JPH0140921B2 - - Google Patents

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JPH0140921B2
JPH0140921B2 JP4759481A JP4759481A JPH0140921B2 JP H0140921 B2 JPH0140921 B2 JP H0140921B2 JP 4759481 A JP4759481 A JP 4759481A JP 4759481 A JP4759481 A JP 4759481A JP H0140921 B2 JPH0140921 B2 JP H0140921B2
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JP
Japan
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hologram
light
displacement
optical element
meter
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JP4759481A
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English (en)
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JPS57161605A (en
Inventor
Joji Matsuda
Koji Tenjinbayashi
Tsuguo Kono
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
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Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP4759481A priority Critical patent/JPS57161605A/ja
Publication of JPS57161605A publication Critical patent/JPS57161605A/ja
Publication of JPH0140921B2 publication Critical patent/JPH0140921B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/021Interferometers using holographic techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はホログラフイーを利用した直線計や
回転角度計等の変位計に関するものである。
例えば工作機械等においては、刃物台等が案内
に沿つて直線運動するようになつており、その運
動の直線性の良否が加工精度の良否を決定する重
要な要因となつている。したがつて、このような
工作機械等においては、組立てや精度検査の時に
刃物台等の横振れ(運動方向に垂直な平面内での
変位二成分)や回転変位を検査する必要がある。
また加工中に刃物台等の横振れや回転変位を常時
検出して運動を直線状に制御して加工精度の向上
をはかろうとする試みもあり、刃物台等の部材の
これら直線変位や回転変位を検出するためには直
線計や回転角度計等の変位計が使用される。その
ような変位計のうち光学的な変位計としては従来
オート・コリメーター等が利用されているが、オ
ート・コリメーターは反光による像と元の像を重
ね合せて求める方法で、反射鏡がθ傾いている場
合には、対物レンズの焦点距離をfとすると、
2fθによつて与えられる。また読み取り精度がレ
ンズのF値によつて決定され、焦点距離が長く、
かつ、F値の小さいレンズを得ることは困難であ
るところから、その測定精度に限度がある。
一方、最近ホログラフイー技術が干渉計測に応
用され、生ずる干渉縞の性質も明らかにされてき
つつあるところから、ホログラフイー干渉法を変
位計に応用することが考えられている。この場合
にホログラムを変位計として装置化するために
は、実時間干渉を行わせなければならないが、こ
れまでホログラフイー干渉法は、実時間干渉法の
実験がかなり難しいために、主に二重露光法によ
つて研究が進められてきた。また、従来のホログ
ラフイー干渉法を応用した変位計においては、変
位計の精度、空気のゆらぎや外部振動の影響、可
動体の光軸に沿つた移動距離に関する測定可能範
囲について解決すべき問題が残つていた。これら
の問題をいくつか解決するために、この発明の発
明者はホログラフイーを利用した新たな変位計を
開発し、実時間干渉の簡単な実施、空気のゆらぎ
や外部振動の影響の軽減、及び高精度の測定を可
能にした(特願昭55−39476号、特願昭55−
168996号等参照)。
これら新たに開発された変位計のうち、直線計
の一例を簡単に説明すると、第1図に示す如く、
固定体上に位置する光学素子群10の構成素子た
るレーザー発光装置2を発光させ、ビームスプリ
ツタ3によつて光F1と光F2とに分割し、光F2
移動体上に位置するホログラム4に照射し、ホロ
グラム4から物体光を再生(再生物体光)し、ま
た、光F1で拡散板5を照明し、この物体光を前
述の再生物体光と干渉させる。この干渉によつて
生ずる干渉縞はスクリーン6上に観測可能に投影
される。この干渉縞を観測することによつて物体
光の光軸に垂直な平面内での移動体の変位一成分
若しくは二成分を同時に検出することができる。
また、回転角度計の一例を簡単に説明すると、
第2図に示す如く、固定体上に位置する光学素子
群10の構成要素たるレーザー発光装置2を発光
させ、ビームスプリツタ3によつて光F1と光F2
とに分割し、光F2を移動体上の反射素子17を
介して固定体上に位置するホログラム4に照射
し、ホログラム4から物体光を再生(再生物体
光)し、また、光F1で拡散板5に照明し、拡散
板5からの物体光を反射素子17を介してホログ
ラム4に照射し、この物体光と前述の再生物体光
とを干渉させる。この干渉によつて生ずる干渉縞
はスクリーン6上に観測可能に投影され、この干
渉縞を観測することによつてy軸(紙面に垂直な
軸)のまわりの移動体の回転変位を検出すること
ができる。
しかるに、ここで使用される光学素子群10は
物体光と参照光を発生させる機能を持つものであ
るが、そこにはレーザー発光装置2、顕微鏡対物
レンズ7、ピンホール8、ミラー9、コリメータ
ーレンズ11、スリガラス等から成る拡散板5、
コリメーターレンズ12、ビームスプリツタ3、
ミラー13、顕微鏡対物レンズ14、ピンホール
15、ビームスプリツター16等を含んでおり、
構成要素数が多く、これがために装置が複雑化
し、また、各構成要素の正しいセツテイングが相
当に困難である。
この発明は上記の如き事情に鑑みてなされたも
のであつて、光学素子群の構成素子数を少なく
し、構成を簡単にして、そのセツテイング等を簡
単になし得るホログラム変位計を提供することを
目的とするものである。
この目的に対応して、この発明のホログラム変
位計は、固定体に対して検出すべき変位を生ずる
移動体の前記変位を検出する変位計であつて、光
学上無限遠若しくは無限遠と等価の距離に位置す
る物体の物体光と参照光とを記録した第1のホロ
グラムと、及び前記物体の基準位置における物体
光と参照光により形成される干渉縞を記録した第
2のホログラムとを前記固定体若しくは前記移動
体の一方に設置し、反射素子を前記固定体若しく
は前記移動体の他方に設置し、固定位置にある光
源からの光が前記第1のホログラムに入射した後
に前記反射素子で反射して前記第2のホログラム
に入射するように構成したことを特徴としてい
る。
以下この発明の詳細を一実施例を示す図面につ
いて説明する。
第3図にはこの発明を回転角度計に適用した実
施例が示されている。第3図において1は回転角
度計である。回転角度計1はブロツクAで示され
る構成部材とブロツクBで示される構成部材とか
ら成つている。ブロツクAに含まれる構成部材は
刃物台等の回転を検出しようとする移動体に取り
付けられ、また、ブロツクBに含まれる構成部材
は基礎等の固定部に取り付けられている。
ブロツクAに含まれる構成部材としては、反射
素子17があり、反射素子17は移動体上に取り
付けられている。移動体は、本来、光軸方向の直
線移動径路18に沿つて移動し得るように構成さ
れたものである。
一方、ブロツクBに含まれる構成部材として
は、光源19、顕微鏡対物レンズ14、ピンホー
ル15、コリメーターレンズ12、ホログラム2
0、ホログラム4、コリメーターレンズ23及び
スクリーン6がある。ホログラム20は物体光と
参照光を発生させる機能を持つものである。
一方、反射素子17は2枚のミラー21,22
を備えている。ミラー21,22は反射面を平行
に、かつ、対向させて位置させており、ホログラ
ム20とホログラム4までの光路の途中に位置し
ている。ミラー21,22はホログラム20から
の光束の光軸に対して所定の角度(この実施例に
おいては、光軸に対して45゜)をなしており、、ホ
ログラム20からの光束はミラー21によつて光
路を変更してミラー22に入射し、さらにミラー
22で反射して光路を変更してホログラム4を照
射する。
ホログラム4及びホログラム20は次のように
して作成したものである。すなわち、第3図に示
す回転角度計1におけるホログラム再生光学素子
群20を第4に示す光学素子群20′で置き替
えたものを準備する。光学素子群20′は、物体
光と参照光を発生させる光学素子として機能する
もので、第1図及び第2図に示す光学素子群10
と同じものである。すなわち、光学素子群20′
は、すりガラス等の拡散板5、ビームスプリツタ
ー16、コリメーターレンズ12、ビームスプリ
ツター3、ミラー13、顕微鏡対物レンズ14、
ピンホール15、レーザー発光装置2、顕微鏡対
物レンズ7、ピンホール8、ミラー9、コリメー
ターレンズ11を含んでいる。この第4図に示す
光学素子群20′を第3図におけるホログラム再
生光学素子群20の代りに組込んだものは第5
図に示す構成を採る。
ホログラム4を作成する場合には、この第5図
に示す構成において、次のようにする。まず感光
材4′をホログラム4の位置に置き、次にレーザ
ー発光装置2を発光させる。レーザー発光装置2
からの光をビームスプリツター3で2分割し、一
方の光F1を顕微鏡対物レンズ7とコリメーター
レンズ11で拡げ、平行光束にしてすりガラスか
ら成る拡散板5を照明し、コリメーターレンズ1
2を通過後物体光として使用し、ホログラム4の
位置にある感光材4′を露光させる。他の光F2
顕微鏡対物レンズ14及びコリメーターレンズ1
2で平行光束にし、参照光として使用する。この
よううにしてホログラム4の位置に置かれた感光
材4′に拡散板5からの物体光を平面波の参照光
でホログラムとして記録し、写真処理してホログ
ラム4が完成する。一方、ホログラム20を作成
するには、感光材20″を光学素子群20′の光路
出口側に置き、ホログラム4を作成した場合と同
様に感光材20″を露光し、写真処理して完成す
る。これによつて光学上無限遠若しくは無限遠と
等価の距離に位置する物体(拡散板5)の物体光
と参照光とを記録したホログラム20が得られ
る。
このようにして得られたホログラム4,20を
固定体上にセツトして第3図に示す回転角度計1
が完成する。この第3図に示す回転角度計1と、
第2図に示す回転角度計1′とを対比して見ると
明らかな通り、回転角度計1は第2図における回
転角度計1′における光学素子群10をホログラ
ム再生光学素子群20で置き替えたものに等し
く、かつホログラム20は光学素子群20′の発
した物体光と参照光を記録したものであるから、
光源19からホログラム20に平行光束を照射し
た場合には、物体光と参照光を生じさせる機能に
おいて光学素子群10と等価のものであり、した
がつて、第2図及び第3図に示す回転角度計1,
1′は同じ光学的機能を発揮する。
このようにして構成した回転角度計1による移
動体の回転変位の測定は次のようにする。まず光
源19からの光を顕微鏡対物レンズ14、ピンホ
ール15、コリメーターレンズ12によつて平行
光束にし、この光をホログラム20に照明する。
この照明によつてホログラム20に先に記録され
た光学上無限遠若しくは無限遠と等価の距離に位
置する物体(拡散板5)の物体光と参照光が再生
される。物体光と参照光はともに固定体上のホロ
グラム4に入射し、このうち参照光はホログラム
4に記録されている物体光を再生させて再生物体
光が発生し、この再生物体光を前述の物体光と干
渉させる。この干渉によつて生ずる干渉縞はスク
リーン6上に観測可能に投影される。この干渉縞
を解析して移動体の回転変位を求めることができ
る。干渉縞の解析の手法については前述の特願昭
55−168996号明細書に記載されたものと同じであ
る。
次に、この発明を直線変位を検出する直線計に
適用することもできる。その一例としては、特願
昭55−178615号「反射素子を備えたホログラム直
線計」の明細書及び図面第3図に示した直線計2
1の光学素子32をホログラム20及び光源19
で置き換えることによつてただちに実現する。
すなわち、第6図及び第7図にはこの発明を直
線計に適用した実施例が示されている。
第6図及び第7図において、1bは直線計であ
る。直線計1bはブロツクAで示される構成部材
とブロツクBで示される構成部材とから成つてい
る。ブロツクAに含まれる構成部材は横変位を検
出しようとする刃物台等の移動体に取り付けら
れ、またブロツクBに含まれる構成部材は基礎等
の固定部に取り付けられている。
ブロツクAに含まれる構成部材としては、ホロ
グラム4、コリメータレンズ23及びスクリーン
6があり、これらのホログラム4、コリメータレ
ンズ23及びスクリーン6は光軸に沿つて配列さ
れ、移動体上に取り付けられている。また、ブロ
ツクAにはホログラム再生光学素子群20が移
動体上に取り付けられている。移動体は、本来、
光軸方向の直線移動径路に沿つて移動し得るよう
に構成されたものである。
一方、ブロツクBに含まれる構成部材として
は、反射素子33、反射素子34を備えている。
反射素子33は直交する平面内に位置するミラー
45,46を有し、また反射素子34は直交する
平面内に位置するミラー47,48を有し、それ
ぞれのミラー45,46,47,48は光路に対
して45゜をなしている。但し、反射素子33,3
4はそれぞれプリズムで代替することもできる。
一対の反射素子33,34は直線移動径路に沿つ
た固定位置に配設されブロツクAを間に位置させ
て対向している。反射素子33は光学素子32か
らの光の光路の方向をxz平面内で180゜変更するよ
うに配置し、また、反射素子34は反射素子33
からの光をyz平面内で180゜光路変更させてホログ
ラム4に入射するように配置する。
ホログラム再生光学素子群20は、第8図に
示す如く光源19、顕微鏡対物レンズ14、ピン
ホール15、コリメータレンズ12、ホログラム
20を含んである。
ホログラム4及びホログラム20は次のように
作成する。
まずホログラム4を作成する場合には、この第
6図、第7図においてホログラム再生光学素子群
20の代りに第9図に示す光学素子群20′を
組込んだ構成において、次のようにする。まず感
光材4′をホログラム4の位置に置き、次にレー
ザー発光装置2を発光させる。レーザー発光装置
2からの光をビームスプリツター3で2分割し、
一方の光F1を顕微鏡対物レンズ7とコリメータ
レンズ11で拡げ、平行光束にしてすりガラスか
ら成る拡散板5を照明し、コリメータレンズ12
を通過後物体光として使用し、ホログラム4の位
置にある感光材4′を露光させる。他の光F2は顕
微鏡対物レンズ14及びコリメータレンズ12で
平行光束にし、参照光として使用する。このよう
にしてホログラム4の位置に置かれた感光材4′
に拡散板5からの物体光を平面波の参照光でホロ
グラムとして記録し、写真処理してホログラム4
が完成する。
一方、ホログラム20を作成するには、感光材
20″を光学素子群20′の光路出口側に置き、ホ
ログラム4を作成した場合と同様に感光材20″
を露光し、写真処理して完成する。これによつて
光学上無限遠若しくは無限遠と等価の距離に位置
する物体(拡散板5)の物体光と参照光とを記録
したホログラム20が得られる。
このようにして得られたホログラム4を固定体
上にセツトし、かつ、ホログラム20をホログラ
ム再生光学素子群20にセツトして第6図に示
す直線計1bが完成する。
このようにして構成した直線計1bによる移動
体の変位の測定は次のようにする。まず、光源1
9からの光を顕微鏡対物レンズ14、ピンホール
15、コリメータレンズ12によつて平行光束に
し、この光をホログラム20に照明する。この照
明によつてホログラム20に先に記録された光学
上無限遠若しくは無限遠と等価の距離に位置する
物体(拡散板5)の物体光と参照光が再生され
る。物体光と参照光はともに固定体上のホログラ
ム4に入射し、このうち参照光はホログラム4に
記録されている物体光を再生させて再生物体光が
発生し、この再生物体光を前述の物体光と干渉さ
せる。この干渉によつて生ずる干渉縞はスクリー
ン6上に観測可能に投影される。この干渉縞を解
析して移動体の横変位を求めることができる。
次に上記した干渉縞の解析の手法をこの発明を
直線計に適用した実施例について説明する。
(1) 今仮に、光軸に一致し若しくは平行な移動方
向を持つ移動体が横変位した場合には、ホログ
ラムが横変位し、このため再生物体光の波面が
横方向へ変位して生ずる。このように横変位の
場合には、スクリーン上に局存する直線上の干
渉縞になる。これまでのホログラフイーによる
干渉縞の解析から、干渉縞の線方向に対して垂
直方向が可動体の変位方向になることがわか
る。
第10図には典型的な3つの干渉パターンと
変位方向が示されており、このようにして光軸
に垂直な2次元面内の変位を計測することがで
きる。
(2) 可動体変位方向の正負の判定:以上の操作に
よる可動体が左右の方向に変位したか、上下方
向に変位したかを判定することができるが、次
に変位の方向の正負の判定について述べる。い
ま、ホログラム4を例えば右方向に移動させて
おき、スクリーン6に干渉縞を生じさせてお
く。この時、可動体が右方向に変位した場合に
は、干渉縞の本数が増加し、左方向に変位した
場合には本数が減少する。このように干渉縞の
本数の増減によつて、方向の正負の判定をする
ことができる。
(3) 精度:空気のゆらぎや外部振動のない理想的
な場合を求めよう。いま、移動体8の横変位量
を光軸に対して垂直面内でΔx,Δy、スクリー
ン6上の座標をζ,ηとすると干渉縞の最大強
度の軌跡はΔx・η+Δy・ζ=nλf(但し、n=
0,±1,±2,…,fは集束レンズ7の焦点距
離)によつて表わされる。簡単にするために横
変位だけが生じた場合には、Δy=0としてΔx
=nλ・f/η、視野の中にはn本の干渉縞が
生ずる場合にはΔx=nλF(但し、Fはレンズの
F数)。いま、視野の中に1本の干渉縞が増加
するための移動量をΔxlとすると、Δxl=λF,
λ=0.633μm,F=15とするとλxl≒9.5μmとな
る。干渉縞の増加が1/10フリンジまで読める場
合には、約1μmの横移動まで検出される。
以上の説明から明らかな通り、この発明によれ
ば、従来のホログラム直線計における参照光及び
物体光を発生させるための光学素子群を光源及び
1枚のホログラムをもつて構成することができる
から、素子数が少なく、構造が簡単で、かつ取扱
いの容易な直線計、回転角度計等の変位計を得る
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のホログラム直線計の一例を示す
構成説明図、第2図は従来のホログラム回転角度
計の一例を示す構成説明図、第3図はこの発明の
一実施例に係るホログラム回転角度計を示す構成
説明図、第4図は光学素子群を示す構成説明図、
第5図は第3図のホログラム回転計における光源
及びホログラムを光学素子群で置き換えたものの
構成説明図、第6図はこの発明の他の実施例に係
わるホログラム直線計の構成を示す平面構成説明
図、第7図は第6図に示すホログラム直線計の構
成を示す斜視構成説明図、第8図はホログラム再
生光学素子群を示す構成説明図、第9図は光学素
子群を示す構成説明図、及び第10図は干渉縞を
示す説明図である。 1…ホログラム回転角度計、4…ホログラム、
19…光源、20…ホログラム、20′…光学素
子群、20…ホログラム再生光学素子群。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 固定体に対して検出すべき変位を生ずる移動
    体の前記変位を検出する変位計であつて、光学上
    無限遠若しくは無限遠と等価の距離に位置する物
    体の物体光と参照光とを記録した第1のホログラ
    ムと、及び前記物体の基準位置における物体光と
    参照光により形成される干渉縞を記録した第2の
    ホログラムとを前記固定体若しくは前記移動体の
    一方に設置し、反射素子を前記固定体若しくは前
    記移動体の他方に設置し、固定位置にある光源か
    らの光が前記第1のホログラムに入射した後に前
    記反射素子で反射して前記第2のホログラムに入
    射するように構成したことを特徴とするホログラ
    ム変位計。
JP4759481A 1981-03-31 1981-03-31 Homogram displacement gauge Granted JPS57161605A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4759481A JPS57161605A (en) 1981-03-31 1981-03-31 Homogram displacement gauge

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4759481A JPS57161605A (en) 1981-03-31 1981-03-31 Homogram displacement gauge

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Publication Number Publication Date
JPS57161605A JPS57161605A (en) 1982-10-05
JPH0140921B2 true JPH0140921B2 (ja) 1989-09-01

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ID=12779568

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JP4759481A Granted JPS57161605A (en) 1981-03-31 1981-03-31 Homogram displacement gauge

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