JPH0140334B2 - - Google Patents

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JPH0140334B2
JPH0140334B2 JP55118922A JP11892280A JPH0140334B2 JP H0140334 B2 JPH0140334 B2 JP H0140334B2 JP 55118922 A JP55118922 A JP 55118922A JP 11892280 A JP11892280 A JP 11892280A JP H0140334 B2 JPH0140334 B2 JP H0140334B2
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JP
Japan
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aperture
correction
lens
output
normal
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JP55118922A
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English (en)
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JPS5742028A (en
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Takashi Saegusa
Tooru Fukuhara
Koichi Azuma
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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Priority to US06/208,039 priority patent/US4306787A/en
Priority to DE19803043989 priority patent/DE3043989A1/de
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Priority to US06/562,822 priority patent/USRE32376E/en
Publication of JPH0140334B2 publication Critical patent/JPH0140334B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B7/00Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
    • G03B7/08Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
    • G03B7/091Digital circuits
    • G03B7/095Digital circuits for control of aperture
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B7/00Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
    • G03B7/08Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
    • G03B7/099Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
    • G03B7/0993Arrangement of photoelectric elements in or on the camera in the camera
    • G03B7/0997Through the lens [TTL] measuring
    • G03B7/09979Multi-zone light measuring

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Exposure Control For Cameras (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は複写界を複数の領域に分割して測光
し、該複数の領域に夫々に対応した複数の光電出
力から画面全体の適正露出を決定するための適正
測光出力を演算抽出するマルチ測光装置等に関す
る。
上述したマルチ測光装置は種々提案されてい
る。その中で一例として特開昭52―12828号があ
げられる。
従来のこの種の分割測光装置において提案され
ていたのは、複数の測光情報から如何に演算して
適正露出値を算出するかという点に関してであつ
た。
しかしながら、このマルチ測光装置を実際のカ
メラにおいて使用可能とする時には、次のような
問題がある。即ち、被写界(以下画面と称す)の
中の、測光出力としての光電出力の分布と、フイ
ルム面照度の分布との間に差があるため、光電出
力をそのまま測光出力として用いることはできな
い点である。特にTTL開放測光の場合は開放測
光時の光電出力分布と実際に使用される撮影絞り
値でのフイルム面照度分布との差が顕著であり、
無視することは不可能であつた。
従来の単一の光電素子出力による測光装置の場
合は受光素子光電出力及びフイルム面照度の双方
に対し、レンズの絞り値に関する比例性のよい画
面中央部を主として測光対象としていたので、上
記の分布の差の影響をそれぼど受けず、露出誤差
となつて現われることは比較的少なかつた。しか
しながらマルチ測光装置の場合には画面の周辺部
をも独立して測光しているので上記の両分布の差
が無視できなくなる。
例えば、第1図で示すように受光素子P11〜P46
によつて4×6のマトリツクス状に画面を分割し
て測光する場合を考えてみる。被写体が均一な輝
度面のとき、第1図の画面における部分A―
A′における光電出力はレンズのビグネツテイン
グやコサインン四乗則により画面周辺部において
出力レベルの落ちた第2図aのような分布を示
す。(この第2図では横軸は画面中央を0とした
画面内位置を表わす。)しかし、実際に絞り込ん
だときのフイルム面上の照度分布はビグネツテイ
ングの影響がなくなり、光電出力は第2図bのよ
うにかなりフラツトに近くなる。この差の考慮が
ないと画面周辺部は実際より暗く測光してしまう
ことになる。
本件出願人は、レンズの設定情報によつて、得
られた光電出力を実際に絞込んで撮影するときの
フイルム面の照度に近づくように補正することを
提案している(特願昭54―151467号)。しかしな
がらシヤツタ優先モード、プログラムモードの場
合、レンズは一般に最小絞になつているが、実際
に制御される絞は開放の場合もあり得るわけであ
り、これらのモードで使用する場合、不都合を生
じた。即ち、開放付近で補正しなければならない
のに、レンズからカメラには最小絞り値の情報し
か伝達されていないので、制御される絞り値が開
放のときには補正ができないという欠点があつ
た。
本発明は、シヤツタ優先モード或いはプログラ
ム制御モードで絞りを自動的に制御するカメラに
て光電出力の補正に露出演算回路からの制御すべ
き絞り値に対応した信号を導入することによつ
て、これらの欠点を解決し、最小絞に絞つてあつ
ても開放状態を検出して、補正出来るようにし
た。
第3図は本発明のマルチ測光装置の基本的構成
を示すブロツク図で、これによつて絞り優先・シ
ヤツタ速度自動制御の場合における信号の流れを
説明する。
以下の説明において、BVは被写体輝度、AV
は絞り値、SVはフイルム感度、TVはシヤツタ
速度のアペツクス値とする。1は測光回路、2は
マルチ測光処理回路、3はアペツクス演算回路、
4aは絞制御回路、4bはシヤツター制御回路、
5は情報設定部、6は表示回路である。測光回路
1からは、第1図のような分割を行なつた場合、
それぞれの位置に対応して光電出力P11(=BV11
―AV0:TTL開放測光のため、以下同)、R12(=
BV12−AV0),……,P46(=BV46−AV0)を得
る。なお、各受光素子の番号と各光電出力の番号
とは対応づけを明確にするため同一としているこ
の出力はマルチ測光処理回路2へ入力し、一連の
演算処理を行ない適正露出の推測値として一つの
演算手力P100=BVaos−AV0を演算る。一例とし
ては特開昭52―12828、又本件出願人による特願
昭54―23019、同54―23020等がある。アペツクス
演算回路3には情報設定部5からのフイルム感度
情報P101=SV、開放絞情報P102=AV0、設定絞
情報P103=(AV−AV0)M、シヤツタ速度情報
P104=TVM、モード情報P105及びマルチ測光処理
回路2の算出した輝度に関する演算出力P1001
BVaos−AV0が入力され、次のようなアペツクス
演算がなされる(尚添字Mは設定値を表わす)。
例えばモード情報P105によつて絞優先モードが選
択された場合、絞制御回路4aに対して絞制御信
号 P107=P103=(AV−AV0M (1−1) を出力し、設定絞値まで絞られる。又、シヤツタ
制御回路4bに対してシヤツタ速度制御信号 P106=P100+P101−P103 =(BVaos−AV0)+SV −(AV−AV0M=TV (1−2) を出力し、この値でシヤツタを制御する。表示回
路6には表示信号 P108=P106=TV (1−3) を出力し、シヤツタ速度を表示する。
モード情報P105によつてシヤツタ速度優先モー
ドが選択されている場合絞制御回路4aに対して
は絞制御信号 P107=P100+P101−P104 =(BVaos−AV0)+SV−TVM =(AV−AV0) (1−4) を出力し、この値に従つて絞を制御する。又、シ
ヤツタ制御回路4bに対してはシヤツタ制御信号 P106=P104=TVM (1−5) を出力し設定シヤツタ速度で制御される。表示回
路6には表示信号は P108=P102+P107 =AV0+(AV−AV0)=AV (1−6) を出力し、制御絞値を表示する。
第4図は第3図の回路に本発明を適用したマル
チ測光装置のブロツク図であり、第3図と比較し
て補正演算回路及び補正値算出回路8が加わつて
いる。補正値算出回路8はアペツクス演算部3か
ら絞制御信号P107=AV−AV0、情報設定部5か
ら入力される開放絞径情報P102=AV0、及びレン
ズの光学系に起因する特性を示す信号P109=Lに
よつてそれぞれの位置の光電出力P11…Pij…P46
対応する補正値δ11…δij…δ46を算出する。一般式
で書くとδijは δij=fij(AV−AV0,AV0,L) (2) で求まる。この式は実験により求まる。
補正演算回路7は測光回路1の出力P11,…Pij
…P46と補正値算出回路8の出力δ11…δij…δ46
各々の出力との加算P11+δ11,…,Pij+δij,…,
P46+δ46を行なう加算回路711,…7ij,…746から
成立つている。
測光回路の光電圧力を とし、補正値算出回路の出力を、 とマトリツクスの形で表わすと、補正演算回路8
は、 のマトリツクス演算をしていることになる。ここ
でB′ij−AV0は補正後の光電出力を意味している。
結局、補正演算回路7から補正された光電出力
P111=BV11′−AV0,…P146=BV′46−AV0がマル
チ測光処理回路2入力され、ここで適正露出値
P100′=BV′aos−AV0が算出される。この値は補
正された光電出力に基づくものなのでより正確で
ある。以下のシーケンスは第3図と同様である。
次に実際にどのような補正が必要になるかにつ
いて述べる。
第5図は開放絞り値の異なる同一焦点距離のレ
ンズで、均一な輝度面を撮影する場合の例であ
る。横軸は画面中央をOとする位置を表わし、縦
軸は第5図a:光電出力、第5図b:フイルム面
照度、第5図c:補正値を表わしている。第5図
aにおいて開放絞f/1.4のレンズとf/2.8のレ
ンズを例にとつて考えてみる。f/1.4レンズで
測光するときの方が光電電力は当然大きくなる
が、大口径レンズにおいて特に顕著なビグネツテ
イングのために周辺部の光電出力はかなり低下し
ている。一方両者のレンズでf/8に絞つて撮影
するとき、フイルム面の照度分布は第5図bのよ
うにどちらかの場合でもほぼフラツトになる。す
なわちマルチ測光処理においては、第5図aのよ
うな分布を、第5図bの分布に変換して処理しな
ければならない。
これを解決するためには、まず基準レンズ(例
えばf/2.8)を決めてしまい、その基準レンズ
について光電出力とフイルム面照度の出力の差、
すなわち第5図aとbとの差を求めておく。この
差は基準量となる。次に開放絞り値による違いを
補正するために、第5図aにおいて2本のレンズ
による光電出力差を求める。すると、第5図cの
ように、大口径のレンズに対して画面周辺側の出
電出力に大きな補正値を加えるような補正値分布
が得られる。ただし、第5図cにおいて中央付近
がOでないのは、中央部においても光電出力とフ
イルム面照度の関係が、開放絞り値の称呼段数差
通りでないことを示している。
さて、この補正の適用は、第4図における情報
設定部5からの周放絞り値情報P102=AV0の大小
判別によつて行なう。大口径レンズであれば周辺
側の補正量は大きくなる。
第6図は同一のレンズで均一な輝度面を絞りを
変えて撮影するときのa光電出力分布bフイルム
面照度分布c補正値分布である。横軸は第5図と
同様に画面内の位置を表表わす。同一のレンズで
あるから、開放測光するときの光電出力の分布は
第6図aのように一つに定まる。しかし実際に撮
影する時は、使用する絞り値によつてビグネツテ
イングの影響が異なる。特に開放付近ではフイル
ム面照度分布の、画面周辺部での低下が第6図b
のように大きくなる。通常はある小絞り値以下に
絞り込んで撮影することが多いので、この小絞り
値を基準として、レンズが開放付近で撮影される
場合は第6図cのように画面周辺部の光電出力を
マイナスする補正を行なわなくてはならない。
この補正の適用は第4図におけるアペツクス演
算部3からの絞制御信号P107=AV−AV0の大小
判別によつて行なう。
第7図は同一開放絞り値で異なる光学系を持つ
レンズを用いて、同一の絞り値で均一な輝度面の
撮影する場合のa光電出力分布bフイルム面照度
分布c補正値分布である。横軸は第5図と同じく
画面内の位置を表わす。レンズの開放状態におけ
る光電出力分布では、第7図aのように照点距離
の長いレンズと基準レンズとの間にあまり差はみ
られない。しかし絞り込んだ状態のフイルム面照
度分布は基準レンズがコサイン四乗則により周辺
部のフイルム面照度がかなり低下するのに対して
照点距離の長いレンズはかなりフラツトなフイル
ム面照度分布となる(第7図b)。
よつてこのようなレンズに対して絞りが開放以
外の時画面周辺部の光電出力に対して第7図のa
とbの差だけプラス側に補正しなければならない
(第7図c)。この補正の適用は情報設定部5から
レンズ特有の特性を示す信号P109=Lによつて判
別する。AV0(=P101)やAV−AV0(=P107)で
示すことの出来ない補正量を、この信号L=P109
(例えばレンズの焦点距離や射出瞳距離に応じた
もの)によつて補正値算出回路8に算出させる。
単純に測光だけのことを考えれば信号L(=
P109)はレンズの測光上の補正量を伝達すればよ
いのだが、カメラで種々の自動化を考えた場合必
要な信号はかなりの数になる。本件出願人らはこ
の点に着目し焦点距離の大小に応じた信号でほぼ
補正目的を達成することを確かめた。L=(P109
を焦点距離信号とした場合は測光以外の用途にも
使うことができるので有利である。
以上に述べてきた実施例において受光素子P11
〜P46によつて画面を4×6の24分割する場合算
出しなければならない補正値はδ11〜δ46の24個に
なる。しかし、レンズの結像特性として光軸を中
心とした同心円上では同一の性質を持つので、中
心から等距離にある部分については同一の補正量
と見なすことができる。そこで、測光系も撮影レ
ンズ光軸を中心とした同心円上では同一の測光特
性を有しているとみなされる場合は、補正量は第
8図のように、 とδ0…δ4の5つに代表させることが出来る。又こ
の間には第5図c、第6図c、第7図cからわか
るように δ0≧δ1≧δ2≧δ3≧δ4又は δ0≧δ1≧δ23δ4 (7) が成立つことも着目すべき点である。但し測光系
が画面に関し左右にのみ対称な測光特性を有して
いる場合は代表させる補正値も左右対称で上下は
非対称型となる。
以上の特徴を利用して、第4図の実施例を簡略
化したのが第9図である。補正値算出回路8はア
ペツクス演算部3から絞制御信号情報設定部5か
らの開放絞径情報AV0(=P102)、レンズ信号L
(=P109)によつて補正値δ0,δ1,…δ4を算出す
る。
補正演算回路7において、P23,P24,P33,P34
にはδ0が、P13,P14,P22,P25,P32,P35,P44
P44にはδ1が、P12,P15,P42,P45にはδ2が、P21
P26,P31,P36にはδ3が、そしてP11,P16,P41
P46にはδ4がそれぞれ加算される。
なお、レンズから情報設定部5に伝達する情報
AV0,AV―AV0,Lについては、レンズ鏡筒や
絞り環等に設けたピンなどに代表される機械的伝
達手段、又はレンズ鏡筒内に設けられた電気信号
発生手段等を用いて伝達すればよい。いずれも公
知の方法であるので、ここでは説明を省略する。
第10図は本発明のさらに詳しい実施例であ
る。1は測光回路で、OPアンプOPij、フオトダ
イオードPDij、対数圧縮ダイオードLDijを1つの
測光ブロツクとし、分割数だけ集まつて出来てい
る。OPアンプOPijの同相入力にはE0の基準バア
イスがかつている。フオトダイオードPDijに生じ
た測光電流ILijは対数圧縮ダイオードLDijによつ
て対数圧縮され出力は V(Pij)=E0+kT/qInILij/IS (8) となる。
8は補正値算出回路で、アペツクス演算回路よ
り絞制御信号P107=AV−AV0を受取り情報設定
部5より開放絞径情報P102=AV0、及びレンズ信
号P109=Lを受け取る。
AV0はコンパレータC1,AV―AV0はコンパ
レータC2、信号LはコンパレータC3のそれぞ
れの同相入力端子に入力する。抵抗R15,R1
6には定電流源I0から電流I0が流れ、そしてコン
パレータC1、C3の反転入力端子にはI0(R15
+R16)の電圧が、またコンパレータC2の反転
入力端子にはI0R16の電圧が印加されている。コ
ンパレータC1は AJ0≧AV0th(=I0(R15+R16)) (9) のとき出力を論値値“1”とする。コンパレータ
C2は (AV−AV0)≧(AV−AV0
th(=I0R16) (10) のとき出力は1となり、反転回路NOTによつて
反転される。コンパレータC3は L≧Lth(=I0(R15+R16) (11) のとき出力は“1”となり、コンパレータC2,
C3の出力が共に“1”のときナンド回路
NANDの出力は論理値“0”となる。
言葉を変えて言うと、ある一定値(AV0)th以
下の開放絞り値を持つレンズのときコンパレータ
C1の出力は“0”となり、絞込む段数がある一
定値(AV―AV0)th以下すなわち開放絞り付近
の補正が必要なとき、ノツト回路NOT出力は
“1”となる。
また、信号Lを焦点距離信号とすると、ある一
定値以上の焦点距離を持ち、絞りは開放付近にな
いときすなわちレンズの違いによる補正が必要な
ときナンド回路NANDの出力は“0”となる。
トランジスタTR3のベース・エミツタ間及び
抵抗R14の間に基準電圧E0が印加されており、
トランジスタTR3のコレクタ電流は一定であ
る。そのめ抵抗R13の両端の電圧は一定であ
る。この電圧をE1とする。
よつてOPアンプOP1,OP2の同相入力端子
にはVc.c.からE1低下した電圧が印加されている
ことになる。OPアンプOP1,OP2の出力端子
はトランジスタTR1,TR2のベースに、反転
入力端子にはエミツタがそれぞれ接続されてい
る。トランジスタTR1のエミツタとVc.c.の間に
は、抵抗R7、及び抵抗R8とFET1の直列に
接続されたものが並列的に接続され、又、トラン
ジスタTR1のコレクタとGNDの間には抵抗R1
が接続されている。同様にトランジスタTR2の
エミツタとVc.c.の間には抵抗R10とFET2,
R11とFET3,R12とFET4のそれぞれの
直列接続回路と抵抗R9とがそれぞれ並列的に接
続されている。トランジスタTR2のコレクタと
GNDの間には抵抗R2が接続されている。
OPアンプの特性によりトランジスタTR1及
びTR2のエミツタとVc.c.の間の電圧は常にE1
に保たれている。今、補正をしない状態において
コンパレータC1の出力は“1”でFET1はON
状態になる。よつてトランジスタTR1のエミツ
タ電流は(E1/R7+E1/R8)となりhfeが高けれ
ばコレクタ電流に等しくなるのでR1の両端の電
圧をV(R1)で表わすと V(R1)=V(R1)normal=R1(1/R7+1/R8)E1
…補正なし(12) となり、この電圧が補正をしないとき中央部の光
電出力に加わるバイアス電圧になる。一方大口径
レンズのときコンパレータC1の出力が“0”に
なるとFET1はOFFになり、トランジスタTR1
のコレクタ電流はE1/R7のみとなる。すなわち V(R1)=R1/R7E1=V(R1)normal−R1/R8E1=V
(R1)normal−Vfp cpnp1大口径補正時(13) であり、第2項は大口径時の中央部の補正項と
なる。
一方周辺部に関して補正なしの状態において、
コンパレータC1の出力は“1”である他に、
NOTの出力は“0”,NANDの出力は“1”で、
FET2およびFET4はON状態にありFET3は
OFF状態にある。
よつてトランジスタTR2のコレクタ電流は
(1/R9+1/R10+1/R12)E1となり抵抗R2
の両端の電圧をV(R2)とすると V(R2)=V(R2)normal=R2(1/R9+1/R10
1/R12)E1…補正なし(14) となり、この電圧が補正なしのときの周辺部のバ
イアス電圧となる。大口径レンズの補正をすると
きコンパレータC1の出力は“0”となりFET
2はOFFとなり V(R2)=R2(1/R9+1/R12)E1=V(R2)norma
l−R2/R10E1=V(R2)normal ―Vfp,COnp2…大口径補正時 (15) となり、第2項が大口径時の周辺部の補正項であ
る。
開放時の補正をするときNOTの出力は“1”
となり、FET3はONになり、 V(R2)=R2(1/R9+1/R10+1/R11+1/R12
)E1=V(R2)normal +R2/R11E1=V(R2)normal+Vf-fp,cpnp開放補
正時(16) となり、第2項が開放時の補正項であつて画面周
辺部のみに加わつている。
レンズの光学系の違いによる補正が必要なと
き、NANDAの出力は“0”となりFET4が
OFFになり、 V(R2)=R2(1/R9+1/R10)E1=V(R2)norma
l−R2/R12E1V(R2)normal −VL,cpnp…光学系補正時 (17) となり、第2項がレンズの違いによる補正項であ
る。これも画面周辺部のみにかかつている。
OPアンプOP3及びOP4はボルテージフオロ
ア回路を構成しており、入力のV(R1),V(R2)
がそのまま出力になる。
OPアンプOP3とOP4の出力端子の間には抵
抗R3,R4,R5,R6が直列に接続されてい
る。それぞれの端子電圧を順にV(δ0),V(δ1),
…V(δ4)とすると次式のようになる。
V(δ0)=V(R1) (18) V(δ1)=V(R1)+R3/R3+R4+R5+R6{V(R2
)−V(R1)}(19) V(δ2)=V(R1)+R3+R4/R3+R4+R5+R6{V
(R2)−V(R1)}(20) V(δ3)=V(R1)R3+R4+R5/R3+R4+R5+R6
V(R2)−V(R1)}(21) V(δ4)=V(R2) (22) このV(δ0)…V(δ4)が第9図のブロツク図の
δ0…δ4に対応する補正値算出回路の出力となる。
第11図は横軸を画面中心からの距離にとり縦軸
に補正値δをつた図である。この図からも明らか
なように補正値δは曲線的に変化している。補正
の内容によつては点線で示す曲線のように種々に
変化する。しかしながら、k1,k2,k3を定数とす
るとき δ1−δ0:δ2−δ0:δ3−δ0
:δ4−δ0=k1:k2:k3:1 (23) の関係がほどんど常に成立つている。そこで R3/(R3+R4+R5+R6)=k1 (24) (R3+R4)/R3+R4+R5+R6)=k2 (25) (R3+R4+R5
/(R3+R4+R5+R6)=k3 (26) と定めると、 V(δ0)=V(R1) (18) V(δi)=V(R1)+ki{V(R2)
−V(R1)}(i=1.2.3)(27) V(δ4)=V(R2) (22) となり、前記の補正を行なうことができる。
さて、第10図に戻つて、7は補正演算回路で
あり、各々のブロツク(723,734等)は1個の
OPアンプ(OP1ij)、1個のトランジスタ
(Tr1ij)及び2個の抵抗(R1ij,R2ij)から成つ
ている。以下光電出力P23についての演算を例
にして説明する。OPアンプOP123の同相入力
端子に補正値算出回路8の出力V(δ0)が印加さ
れるとトランジスタTR123のエミツタ電位は
V(δ0)になる。一方抵抗R123のもう一端に
は測光回路1のOPアンプOP23の出力V(P23)
印加されている。よつて抵抗R123に流れる電
流は{V(δ0)−V(P23)}/R123であり、ト
ランジスタTR123のhfeが高ければエミツタ電
流≒コレクタ電流となり、抵抗R223に流れる
電流に等しい。よつてR123=R223とすれ
ば抵抗R223の両端の電圧V23は V23=V(δ0)−V(P23) (28) となる。以下同様に V24=V(δ0)−V(P24) (29) V33=V(δ0)−V(P33) (30) V34=V(δ0)−V(P34) (31) V13=V(δ1)−V(P13) (32) 〓 〓 V46=V(δ4)−V(P46) (33) となる。これは(5)式とは符号が逆になつている
が、回路構造上の理由によるものである。
次に実際の補正の仕方について述べる。
先ず補正の必要ない場合、(12),(14)式が成立ち V(δ0)=V(R1)normal (34) V(δ4)=V(R2)normal (35) となるが、必ずしも両者は等しくない。光電出力
の初期シフトの項のかなりの部分を、 V(R1)normal,V(R2)normalに持たせる
ことが出来るからである。また暗電流や温度補償
項も加えることが出来る。このとき、他の部分も
(28)式から V(δi)=V(R1)normal+ki{V(R1)normal−
V(R2)normal} (i=1,2,3) (36) のように求まるが変化は少しずつあり予盾しな
い。これらの出力は測光出力V(Pij)と共に補正
演算回路7に入力する。補正演算回路の出力は V23V(R1)normal−V(P23) (37) V13=V(R1)normal+k1{V(R2)normal−V(R1
)normal}−V(P13)(38) 〓 V46=V(R2)normal−V(P46) (39) となる。
今大口径レンズの補正が必要になつたとき補正
値算出回路8はコンパレータC1によつて検出
し、(13),(15)式による出力を生じる。
すなわち、 V(δ0)=V(R1)normal−Vfp cpnp1(40)
V(δi)=V(R1)normal+ki{V(R2)normal−
V(R1)normal} −Vfp,cpnp1−Ki(Vfp cpnp2−Vfp cpnp1)(i=
1,2,3)(41) V(δ4)=V(R2)normal−Vfp cpnp2 (42) を得る。そして補正演算回路7の出力は V23=V(R1)normal−V(P23)−Vfp cpnp1(
43) V13=V(R1)normal+k1{V(R2)normal−V(R1
)normal} −V(P13)−Vfp cpnp1−k1(Vfp cpnp2−Vfp cpn
p1
})(44) 〓 V46=V(R2)normal−V(P46)−Vfp cpnp2(45)
となる。それぞれバイアス項を除けば補正生と V(P23)←→V(P23)+Vfp cpnp1 (46) V(P13)Z←→V(P13)+(1−k1)Vfp cpnp1+k
1Vfp cpnp2(47) V(P46)←→V(P46)+Vfp cpnp2 (48) の対応関係がある。ここで右辺の第2項以下が各
部の補正項になる。Vfp cpnp1は従来の単一の光
電出力による測光方式である中央部重点測光方式
においても行なわれていた補正項で、大口径レン
ズの場合の中央分光電出力の低下を補うためのも
のであり最も距離のある部分の光電出力を補正す
るものなので値は大きくなる。(第5図c参照)。
また、中間の位置についてはそれぞれ中間の補正
値が加えられ、その値は周辺に行くに従つて多く
なる。以上のようにして、補正された光電出力情
報がマルチ測光処理回路2に伝えられる。
さて、次に、開放時の補正をする場合を考えて
みる。絞が開放付近にある状態はコンパレータC
2及びNOTによつて検出され、補正値算出回路
8の出力は(12),(16)式に基づく値となる。すなわ
ち、 V(δ0)=V(R1)normal (34) V(δi)=V(R1)normal+ki{V(R2)normal−
V(R1)normal} +kiVf-fp,cpnp(i=1,2,3) (49) V(δ4)=V(R2)normal+Vf-fp,cpnp (50) を得る。よつて補正演算回路7の出力は V23=V(R1)normal−V(P23) (37) V13=V(R1)normal+k1{V(R2)normal−V(R1
)normal} −V(P13)+k1Vf-fp,cpnp(i=1,2,3)(51
) V46=V(R2)normal−V(P46)+Vf-fp cpnp(52)
となる。それぞれバイアス項を除けば補正前と V(P23)←→V(P23) (53) V(P13)←→V(P13)−k1Vf-fp,cpnp (54) V(P46)←→V(P46)−Vf-fp,cpnp (55) の対応関係がある。画面中央部の光電出力は変わ
らないが、画面周辺部に行くに従つて減ずる補正
値が多くなつている。すなわち第6図cの補正が
行なわれている。
最後にレンズの光学系の違いによる補正につい
て述べる。補正が必要なレンズの場合、コンパレ
ータC3によつて検出され、絞が開放付近にない
ことがコンパレータC2によつて検出され両条件
を満足する時NAND出力によつて補正の必要な
状態として検出される。このとき補正値算出回路
8は(12),(17)式に基づく値を出力する。すなわ
ち、 V(δ0)=V(R1)normal (34) V(δi)=V(R1)normal+ki{V(R2)nor
mal−V(R1)normal} −kiVL,cpnp(i=1,2,3) (56) V(δ4)=V(R2)normal−VL,cpnp(57)
を得る。よつて補正演算回路の出力は V23=V(R1)normal−V(P23) (37) V13=V(R1)normal+k1{V(R2)normal−
V(R1)normal} −V(P13)−k1VL,cpnp(i=1,2,3)
(58) V46=V(R2)normal−V(P46)−VL,cpnp(59
) となる。それぞれバイアス項を除けば補正前と V(P23)←→V(P23) (53) V(P13)←→V(P13)+k1VL,cpnp (60) V(P46)←→V(P46)+VL,cpnp (61) の対応関係がある。画面中央部の光電出力は変わ
らないが、画面周辺部に行くに従つて加算する補
正量が多くなつている。すなわち第7図cの補正
が行なわれている。
以上、それぞれのの補正を独立に説明したが、
大口径レンズを開放で撮影する場合は次のような
対応関係になる。すなわち、 V(P23)←→V(P23)+Vfp,cpnp1(46)
V(P13)←→V(P13)+(1−k1)Vfp cpnp1
+k1Vfp cpnp2−k1Vf-fp cpnp(61) V(46)←→V(P46)+Vfp cpnp2−Vf-fp cp
np
(62) のように打ち消す方向に働く。これはビグネツテ
イングの影響の強いレンズを開放絞付近で用いる
のは通常のレンズの普通絞で用いるのとは等価的
になるということである。
以上の説明ではアペツクス演算部3及び情報設
定部5より補正値算出回路8入力する諸情報をそ
れぞれ基準レベルは1つで、2分類した例だけで
あつたが、基準レベルを増やすことによつて、よ
り誤差の少ない補正が可能となる。
第12図は受光学系の一例である。331は第
1図に示した複数個の光電素子であり、332は
撮影レンズ、333はミラー、334はフイルム
面、335はフアインダースクリーン、336は
フアインダースクリーンに結像した被写体像を受
光素子面に再結像させるためのレンズである。
以上の構成により、撮影するシーンの各部の明
るさを測定することが出来、独立な複数の測光情
報をとりだせる。これまでの説明においては、開
放測光を中心にして述べてきたが、絞込測光にお
いても同様な理由による測光誤差が特に画面周辺
部に存在する。そして、その補正にも本発明は有
効である。
尚実施例では、アペツクス演算部3は絞制御回
路4aと補正値算出回路8に対して同一の絞制御
信号(AV−AV0)で制御を行なつているが、こ
れは必ずしも同一である必要はない。すなわち、
補正値算出回路8に対しては開放絞付近かどうか
の情報を伝えればよく、絞制御回路4aに対して
は制御方式によつては異なつた情報で制御する場
合があるからである。例えばレリーズ後光量をモ
ニタしながら光量(BV−AV)がある一定値に
達した時絞を停止する方式の場合、絞制御回路に
送り出す信号はTV−SVとなる。すなわち、 BV−AV≡TV−SV (62) が成立した時が適正となるものである。
本発明によればレンズの特性(実施例では、開
放絞値、焦点距離等によつて表わされる)や、そ
の絞り値などに起因するマルチ測光等における測
光誤差、特に画面の周辺部の測光誤差を実用上充
分に補正出来る利点がある。又、絞が最小絞まで
絞込まれていても、絞が開放に制御される場合を
検出出来、補正し得る。これらの補正を行なうこ
とによつてマルチ測光処理等の結果がより適正露
出値に近くなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は画面の分割例を示す図、第2図a光電
出力分布を示す図、第2図bはフイルム面照度分
布を示す図、第3図は従来のマルチ測光装置のブ
ロツク図、第4図は本発明によるマルチ測光装置
のブロツク図、第5図は開放絞径による補正が必
要なことを示す図、第6図は撮影絞径による補正
が必要なことを示す図、第7図はレンズの光学系
の違いによる補正が必要なことを示す図、第8図
は補正値のまとめ方を示す図、第9図は本発明に
よるマルチ測光装置の別のブロツク図、第10図
は本発明によるマルチ測光装置の測光回路、補正
値算出回路、補正演算回路のより詳細な図、第1
1図は補正値曲線を示す図、および第12図は受
光学系の一例を示す図である。 主要部分の符号の説明、測光手段……1、演算
手段……2,3、補正情報出力手段……8、補正
手段……7。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 開放状態にある絞りの通過光を受け、被写界
    画面の中央領域とそのまわりの周辺領域とを分割
    して測光し、各領域に対応した複数の測光出力を
    発生する測光手段と、 前記複数の測光出力に基づき被写界の状態に応
    じた適正露出を演算し、該適正露出を得るために
    制御すべき絞り値を求める演算手段と、 使用されるレンズの特性に関する信号を出力す
    る出力手段と、 前記演算手段の制御すべき絞り値に関する信号
    と前記出力手段のレンズの特性に関する信号とを
    受け、前記中央領域と前記周辺領域のそれぞれに
    ついて、絞り開放の状態から前記制御すべき絞り
    値に絞りを制御した時の予測される光量変化に関
    する情報を出力する補正情報出力手段と、 前記複数の測光出力に、前記補正情報出力手段
    の対応する出力をそれぞれ印加し、前記複数の測
    光出力を、絞りが制御された状態に対応するよう
    にそれぞれ補正して前記演算手段に伝達する補正
    手段とを有し、 前記演算手段は該補正手段の出力に基づき被写
    界の状態に応じた適正露出を演算し露光量を決定
    することを特徴とするマルチ測光装置。 2 特許請求の範囲第1項に記載のマルチ測光装
    置において、 前記レンズの特性に関する信号は、レンズの開
    放絞り値及び/又は焦点距離に応じて変化する信
    号であることを特徴であることを特徴とするマル
    チ測光装置。 3 特許請求の範囲第1項に記載のマルチ測光装
    置において、 前記周辺領域は複数に分割されており、前記測
    光手段は前記中央領域と複数の周辺領域とに関し
    てそれぞれ測光出力を発生することを特徴とする
    マルチ測光装置。
JP55118922A 1979-11-22 1980-08-28 Corrector of multiphotometric device Granted JPS5742028A (en)

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US06/208,039 US4306787A (en) 1979-11-22 1980-11-18 Exposure control apparatus for camera provided with multi metering device
DE19803043989 DE3043989A1 (de) 1979-11-22 1980-11-21 Einrichtung zur steuerung der belichtung fuer eine kamera, die mit einer mehrfachmesseinrichtung versehen ist
US06/562,822 USRE32376E (en) 1979-11-22 1983-12-19 Exposure control apparatus for camera provided with multi metering device

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