異な
った電気信号の振幅を検出するロックインアンプと、該
ロックインアンプで検出した振幅の比を演算する比演算
器とを備えたことを特徴とする[作 用]
この発明においては、第1半導体レーザ装置と第2半導
体レーザ装置から出射する波長の異なったレーザ光の強
度を異なった位相の変調信号により変調して、2波長の
レーザ光の強度を変化させて2波長のレーザ光を電気的
に切換えるようにしたものである。[Means for Solving the Problems] A gas detection device according to the present invention includes a first semiconductor laser device that emits a laser beam having a wavelength that matches the absorption wavelength of a measurement gas, and a laser beam that is emitted from the first semiconductor laser device. a second semiconductor laser device that emits a laser beam with a wavelength that is slightly different from the wavelength of the measurement gas and is not absorbed by the measurement gas; a third semiconductor laser device that emits a reference laser beam with a wavelength shorter than the wavelength of each of the laser beams; and one frequency f. (Hz) and modulates the intensity of laser light emitted from the first semiconductor laser device and the third semiconductor laser device; a phase adjuster that outputs a signal and modulates the intensity of the laser light emitted from the second semiconductor laser device; and a phase adjuster that outputs a signal and modulates the intensity of the laser light emitted from the second semiconductor laser device; a first optical receiver that converts the reference laser beam into a reference electric signal; a second optical receiver that receives the reference laser beam projected from the third semiconductor laser device and converts it into a reference electric signal; A lock-in amplifier that detects the amplitude of electrical signals having different phases sent from one optical receiver, and a ratio calculator that calculates the ratio of the amplitudes detected by the lock-in amplifier [Function] ] In this invention, the intensities of laser beams of different wavelengths emitted from the first semiconductor laser device and the second semiconductor laser device are modulated by modulation signals of different phases, thereby changing the intensities of the laser beams of two wavelengths. It is designed to electrically switch between two wavelengths of laser light.
また、この2波長のレーザ光の空中伝送による位相おく
れを参照レーザ光により補正するようにしたものである
。Further, the phase lag due to the aerial transmission of the laser beams of these two wavelengths is corrected by the reference laser beam.
[実施例]
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図であり、
図において1は測定ガスの吸収波長に合った波長例えば
1.311111帯の光を出°射する第1の半導体レー
ザ発振器(以下、レーザ発振器という)、2はレーザ発
振器1を駆動し、かつその出力を制御する駆動装置、3
はレーザ発振器1から出射するレーザ光の波長と僅かに
異なり、かつ測定ガスに吸収されない波長のレーザ光を
出射する第2の半導体レーザ発振器、4はレーザ発振器
3の駆動装置である。5はレーザ発振器1,3で出射す
るレーザ光の波長より大きく異なる波長、例えば0.8
3−帯の波長の参照レーザ光を出射する第3の半導体レ
ーザ発振器、6はレーザ発振器5の駆動装置である。7
は周波数f (Hz)の信号を発振する発振器であり、
発振器7から駆動装置2,6に送る周波数f (Hz)
の信号によりレーザ発振器1,5から出射するレーザ光
の強度すなわち振幅を変調する。8は発振器7から送ら
れる周波数f (Hz)の信号に同期して、この信号と
位相がπ/2(rad)異なる信号を駆動装置4に送る
位相調整器である。[Embodiment] FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
In the figure, 1 is a first semiconductor laser oscillator (hereinafter referred to as a laser oscillator) that emits light with a wavelength matching the absorption wavelength of the measurement gas, for example, the 1.311111 band; 2 is a semiconductor laser oscillator that drives the laser oscillator 1; Drive device for controlling output, 3
is a second semiconductor laser oscillator that emits a laser beam with a wavelength that is slightly different from the wavelength of the laser beam emitted from the laser oscillator 1 and is not absorbed by the measurement gas; 4 is a driving device for the laser oscillator 3; 5 is a wavelength that is significantly different from the wavelength of the laser light emitted by the laser oscillators 1 and 3, for example, 0.8
6 is a driving device for the laser oscillator 5, which is a third semiconductor laser oscillator that emits a reference laser beam having a wavelength in the 3-band. 7
is an oscillator that oscillates a signal with a frequency f (Hz),
Frequency f (Hz) sent from oscillator 7 to drive devices 2 and 6
The intensity, that is, the amplitude, of the laser light emitted from the laser oscillators 1 and 5 is modulated by the signal. Reference numeral 8 denotes a phase adjuster that synchronizes with a signal of frequency f (Hz) sent from the oscillator 7 and sends a signal having a phase different from this signal by π/2 (rad) to the drive device 4.
駆動装置4は位相調整器8から送られる信号によリレー
ザ発振器3が出射するレーザ光の強度を変調する。した
がってレーザ発振器1,5から送られるレーザ光の強度
とレーザ発振器3から送られるレーザ光の強度は位相が
π/2(rad)異なっている。The drive device 4 modulates the intensity of the laser light emitted by the laser oscillator 3 based on the signal sent from the phase adjuster 8 . Therefore, the intensities of the laser beams sent from the laser oscillators 1 and 5 and the intensity of the laser beam sent from the laser oscillator 3 are different in phase by π/2 (rad).
9.10は各レーザ発振器it 3+ 5から出射
されるレーザ光を同一光路に導く半透鏡、11は反射鏡
、12は集光レンズである。13は誘電体多層膜フィル
タからなる光分波器であり、光分波器13はレーザ発振
器1,3から出射する例えば1,3−帯の波長のレーザ
光は透過し、レーザ発振器5から出射する0、83μ帯
の波長の参照レーザ光は反射して、波長帯の異なるレー
ザ光を分波する。9.10 is a semi-transparent mirror that guides the laser beams emitted from each laser oscillator it3+5 to the same optical path; 11 is a reflecting mirror; and 12 is a condensing lens. Reference numeral 13 denotes an optical demultiplexer made of a dielectric multilayer filter, and the optical demultiplexer 13 transmits laser light having wavelengths in the 1, 3-band, emitted from the laser oscillators 1 and 3, and emits it from the laser oscillator 5. The reference laser beam having a wavelength in the 0 and 83 μ band is reflected and separated into laser beams having different wavelength bands.
14は光分波器13で分波された波長1.3−帯の2波
長のレーザ光を受光し各々電気信号に変換する受光器、
15は光分波器13で分波された0、83μ帯の参照レ
ーザ光を受光し、参照電気信号に変換する参照用受光器
である。14 is a photoreceiver that receives the two wavelengths of laser light in the 1.3-band wavelength band demultiplexed by the optical demultiplexer 13 and converts each into an electric signal;
Reference numeral 15 denotes a reference light receiver that receives the reference laser beam in the 0 and 83μ bands that has been demultiplexed by the optical demultiplexer 13 and converts it into a reference electrical signal.
16は受光器14に入射した位相がπ/2(rad)相
違する2波長のレーザ光による電気信号と参照用受光器
15に入射した参照用レーザ光による参照電気信号を入
力し、参照電気信号により位相が相違する電気信号の振
幅を各々検出するロックインアンプ、17はロックイン
アンプ1Bから送られる振幅の比を演算する比演算器、
18は壁等被測定部の散乱部である。Reference numeral 16 inputs an electric signal generated by laser beams of two wavelengths having a phase difference of π/2 (rad) that is incident on the light receiver 14 and a reference electric signal generated by the reference laser beam that is incident on the reference light receiver 15, and generates a reference electric signal. a lock-in amplifier that detects the amplitudes of electrical signals having different phases, 17 a ratio calculator that calculates the ratio of the amplitudes sent from the lock-in amplifier 1B;
18 is a scattering part of a part to be measured such as a wall.
上記のように構成されたガス検知装置によりガスを検知
するときは、各駆動装置2,4.6を駆動して各レーザ
発振器1,3.5を安定状態としてから、発振器7より
駆動装置2.6に周波数f(l(z )の信号を送り、
駆動装置2,6によりレーザ発振器1から出射する1、
31Jfll帯のレーザ光とレーザ発振器3から出射す
る参照レーザ光の強度に変調を与える。同時に発振器7
から位相調整器8に周波数f (Hz)の信号を送る。When detecting gas with the gas detection device configured as described above, after driving each driving device 2, 4.6 to bring each laser oscillator 1, 3.5 into a stable state, the oscillator 7 Send a signal of frequency f(l(z) to .6,
1 emitted from the laser oscillator 1 by the driving devices 2 and 6;
The intensity of the laser beam in the 31Jfll band and the reference laser beam emitted from the laser oscillator 3 is modulated. At the same time oscillator 7
A signal with a frequency f (Hz) is sent from the phase adjuster 8 to the phase adjuster 8.
位相調整器8は送られた信号に同期して、この信号と位
相がπ/2(rad)異なる信号を駆動装置4に送る。The phase adjuster 8 sends a signal having a phase different from this signal by π/2 (rad) to the drive device 4 in synchronization with the sent signal.
駆動装置4は位相調整器8から送られた信号によりレー
ザ発振器3から出射するレーザ光の強度に変調を与える
。The driving device 4 modulates the intensity of the laser beam emitted from the laser oscillator 3 using the signal sent from the phase adjuster 8 .
このようにして、レーザ発振器1,3からは波長が僅か
に異なり、レーザ光の強度分布が異なる2波長のレーザ
光を、またレーザ発振器5からは参照レーザ光を同時に
出射して、半透鏡9,10と反射鏡11を介して散乱部
18に投光する。散乱部18で散乱、反射されたレーザ
光は集光レンズ12で集光され光分波器13に入射する
。光分波器13に入射したレーザ光はレーザ発振器1,
3から送られる波長1.3.帯のレーザ光とレーザ発振
器5から送られる波長0.83−帯のレーザ光に分波さ
れ、波長1.3−帯の2波長のレーザ光は受光器14に
入射し、波長0.83−帯の参照レーザ光は参照用受光
器15に入射する。受光器14と参照用受光器15に入
射したレーザ光は各々電気信号と参照電気信号に変換さ
れてロックインアップ16に送られる。In this way, the laser oscillators 1 and 3 simultaneously emit two laser beams with slightly different wavelengths and different laser beam intensity distributions, and the laser oscillator 5 simultaneously emits a reference laser beam. , 10 and a reflecting mirror 11 to a scattering section 18. The laser light scattered and reflected by the scattering section 18 is focused by the condensing lens 12 and enters the optical demultiplexer 13. The laser light incident on the optical demultiplexer 13 is transmitted to the laser oscillator 1,
Wavelength 1.3 sent from 3. The laser beam with a wavelength of 0.83-band and the laser beam with a wavelength of 0.83-band sent from the laser oscillator 5 are split, and the two laser beams with a wavelength of 1.3-band enter the light receiver 14, and the laser beam with a wavelength of 0.83-band is sent from the laser oscillator 5. The reference laser beam in the band is incident on the reference light receiver 15 . The laser light incident on the light receiver 14 and the reference light receiver 15 is converted into an electric signal and a reference electric signal, respectively, and sent to the lock-in up 16.
第2図はロックインアップ16に送られた電気信号の波
形を示し、aはレーザ発振器1から投光されたガスの吸
収波長と同一波長を有するレーザ光による電気信号、b
はレーザ発振器3から投光された、レーザ発振器1のレ
ーザ光と波長が僅かに異なり、かつ変調信号の位相がπ
/2(rad)異なるレーザ光による電気信号、Cはレ
ーザ発振器5から投光された参照レーザ光による参照電
気信号である。FIG. 2 shows the waveform of the electrical signal sent to the lock-in up 16, where a is an electrical signal generated by a laser beam having the same wavelength as the absorption wavelength of the gas emitted from the laser oscillator 1, and b
is emitted from laser oscillator 3, the wavelength is slightly different from that of laser oscillator 1, and the phase of the modulated signal is π
/2 (rad) electric signals generated by different laser beams; C is a reference electric signal generated by a reference laser beam projected from the laser oscillator 5;
ここで、レーザ発振器1.3からレーザ光を投光すると
同時にレーザ発振器5から波長の短い参照レーザ光を投
光したのは、レーザ光の空中伝送による位相の遅れを参
照レーザ光で補正すると共に散乱、吸収により微弱とな
ったレーザ光の強度すなわち振幅の検出精度を参照レー
ザ光の強度を利用して高めるためである。Here, the reason why the laser oscillator 1.3 emits the laser beam and the laser oscillator 5 emits the reference laser beam with a short wavelength at the same time is because the reference laser beam corrects the phase delay caused by the aerial transmission of the laser beam, and This is to improve the detection accuracy of the intensity, that is, the amplitude of the laser beam, which has become weak due to scattering and absorption, by using the intensity of the reference laser beam.
すなわち、第2図の波形a、bで示す受光器14から送
られた電気信号は波形Cで示す参照電気信号に比べて、
その波形が滑らかとなっている。そこで参照電気信号の
波形Cのピーク点20における電気信号の波形aの振幅
と、波形Cのピーク点20より位相がπ/2(rad)
ずれた零クロス点21における電気信号の波形すの振幅
を検出することにより精度良く振幅を測定することがで
きる。That is, the electrical signals sent from the light receiver 14 shown by waveforms a and b in FIG. 2 are compared to the reference electrical signal shown by waveform C.
The waveform is smooth. Therefore, the amplitude of the electrical signal waveform a at the peak point 20 of the waveform C of the reference electrical signal and the phase from the peak point 20 of the waveform C are π/2 (rad).
By detecting the amplitude of the electrical signal waveform at the shifted zero cross point 21, the amplitude can be accurately measured.
ロックインアップ16により検出された位相がπ/2(
rad)相違する振幅は比演算器17に送られて、その
振幅比が演算される。The phase detected by lock-in up 16 is π/2 (
rad) different amplitudes are sent to a ratio calculator 17, and the amplitude ratio is calculated.
このようにしてレーザ発振器1,3から散乱部18に僅
かに異なる2波長のレーザ光を投光したときに、レーザ
光の光路中にガスが存在しないと、レーザ発振器1から
投光したガスの吸収波長と同一波長を有するレーザ光も
吸収されないため、ロックインアンプ16で検出した波
形aの振幅は波形すの振幅とほぼ同程度となっている。When laser beams of two slightly different wavelengths are emitted from the laser oscillators 1 and 3 to the scattering section 18 in this way, if there is no gas in the optical path of the laser beam, the gas emitted from the laser oscillator 1 will be Since laser light having the same wavelength as the absorption wavelength is also not absorbed, the amplitude of the waveform a detected by the lock-in amplifier 16 is approximately the same as the amplitude of the waveform S.
一方、レーザ光の光路中にガスが存在すると、レーザ発
振器1から投光したガスの吸収波長と同じ波長を有する
レーザ光は、そのガスの濃度、ガスの存在する距離に応
じて吸収され、受光器14に入射したときはその強度す
なわち振幅が小さいレーザ光となっている。したがって
ロックインアンプ16で検出する波形aの振幅は波形す
の振幅と比べて相対的に小さくなる。そこで、この振幅
比を比演算器17で求めることによりレーザ光の光路中
のガスの存在及びその濃度を測定することができる。On the other hand, if a gas exists in the optical path of the laser beam, the laser beam having the same wavelength as the absorption wavelength of the gas emitted from the laser oscillator 1 will be absorbed depending on the concentration of the gas and the distance where the gas exists, and the laser beam will be received. When the laser beam enters the device 14, its intensity, that is, its amplitude is small. Therefore, the amplitude of waveform a detected by lock-in amplifier 16 is relatively small compared to the amplitude of waveform S. Therefore, by calculating this amplitude ratio using the ratio calculator 17, the presence of gas in the optical path of the laser beam and its concentration can be measured.
[発明の効果コ
この発明は以上説明したように、波長の僅かに異なるレ
ーザ光の強度を異なる変調信号で変調することにより、
2波長のレーザ光の強度を変化させて、2波長のレーザ
光を切換えるようにしたので、高速スイッチングを行う
ことができ、ガスを高速で検知することができる。[Effects of the Invention] As explained above, this invention modulates the intensity of laser beams with slightly different wavelengths with different modulation signals.
Since the two wavelengths of laser light are switched by changing the intensity of the two wavelengths of laser light, high-speed switching can be performed and gas can be detected at high speed.
またエネルギーの大きい参照レーザを同時に投光するこ
とにより、2波長のレーザ光の振幅検出を補正するよう
にしたので、広い空間を精度良く検知することができ、
ガス検知能率を大幅に向上させることができる。In addition, by emitting a high-energy reference laser at the same time, the amplitude detection of the two wavelengths of laser light is corrected, making it possible to accurately detect a wide space.
The gas detection rate can be greatly improved.
さらに、2波長の強度を切換えるときに、レーザ光の波
長には変動がないため、安定した波長でガスを検知する
ことができ、ガス検知精度を高めることができる効果も
有する。Furthermore, since there is no change in the wavelength of the laser light when the intensity of the two wavelengths is switched, gas can be detected at a stable wavelength, which also has the effect of increasing gas detection accuracy.
第1図はこの発明の実施例を示すブロック図、第2図は
上記実施例のロックインアップに入力する電気信号の波
形図である。
1.3.5・・・半導体レーザ発振器、2,4.6・・
・駆動装置、7・・・発振器、8・・・位相調整器、9
゜lO・・・半透鏡、11・・・反射鏡、12・・・集
光レンズ、13・・・光分波器、14・・・受光器、1
5・・・参照用受光器、16・・・ロックインアップ、
17・・・比演算器。
代理人 弁理士 佐々木 宗 治FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a waveform diagram of an electric signal input to lock-in up in the above embodiment. 1.3.5...Semiconductor laser oscillator, 2,4.6...
・Drive device, 7... Oscillator, 8... Phase adjuster, 9
゜lO...Semi-transparent mirror, 11...Reflector, 12...Condensing lens, 13...Optical demultiplexer, 14... Light receiver, 1
5... Reference receiver, 16... Lock-in up,
17... Ratio calculator. Agent Patent Attorney Muneharu Sasaki
Claims (1)
第1半導体レーザ装置と、該第1半導体レーザ装置から
出射するレーザ光の波長と僅かに異なり測定ガスに吸収
されない波長のレーザ光を出射する第2半導体レーザ装
置と、上記各レーザ光の波長より短い波長の参照レーザ
光を出射する第3半導体レーザ装置と、周波数f(Hz
)の信号を発振し、第1半導体レーザ装置と第3半導体
レーザ装置とから出射するレーザ光の強度を変調する発
振器と、該発振器から出力する信号と位相π/2(ra
d)ずらした信号を出力し、第2半導体レーザ装置から
出射するレーザ光の強度を変調する位相調整器と、第1
半導体レーザ装置と第2半導体レーザ装置から投光した
2波長のレーザ光を受光し電気信号に変換する第1受光
器と、第3半導体レーザ装置から投光した参照レーザ光
を受光し参照電気信号に変換する第2受光器と、該第2
受光器から送られる参照電気信号により、第1受光器か
ら送られる位相が異なった電気信号の振幅を検出するロ
ックインアンプと、該ロックインアンプで検出した振幅
の比を演算する比演算器とを備えたことを特徴とするガ
ス検知装置。a first semiconductor laser device that emits a laser beam with a wavelength that matches the absorption wavelength of the measurement gas; and a first semiconductor laser device that emits a laser beam with a wavelength that is slightly different from the wavelength of the laser beam that is emitted from the first semiconductor laser device and is not absorbed by the measurement gas. a second semiconductor laser device that emits a reference laser beam with a wavelength shorter than the wavelength of each of the laser beams;
) and modulates the intensity of laser light emitted from the first semiconductor laser device and the third semiconductor laser device;
d) a phase adjuster that outputs a shifted signal and modulates the intensity of the laser beam emitted from the second semiconductor laser device;
A first light receiver receives two wavelength laser beams emitted from a semiconductor laser device and a second semiconductor laser device and converts them into electrical signals, and a first photoreceiver receives reference laser beams emitted from a third semiconductor laser device and converts them into a reference electrical signal. a second light receiver for converting into
A lock-in amplifier that detects the amplitude of the electrical signal having a different phase sent from the first photoreceiver based on the reference electrical signal sent from the photoreceiver, and a ratio calculator that calculates the ratio of the amplitudes detected by the lock-in amplifier. A gas detection device characterized by comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13722588A JPH01307640A (en) | 1988-06-06 | 1988-06-06 | Gas detecting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13722588A JPH01307640A (en) | 1988-06-06 | 1988-06-06 | Gas detecting device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01307640A true JPH01307640A (en) | 1989-12-12 |
Family
ID=15193704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13722588A Pending JPH01307640A (en) | 1988-06-06 | 1988-06-06 | Gas detecting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01307640A (en) |
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1988
- 1988-06-06 JP JP13722588A patent/JPH01307640A/en active Pending
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