JPH0133785B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0133785B2 JPH0133785B2 JP55071734A JP7173480A JPH0133785B2 JP H0133785 B2 JPH0133785 B2 JP H0133785B2 JP 55071734 A JP55071734 A JP 55071734A JP 7173480 A JP7173480 A JP 7173480A JP H0133785 B2 JPH0133785 B2 JP H0133785B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- circuit
- capacitor
- pulse
- zero point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/333—Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
- G01R31/3333—Apparatus, systems or circuits therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は交流しや断器のしや断容量の合成試験
において、低電圧大電流源からの電流によるアー
クを延長させるための半波延長装置に関する。
において、低電圧大電流源からの電流によるアー
クを延長させるための半波延長装置に関する。
しや断器のしや断容量を検証するためには大電
流でかつ高電圧を必要とするが、これを直接ひと
つの電源から供給して実負荷の短絡試験を行わせ
ることは一般に困難である。このため、これと同
様な結果を得るため等価試験が行われるが、その
ひとつとして低電圧大電流源と高電圧低電流源の
２種の電源を組合せて行う合成試験が知られてい
る。
流でかつ高電圧を必要とするが、これを直接ひと
つの電源から供給して実負荷の短絡試験を行わせ
ることは一般に困難である。このため、これと同
様な結果を得るため等価試験が行われるが、その
ひとつとして低電圧大電流源と高電圧低電流源の
２種の電源を組合せて行う合成試験が知られてい
る。
合成試験の回路例を第１図に示し、その動作波
形を第２図に示す。第１図は並列形電流重畳方式
と呼ばれる合成試験回路で、Genは発電機、Lg
はリアクトル、Cgはコンデンサ、Shは補助しや
断器、Spは供試しや断器、Reは抵抗、Ceはコン
デンサ、Lvはリアクトル、Ｇはギヤツプ、Cvは
コンデンサ、Recは充電装置である。試験は次の
ようにして行われる。まず発電機Genからの大電
流Igを供試しや断器Spに供給し、（第２図ｂは発
電機電圧を同図ｃは発電機電流の波形を示す）、
時間Toで第２図ａに示すように供試しや断器Sp
の主接点が開になつた場合に電流Igの最初の零点
の時点をT1、２回目の零点をT2とすると、T2の
直前にギヤツプＧを動作させて高電圧に充電され
たコンデンサCvからの小電流Iv（第２図ｅ）を重
畳させ、この小電流Ivの零点で電流がしや断され
ると、しや断器Spの極間には第２図ｆに示すよ
うに再起電圧TRVが生じることになる。
形を第２図に示す。第１図は並列形電流重畳方式
と呼ばれる合成試験回路で、Genは発電機、Lg
はリアクトル、Cgはコンデンサ、Shは補助しや
断器、Spは供試しや断器、Reは抵抗、Ceはコン
デンサ、Lvはリアクトル、Ｇはギヤツプ、Cvは
コンデンサ、Recは充電装置である。試験は次の
ようにして行われる。まず発電機Genからの大電
流Igを供試しや断器Spに供給し、（第２図ｂは発
電機電圧を同図ｃは発電機電流の波形を示す）、
時間Toで第２図ａに示すように供試しや断器Sp
の主接点が開になつた場合に電流Igの最初の零点
の時点をT1、２回目の零点をT2とすると、T2の
直前にギヤツプＧを動作させて高電圧に充電され
たコンデンサCvからの小電流Iv（第２図ｅ）を重
畳させ、この小電流Ivの零点で電流がしや断され
ると、しや断器Spの極間には第２図ｆに示すよ
うに再起電圧TRVが生じることになる。
上述の試験例において、T2−T0はしや断器の
アーク時間となるが、このアーク時間を保証する
ためにはしや断器の接点開後の最初の電流零点
T1で電流Igがしや断されないようにする必要が
あり、強制的にこの部分のアークを継続させる方
式として知られているのが半波延長装置である。
アーク時間となるが、このアーク時間を保証する
ためにはしや断器の接点開後の最初の電流零点
T1で電流Igがしや断されないようにする必要が
あり、強制的にこの部分のアークを継続させる方
式として知られているのが半波延長装置である。
半波延長装置では、第２図ｄに示すように、電
流Igの零点T1の直前に、電流Igの極性と反対極
性のパルス電流Ipを印加する。すなわち、第３図
にさらに詳しく示すように、電流Igの零点T1の
前Tpにおいて、そのときの電流Igの極性と反対
極性のパルス電流Ipを重畳すると、合成電流はIg
＋Ipとなり、Ig＋Ipの電流零点における電流の傾
きがある程度以上であれば、しや断器はこの零点
において電流をしや断することはできないので、
電流Igの極性がT1で反転して次の電流零点T2に
なるまでの半波長にわたりアークは継続すること
になる。
流Igの零点T1の直前に、電流Igの極性と反対極
性のパルス電流Ipを印加する。すなわち、第３図
にさらに詳しく示すように、電流Igの零点T1の
前Tpにおいて、そのときの電流Igの極性と反対
極性のパルス電流Ipを重畳すると、合成電流はIg
＋Ipとなり、Ig＋Ipの電流零点における電流の傾
きがある程度以上であれば、しや断器はこの零点
において電流をしや断することはできないので、
電流Igの極性がT1で反転して次の電流零点T2に
なるまでの半波長にわたりアークは継続すること
になる。
このようなパルス電流Ipを発生させる従来のパ
ルス回路を第４図に示す（なお第４図において第
１図と同一符号のものは同一要素を表わす）。パ
ルス回路として、一段構成のコンデンサCpと抵
抗Rpから成る放電回路が使用される。充電装置
RecにてあらかじめコンデンサCpを充電してお
き、電流零点T1の前TpでギヤツプGpを動作させ
ることにより、電流Igに電流Ipを重畳させる。開
閉器Ｓは通常閉としておき、電流零点T1でアー
クの継続がなされると、次の電流零点T2まで開
にされる。
ルス回路を第４図に示す（なお第４図において第
１図と同一符号のものは同一要素を表わす）。パ
ルス回路として、一段構成のコンデンサCpと抵
抗Rpから成る放電回路が使用される。充電装置
RecにてあらかじめコンデンサCpを充電してお
き、電流零点T1の前TpでギヤツプGpを動作させ
ることにより、電流Igに電流Ipを重畳させる。開
閉器Ｓは通常閉としておき、電流零点T1でアー
クの継続がなされると、次の電流零点T2まで開
にされる。
上述のように、従来の半波延長装置では一段構
成のコンデンサ一抵抗回路を使用するがその問題
点は次の通りである。まず重畳する電流Ipの波高
値を大きくするには、抵抗Rpを小さくした方が
よいが、抵抗Rpを小さくすると電流の継続時間
ないしRp×Cpで定められる放電時定数が小さく
なるためギヤツプGpを動作させるタイミングを
表わす第３図の時間Tpが短くなり、その時点の
検出装置に対して荷酷な精度を要求することにな
る。時間Tpに余裕を持たせて確実なアーク継続
を行うにはコンデンサCpの値を大きくすること
で達せられるが、コンデンサCpは高価なもので
あり経済的な方法ではない。
成のコンデンサ一抵抗回路を使用するがその問題
点は次の通りである。まず重畳する電流Ipの波高
値を大きくするには、抵抗Rpを小さくした方が
よいが、抵抗Rpを小さくすると電流の継続時間
ないしRp×Cpで定められる放電時定数が小さく
なるためギヤツプGpを動作させるタイミングを
表わす第３図の時間Tpが短くなり、その時点の
検出装置に対して荷酷な精度を要求することにな
る。時間Tpに余裕を持たせて確実なアーク継続
を行うにはコンデンサCpの値を大きくすること
で達せられるが、コンデンサCpは高価なもので
あり経済的な方法ではない。
したがつて、本発明の目的は、上述の欠点を軽
減し、比較的経済的にしかも検出精度に対しても
荷酷な要求とならないようなパルス回路を使用し
た半波延長装置を提供することである。
減し、比較的経済的にしかも検出精度に対しても
荷酷な要求とならないようなパルス回路を使用し
た半波延長装置を提供することである。
本発明によれば、この目的は、パルス回路を複
数段のコンデンサー抵抗回路で構成することによ
つて達せられる。
数段のコンデンサー抵抗回路で構成することによ
つて達せられる。
以下、図面を参照して、本発明の実施例を説明
する。第５図ａは本発明に従い、パルス回路を複
数段のコンデンサー抵抗回路で構成した回路図で
ある。第５図ｂは従来の一段形のコンデンサー抵
抗回路で構成されるパルス回路を示す。両回路の
コスト条件をほぼ等しくするため、第５図ｂの従
来回路のコンデンサC1の容量を第５図ａの本回
路のコンデンサC2のＮ段分容量と等しくする
（C1＝Nc2）。なお抵抗については第５図ａの一段
分の抵抗Ｒと第５図ｂの抵抗Ｒは等しい抵抗値を
もつとする。
する。第５図ａは本発明に従い、パルス回路を複
数段のコンデンサー抵抗回路で構成した回路図で
ある。第５図ｂは従来の一段形のコンデンサー抵
抗回路で構成されるパルス回路を示す。両回路の
コスト条件をほぼ等しくするため、第５図ｂの従
来回路のコンデンサC1の容量を第５図ａの本回
路のコンデンサC2のＮ段分容量と等しくする
（C1＝Nc2）。なお抵抗については第５図ａの一段
分の抵抗Ｒと第５図ｂの抵抗Ｒは等しい抵抗値を
もつとする。
第６図は、上述の条件の下で、横軸に放電時定
数で生規化した時間（ｔ／Rc）、縦軸に第５図ａの 本回路により供試しや断器に与えられる電流Ip2
と、第５図ｂの従来回路により与えられる電流
Ip1との比（Ip2／Ip1）をとつて、従来回路に対す
る本回路の放電電流の特性を示したものである。
第６図から明らかなように、段数ＮがＮ＝２の場
合ではｔ／Rcが2.8以上で、Ｎ＝３の場合ｔ／Rcが4.5 以上で、Ｎ＝４の場合ｔ／Rcが6.5以上でIp2／Ip1の 比が１より大きくなる。すなわち、複数段のコン
デンサー抵抗回路を使用することにより、従来の
一段形の場合より、見掛け上、時定数を長くする
ことができる。したがつて検出時間Tpの精度を
おおまかとすることができる。
数で生規化した時間（ｔ／Rc）、縦軸に第５図ａの 本回路により供試しや断器に与えられる電流Ip2
と、第５図ｂの従来回路により与えられる電流
Ip1との比（Ip2／Ip1）をとつて、従来回路に対す
る本回路の放電電流の特性を示したものである。
第６図から明らかなように、段数ＮがＮ＝２の場
合ではｔ／Rcが2.8以上で、Ｎ＝３の場合ｔ／Rcが4.5 以上で、Ｎ＝４の場合ｔ／Rcが6.5以上でIp2／Ip1の 比が１より大きくなる。すなわち、複数段のコン
デンサー抵抗回路を使用することにより、従来の
一段形の場合より、見掛け上、時定数を長くする
ことができる。したがつて検出時間Tpの精度を
おおまかとすることができる。
第７図ａに、第５図ａの回路の抵抗の代りにイ
ンダクタＬを用いて、コンデンサＣとインダクタ
Ｌを複数段用いた回路を参考として示す。充電電
圧をＥとするサージインピーダンスはＺ＝√
Ｃであるので、供試しや断器に与えられる電流
Ip3の波形は、第７図ｂに示すようになる。第７
図ｂにおいてＴはＴ＝Ｎ√で表わされる。
ンダクタＬを用いて、コンデンサＣとインダクタ
Ｌを複数段用いた回路を参考として示す。充電電
圧をＥとするサージインピーダンスはＺ＝√
Ｃであるので、供試しや断器に与えられる電流
Ip3の波形は、第７図ｂに示すようになる。第７
図ｂにおいてＴはＴ＝Ｎ√で表わされる。
第７図ａと第５図ｂの回路の電流の比較を行う
に当り、前述と同様に経済的条件を等しくするた
め、第７図ａのコンデンサの総合容量を第５図ｂ
のコンデンサ容量と等しくするとともに（C2＝
NC）、電流の初期値を等しくすると（Ｅ／Ｒ＝
Ｅ／Ｚ）、第５図ｂの一段のコンデンサー抵抗回
路の時定数（C2R）と第７図ａの複数段のコンデ
ンサーインダクタ回路の伝播時間（Ｔ＝Ｎ√）
とが等しくなる。第８図は、これらの条件の下に
第７図ａと第５図ｂの回路の電流Ip3とIp1を比較
した図であり、横軸はｔ／Rc2＝ｔ／Ｎ√で表
わされる時間を表わす。第５図ｂのコンデンサー
抵抗回路では非振動であるため常に正の電流が流
れることになる。他方第７図の分布コンデンサー
インダクタ回路では時間2.0後に電流が反転する。
このため、第３図の検出時間Tpはこの時間2.0以
内にする必要があるが、第５図ｂの回路の時定数
の２倍に相当する時間であるから、充分な長さで
あるといえる。
に当り、前述と同様に経済的条件を等しくするた
め、第７図ａのコンデンサの総合容量を第５図ｂ
のコンデンサ容量と等しくするとともに（C2＝
NC）、電流の初期値を等しくすると（Ｅ／Ｒ＝
Ｅ／Ｚ）、第５図ｂの一段のコンデンサー抵抗回
路の時定数（C2R）と第７図ａの複数段のコンデ
ンサーインダクタ回路の伝播時間（Ｔ＝Ｎ√）
とが等しくなる。第８図は、これらの条件の下に
第７図ａと第５図ｂの回路の電流Ip3とIp1を比較
した図であり、横軸はｔ／Rc2＝ｔ／Ｎ√で表
わされる時間を表わす。第５図ｂのコンデンサー
抵抗回路では非振動であるため常に正の電流が流
れることになる。他方第７図の分布コンデンサー
インダクタ回路では時間2.0後に電流が反転する。
このため、第３図の検出時間Tpはこの時間2.0以
内にする必要があるが、第５図ｂの回路の時定数
の２倍に相当する時間であるから、充分な長さで
あるといえる。
このように、本発明は、半波延長装置のパルス
回路を、複数段のコンデンサー抵抗回路で構成し
たものであり、その電流特性が従来回路より長い
継続性を有しているため、時間Tpの検出が容易
であり、確実なアーク継続を保証するものであ
る。
回路を、複数段のコンデンサー抵抗回路で構成し
たものであり、その電流特性が従来回路より長い
継続性を有しているため、時間Tpの検出が容易
であり、確実なアーク継続を保証するものであ
る。
第１図は合成試験回路図、第２図は第１図の動
作波形図、第３図は半波延長の原理説明図、第４
図は従来の半波延長回路図、第５図ａは本発明の
一実施例を示すパルス回路図、第５図ｂは従来の
パルス回路図、第６図は第５図ａの回路の効果を
示す波形図、第７図は参考として示されるパルス
回路図、第８図は第７図の回路の効果を示す波形
図である。 第５図ａおよび第７図において、C1，Ｃ：コ
ンデンサ、Ｒ：抵抗、Ｌ：インダクタである。
作波形図、第３図は半波延長の原理説明図、第４
図は従来の半波延長回路図、第５図ａは本発明の
一実施例を示すパルス回路図、第５図ｂは従来の
パルス回路図、第６図は第５図ａの回路の効果を
示す波形図、第７図は参考として示されるパルス
回路図、第８図は第７図の回路の効果を示す波形
図である。 第５図ａおよび第７図において、C1，Ｃ：コ
ンデンサ、Ｒ：抵抗、Ｌ：インダクタである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 低電圧大電流源と高電圧小電流源とを備えた
交流しや断器の合成試験回路であつて、前記低電
圧大電流源からの所定の零点前にパルス状電流を
重畳させるパルス回路からなる半波延長装置にお
いて、 前記パルス回路を前記低電圧大電流源の極性と
反対の極性のパルス電流を重畳する複数段のコン
デンサー抵抗回路で構成したことを特徴とする半
波延長装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7173480A JPS56168175A (en) | 1980-05-29 | 1980-05-29 | Half-wave extending system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7173480A JPS56168175A (en) | 1980-05-29 | 1980-05-29 | Half-wave extending system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56168175A JPS56168175A (en) | 1981-12-24 |
| JPH0133785B2 true JPH0133785B2 (ja) | 1989-07-14 |
Family
ID=13469040
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7173480A Granted JPS56168175A (en) | 1980-05-29 | 1980-05-29 | Half-wave extending system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56168175A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6239709A (ja) * | 1985-08-16 | 1987-02-20 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | パトロ−ネ高さ寸法測定装置 |
-
1980
- 1980-05-29 JP JP7173480A patent/JPS56168175A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56168175A (en) | 1981-12-24 |
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