JPH01312447A - 米粒品位判定方法 - Google Patents
米粒品位判定方法Info
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- JPH01312447A JPH01312447A JP14442188A JP14442188A JPH01312447A JP H01312447 A JPH01312447 A JP H01312447A JP 14442188 A JP14442188 A JP 14442188A JP 14442188 A JP14442188 A JP 14442188A JP H01312447 A JPH01312447 A JP H01312447A
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- rice grains
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は玄米、白米又は籾米の品位を判定するための米
粒品位判定方法に関する。
粒品位判定方法に関する。
(従来の技術)
米粒等の穀粒は、農産物検査法に基づく農産物規格規定
に従って検査され、標準品と比較して等級決定が行われ
るのであるが、この検査は農産物検査官によって実施さ
れる。検査官は穀類の検査に精通した人が専任され、常
に正しい等級決定が行えるように訓練されているが、目
視検査のため完璧とは言えない。
に従って検査され、標準品と比較して等級決定が行われ
るのであるが、この検査は農産物検査官によって実施さ
れる。検査官は穀類の検査に精通した人が専任され、常
に正しい等級決定が行えるように訓練されているが、目
視検査のため完璧とは言えない。
そこで、玄米の粉質判別装置として例えば特開昭56−
125664号公報があり、同方法として、特開昭57
−153249号公報又は同61−150141号公報
に開示されている。
125664号公報があり、同方法として、特開昭57
−153249号公報又は同61−150141号公報
に開示されている。
すなわち、特開昭56−125664号のものは、−粒
毎の玄米に可視光線を照射し、該光線の反則光と透過光
の吊を測定することにより、玄米の粉質である整粒、乳
白粒、古米、茶米又は北米に判別しようどする玄米の粉
質判別装置Cあり、特開昭57−153249号のもの
は、玄米の一粒ず−) k二任意の波長の光線を照射し
て透過率を測定し、該透過率と所定のしきい値とを比較
しC不良粒であるか否かを判別する方法である。そして
、特開昭62−’1550141号のしのは、玄米−粒
毎に光を照射し2、拡散透過光量及び拡散反)1光吊と
、拡散反射光中任意の2波長の光量と、玄米1粒子σの
2位置の透過光量とをぞれぞれ検知し、拡散透過光量と
拡散反射光量の比と、拡散反射光中任意の2波長の光量
の比と、玄米1粒毎の2位置の透過光量の比とをそれぞ
れ演算して各光量の比を判定処理して玄米の品質である
整粒、腹内、乳白粒、青未熟粒、胴割粒、被害粒、着色
粒、貴兄及び白死粒の判別を行う方法である。
毎の玄米に可視光線を照射し、該光線の反則光と透過光
の吊を測定することにより、玄米の粉質である整粒、乳
白粒、古米、茶米又は北米に判別しようどする玄米の粉
質判別装置Cあり、特開昭57−153249号のもの
は、玄米の一粒ず−) k二任意の波長の光線を照射し
て透過率を測定し、該透過率と所定のしきい値とを比較
しC不良粒であるか否かを判別する方法である。そして
、特開昭62−’1550141号のしのは、玄米−粒
毎に光を照射し2、拡散透過光量及び拡散反)1光吊と
、拡散反射光中任意の2波長の光量と、玄米1粒子σの
2位置の透過光量とをぞれぞれ検知し、拡散透過光量と
拡散反射光量の比と、拡散反射光中任意の2波長の光量
の比と、玄米1粒毎の2位置の透過光量の比とをそれぞ
れ演算して各光量の比を判定処理して玄米の品質である
整粒、腹内、乳白粒、青未熟粒、胴割粒、被害粒、着色
粒、貴兄及び白死粒の判別を行う方法である。
(発明が解決しようどする問題点)
しかしながら、これら従来の装置や方法では品位判定の
基壁となる検出項目が反射光間及び透過光量の光量だけ
の要素であり、正確な判定ができなかった。つまり、整
粒(正常粒)であってし、品種、産地又は生育条件によ
り、反射光間及び透過光量に差があることから、整粒と
し【判別できないとlどがあり1、高精度の判定は期待
し得ないしのであンた。
基壁となる検出項目が反射光間及び透過光量の光量だけ
の要素であり、正確な判定ができなかった。つまり、整
粒(正常粒)であってし、品種、産地又は生育条件によ
り、反射光間及び透過光量に差があることから、整粒と
し【判別できないとlどがあり1、高精度の判定は期待
し得ないしのであンた。
また、測定においては、品位判定の境界線の設定に熟練
者を要した。例え(、(、異物、着色粒、粉状質とい−
)だ各品位の玄米の度数分布は第9図のように表され1
.各玄米はXN!方向く明るさ一反射光量)に重なり合
うので、どの位置に境界線を設【ノでも各品位別に正確
に判定することは不可能である。
者を要した。例え(、(、異物、着色粒、粉状質とい−
)だ各品位の玄米の度数分布は第9図のように表され1
.各玄米はXN!方向く明るさ一反射光量)に重なり合
うので、どの位置に境界線を設【ノでも各品位別に正確
に判定することは不可能である。
本発明は上記の点にかんがみ、米粒の品位判定をより正
確に行うことのできる米粒品位判定方法を提供すること
を技術的課題と1“る。
確に行うことのできる米粒品位判定方法を提供すること
を技術的課題と1“る。
〔問題点を解決するための手段]
前記問題点を解決覆るため、本ざそ明の米粒品位判定方
法に1おいては、 イ、搬送手段により順次搬送される米粒に光を照射する
とともに、リニアイメージセンサ−によって米粒を搬送
右向に直交するん向に線状に走査覆る。
法に1おいては、 イ、搬送手段により順次搬送される米粒に光を照射する
とともに、リニアイメージセンサ−によって米粒を搬送
右向に直交するん向に線状に走査覆る。
[]、そして、平平均反射光量最も明るい点の光量、最
も暗い点の光量、最も明るい点と最も暗い点の差の光り
1、平均反射光量より一定最以上明るい領域の面積、平
均反射光量より設定ψ以上暗い領域の面積、全投影面積
及び楕円形状の各項目について検出する。
も暗い点の光量、最も明るい点と最も暗い点の差の光り
1、平均反射光量より一定最以上明るい領域の面積、平
均反射光量より設定ψ以上暗い領域の面積、全投影面積
及び楕円形状の各項目について検出する。
ハ、これらの検出値を適宜組み合わせることによって品
位判定のための判定区分毎の分析を行う。
位判定のための判定区分毎の分析を行う。
二、この分析結果により当該ザンブルの米粒品位判定を
行うものである。
行うものである。
米粒搬送は、米粒を整列さぜるめたの溝を多数形成した
ベルトコンベアがよい。
ベルトコンベアがよい。
また、ある品位判定区分の分析結果に基づき、直ちに該
当米粒を選別する場合がある。
当米粒を選別する場合がある。
〔作 用)
)般送される米粒をリニアイメージセンサ−によって線
状に走査し、米粒の微小な検出点の多数のデータに基づ
き、平均反射光量、最も明るい点の光量、最も暗い点の
光量、最も明るい点と最も暗い点の差の光量、平均反射
光量より一定吊以上明るい領域の面積、平均反射光量よ
り一定弔以上暗い領域の面積、全投影面積及び楕円形状
について検出し、これらの検出項目を適宜組み合わせて
、米の等級判定の基礎となる肌ずれ粒、未熟粒、被害粒
、北米、着色粒、異物等を判別するとともにその比率を
求め、自動的にサンプル米の品位判定を行うものである
。
状に走査し、米粒の微小な検出点の多数のデータに基づ
き、平均反射光量、最も明るい点の光量、最も暗い点の
光量、最も明るい点と最も暗い点の差の光量、平均反射
光量より一定吊以上明るい領域の面積、平均反射光量よ
り一定弔以上暗い領域の面積、全投影面積及び楕円形状
について検出し、これらの検出項目を適宜組み合わせて
、米の等級判定の基礎となる肌ずれ粒、未熟粒、被害粒
、北米、着色粒、異物等を判別するとともにその比率を
求め、自動的にサンプル米の品位判定を行うものである
。
このように本発明によれば、米粒を線状に微細に走査し
たデータによって平均反射光a ′G8項目の検出を行
い、この8項目を組み合わせて米粒の品位判定の基礎と
なる種々の分析を行うので、従来の米粒全体としての単
一のデータによる判定に比し、非常に正確なものとなる
。この8項目に、従来から比較的検出の容易な胴割粒の
検出を絹み合わせることにより、米の検査員による検査
に代えて正確な等級判定を迅速に行うことが可能となる
。
たデータによって平均反射光a ′G8項目の検出を行
い、この8項目を組み合わせて米粒の品位判定の基礎と
なる種々の分析を行うので、従来の米粒全体としての単
一のデータによる判定に比し、非常に正確なものとなる
。この8項目に、従来から比較的検出の容易な胴割粒の
検出を絹み合わせることにより、米の検査員による検査
に代えて正確な等級判定を迅速に行うことが可能となる
。
(発明の実施例)
以下、図面を参照しながら、本発明の好適な実施例につ
いて説明する。
いて説明する。
はぼ直方体形状のキャビネット1の上面の一側寄りに供
給ポツパー2を設け、供給ホッパー2の下端は、下方に
延びる供給13の上端を接続する。供給ホッパ−2内上
部には、大異物を除去するための粗選網4を張設し、同
下部にはシ・ヤッター5を設ける。また、供給樋3の上
部には、米粒の流れを遅く、かつ均一にするための一連
のせき板6が設けられ、せき仮6の下方には風選部7が
形成される。すなわち、供給樋3の一部を拡大させると
ともに水平方向に延びる分岐路9を設け、分岐路9はキ
ャビネット1外へ臨ませ、さらに下降させて小異物受箱
8に接続される。小異物受箱8はキャビネット1の裏面
に固着した受箱載台1o上に載置されるととらに、小異
物受箱8上端開口部と分岐路9F端とは着脱自在に装着
される。なお、小異物受箱8の一部には布等のフィルタ
ーを張設しである。一方、供給樋3の拡大部上部にあっ
て、前記分岐路9と対向する路壁には、水平方向に送風
用スリット11を開口するとともに、この送風用スリッ
ト11から供給樋3内に送風すべく送風t112を設け
る。
給ポツパー2を設け、供給ホッパー2の下端は、下方に
延びる供給13の上端を接続する。供給ホッパ−2内上
部には、大異物を除去するための粗選網4を張設し、同
下部にはシ・ヤッター5を設ける。また、供給樋3の上
部には、米粒の流れを遅く、かつ均一にするための一連
のせき板6が設けられ、せき仮6の下方には風選部7が
形成される。すなわち、供給樋3の一部を拡大させると
ともに水平方向に延びる分岐路9を設け、分岐路9はキ
ャビネット1外へ臨ませ、さらに下降させて小異物受箱
8に接続される。小異物受箱8はキャビネット1の裏面
に固着した受箱載台1o上に載置されるととらに、小異
物受箱8上端開口部と分岐路9F端とは着脱自在に装着
される。なお、小異物受箱8の一部には布等のフィルタ
ーを張設しである。一方、供給樋3の拡大部上部にあっ
て、前記分岐路9と対向する路壁には、水平方向に送風
用スリット11を開口するとともに、この送風用スリッ
ト11から供給樋3内に送風すべく送風t112を設け
る。
供給樋3内の風道部7下方には混入防止弁13が設けら
れる。この混入防止弁13は、運転開始時には開放され
ており、一定時間後に閉鎖して、第1回目の測定を終え
て供給樋3内に戻る米粒が、供給樋3下部を流下する測
定未済の米粒中に混入しないように働く。
れる。この混入防止弁13は、運転開始時には開放され
ており、一定時間後に閉鎖して、第1回目の測定を終え
て供給樋3内に戻る米粒が、供給樋3下部を流下する測
定未済の米粒中に混入しないように働く。
供給樋3の下端は振動フィーダー15上に臨ませである
。すなわち、基台17上に緩衝板を介して固設したバイ
ブレータ−16には整流板14を載設し、整流板14の
搬送後半部には、米粒の長袖が搬送方向を向いて整列す
るよう多数の溝が形成される。本実施例では、直径3m
mの半円形の溝を4mm間隔で15列形成した。また、
整流板14のやや上にはには米粒を溝内に1粒ずつ整列
させるためのブラシ18を横架する。
。すなわち、基台17上に緩衝板を介して固設したバイ
ブレータ−16には整流板14を載設し、整流板14の
搬送後半部には、米粒の長袖が搬送方向を向いて整列す
るよう多数の溝が形成される。本実施例では、直径3m
mの半円形の溝を4mm間隔で15列形成した。また、
整流板14のやや上にはには米粒を溝内に1粒ずつ整列
させるためのブラシ18を横架する。
振動フィーダー15の搬送n端部と極わずかな間隙を介
して溝付ベルトコンベア19が設けられる。溝付ベルト
コンベア1つはタイミングベルトからなり、搬送面には
前記整流板14に形成した溝と同形状で同数の溝を有す
るエンドレスベルトである。そして、はぼ整流板14と
同じ高さで水平方向に平行に設けた受動プーリー20.
21と、受動プーリー20.21のほぼ中程の下方に設
けた駆動プーリー22との間に掛は渡される。駆動プー
リー22は2条掛けであり、他の1条はタイミングベル
ト23を介して2条掛けの中間プーリー24の小径側プ
ーリーに連結され、さらに、中間プーリー24の大径側
プーリーは、タイミングベルト25を介してモーター2
6のモータープーリー27に連結される。前記各プーリ
ーには各タイミングベルトに見合う歯が形成され、モー
ター26の回転数(約25Orpm)は中間プーリー2
4を介して10:1のギア比で2段階に減速されて駆動
プーリー22に伝えられる。また、中間プーリー24を
支える中間軸28にはタコメーター29が連結される。
して溝付ベルトコンベア19が設けられる。溝付ベルト
コンベア1つはタイミングベルトからなり、搬送面には
前記整流板14に形成した溝と同形状で同数の溝を有す
るエンドレスベルトである。そして、はぼ整流板14と
同じ高さで水平方向に平行に設けた受動プーリー20.
21と、受動プーリー20.21のほぼ中程の下方に設
けた駆動プーリー22との間に掛は渡される。駆動プー
リー22は2条掛けであり、他の1条はタイミングベル
ト23を介して2条掛けの中間プーリー24の小径側プ
ーリーに連結され、さらに、中間プーリー24の大径側
プーリーは、タイミングベルト25を介してモーター2
6のモータープーリー27に連結される。前記各プーリ
ーには各タイミングベルトに見合う歯が形成され、モー
ター26の回転数(約25Orpm)は中間プーリー2
4を介して10:1のギア比で2段階に減速されて駆動
プーリー22に伝えられる。また、中間プーリー24を
支える中間軸28にはタコメーター29が連結される。
溝付ベルトコンベア19の搬送終端部は、この溝付ベル
トコンベア1つの搬送方向と直交する方向に設けた連絡
樋3oによって循環用ベルトコンベア31の搬送始端部
に連絡される。すなわち、連絡樋30の供給口は溝付ベ
ルトコンベア19の搬送終端部のやや下方に開口される
とともに、その樋底は循環用ベルトコンベア31の始端
部に向けて下りこう配としである。循環用ベルトコンベ
ア31は、溝付ベルトコンベア31から流出する米粒を
供給樋3内へ戻すよう、搬送終端側を高く形成される。
トコンベア1つの搬送方向と直交する方向に設けた連絡
樋3oによって循環用ベルトコンベア31の搬送始端部
に連絡される。すなわち、連絡樋30の供給口は溝付ベ
ルトコンベア19の搬送終端部のやや下方に開口される
とともに、その樋底は循環用ベルトコンベア31の始端
部に向けて下りこう配としである。循環用ベルトコンベ
ア31は、溝付ベルトコンベア31から流出する米粒を
供給樋3内へ戻すよう、搬送終端側を高く形成される。
そして、高位側には受動プーリー32を、低位側には駆
動プーリー33と受動プーリー34とを各々設けて循環
用ベルトコンベア31を掛は渡し、駆動プーリー33と
、モーター26のモーターブーリー27の他側に軸着し
たモータープーリー35とは断面円形のベトル36をた
すき掛けして連結しである。なお、循環用ベルトコンベ
ア31の搬送面は約30”の昇りこう配であるため、そ
の表面には、米粒を転勤させないためのボケッ1へが多
数形成される。
動プーリー33と受動プーリー34とを各々設けて循環
用ベルトコンベア31を掛は渡し、駆動プーリー33と
、モーター26のモーターブーリー27の他側に軸着し
たモータープーリー35とは断面円形のベトル36をた
すき掛けして連結しである。なお、循環用ベルトコンベ
ア31の搬送面は約30”の昇りこう配であるため、そ
の表面には、米粒を転勤させないためのボケッ1へが多
数形成される。
循環用ベルトコンベア31の頂点の搬送終端部は、米粒
を2方向へ分流することのできる排出樋37に連絡され
る。すなわち、排出樋37の排出端部はキレビネット1
外に突出させるとともに、排出端部側を低く傾斜させて
設け、その途中には供給樋3に連通するための切換弁3
8及び循環路3つを設ける。なお、溝付ベルトコンベア
19と循環用ベルトコンベア31との間には各部品を固
定するため、基台17に立設して隔壁40を設ける。
を2方向へ分流することのできる排出樋37に連絡され
る。すなわち、排出樋37の排出端部はキレビネット1
外に突出させるとともに、排出端部側を低く傾斜させて
設け、その途中には供給樋3に連通するための切換弁3
8及び循環路3つを設ける。なお、溝付ベルトコンベア
19と循環用ベルトコンベア31との間には各部品を固
定するため、基台17に立設して隔壁40を設ける。
以上、主として米粒の流れに従って説明したが、次に、
検出装置等について詳述する。溝付ベルトコンベア19
の搬送始端部寄りの任意の位置1〕上方には一対の光源
41と、頂部中央にスリット43を開口したかさ42と
からなる主照明装置44を設け、かさ42によってP位
置における溝付ベルl−コンベア19の幅方向に均一に
、かつ真上から光線を照射するよう形成される。主照明
装置44の近傍には胴側用照明装置45が設けられる。
検出装置等について詳述する。溝付ベルトコンベア19
の搬送始端部寄りの任意の位置1〕上方には一対の光源
41と、頂部中央にスリット43を開口したかさ42と
からなる主照明装置44を設け、かさ42によってP位
置における溝付ベルl−コンベア19の幅方向に均一に
、かつ真上から光線を照射するよう形成される。主照明
装置44の近傍には胴側用照明装置45が設けられる。
胴側用照明装置45は光源46及びかさ47からなり、
かさ47は、光源46の光が斜めにP位置に照rF1す
るよう傾斜させて設けられる。
かさ47は、光源46の光が斜めにP位置に照rF1す
るよう傾斜させて設けられる。
主照明装置44のかさ42に設(プたスリット43の上
方には、集光レンズ48を内蔵したレンズ筒49を下向
きに設け、レンズ筒49の上端に接続してセンサーボッ
クス50を設ける。
方には、集光レンズ48を内蔵したレンズ筒49を下向
きに設け、レンズ筒49の上端に接続してセンサーボッ
クス50を設ける。
センサーボックス50内にはリニアイメージセンサ−を
4096個並設したりニアイメージセンサ−アレイ51
を内蔵してあり、これにより、溝付ベルトコンベア1つ
によって搬送される米粒が1〕位置を通過する時の米粒
の表面がリニアイメージセンサ−アレイ51上に結像さ
れる。なお、P位置における溝付ベルトコンベア19の
裏面には、溝付ベルトコンベア19の揺れを防ぐための
防振ローラー52を設ける。
4096個並設したりニアイメージセンサ−アレイ51
を内蔵してあり、これにより、溝付ベルトコンベア1つ
によって搬送される米粒が1〕位置を通過する時の米粒
の表面がリニアイメージセンサ−アレイ51上に結像さ
れる。なお、P位置における溝付ベルトコンベア19の
裏面には、溝付ベルトコンベア19の揺れを防ぐための
防振ローラー52を設ける。
前記二すアイメージ廿ンサーアレイ51によって検出す
べき項目は、A・・・平均反射光ω、B・・・最も明る
い点の光量、C・・・最も暗い点の光量、D・・・最も
明るい点と最も暗い点の差の光量、E・・・平均反射光
量より一定量以上明るい領域の面積、F・・・平均反射
光量より一定量以上暗い領域の面積、G・・・全投影面
積及びH・・・楕円形状である。また、これらの検出値
を組み合わせることによ−)で得られる米粒(玄米)品
位判定用の分析区分は、■整粒・・・完全良品であり、
肌ずれしてないもの、■朋ずれ粒・・・玄米の皮部が剥
離又は遊離したちのをいい、その面積が1mm2以上で
3ff1m2以下のもの(1粒の一側面の面積は14〜
15mm2である)、■未熟粒・・・中心部に白色不透
明部(粉状質)のある心白粒、腹部や背部に白色不透明
部がある腹白粒(いずれも粉状質の面積は4mto2〜
8mm2)又は粒の充実が不充分で果実の部分が緑色を
早して粉状質のない肖未熟粒、■被害粒・・・後述する
胴割粒以外の被害粒であり、虫害粒、発芽粒、病害粒、
芽くされ粒、茶米、砕粒(整粒面積に対し1/3〜2/
3)等をいい、着色部の大ぎさが0.5〜1.0mm2
か、又は粒の大きさが整粒の 1/4〜2/3(4〜1
0m1)のもの、■北米・・・粉状貿部の大きさが粒の
1/2 (8mm2 )以上のものをいい、白死米及
び青死米がある、■着色粒・・・虫、熱、カビ又は菌に
よって粒の表面の全部又は一部が褐色又は黒色を呈する
ものをいい、着色部の大きさが1mll12以上のもの
又は反射光量が正常粒の70%以下(つまり、粒全体が
着色したもの)のもの、■異物・・・測定しようとする
米粒以外の穀粒または土砂等、である。
べき項目は、A・・・平均反射光ω、B・・・最も明る
い点の光量、C・・・最も暗い点の光量、D・・・最も
明るい点と最も暗い点の差の光量、E・・・平均反射光
量より一定量以上明るい領域の面積、F・・・平均反射
光量より一定量以上暗い領域の面積、G・・・全投影面
積及びH・・・楕円形状である。また、これらの検出値
を組み合わせることによ−)で得られる米粒(玄米)品
位判定用の分析区分は、■整粒・・・完全良品であり、
肌ずれしてないもの、■朋ずれ粒・・・玄米の皮部が剥
離又は遊離したちのをいい、その面積が1mm2以上で
3ff1m2以下のもの(1粒の一側面の面積は14〜
15mm2である)、■未熟粒・・・中心部に白色不透
明部(粉状質)のある心白粒、腹部や背部に白色不透明
部がある腹白粒(いずれも粉状質の面積は4mto2〜
8mm2)又は粒の充実が不充分で果実の部分が緑色を
早して粉状質のない肖未熟粒、■被害粒・・・後述する
胴割粒以外の被害粒であり、虫害粒、発芽粒、病害粒、
芽くされ粒、茶米、砕粒(整粒面積に対し1/3〜2/
3)等をいい、着色部の大ぎさが0.5〜1.0mm2
か、又は粒の大きさが整粒の 1/4〜2/3(4〜1
0m1)のもの、■北米・・・粉状貿部の大きさが粒の
1/2 (8mm2 )以上のものをいい、白死米及
び青死米がある、■着色粒・・・虫、熱、カビ又は菌に
よって粒の表面の全部又は一部が褐色又は黒色を呈する
ものをいい、着色部の大きさが1mll12以上のもの
又は反射光量が正常粒の70%以下(つまり、粒全体が
着色したもの)のもの、■異物・・・測定しようとする
米粒以外の穀粒または土砂等、である。
前記検出項目と分析区分との関係は第1表に示すとおり
であり、整粒及び肌ずれ粒は前での検出項目によって分
析され、その他の分析区分は、検出項目を適宜に組合わ
せて行うものである。
であり、整粒及び肌ずれ粒は前での検出項目によって分
析され、その他の分析区分は、検出項目を適宜に組合わ
せて行うものである。
第1表
以上は、主照明装置44から米粒に照射して検出される
項目及びそれらの項目を組合わせて分析する区分である
が、このほかに、胴側用照明装置45によって、P位置
を通過する米粒に斜め上方から光を照射し、米粒の胚乳
部に横又は縦に生じた亀裂面による光線の乱反射を検出
し、この亀裂が1.5+nm以上を胴割粒とする。なお
、この胴割粒の検出は、全ての検出項目に先立って行わ
れ、後述する選別除去装置53によって直ちに溝付ベル
トコンベア19上から選別除去するよう形成される。
項目及びそれらの項目を組合わせて分析する区分である
が、このほかに、胴側用照明装置45によって、P位置
を通過する米粒に斜め上方から光を照射し、米粒の胚乳
部に横又は縦に生じた亀裂面による光線の乱反射を検出
し、この亀裂が1.5+nm以上を胴割粒とする。なお
、この胴割粒の検出は、全ての検出項目に先立って行わ
れ、後述する選別除去装置53によって直ちに溝付ベル
トコンベア19上から選別除去するよう形成される。
第8図のブロック線図を参照しながら、更に詳述すると
、リニアイメージセンサ−アレイ51は、溝付ベルトコ
ンベア1つのP位置上の米粒の、ある瞬間における切断
面を線状にとらえて全体の画像を作るものであり、この
リニアイメージセンサ−アレイ51は白さ測定用A/D
変?!!!器54と一般用A/D変換器55とに接続さ
れ、白さ測定用A/D変換器54は画像正常化装置56
を介して灰色値平均化装置57に接続され、一般用A/
D変換器55は画像正常化装置58を介して一般用比校
器5つに接続される。そして、この一般用比較器59と
灰色値平均化装置57とは符号器60を介して演算制御
装置61に接続される。一方、画像正常化装置58には
肌ずれ用比較器62が接続され、この肌ずれ用比較器6
2は符号器63を介して演算制御装置61に接続される
。また、これらの検出に先立って行う、胴割粒検出のた
めの胴側用比較器64が画像正常化装置58に接続され
、この胴側用比較器64は符号器65を介して演算制御
装置61に接続される。なお、演算制御装置61には記
憶部が備えられる。
、リニアイメージセンサ−アレイ51は、溝付ベルトコ
ンベア1つのP位置上の米粒の、ある瞬間における切断
面を線状にとらえて全体の画像を作るものであり、この
リニアイメージセンサ−アレイ51は白さ測定用A/D
変?!!!器54と一般用A/D変換器55とに接続さ
れ、白さ測定用A/D変換器54は画像正常化装置56
を介して灰色値平均化装置57に接続され、一般用A/
D変換器55は画像正常化装置58を介して一般用比校
器5つに接続される。そして、この一般用比較器59と
灰色値平均化装置57とは符号器60を介して演算制御
装置61に接続される。一方、画像正常化装置58には
肌ずれ用比較器62が接続され、この肌ずれ用比較器6
2は符号器63を介して演算制御装置61に接続される
。また、これらの検出に先立って行う、胴割粒検出のた
めの胴側用比較器64が画像正常化装置58に接続され
、この胴側用比較器64は符号器65を介して演算制御
装置61に接続される。なお、演算制御装置61には記
憶部が備えられる。
次に、選別除去装置53について詳述する(第7図参照
)。選別除去装置53は溝付ベルトコンベア19のP位
置よも搬送後半部寄りに設けられ、溝付ベルトコンベア
1つの各溝上に吸引管66の吸引口67を臨ませる。吸
引管66は溝付ベル1〜コンベア19の搬送面に対して
直角に垂下するか、又は吸引口67を溝付ベル1〜コン
ベア1つの搬送始端側にずらせて傾斜状に設ける。各吸
引管66の上端は、はぼ水平状に横架した搬送管68に
連結され、吸引管66及び搬送管68共に、米粒が十分
通過可能な内径とする。また、各搬送管68の一端は図
外の空気圧縮機に接続するとともに、他端はキャビネッ
1〜1内の適宜な空間に載置した米粒受箱6つ内に臨ま
せる。なお、キャビネット1には、前記米粒受箱69を
機外に取り出せる開口及びとびらくいずれも図示せず)
を設ける。そして、各搬送管68には、吸引管66より
も空気圧縮機側に電磁弁69を介設し、各電磁弁69は
演算制御装置61からの出力信号によって作動するよう
形成される。また、各搬送管68内には、電磁弁69の
作動によって送風される圧縮空気が吸引管66の取付は
部に至る直前部にノズル部70を設けてインゼクタ(1
njector)を形成する。これより、演算制御装置
61がリニアイメージセンサ−アレイ51の検出値を分
析し、ある米粒を胴割粒と判別したときは、演算制御装
置61からの信号によって電磁弁6つが作動し、圧縮空
気がノズル部70を通過する。このとき、吸引管66内
は低圧となり、当該米粒を吸引口67から吸い込み、搬
送管68によって米粒受箱69に搬送するものである。
)。選別除去装置53は溝付ベルトコンベア19のP位
置よも搬送後半部寄りに設けられ、溝付ベルトコンベア
1つの各溝上に吸引管66の吸引口67を臨ませる。吸
引管66は溝付ベル1〜コンベア19の搬送面に対して
直角に垂下するか、又は吸引口67を溝付ベル1〜コン
ベア1つの搬送始端側にずらせて傾斜状に設ける。各吸
引管66の上端は、はぼ水平状に横架した搬送管68に
連結され、吸引管66及び搬送管68共に、米粒が十分
通過可能な内径とする。また、各搬送管68の一端は図
外の空気圧縮機に接続するとともに、他端はキャビネッ
1〜1内の適宜な空間に載置した米粒受箱6つ内に臨ま
せる。なお、キャビネット1には、前記米粒受箱69を
機外に取り出せる開口及びとびらくいずれも図示せず)
を設ける。そして、各搬送管68には、吸引管66より
も空気圧縮機側に電磁弁69を介設し、各電磁弁69は
演算制御装置61からの出力信号によって作動するよう
形成される。また、各搬送管68内には、電磁弁69の
作動によって送風される圧縮空気が吸引管66の取付は
部に至る直前部にノズル部70を設けてインゼクタ(1
njector)を形成する。これより、演算制御装置
61がリニアイメージセンサ−アレイ51の検出値を分
析し、ある米粒を胴割粒と判別したときは、演算制御装
置61からの信号によって電磁弁6つが作動し、圧縮空
気がノズル部70を通過する。このとき、吸引管66内
は低圧となり、当該米粒を吸引口67から吸い込み、搬
送管68によって米粒受箱69に搬送するものである。
なお、溝付ベルトコンベア19の各溝底には多数の通気
孔71を設け、溝の下方から空気を吸引させることによ
り、胴割粒以外の米粒を吸引することのないようにする
とよい。
孔71を設け、溝の下方から空気を吸引させることによ
り、胴割粒以外の米粒を吸引することのないようにする
とよい。
次に、キャビネット1の外部について説明する。キャビ
ネット1の上面には、既に’>’ilべた供給ホッパー
2が設けられ、底面の4隅には水平調整ねじ72をそれ
ぞれ設け、これにより、キャビネット1を水平に設置す
ることができる。
ネット1の上面には、既に’>’ilべた供給ホッパー
2が設けられ、底面の4隅には水平調整ねじ72をそれ
ぞれ設け、これにより、キャビネット1を水平に設置す
ることができる。
背面には電源スィッチ、アワーメータ−プリンター用紙
の出口及び排出樋37端部の排出口(いずれも図示ぼず
)が設けられる。一方、前面パネルには各種ランプ及び
操作用ボタン(詳細は後述する)のほか、液晶デイスプ
レィ73及びキーボード74が設けられる。
の出口及び排出樋37端部の排出口(いずれも図示ぼず
)が設けられる。一方、前面パネルには各種ランプ及び
操作用ボタン(詳細は後述する)のほか、液晶デイスプ
レィ73及びキーボード74が設けられる。
以上の構成における具体的作動を以下に説明する。水平
調整ねじ72によってキャビネッ1へ1を水平に設置し
、電源スイッチをONする。
調整ねじ72によってキャビネッ1へ1を水平に設置し
、電源スイッチをONする。
電源がONされるとオレンジ色のWA f rランプ7
5が点灯する。WAITランプ75は付属の空気圧縮機
等を運転可能状態にするための数分間点灯し、このWA
ITランプ75が消灯すると同時に緑色のREΔDYラ
ンプ76が点灯して運転可能状態にあることを示す。
5が点灯する。WAITランプ75は付属の空気圧縮機
等を運転可能状態にするための数分間点灯し、このWA
ITランプ75が消灯すると同時に緑色のREΔDYラ
ンプ76が点灯して運転可能状態にあることを示す。
運転準備完了になると、CLEARボタン77、INC
ボタン78及びENTERボタン7つからなる設定ボタ
ンを操作して、サンプルは玄米か白米かの種類(TYP
E)、及び選別をするかどうか(SORT I NG>
の設定を行う。
ボタン78及びENTERボタン7つからなる設定ボタ
ンを操作して、サンプルは玄米か白米かの種類(TYP
E)、及び選別をするかどうか(SORT I NG>
の設定を行う。
設定ボタンの操作に応じて、パネル上部に設けた白色L
ED群80及び赤色LED群81の該当L F Dが点
灯する。例えば、ENTERボタン82を押して赤色L
ED群81の−rYPE・LED87を点灯させた後、
CL E A Rボタン77を押して白色LED群80
のRESET・LED83を点灯させ、次に、I−NC
ボタン78を押してBROWN−LED84とW+−1
1TE・LED85との内、BROWN・L E D
84を点灯させ、再びENTERボタン82を押す。同
様にして、5ORTING−LED86及びRESET
−LED88を点灯させた後、YES−LED89とO
N・l−E D 90との内、選別を希望しないときは
INGNCボタン78ってNo・I−E D 90を選
択し、E N T E Rボタン82を押すことにより
、玄米をサンプルとして「選別なし」の設定を行う。
ED群80及び赤色LED群81の該当L F Dが点
灯する。例えば、ENTERボタン82を押して赤色L
ED群81の−rYPE・LED87を点灯させた後、
CL E A Rボタン77を押して白色LED群80
のRESET・LED83を点灯させ、次に、I−NC
ボタン78を押してBROWN−LED84とW+−1
1TE・LED85との内、BROWN・L E D
84を点灯させ、再びENTERボタン82を押す。同
様にして、5ORTING−LED86及びRESET
−LED88を点灯させた後、YES−LED89とO
N・l−E D 90との内、選別を希望しないときは
INGNCボタン78ってNo・I−E D 90を選
択し、E N T E Rボタン82を押すことにより
、玄米をサンプルとして「選別なし」の設定を行う。
こうして、運転前の設定を終了すると、供給ホッパー2
内l\玄米を投入する。供給ポツパー2内には約 1,
000粒の玄米を入れるように目印が設けられる。また
、供給ホッパー2内に張設し7た粗選網4によって大き
い異物、例えばわらくず等が除かれる。それから、S
T A RTボタン91を押し、液晶デイスプレィ73
を見ながら、サンプルNO1と当該ナンブルの含水率と
をキーボード74を使ってインプットする。これらのデ
ータがインプットされると、READYランプ76が消
灯するととらに、黄色のRIJNランプ92が点灯し、
パイブレーク−16及びモーター26が起動する。
内l\玄米を投入する。供給ポツパー2内には約 1,
000粒の玄米を入れるように目印が設けられる。また
、供給ホッパー2内に張設し7た粗選網4によって大き
い異物、例えばわらくず等が除かれる。それから、S
T A RTボタン91を押し、液晶デイスプレィ73
を見ながら、サンプルNO1と当該ナンブルの含水率と
をキーボード74を使ってインプットする。これらのデ
ータがインプットされると、READYランプ76が消
灯するととらに、黄色のRIJNランプ92が点灯し、
パイブレーク−16及びモーター26が起動する。
RUNランプ92が点灯すると、シセッター5を開けて
米粒を供給樋3に流出させる。供給樋3内の米粒は、せ
き板6によって流下速度が遅くされ、かつ均一なものと
なる。そして、1虱選部7を通過する際、送風用スリッ
ト11から噴き出ず風によって風選作用を受け、サンプ
ル中に混在する小異物、例えば籾殻等を分岐路9に向け
て噴き飛ばして小異物受箱8内に落下させる。
米粒を供給樋3に流出させる。供給樋3内の米粒は、せ
き板6によって流下速度が遅くされ、かつ均一なものと
なる。そして、1虱選部7を通過する際、送風用スリッ
ト11から噴き出ず風によって風選作用を受け、サンプ
ル中に混在する小異物、例えば籾殻等を分岐路9に向け
て噴き飛ばして小異物受箱8内に落下させる。
風選されて小異物を除去された米粒は、摂動フィーダー
16の整流板14上に落下し、振動作用によって徐々に
搬送される。すなわち、撮動を受けた米粒は、長軸側を
溝付ベルトコンベア19側に向けて整流板14上を見込
されるのであるが、全ての米粒は整流ブラシ18によっ
て15条の内のいずれかの溝内に嵌入して移送される。
16の整流板14上に落下し、振動作用によって徐々に
搬送される。すなわち、撮動を受けた米粒は、長軸側を
溝付ベルトコンベア19側に向けて整流板14上を見込
されるのであるが、全ての米粒は整流ブラシ18によっ
て15条の内のいずれかの溝内に嵌入して移送される。
搬送速度は18〜20111111/ SeCとする。
整流板14の搬送終端に至った米粒は、そのまま溝付ベ
ルトコンベア1つの溝内にそれぞれ乗り換えるのである
が、溝付ベルトコンベア19の速度は、振動コンベア1
5のそれよりも速い25m1ll/ SeCとしである
ので、溝付ベルトコンベア1つの溝内の米粒は、1粒ず
つ離れた状態で運ばれることになる。
ルトコンベア1つの溝内にそれぞれ乗り換えるのである
が、溝付ベルトコンベア19の速度は、振動コンベア1
5のそれよりも速い25m1ll/ SeCとしである
ので、溝付ベルトコンベア1つの溝内の米粒は、1粒ず
つ離れた状態で運ばれることになる。
1回目の測定では胴割粒の分析を行うので、胴側用照明
装置45の光源46が点灯し、P位置を通過する米粒に
対して斜上方から照明する。
装置45の光源46が点灯し、P位置を通過する米粒に
対して斜上方から照明する。
P位置に胴割粒が通過すると、亀裂面で光が屈折して乱
反射を生じ、この亀裂面を境に明暗差を呈するので、リ
ニアイメージセンサ−アレイ51がこの光量差を検出し
て亀裂が1.5II1m以上の場合を胴割粒と判別する
。すなわら、リニアイメージセンサ−アレイ51によっ
て線状に走査して得られたデータは、一般用A/’D交
換器55暢よってディジタル信号に変換され、画像正常
化装@58によって補正された後、胴側用比較器64に
おいて、米粒と溝付ベルトコンベア19との光量差から
米粒の端を検出することにより米粒を確aするとともに
、この端をカッ1〜した胚乳部の信号を明るさに応じて
ランク分けし、符号器65により、演算制御装置61で
迅速に演算できる信号に処理されて演算制御装置61に
刻々出力される。そして、米粒の進行方向の前後に明暗
差があるときは、当該米粒を胴割粒とみなし、選別除去
装置53を作動させる。すなわち、当該米粒を搬送する
溝上の電磁弁69が約20m sec、@き、圧縮空気
がノズル部70に供給される。これにより、吸引管66
付近が低圧となり、当該米粒が吸引口67から吸い込ま
れ、搬送管68を経て米粒受箱69内に落下する。電磁
弁69の作動は、米粒がP位置から吸引管66直下に至
るまでに要する時間1秒後に作動するように形成される
のは言うまでもない。また、溝付ベルトコンベア19に
よって搬送される全米粒数及び胴割粒数は、演算制御装
置61によってカウントされ、記憶される。
反射を生じ、この亀裂面を境に明暗差を呈するので、リ
ニアイメージセンサ−アレイ51がこの光量差を検出し
て亀裂が1.5II1m以上の場合を胴割粒と判別する
。すなわら、リニアイメージセンサ−アレイ51によっ
て線状に走査して得られたデータは、一般用A/’D交
換器55暢よってディジタル信号に変換され、画像正常
化装@58によって補正された後、胴側用比較器64に
おいて、米粒と溝付ベルトコンベア19との光量差から
米粒の端を検出することにより米粒を確aするとともに
、この端をカッ1〜した胚乳部の信号を明るさに応じて
ランク分けし、符号器65により、演算制御装置61で
迅速に演算できる信号に処理されて演算制御装置61に
刻々出力される。そして、米粒の進行方向の前後に明暗
差があるときは、当該米粒を胴割粒とみなし、選別除去
装置53を作動させる。すなわち、当該米粒を搬送する
溝上の電磁弁69が約20m sec、@き、圧縮空気
がノズル部70に供給される。これにより、吸引管66
付近が低圧となり、当該米粒が吸引口67から吸い込ま
れ、搬送管68を経て米粒受箱69内に落下する。電磁
弁69の作動は、米粒がP位置から吸引管66直下に至
るまでに要する時間1秒後に作動するように形成される
のは言うまでもない。また、溝付ベルトコンベア19に
よって搬送される全米粒数及び胴割粒数は、演算制御装
置61によってカウントされ、記憶される。
こうして、胴割粒が選別除去されたサンプルは、溝付ベ
ルトコンベア1つの搬送終端から連絡樋30を介し、循
環用ベルトコンベア31によって上送されて排出樋37
に運ばれる。このとき、排出樋37の切換弁38は開い
ているので、米粒は循環路39を経て供給樋3内に循環
されるのであるが、一方、供給樋3内底部には1回目の
測定を終えていない米粒が残っており、これらを区別す
るため、運転開始後、例えば10秒経過すると混入防止
弁13を閉じるよう形成される。なお、混入防止弁13
及び切換弁38の開閉手段は電磁ソレノイドやサーボモ
ーター(図示せず)等で行うものとする。
ルトコンベア1つの搬送終端から連絡樋30を介し、循
環用ベルトコンベア31によって上送されて排出樋37
に運ばれる。このとき、排出樋37の切換弁38は開い
ているので、米粒は循環路39を経て供給樋3内に循環
されるのであるが、一方、供給樋3内底部には1回目の
測定を終えていない米粒が残っており、これらを区別す
るため、運転開始後、例えば10秒経過すると混入防止
弁13を閉じるよう形成される。なお、混入防止弁13
及び切換弁38の開閉手段は電磁ソレノイドやサーボモ
ーター(図示せず)等で行うものとする。
供給樋3内底部の米粒が全て測定されるに要する時間、
例えば15秒が経過すると、混入防止弁13が開いて米
粒が整流板14上に流下し、2回目の測定を行う。2回
目は、胴側以外の全ての検出項目について測定を行うと
ともに、これらを先の第1表の関係に基づいて組み合わ
せ、各分析区分毎の粒数及び全粒数に対する割合(%)
を算出する。
例えば15秒が経過すると、混入防止弁13が開いて米
粒が整流板14上に流下し、2回目の測定を行う。2回
目は、胴側以外の全ての検出項目について測定を行うと
ともに、これらを先の第1表の関係に基づいて組み合わ
せ、各分析区分毎の粒数及び全粒数に対する割合(%)
を算出する。
すなわち、平均反射光間(A>の測定は、リニアイメー
ジセンサ−アレイ51からのデータを、白さ測定用A/
D変換器54及び画像正常化装置56によって処理した
後、灰色伯平均化装置57によって平均化し、符号器6
0を介して演算制御装置61に入力され、米粒全体の反
射光量の平均が演算される。また、一般用A/D変換器
55及び画像正常化装置58で処理された信号は、一般
用比較器59と肌ずれ用比較器62とに分岐して入力さ
れ、これにより、判別の困難な肌ずれ粒の検出を独自の
比較器で処理し、全体としての測定の迅速化を図ること
ができる。肌ずれ用比較器62では他の比較器と同様に
、溝付ベルトコンベア19上の米粒を確認するとともに
、検出項目の全て(第1表中A〜H)において、米粒の
データを胴側検出用のしきい値と比較して処理し、符号
器63を介して演算制御装置61に入力され、全ての検
出項目の検出結果から肌ずれ粒が否かを判別する。
ジセンサ−アレイ51からのデータを、白さ測定用A/
D変換器54及び画像正常化装置56によって処理した
後、灰色伯平均化装置57によって平均化し、符号器6
0を介して演算制御装置61に入力され、米粒全体の反
射光量の平均が演算される。また、一般用A/D変換器
55及び画像正常化装置58で処理された信号は、一般
用比較器59と肌ずれ用比較器62とに分岐して入力さ
れ、これにより、判別の困難な肌ずれ粒の検出を独自の
比較器で処理し、全体としての測定の迅速化を図ること
ができる。肌ずれ用比較器62では他の比較器と同様に
、溝付ベルトコンベア19上の米粒を確認するとともに
、検出項目の全て(第1表中A〜H)において、米粒の
データを胴側検出用のしきい値と比較して処理し、符号
器63を介して演算制御装置61に入力され、全ての検
出項目の検出結果から肌ずれ粒が否かを判別する。
同様にして、一般用比較器59においては、リニアイメ
ージセンサ−アレイ51がらのデータによって第1表中
の肌ずれ粒(■)以外の分析区分(■■■■■)を刻々
に処理し、演算制御装置6によって当該米粒全体の分析
を行い、いずれかの分析区分に判別する。これらは、リ
ニアイメージセンサ−アレイ51の走査と同じ速度で処
理される。
ージセンサ−アレイ51がらのデータによって第1表中
の肌ずれ粒(■)以外の分析区分(■■■■■)を刻々
に処理し、演算制御装置6によって当該米粒全体の分析
を行い、いずれかの分析区分に判別する。これらは、リ
ニアイメージセンサ−アレイ51の走査と同じ速度で処
理される。
2回目の検出を終えた米粒は排出樋37がら機外に取り
出されるとともに、液晶ディスブレイア3及びプリンタ
ー(図示せず)が判定結果を表示(印字)する。すなわ
ち、サンプルNo、、検査年月日、含水率(%)、整粒
(%)、肌ずれ粒(%)、未熟粒(%)、被害粒(%)
、胴割粒く%)、北米(%)、着色粒(%)、異物・異
種穀粒(%)、及びこれらの測定結果を米の検査規格と
比較して求めた等級が所定の用紙に印字されるとともに
、液晶デイスプレィ73に表示される。
出されるとともに、液晶ディスブレイア3及びプリンタ
ー(図示せず)が判定結果を表示(印字)する。すなわ
ち、サンプルNo、、検査年月日、含水率(%)、整粒
(%)、肌ずれ粒(%)、未熟粒(%)、被害粒(%)
、胴割粒く%)、北米(%)、着色粒(%)、異物・異
種穀粒(%)、及びこれらの測定結果を米の検査規格と
比較して求めた等級が所定の用紙に印字されるとともに
、液晶デイスプレィ73に表示される。
第1図は本発明実施例の左側断面図、第2図は右側断面
図、第3図は第1図におけるA−Δ線断面図、第4図は
同B−B線断面図、第5図は正面の拡大図、第6図は一
部を省略した内部機構斜視図、第7図は選別装置の拡大
斜視図、第8図はブロック線図、第9図は従来の検出方
法を示すグラフである。 1・・・キャビネット、2・・・供給ホッパー、3・・
・供給樋、4・・・粗選網、5・・・シャッター、6・
・・せき板、7・・・風選部、8・・・小異物受箱、9
・・・分岐路、10・・・受箱載台、11・・・送風用
スリン1−112・・・送風機、13・・・混入防止弁
、14・・・整粒板、15・・・振動フィーダー、16
・・・パイブレーク−117・・・基台、18・・・ブ
ラシ、19・・・溝付ベルトコンベア、20.21・・
・受動プーリー、22・・・駆動プーリー、23・・・
タイミングベルト、24・・・中間プーリー、25・・
・タイミングベルト、26・・・モーター、27・・・
モータープーリー、28・・・中間軸、2つ・・・タコ
メーター、30・・・連絡樋、31・・・循環用ベルト
コンベア、32・・・受動プーリー、33・・・駆動プ
ーリー、34・・・受動プーリー、35・・・モーター
プーリー、36・・・ベルト、37・・・排出樋、38
・・・切換弁、3つ・・・循環路、40・・・隔壁、4
1・・・光源、42・・・かさ、43・・・スリット、
44・・・照明装置、45・・・胴側用照明装置、46
・・・光源、47・・・かざ、48・・・集光レンズ、
4つ・・・レンズ筒、50・・・センサーボックス、5
1・・・リニアイメージセンサ−アレイ、52・・・防
掻ローラー、53・・・選別除去装置、54・・・白さ
測定用A/D変換器、55・・・一般用A/D変換器、
56・・・画像正常化装置、57・・・灰色値平均化装
置、58・・・画性正常化装置、59・・・一般用比較
器、60・・・符号器、61・・・演算制御装置、62
・・・肌ずれ用比較器、63・・・符号器、64・・・
置割用比較器、65・・・符号器、66・・・吸引管、
67・・・吸引口、68・・・搬送管、69・・・米粒
受箱、70・・・ノズル部、71・・・通気孔、72・
・・水平調製ねじ、73・・・液晶デイスプレィ、74
・・・キーボード、75・・・WA ] Tランプ、7
6・・・READYランプ、77・・・CLEARボタ
ン、78・・・INcボタン、79・・・ENTINT
1日ノボタン・・・白色しED群、81・・・赤色LE
D群、82・・・ENTERボタン、83・・・RE
S E T・LED、84・・・BROWN −LED
、85・・・WHITE−LED、86・・・5ORT
ING−LED、87・・・TYPE −LED、8
8・・・RESET−LED、89・・・YES−LE
D、90・・・No−LED、91 ・5TARTボタ
ン、、92−・・RUNランプ。 特許出願人 株式会社佐竹製作所
図、第3図は第1図におけるA−Δ線断面図、第4図は
同B−B線断面図、第5図は正面の拡大図、第6図は一
部を省略した内部機構斜視図、第7図は選別装置の拡大
斜視図、第8図はブロック線図、第9図は従来の検出方
法を示すグラフである。 1・・・キャビネット、2・・・供給ホッパー、3・・
・供給樋、4・・・粗選網、5・・・シャッター、6・
・・せき板、7・・・風選部、8・・・小異物受箱、9
・・・分岐路、10・・・受箱載台、11・・・送風用
スリン1−112・・・送風機、13・・・混入防止弁
、14・・・整粒板、15・・・振動フィーダー、16
・・・パイブレーク−117・・・基台、18・・・ブ
ラシ、19・・・溝付ベルトコンベア、20.21・・
・受動プーリー、22・・・駆動プーリー、23・・・
タイミングベルト、24・・・中間プーリー、25・・
・タイミングベルト、26・・・モーター、27・・・
モータープーリー、28・・・中間軸、2つ・・・タコ
メーター、30・・・連絡樋、31・・・循環用ベルト
コンベア、32・・・受動プーリー、33・・・駆動プ
ーリー、34・・・受動プーリー、35・・・モーター
プーリー、36・・・ベルト、37・・・排出樋、38
・・・切換弁、3つ・・・循環路、40・・・隔壁、4
1・・・光源、42・・・かさ、43・・・スリット、
44・・・照明装置、45・・・胴側用照明装置、46
・・・光源、47・・・かざ、48・・・集光レンズ、
4つ・・・レンズ筒、50・・・センサーボックス、5
1・・・リニアイメージセンサ−アレイ、52・・・防
掻ローラー、53・・・選別除去装置、54・・・白さ
測定用A/D変換器、55・・・一般用A/D変換器、
56・・・画像正常化装置、57・・・灰色値平均化装
置、58・・・画性正常化装置、59・・・一般用比較
器、60・・・符号器、61・・・演算制御装置、62
・・・肌ずれ用比較器、63・・・符号器、64・・・
置割用比較器、65・・・符号器、66・・・吸引管、
67・・・吸引口、68・・・搬送管、69・・・米粒
受箱、70・・・ノズル部、71・・・通気孔、72・
・・水平調製ねじ、73・・・液晶デイスプレィ、74
・・・キーボード、75・・・WA ] Tランプ、7
6・・・READYランプ、77・・・CLEARボタ
ン、78・・・INcボタン、79・・・ENTINT
1日ノボタン・・・白色しED群、81・・・赤色LE
D群、82・・・ENTERボタン、83・・・RE
S E T・LED、84・・・BROWN −LED
、85・・・WHITE−LED、86・・・5ORT
ING−LED、87・・・TYPE −LED、8
8・・・RESET−LED、89・・・YES−LE
D、90・・・No−LED、91 ・5TARTボタ
ン、、92−・・RUNランプ。 特許出願人 株式会社佐竹製作所
Claims (3)
- (1)、搬送手段により順次搬送される米粒に光を照射
するとともに、リニアイメージセンサーによって米粒を
搬送方向に直交する方向に線状に走査し、平均反射光量
、最も明るい点の光量、最も暗い点の光量、最も明るい
点と最も暗い点の差の光量、前記平均反射光量より一定
量以上明るい領域の面積、同じく平均反射光量より一定
量以上暗い領域の面積、全般影面積及び楕円形状の各項
目について検出し、これらの検出値を適宜組み合わせる
ことによつて品位判定の基となる判定区分毎の分析を行
い、この分析結果により当該サンプルの品位判定を行う
ことを特徴とする米粒品位判定方法。 - (2)、米粒は、米粒を整列させるための溝を多数形成
したベトコンベアによって搬送させるものである請求項
(1)記載の米粒品位判定方法。 - (3)、ある品位判定区分の分析結果に基づき、直ちに
該当米粒を選別除去するものである請求項(1)又は(
2)記載の米粒品位判定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63144421A JPH07104284B2 (ja) | 1988-06-10 | 1988-06-10 | 米粒品位判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63144421A JPH07104284B2 (ja) | 1988-06-10 | 1988-06-10 | 米粒品位判定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01312447A true JPH01312447A (ja) | 1989-12-18 |
| JPH07104284B2 JPH07104284B2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=15361787
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63144421A Expired - Fee Related JPH07104284B2 (ja) | 1988-06-10 | 1988-06-10 | 米粒品位判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07104284B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004150877A (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-27 | Nisshin Flour Milling Inc | 穀粒の特性計測方法およびその装置 |
| JP2015001441A (ja) * | 2013-06-14 | 2015-01-05 | 独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構 | 米粒の白濁部位等の詳細判別システム、詳細判別プログラム及び記憶媒体 |
| CN105928861A (zh) * | 2016-05-06 | 2016-09-07 | 安徽贝通智能科技有限公司 | 一种小麦品质检测方法 |
| CN109557090A (zh) * | 2017-09-23 | 2019-04-02 | 华中农业大学 | X射线-可见光双模式成像无损提取水稻稻穗性状 |
| CN112710664A (zh) * | 2020-12-14 | 2021-04-27 | 河南牧业经济学院 | 基于异形管阵列的黄豆粒非粘连图像获取方法及系统 |
| US11454587B2 (en) | 2018-10-12 | 2022-09-27 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Measurement apparatus, measurement method, and program |
| CN118112013A (zh) * | 2024-01-22 | 2024-05-31 | 山东省粮油检测中心 | 一种用于粮食不完善粒快速检测的影像扫描装置及方法 |
-
1988
- 1988-06-10 JP JP63144421A patent/JPH07104284B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004150877A (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-27 | Nisshin Flour Milling Inc | 穀粒の特性計測方法およびその装置 |
| JP2015001441A (ja) * | 2013-06-14 | 2015-01-05 | 独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構 | 米粒の白濁部位等の詳細判別システム、詳細判別プログラム及び記憶媒体 |
| CN105928861A (zh) * | 2016-05-06 | 2016-09-07 | 安徽贝通智能科技有限公司 | 一种小麦品质检测方法 |
| CN109557090A (zh) * | 2017-09-23 | 2019-04-02 | 华中农业大学 | X射线-可见光双模式成像无损提取水稻稻穗性状 |
| US11454587B2 (en) | 2018-10-12 | 2022-09-27 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Measurement apparatus, measurement method, and program |
| CN112710664A (zh) * | 2020-12-14 | 2021-04-27 | 河南牧业经济学院 | 基于异形管阵列的黄豆粒非粘连图像获取方法及系统 |
| CN118112013A (zh) * | 2024-01-22 | 2024-05-31 | 山东省粮油检测中心 | 一种用于粮食不完善粒快速检测的影像扫描装置及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07104284B2 (ja) | 1995-11-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |