JPH0139542B2 - - Google Patents
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- JPH0139542B2 JPH0139542B2 JP56181256A JP18125681A JPH0139542B2 JP H0139542 B2 JPH0139542 B2 JP H0139542B2 JP 56181256 A JP56181256 A JP 56181256A JP 18125681 A JP18125681 A JP 18125681A JP H0139542 B2 JPH0139542 B2 JP H0139542B2
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- bending
- measuring device
- force measuring
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- bending force
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/20—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
- G01L1/22—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
- G01L1/2206—Special supports with preselected places to mount the resistance strain gauges; Mounting of supports
- G01L1/2243—Special supports with preselected places to mount the resistance strain gauges; Mounting of supports the supports being parallelogram-shaped
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G3/00—Weighing apparatus characterised by the use of elastically-deformable members, e.g. spring balances
- G01G3/12—Weighing apparatus characterised by the use of elastically-deformable members, e.g. spring balances wherein the weighing element is in the form of a solid body stressed by pressure or tension during weighing
- G01G3/14—Weighing apparatus characterised by the use of elastically-deformable members, e.g. spring balances wherein the weighing element is in the form of a solid body stressed by pressure or tension during weighing measuring variations of electrical resistance
- G01G3/1402—Special supports with preselected places to mount the resistance strain gauges; Mounting of supports
- G01G3/1412—Special supports with preselected places to mount the resistance strain gauges; Mounting of supports the supports being parallelogram shaped
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/20—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
- G01L1/22—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
- G01L1/2206—Special supports with preselected places to mount the resistance strain gauges; Mounting of supports
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Force In General (AREA)
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- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Pens And Brushes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、主として棒状の屈曲体を備え、気密
なカバーで外界の影響から保護され、測定すべき
力をその一部に加え得る、伸張計測条帯の形態を
した電気機械的変換素子を少くとも1箇有する、
特り計量器等用の電気機械的屈曲力計測器に関す
るものである。
なカバーで外界の影響から保護され、測定すべき
力をその一部に加え得る、伸張計測条帯の形態を
した電気機械的変換素子を少くとも1箇有する、
特り計量器等用の電気機械的屈曲力計測器に関す
るものである。
公知のこの種の屈曲力計測器においては、カバ
ーを蛇腹または薄膜で構成している(米国特許第
3554026号)。蛇腹を使用する場合には、屈曲体全
体を収容する必要上直径が大きくなり、面慣性モ
ーメント、したつて測定すべき伸張度にも影響を
与えることになる。薄膜の場合は、例えば伸張計
測条帯に直接取付けたり、その近くに取付けるの
であるが、望ましくない非直線的影響を測定結果
に及ぼす。蛇腹や薄膜のカバーの場合には、さら
に、屈曲体と違つた熱膨張係数を有するため異な
つた対温度挙動をとり、測定結果に望ましくない
誤差を与えることもある。この種の障害的効果
は、特に比較的低荷重用の、20Kg以下の計測用の
棒状屈曲力計測器において、正確な計測を負に傾
けるような結果をもたらすものである。またさら
に、これら公知のカバーは製作費が高価となる。
ーを蛇腹または薄膜で構成している(米国特許第
3554026号)。蛇腹を使用する場合には、屈曲体全
体を収容する必要上直径が大きくなり、面慣性モ
ーメント、したつて測定すべき伸張度にも影響を
与えることになる。薄膜の場合は、例えば伸張計
測条帯に直接取付けたり、その近くに取付けるの
であるが、望ましくない非直線的影響を測定結果
に及ぼす。蛇腹や薄膜のカバーの場合には、さら
に、屈曲体と違つた熱膨張係数を有するため異な
つた対温度挙動をとり、測定結果に望ましくない
誤差を与えることもある。この種の障害的効果
は、特に比較的低荷重用の、20Kg以下の計測用の
棒状屈曲力計測器において、正確な計測を負に傾
けるような結果をもたらすものである。またさら
に、これら公知のカバーは製作費が高価となる。
本発明の課題は、カバーが実際上測定結果に何
等の影響を及ぼさないように電気機械的屈曲力計
測器を構成すると共に、それをそのようなカバー
で気密に封鎖することにある。
等の影響を及ぼさないように電気機械的屈曲力計
測器を構成すると共に、それをそのようなカバー
で気密に封鎖することにある。
このような課題は、本発明による以下の方法に
よつて解決されるものである。すなわち、1個ま
たは数個の伸張計測条帯を屈曲体の溝状空洞内に
配置し、屈曲体の少くとも伸張計測条帯の存在す
る部分の断面を、屈曲中立部位もしくはその近辺
に設置した膜により伸張計測条帯が気密にカバー
されている如く形成せしめるものである。
よつて解決されるものである。すなわち、1個ま
たは数個の伸張計測条帯を屈曲体の溝状空洞内に
配置し、屈曲体の少くとも伸張計測条帯の存在す
る部分の断面を、屈曲中立部位もしくはその近辺
に設置した膜により伸張計測条帯が気密にカバー
されている如く形成せしめるものである。
以下、本発明につ図面を参照し実施例に基づい
て詳述する。
て詳述する。
第1図乃至第3図に示した電気機械的屈曲力計
測器は棒状の屈曲体1を包含しており、この屈曲
体1は固定支持台2に一方の端が螺子3によつて
片持ち固定されており、この屈曲体1は固定支持
台2に一方の端が螺子3によつて片持ち固定され
ており、他方の自由端に測定すべき力Pの荷重が
加えられるものである。屈曲体1は、第3図で最
も明らかなような特殊の断面形状を有している。
図示の様に、屈曲体1の中心線に沿つて長さ方向
に、本質的な長さにわたつて伸びる、段のついた
溝状の空洞4が設けられている。その底壁5は、
この屈曲体1の残部分よりも高く聳えた高部6の
内部にある。高部6の横側に、2本のフランジ部
7,8が、同じく屈曲体1の長さの方向に走つて
いる。図示した実施例では屈曲体1の中央部分に
のみ走つている溝状空洞4は、屈曲体の全長に及
んで構成せしめることもできる。この場合には、
溝はその屈曲体の両端部を、別な封鎖物で周知の
方法によつて封鎖しなければならない。
測器は棒状の屈曲体1を包含しており、この屈曲
体1は固定支持台2に一方の端が螺子3によつて
片持ち固定されており、この屈曲体1は固定支持
台2に一方の端が螺子3によつて片持ち固定され
ており、他方の自由端に測定すべき力Pの荷重が
加えられるものである。屈曲体1は、第3図で最
も明らかなような特殊の断面形状を有している。
図示の様に、屈曲体1の中心線に沿つて長さ方向
に、本質的な長さにわたつて伸びる、段のついた
溝状の空洞4が設けられている。その底壁5は、
この屈曲体1の残部分よりも高く聳えた高部6の
内部にある。高部6の横側に、2本のフランジ部
7,8が、同じく屈曲体1の長さの方向に走つて
いる。図示した実施例では屈曲体1の中央部分に
のみ走つている溝状空洞4は、屈曲体の全長に及
んで構成せしめることもできる。この場合には、
溝はその屈曲体の両端部を、別な封鎖物で周知の
方法によつて封鎖しなければならない。
図示した実施例では下方に向つて開口した溝状
空洞4の底壁5には、2箇の伸張計測条帯9,1
1が固定されている。これらの伸張計測条帯9,
11は、それ自身公知の方法で相互に結線されて
おり、第1図には略図的に示したのみであるが、
これらの伸張計測条帯を結ぶ測定電線12は気密
充填材13を通つて周知の方法で屈曲体1から外
部に導かれている。測定電線12は常法により評
価装置に結線される。
空洞4の底壁5には、2箇の伸張計測条帯9,1
1が固定されている。これらの伸張計測条帯9,
11は、それ自身公知の方法で相互に結線されて
おり、第1図には略図的に示したのみであるが、
これらの伸張計測条帯を結ぶ測定電線12は気密
充填材13を通つて周知の方法で屈曲体1から外
部に導かれている。測定電線12は常法により評
価装置に結線される。
測定すべき力Pによつて屈曲体1に荷重がかか
ると、屈曲体1は屈曲し、伸張計測条帯9,11
は相応した機械的負荷を受けるので、その負荷を
常法により測定して力Pの大きさを出すものであ
る。
ると、屈曲体1は屈曲し、伸張計測条帯9,11
は相応した機械的負荷を受けるので、その負荷を
常法により測定して力Pの大きさを出すものであ
る。
特に第3図に示した如く、溝状の空洞4は環状
に走る肩部あるいは段14を有している。第1図
乃至第3図で下方に向いたこの段14の界面は、
屈曲体1の屈曲中立部位に位置せしめてあるの
で、屈曲体1が曲げられても、実際的には何等の
伸張または圧縮も受けない。この中立部位に位置
した段14に、カバー膜15を接着、蝋付け、ま
たは溶接し、内部に伸張計測条帯9,11を蔵し
た小室を空洞内に気密に形成せしめ、外界の影響
から計測条帯9,11を隔絶保護せしめてある。
膜15もまた屈曲中立部位に位置することになる
ので、屈曲体1およびそれに固定した伸張計測条
帯9,11の屈曲挙動には事実上影響を及ぼさな
いものとなる。
に走る肩部あるいは段14を有している。第1図
乃至第3図で下方に向いたこの段14の界面は、
屈曲体1の屈曲中立部位に位置せしめてあるの
で、屈曲体1が曲げられても、実際的には何等の
伸張または圧縮も受けない。この中立部位に位置
した段14に、カバー膜15を接着、蝋付け、ま
たは溶接し、内部に伸張計測条帯9,11を蔵し
た小室を空洞内に気密に形成せしめ、外界の影響
から計測条帯9,11を隔絶保護せしめてある。
膜15もまた屈曲中立部位に位置することになる
ので、屈曲体1およびそれに固定した伸張計測条
帯9,11の屈曲挙動には事実上影響を及ぼさな
いものとなる。
カバー膜15は、同じ熱挙動特性を有せしめる
という観点から、好ましくは屈曲体1と同一の素
材、特に金属製が好ましい。必要あれば、さら
に、膜15で気密に保たれた伸張計測条帯9,1
1を含む小室には、不活性の保護ガスを封入して
も良い。また、この膜15で気密に保たれた小室
に、例えば電気抵抗体で構成した零点調節平衝素
子をも同時に封入すれば、これまた膜15により
外界の影響から保護できる。このような膜15で
カバーされた室における平衝素子の構成は、本発
明の後述の実施例として述べるところの、伸張計
測条帯がブリツジ回路の一部を形成し、平衝素子
でブリツジの零点を調整を行わしめるような場合
に特に有利である。曲げ応力に対する障害的影響
をできる限り排除するために、カバー膜15はま
たできる限り薄く、できる限り小さな弾性モジユ
ールを有するものであるべきである。
という観点から、好ましくは屈曲体1と同一の素
材、特に金属製が好ましい。必要あれば、さら
に、膜15で気密に保たれた伸張計測条帯9,1
1を含む小室には、不活性の保護ガスを封入して
も良い。また、この膜15で気密に保たれた小室
に、例えば電気抵抗体で構成した零点調節平衝素
子をも同時に封入すれば、これまた膜15により
外界の影響から保護できる。このような膜15で
カバーされた室における平衝素子の構成は、本発
明の後述の実施例として述べるところの、伸張計
測条帯がブリツジ回路の一部を形成し、平衝素子
でブリツジの零点を調整を行わしめるような場合
に特に有利である。曲げ応力に対する障害的影響
をできる限り排除するために、カバー膜15はま
たできる限り薄く、できる限り小さな弾性モジユ
ールを有するものであるべきである。
第4図乃至第6図は、第1図乃至第3図によつ
て製作された屈曲体を2組使用した、いわゆるパ
ラレログラム屈曲力計測器である。2組の屈曲体
の個々は、好ましくはやはり金属製の棒状屈曲体
41から、ボーリング孔またはフライス孔42,
43を削出して仕上げたものである。これらのボ
ーリング孔またはフライス孔を第6図に示してあ
る。この図で最も明らかなように、棒状屈曲体4
1の上側と下側に、第1図乃至第3図の空洞4に
相当する、長さ方向のフライス加工による溝状空
洞44,45が設けてある。すなわち、ボーリン
グまたはフライス加工による空洞42,43の部
分での屈曲体41の断面を示した第6図による断
面図は、本質的には第3図に示した屈曲体1の断
面図に相当するものであるが、第4図乃至第6図
では2個の屈曲体が屈曲体41の体幹部で相互に
一体となつているものである。第4図で最も明ら
かなように、溝状空洞44,45とボーリング孔
またはフライス孔42,43との間の壁は最も薄
くなつており、この部分が関接的部分になつて屈
曲体41の値の部分全体のパラレログラム的動き
を可能ならしめるものである。この、薄い部分に
伸張計測条帯46,47および48,49が装着
されており、測定すべき力Pにより屈曲体41が
荷重を受けた時、機械的負荷を受け、これを電気
信号に変えて評価回路に送るものである。伸張計
測条帯46,47,48,49はやはり周知の方
法で相互に結線され(図示はしてない)、ブリツ
ジ回路と連絡している。測定電線12は、例えば
ガラス充填材51を通して外部に取出される。
て製作された屈曲体を2組使用した、いわゆるパ
ラレログラム屈曲力計測器である。2組の屈曲体
の個々は、好ましくはやはり金属製の棒状屈曲体
41から、ボーリング孔またはフライス孔42,
43を削出して仕上げたものである。これらのボ
ーリング孔またはフライス孔を第6図に示してあ
る。この図で最も明らかなように、棒状屈曲体4
1の上側と下側に、第1図乃至第3図の空洞4に
相当する、長さ方向のフライス加工による溝状空
洞44,45が設けてある。すなわち、ボーリン
グまたはフライス加工による空洞42,43の部
分での屈曲体41の断面を示した第6図による断
面図は、本質的には第3図に示した屈曲体1の断
面図に相当するものであるが、第4図乃至第6図
では2個の屈曲体が屈曲体41の体幹部で相互に
一体となつているものである。第4図で最も明ら
かなように、溝状空洞44,45とボーリング孔
またはフライス孔42,43との間の壁は最も薄
くなつており、この部分が関接的部分になつて屈
曲体41の値の部分全体のパラレログラム的動き
を可能ならしめるものである。この、薄い部分に
伸張計測条帯46,47および48,49が装着
されており、測定すべき力Pにより屈曲体41が
荷重を受けた時、機械的負荷を受け、これを電気
信号に変えて評価回路に送るものである。伸張計
測条帯46,47,48,49はやはり周知の方
法で相互に結線され(図示はしてない)、ブリツ
ジ回路と連絡している。測定電線12は、例えば
ガラス充填材51を通して外部に取出される。
第1図乃至第3図の実施例と同様に、この場合
にもまた、屈曲体41の上側と下側のフライス孔
42,43の中の段付き溝状空洞44,45はそ
れぞれカバー膜52,53によつて屈曲中立位置
で密閉され、伸張計測条帯46,47,48,4
9を外界、特に湿気から気密に守るようになつて
いる。
にもまた、屈曲体41の上側と下側のフライス孔
42,43の中の段付き溝状空洞44,45はそ
れぞれカバー膜52,53によつて屈曲中立位置
で密閉され、伸張計測条帯46,47,48,4
9を外界、特に湿気から気密に守るようになつて
いる。
この場合、カバー膜52,53は、6―6線に
沿つた断面のみが屈曲中立位置になつているので
あるが、変換素子である伸張計測条帯46,4
7,48,49は比較的細く形成できること、お
よび上述の関節的に動く薄い部分以外での伸張が
極めて少ないことにより、測定値に及ぼす障害影
響は全く生じない。
沿つた断面のみが屈曲中立位置になつているので
あるが、変換素子である伸張計測条帯46,4
7,48,49は比較的細く形成できること、お
よび上述の関節的に動く薄い部分以外での伸張が
極めて少ないことにより、測定値に及ぼす障害影
響は全く生じない。
さらに、屈曲力計測器の別な実施例として、第
7図乃至第10図に屈曲体71を示した。この屈
曲体71の断面は、第1図乃至第3図に示した屈
曲体1と本質的には同じである。下側に開口した
溝状空洞73の底壁72には、測定電線12で結
線された4個の伸張計測条帯74,75,76,
77が固定されている。この第7図乃至第10図
の実施例の場合、4箇の伸張計測条帯で簡単なブ
リツジ回路を形成せしめる目的で、屈曲体71に
正と負の伸張(伸張と圧縮)部分を生成させるた
め、測定すべき力Pは屈曲体に直接的ではなく、
反撥性を有する力の伝達腕部78(「反撥性腕
部」)にもたらされる。これは屈曲体71の自由
な端部に螺子79で取付けれている。伸張εは、
屈曲体71の有効長lについて第9図に示した如
く変化する。第7図乃至第9図の左側についての
部分は圧縮(負の伸張ε)を生じ、l/2点から
腕部78の受軸部分までは(正の)伸張εを生じ
る。この種の正負の伸張部分を持つ屈曲力計測器
は、例えば米国特許第3341796号ですでに周知で
ある。
7図乃至第10図に屈曲体71を示した。この屈
曲体71の断面は、第1図乃至第3図に示した屈
曲体1と本質的には同じである。下側に開口した
溝状空洞73の底壁72には、測定電線12で結
線された4個の伸張計測条帯74,75,76,
77が固定されている。この第7図乃至第10図
の実施例の場合、4箇の伸張計測条帯で簡単なブ
リツジ回路を形成せしめる目的で、屈曲体71に
正と負の伸張(伸張と圧縮)部分を生成させるた
め、測定すべき力Pは屈曲体に直接的ではなく、
反撥性を有する力の伝達腕部78(「反撥性腕
部」)にもたらされる。これは屈曲体71の自由
な端部に螺子79で取付けれている。伸張εは、
屈曲体71の有効長lについて第9図に示した如
く変化する。第7図乃至第9図の左側についての
部分は圧縮(負の伸張ε)を生じ、l/2点から
腕部78の受軸部分までは(正の)伸張εを生じ
る。この種の正負の伸張部分を持つ屈曲力計測器
は、例えば米国特許第3341796号ですでに周知で
ある。
溝状空洞73の底部に設置されている伸張計測
条帯74,75,76,77を外気影響から気密
に遮断するため、以前に述べた実施例におけると
同様に、溝状空洞73の屈曲中立位置にある段8
1上に薄いカバー膜82を例えば接着によつて取
付ける。その結果、膜82もまた屈曲体71の実
際上の中立位置となり、その屈曲挙動が影響を及
ぼさなくなる。
条帯74,75,76,77を外気影響から気密
に遮断するため、以前に述べた実施例におけると
同様に、溝状空洞73の屈曲中立位置にある段8
1上に薄いカバー膜82を例えば接着によつて取
付ける。その結果、膜82もまた屈曲体71の実
際上の中立位置となり、その屈曲挙動が影響を及
ぼさなくなる。
カバー膜は屈曲体71の全有効長lにわたつて
伸びている。第7図乃至第10図に示したよう
に、溝73が屈曲体71の端部にまで突抜けて、
換言すれば開いて形成されている場合には、その
端部にて溝とカバー膜の間隙に一般の充填材等を
挿入するなどして別に封鎖しておく必要がある。
その替りに、第1図乃至第3図で示した実施例の
如く、溝を屈曲体1の中間部分にだけ延ばしてお
き、両端は始めから閉じておくこともできる。
伸びている。第7図乃至第10図に示したよう
に、溝73が屈曲体71の端部にまで突抜けて、
換言すれば開いて形成されている場合には、その
端部にて溝とカバー膜の間隙に一般の充填材等を
挿入するなどして別に封鎖しておく必要がある。
その替りに、第1図乃至第3図で示した実施例の
如く、溝を屈曲体1の中間部分にだけ延ばしてお
き、両端は始めから閉じておくこともできる。
さらに、第8図と第10図に見られる如く、屈
曲体71の屈曲特性の改善のため、溝の開口を挾
む両側上面に削取部83,84,85,86を設
けることができる。特に第7図、第8図、第10
図参照。
曲体71の屈曲特性の改善のため、溝の開口を挾
む両側上面に削取部83,84,85,86を設
けることができる。特に第7図、第8図、第10
図参照。
上述した如く、変換素子(伸張計測条帯)と一
緒に平衝素子をもカバー膜で気密に保つた小室に
封入しておくと有利であるが、本発明による別の
実施態様においては、これらの被カバー素子の全
体または一部をカバー膜の外に置いたり、あるい
はカバー膜を初めは計測条帯の上だけに留めてお
き、引続いて平衡達成後さらに平衡素子をカバー
するようにすることも有利である。
緒に平衝素子をもカバー膜で気密に保つた小室に
封入しておくと有利であるが、本発明による別の
実施態様においては、これらの被カバー素子の全
体または一部をカバー膜の外に置いたり、あるい
はカバー膜を初めは計測条帯の上だけに留めてお
き、引続いて平衡達成後さらに平衡素子をカバー
するようにすることも有利である。
第1図は本発明による屈曲体の部分断面略示側
面図、第2図は第1図の屈曲体の矢印Aの方向か
ら見た下面図、第3図は第1図の線3―3に沿つ
た拡大断面図、第4図はパラレログラム屈曲体の
部分断面側面図、第5図は第4図の屈曲体の上面
図、第6図は第4図の線6―6に沿つた断面図、
第7図は反撥性力伝達腕部付きの屈曲力計測器、
第8図は力伝達腕部を除いた第7図の屈曲力計測
器の上面図、第9図は第7図及び第8図による屈
曲力計測器の長さ方向の伸張度変化のグラフ、第
10図は第7図の線10―10に沿つた拡大断面
図である。 1…屈曲体、4…溝状空洞、7,8…フランジ
部、9,11…伸張計測条帯、14…段、15…
カバー膜、41…屈曲体、42,43…孔、4
4,45…溝状空洞、46,47,48,49…
伸張計測条帯、52,53…カバー膜、71…屈
曲体、73…溝状空洞、74,75,76,77
…伸張計測条帯、78…腕部、81…段、82…
カバー膜、P…被測定力。
面図、第2図は第1図の屈曲体の矢印Aの方向か
ら見た下面図、第3図は第1図の線3―3に沿つ
た拡大断面図、第4図はパラレログラム屈曲体の
部分断面側面図、第5図は第4図の屈曲体の上面
図、第6図は第4図の線6―6に沿つた断面図、
第7図は反撥性力伝達腕部付きの屈曲力計測器、
第8図は力伝達腕部を除いた第7図の屈曲力計測
器の上面図、第9図は第7図及び第8図による屈
曲力計測器の長さ方向の伸張度変化のグラフ、第
10図は第7図の線10―10に沿つた拡大断面
図である。 1…屈曲体、4…溝状空洞、7,8…フランジ
部、9,11…伸張計測条帯、14…段、15…
カバー膜、41…屈曲体、42,43…孔、4
4,45…溝状空洞、46,47,48,49…
伸張計測条帯、52,53…カバー膜、71…屈
曲体、73…溝状空洞、74,75,76,77
…伸張計測条帯、78…腕部、81…段、82…
カバー膜、P…被測定力。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 主として棒状の屈曲体を備え、気密なカバー
で外界の影響から保護され、測定すべき力をその
一部に加え得る、伸張計測条帯の形態をした電気
機械的変換素子を少なくとも1箇有する、計量器
等用の電気機械的屈曲力計測器において、1箇ま
たは数個の伸張計測条帯9,11を屈曲体1の溝
状空洞4内に配置し、屈曲体の少くとも伸張計測
条帯9,11の存在す部分の断面を屈曲中立部位
もしくはその近辺に設置した膜15により伸張計
測条帯が気密にカバーされている如く形成せしめ
ることを特徴とす屈曲力計測器。 2 溝状空洞44,45に配置された伸張計測条
帯46,47,48,49と屈曲中立部位に配置
されたカバー膜52,53とを有する2つの本質
的に棒状の屈曲体が、パラレログラム屈曲力計測
器として結合していことを特徴とする特許請求の
範囲第1項に記載の屈曲力計測器。 3 溝状空洞73に配置した伸張計測条帯74,
75,76,77と屈曲中立部位に位置したカバ
ー膜82とを有する屈曲体71が、正と負の伸張
部分を持つよう反撥性腕部78で被測定力Pの荷
重を受けることを特徴とする特許請求の範囲第1
項に記載の屈曲力計測器。 4 カバー膜15;52,53;82が屈曲体
1,41,71と同じ材料から構成されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第3項
のいずれか1項に記載の屈曲力計測器。 5 屈曲体1,41,71とカバー膜15;5
2,53;82が金属製であることを特徴とする
特許請求の範囲第4項に記載の屈曲力計測器。 6 屈曲体1,41,71が段状断面を有し、カ
バー膜15;52,53;82が平らな段14上
で屈曲体と気密に接着または蝋付け、または溶接
されていることを特徴とする特許請求の範囲第1
項乃至第5項のいずれか1項に記載の屈曲力計測
器。 7 カバー膜15;52,53;82によつて気
密に封鎖した空洞4;44,45;73に保護性
気体を封入してあることを特徴とする特許請求の
範囲第1項乃至第6項のいずれか1項に記載の屈
曲力計測器。 8 伸張計測条帯46,47,48,49;7
4,75,76,77に連結するブリツジ回路用
の零点調節平衝素子も、カバー膜52,53;8
2で気密に封鎖した空洞44,45;73内に配
置してあることを特徴とする特許請求の範囲第1
項乃至第7項のいずれか1項に記載の屈曲力計測
器。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3043139A DE3043139C2 (de) | 1980-11-15 | 1980-11-15 | Elektromechanischer Biegekraftaufnehmer, insbesondere für Wägezellen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57111426A JPS57111426A (en) | 1982-07-10 |
| JPH0139542B2 true JPH0139542B2 (ja) | 1989-08-22 |
Family
ID=6116863
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56181256A Granted JPS57111426A (en) | 1980-11-15 | 1981-11-13 | Electromechanical bending force measuring apparatus for weight measuring apparatus or the like |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4423640A (ja) |
| EP (1) | EP0052257B1 (ja) |
| JP (1) | JPS57111426A (ja) |
| AT (1) | ATE26753T1 (ja) |
| DE (2) | DE3043139C2 (ja) |
| ES (1) | ES8300201A1 (ja) |
| FI (1) | FI72601C (ja) |
| ZA (1) | ZA817256B (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| EP0107966B2 (en) * | 1982-10-26 | 1991-12-27 | Kabushiki Kaisha Ishida Koki Seisakusho | Load cell and method for its manufacture |
| FR2554229B1 (fr) * | 1983-10-26 | 1987-06-12 | Seb Sa | Appareil de pesage a jauges de contrainte |
| NL8401420A (nl) * | 1984-05-04 | 1985-12-02 | Philips Nv | Weegelement voor een weegtoestel. |
| FR2580073B1 (ja) * | 1985-04-09 | 1987-06-05 | Electro Resistance | |
| NL8502403A (nl) * | 1985-09-03 | 1987-04-01 | Philips Nv | Weegelement voor weegtoestel. |
| DE3730703A1 (de) * | 1987-09-12 | 1989-03-23 | Philips Patentverwaltung | Kraftaufnehmer |
| JPH02150537U (ja) * | 1989-05-24 | 1990-12-26 | ||
| FR2678065B1 (fr) * | 1991-06-19 | 1995-10-20 | Seb Sa | Appareil de pesage, a corps d'epreuve portant des jauges de contrainte. |
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| JP3553664B2 (ja) * | 1994-10-28 | 2004-08-11 | 株式会社イシダ | ロードセル |
| US6236301B1 (en) * | 1996-09-04 | 2001-05-22 | Sensitron, Inc. | Cantilevered deflection sensing system |
| DE29806179U1 (de) | 1998-04-03 | 1998-10-08 | Connectool GmbH & Co., 32758 Detmold | Crimpzange |
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- 1981-10-23 EP EP81108780A patent/EP0052257B1/de not_active Expired
- 1981-10-29 US US06/316,330 patent/US4423640A/en not_active Expired - Fee Related
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